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- [实用新型]老化测试装置-CN202120464433.8有效
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祝占伟;郭志诚;翁水才;谢周阳
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杭州长川科技股份有限公司
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2021-03-04
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2022-01-04
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G01R1/04
- 本实用新型涉及一种芯片的老化测试设备结构，特别是涉及一种老化测试装置，包括老化测试单元及背板单元，所述老化测试装置还包括用于对所述老化测试单元的运动进行导向定位的导向定位单元，所述导向定位单元包括：导向滑槽，设置于所述老化测试单元或所述背板单元中的一者，并沿所述老化测试单元相对所述背板单元运动的方向延伸；滚动支撑组件，设置于所述老化测试单元或所述背板单元中的另一者上，并能够随所述老化测试单元的运动沿所述导向滑槽的延伸方向滚动，导向滑槽与滚动支撑件之间滚动配合，并且能够引导老化测试单元与背板单元沿导向滑槽的延伸方向相对运动，因此，老化测试单元在插装的过程更加省力，且导向定位的精度也更高。
- 老化测试装置
- [实用新型]一种可预处理的回流式老化房-CN202221967830.8有效
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吕东贤
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广州市长崎自动化科技有限公司
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2022-07-28
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2023-01-03
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G01R31/00
- 一种可预处理的回流式老化房，包括传送系统、加热系统、控制系统、风道循环系统和老化实验舱，加热系统、风道循环系统装于老化实验舱内部，控制系统与传送系统、加热系统、风道循环系统控制连接，传送系统包括上料区、下料区、老化测试线、老化架回流线和预处理线，老化测试线的老化恒温区设于老化实验舱内部，上料区、下料区、老化架回流线和预处理线设于老化实验舱外部，老化测试线一侧与老化架回流线一侧通过上料区连接，老化测试线另一侧与老化架回流线另一侧通过下料区连接，老化架回流线装于老化测试线一侧，预处理线装于老化测试线另一侧；与传统的老化房相比，本实用新型优化了老化房的结构，提高了老化测试的效率，提高产能。
- 一种预处理回流老化
- [发明专利]一种液晶面板老化测试方法-CN202210843084.X在审
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叶林俊;王莉
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冠捷显示科技（厦门）有限公司
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2022-07-18
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2022-10-14
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G09G3/00
- 本发明涉及一种液晶面板老化测试方法，其包括以下步骤：步骤一，启动液晶面板老化测试，创建老化测试线程；步骤二，检测老化测试开关是否有开启，若老化测试开关状态为开启，则进入步骤三；若老化测试开关状态为关闭，则退出老化测试模式；步骤三，液晶面板的主板的SoC芯片内部画面产生器绘制老化测试所需的画面，并设置每个画面的加载播放老化时间，液晶面板任意排列显示画面，初始化老化测试画面；步骤四，对液晶面板加载步骤三的画面，若上一个显示画面的加载播放老化时间计时结束后，自动显示下一个画面，若播放运行的画面大于设定的最大数量，那么恢复到初始画面进行重新循环播放，采用以上技术方案实现自动测试，使得老化测试更合理，良品率更高。
- 一种液晶面板老化测试方法
- [实用新型]移动式老化小车-CN202221833343.2有效
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陈佃科;李宁
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苏州市博电云科能源科技有限公司
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2022-07-15
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2022-12-06
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G01R31/00
- 本实用新型涉及一种移动式老化小车，移动式老化小车包括若干层老化测试平台和第二端子，老化测试平台上布设有测试单元，测试单元上设有用于供待老化测试产品滑入测试单元的滑动结构，以及与产品电连接的第一端子，第一端子同时与第二端子电连接，然后第二端子与老化柜电连接，以完成老化测试。本实用新型的移动式老化小车能使待老化测试产品通过移动式老化小车上的滑动结构滑入测试单元，使搬运产品更加省力，防止产品脱落，避免给产品及人员带来损伤，同时移动式老化小车上可更换的第一端子能更便捷地与不同种类的产品连接及完成测试，滑动结构中的两相邻滑动组件之间的宽度也可调整，以使不同尺寸的产品在移动式老化小车上完成测试。
- 移动式老化小车
- [发明专利]老化测试系统-CN201010187295.X有效
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沈冲;陈剑晟;王斌;羡迪新;陈驰;高建辉
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北京新润泰思特测控技术有限公司
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2010-05-27
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2010-10-13
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G01R31/28
- 本发明公开了一种老化测试系统，包括老化测试箱、测试模块、数据处理模块及系统控制模块，其中，所述测试模块用于测试待老化测试器件的功能和/或直流和/或交流参数；所述数据处理模块用于处理由所述测试模块得到的测试数据；所述系统控制模块用于发出各种控制信号，以控制所述老化测试的完成；所述老化测试箱内具有用于放置所述待老化测试器件的至少一个适配板，通过接口将所述至少一个适配板、所述测试模块、所述数据处理模块和所述系统控制模块相连接本发明的老化测试系统解决了现有老化测试系统中测试功能有限，以致半导体器件的筛选结果不准确的问题。
- 老化测试系统
- [实用新型]老化测试系统-CN201020207505.2有效
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沈冲;陈剑晟;王斌;羡迪新;陈驰;高建辉
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北京新润泰思特测控技术有限公司
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2010-05-27
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2011-01-19
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G01R1/02
- 本实用新型公开了一种老化测试系统，包括老化测试箱、测试模块、数据处理模块及系统控制模块，其中，所述测试模块用于测试待老化测试器件的功能和/或直流和/或交流参数；所述数据处理模块用于处理由所述测试模块得到的测试数据；所述系统控制模块用于发出各种控制信号，以控制所述老化测试的完成；所述老化测试箱内具有用于放置所述待老化测试器件的至少一个适配板，通过接口将所述至少一个适配板、所述测试模块、所述数据处理模块和所述系统控制模块相连接本实用新型的老化测试系统解决了现有老化测试系统中测试功能有限，以致半导体器件的筛选结果不准确的问题。
- 老化测试系统
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