专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种用于连接器插拔的治具及包含其的测试设备-CN202010140792.8有效
  • 曹锐;邓标华;裴敬;杜建 - 武汉精鸿电子技术有限公司
  • 2020-03-03 - 2023-02-28 - G01R1/04
  • 本发明公开了一种用于连接器插拔的治具及包含其的测试设备,属于半导体测试领域,其通过设置由连接板、第一把手、第二把手、连接杆和连接件等部件组成的拆装治具,利用连接件与扣板上连接柱的相互连接,以及第一把手与连接板之间的相互运动,可有效实现扣板在测试单板上的插过程和拔过程。本发明用于连接器插拔的治具及连接器插拔系统,结构简单,操作简便,能实现与扣板的快速、准确的匹配,提升扣板与测试单板匹配连接的准确性和精度,确保连接器拆装的效率和准确性,提升拆装效率的同时有效避免了连接器的变形或者损坏,降低了连接器的使用成本和半导体芯片的测试成本,具有较好的应用前景和推广价值。
  • 一种用于连接器包含测试设备
  • [发明专利]一种老化测试设备-CN202010140793.2有效
  • 杜建;裴敬;邓标华 - 武汉精鸿电子技术有限公司
  • 2020-03-03 - 2022-07-19 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种老化测试设备,属于半导体芯片老化测试领域,其包括由系统组件、过渡组件和组件对应连接而成的老化测试单元,可实现半导体芯片的老化测试,通过在隔热腔中对应设置的进气管,以及对应进气管设置的喷气口、进气孔和出气孔,可有效实现压缩冷空气对核心测试板的精准降温以及热量的高效导出。本发明中的老化测试设备,其结构简单,操作便捷,能在保证高频能量损失较小的同时,有效实现半导体芯片在高低温环境下的老化测试,确保核心测试板始终处于稳定的温度环境中,大幅提升隔热腔中热量的导出效率,保证测试板工作的稳定性,延长老化板、核心测试板的使用寿命,降低半导体芯片的测试成本和应用成本。
  • 一种老化测试设备
  • [发明专利]半导体存储器老化测试设备中老化测试板卡散热供气装置-CN202010232556.9有效
  • 杨轶;邓标华;裴敬;杜建 - 武汉精鸿电子技术有限公司
  • 2020-03-28 - 2022-06-03 - G11C29/56
  • 本发明公开了一种半导体存储器老化测试设备中老化测试板卡散热供气装置,包括连通至隔热腔体的老化测试板卡侧接头组件以及气源侧接头组件,气源侧接头组件包括同轴设置的堵头、压缩弹簧、气源密封座及气管接口,堵头及压缩弹簧设置在气源密封座中,压缩弹簧受压设置在堵头与气管接口之间,气源密封座与气管接口固定连接,老化测试板卡侧接头组件在连接时对堵头施加与压缩弹簧相反的力,老化测试板卡侧接头组件与气源侧接头组件的接触端面之间设置有第一密封圈。本发明采用老化测试板卡侧接头组件与气源侧接头组件进行插入配合并用密封圈进行密封,确保隔热效果;本发明采用压缩弹簧结构,机构失效率较低,提升整体的结构性能及工作寿命。
  • 半导体存储器老化测试设备板卡散热供气装置
  • [发明专利]一种半导体测试设备-CN202010143089.2有效
  • 曹锐;邓标华;裴敬;杜建 - 武汉精鸿电子技术有限公司
  • 2020-03-04 - 2022-02-18 - G01R31/26
  • 本发明涉及半导体测试领域,公开了一种半导体测试设备,其特征在于,包括设置在机架上的电控模块、测试模块、气源回路、散热模块;所述测试模块包括BIB测试板和SITE供电及信号板,所述BIB测试板和所述SITE供电及信号板分别与FT中间连接板无线材硬对接连接;所述BIB测试板正面设置有待测器件,所述BIB测试板背面连接有测试核心板,所述气源回路正对所述测试核心板设置,所述散热模块正对所述BIB测试板设置,用于对所述BIB测试板进行散热。本发明提供了一套完整的针对高速DUT的测试设备,实现了高速总线测试,还解决了测试过程中器件散热的难题。
  • 一种半导体测试设备
  • [实用新型]一种半导体测试设备的板卡插拔机构-CN202122054489.9有效
  • 黄锐;丁浩;裴敬;邓标华 - 武汉精鸿电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
  • 2021-08-27 - 2022-02-11 - G01R31/26
  • 本申请涉及一种半导体测试设备的板卡插拔机构,老化测试板水平布置,且可移动地组设于第三安装架上,第三安装架的端部两侧均自上而下依次间隔设置有多个限位空间,老化测试板的两端各对应一个限位空间;该插拔机构包括第二插拔工具,第二插拔工具包括第五连接件、第二卡勾和两个手柄;第二卡勾可拆卸地设置在第五连接件上,并用于卡接在老化测试板上的第二卡勾槽中;两个手柄分别转动连接于第五连接件的两端,在使用时,第五连接件水平布置,两手柄的其中一部分分别伸入第三安装架的端部两侧的一个限位空间,同时向外旋转两手柄时,老化测试板被拔出。本申请能够解决相关技术中人工插拔带来的工人劳动量大、插拔效率低的问题。
  • 一种半导体测试设备板卡机构
  • [实用新型]一种半导体老化测试架体-CN202122054490.1有效
  • 黄锐;丁浩;裴敬;邓标华 - 武汉精鸿电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
  • 2021-08-27 - 2022-02-11 - G01R1/04
  • 本申请涉及一种半导体老化测试架体,其包括第一安装架,第一安装架用于竖直地组设于柜体内,并将所述柜体分隔成用于容置老化测试板的第一温区和用于容置测试核心板的第二温区;所述第一安装架上自上而下设有若干窗口以及若干水平布置的直通板,所述直通板一端用于对接测试核心板,另一端穿过所述窗口并用于对接老化测试板;在相邻的两个直通板之间、且于所述第一安装架侧壁上开设有进气口和出气口,相邻的两个直通板所形成的空间内设有第一加热器。本申请可以解决相关技术中在进行高温测试时,老化区的高温会窜到业务区,影响业务区的操作;在进行低温测试时,在业务区会产生凝露的问题。
  • 一种半导体老化测试
  • [实用新型]一种老化测试柜及其机架结构-CN202122058614.3有效
  • 黄锐;丁浩;裴敬;邓标华 - 武汉精鸿电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
  • 2021-08-27 - 2022-02-11 - G01R1/04
  • 本申请涉及老化测试柜及其机架结构,第一安装架将柜体分隔成第一温区和第二温区,第三安装架位于第一温区内,并用于安装老化测试板,第二安装架位于第二温区内,并用于安装测试核心板;第一安装架上设有窗口以及直通板,直通板一端用于对接测试核心板,另一端穿过窗口并用于对接老化测试板;在相邻的两个直通板之间、且于第一安装架侧壁上开设有进气口和出气口,相邻的两个直通板所形成的空间内设有第一加热器;自动插拔装置与第一安装架固定,并用于沿水平方向插拔老化测试板。本申请可以解决相关技术中在进行高温测试时,老化区的高温会窜到业务区,影响业务区的操作,在进行低温测试时,在业务区会产生凝露的问题,以及插拔效率低的问题。
  • 一种老化测试及其机架结构
  • [实用新型]一种老化测试板用的架体-CN202122044138.X有效
  • 黄锐;丁浩;裴敬;邓标华 - 武汉精鸿电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
  • 2021-08-27 - 2022-02-11 - G01R1/04
  • 本申请涉及一种老化测试板用的架体,其包括第三安装架和第二高度调节机构,第三安装架包括大架体和至少一个小架体,所述小架体自上而下布置,且各所述小架体独立地且可移动地组设于所述大架体中,所述小架体两侧设有与老化测试板端部相适配的第三导槽,所述小架体端面上设有用于与第一安装架上的第二定位对接部进行对接定位的第一定位对接部,其中,所述第一安装架上安装有用于与老化测试板连接的小背板;第二高度调节机构组设于所述大架体上,并用于调节所述大架体的高度。本申请能解决相关技术中装配环节要花大量时间试装,降低了板卡安装效率的问题。
  • 一种老化测试
  • [发明专利]一种自动插拔设备-CN202111000529.X在审
  • 曹锐;丁浩;裴敬;邓标华 - 武汉精鸿电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
  • 2021-08-27 - 2021-12-24 - G01R31/28
  • 本申请涉及一种自动插拔设备,其包括自动插拔装置,自动插拔装置包括两个固定部、两个移动机构、两个第三移动部、第一驱动机构和第二驱动机构,两个固定部用于间隔地布置于小背板的两侧,小背板用于与水平布置的老化测试板对接;两个移动机构分别可移动地组设于两个固定部上,两个第三移动部分别可移动地组设于两个移动机构上,第一驱动机构与两个第三移动部相连,并用于驱动第三移动部竖直运动,以与老化测试板连接或分离,第二驱动机构与两个移动机构相连,并用于驱动移动机构运动,以使第三移动部与第一驱动机构在水平方向上发生相对运动,并插拔老化测试板。本申请能够解决相关技术中人工插拔带来的工人劳动量大、插拔效率低的问题。
  • 一种自动设备

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