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[实用新型]一种贴片式LED信赖性实验装置-CN201720872189.2有效
发明人：张仲元;杨永发;张明武;王鹏辉;刘庆 -专利权人：江西鸿利光电有限公司
申请日： 2017-07-18 - 公布日： 2018-02-23 - 主分类号： G01R31/44 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种贴片式LED信赖性实验装置，涉及发光二级管技术领域，它由老化装置和测试装置组成；在进行信赖型实验时，将焊接了一组贴片LED灯珠的测试板插入点亮夹具中并与散热治具固定，老化一段时间后，将测试板放置于测试装置中的测试卡座内，并通过测试底座上的导轨传送至积分球腔体中进行光电参数测试，测试完成后，将测试板取出继续放置老化装置中进行老化，第二个时间段后再放置测试装置中进行测试，根据老化时间段需要重复此操作过程；它可提高LED灯珠老化实验的效率，同时使用测试板进行整组贴片灯珠进行老化，更能客观的反映灯珠在客户端成品灯具上老化的结果，对产品寿命评估起到直观准确的判断。
一种贴片式 led 信赖实验装置

[发明专利]IGBT老化测试电路及方法-CN201811209092.9在审
发明人：王磊;李兵;刁利军;徐春梅;邱瑞昌;郭羽佳;王梦珠;董超跃 -专利权人：北京交通大学
申请日： 2018-10-17 - 公布日： 2018-11-30 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本申请涉及一种IGBT老化测试电路及方法，该电路包括：第一电流源、第二电流源、正反向导流单元、待测单元。该第一电流源通过正反向导流单元为所述待测单元提供老化测试电流，正反向导流单元用于调整老化测试电流流经待测单元的方向，以通过流经待测单元的老化测试电流方向模拟IGBT工作状态；第二电流源为待测单元提供结温测试电流，以测试待测单元在结温测试电流下的饱和电压，并通过饱和电压对所述IGBT进行老化测试。通过老化测试电路完成对IGBT的老化测试，对IGBT的使用寿命进行在线评估及预测，能够有效地监控IGBT的工作状态，提前对即将损坏的IGBT进行更换，保障轨道列车的安全运行。
待测单元老化测试电流源老化测试电路饱和电压测试电流结温安全运行电流方向轨道列车使用寿命在线评估有效地电路测试监控预测申请

[实用新型]IGBT老化测试电路-CN201821687302.0有效
发明人：王磊;李兵;刁利军;徐春梅;邱瑞昌;郭羽佳;王梦珠;董超跃 -专利权人：北京交通大学
申请日： 2018-10-17 - 公布日： 2019-07-05 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种IGBT老化测试电路，该电路包括：第一电流源、第二电流源、正反向导流单元、待测单元。该第一电流源通过正反向导流单元为所述待测单元提供老化测试电流，正反向导流单元用于调整老化测试电流流经待测单元的方向，以通过流经待测单元的老化测试电流方向模拟IGBT工作状态；第二电流源为待测单元提供结温测试电流，以测试待测单元在结温测试电流下的饱和电压，并通过饱和电压对所述IGBT进行老化测试。通过老化测试电路完成对IGBT的老化测试，对IGBT的使用寿命进行在线评估及预测，能够有效地监控IGBT的工作状态，提前对即将损坏的IGBT进行更换，保障轨道列车的安全运行。
待测单元老化测试电流源老化测试电路饱和电压测试电流结温本实用新型安全运行电流方向轨道列车使用寿命在线评估有效地电路测试监控预测

[发明专利]一种芯片老化测试电路-CN202310988128.2在审
发明人：韩晶;梁世金;荆泉 -专利权人：北京燧原智能科技有限公司
申请日： 2023-08-08 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种芯片老化测试电路。该芯片老化测试电路包括：老化输入控制模块，用于输出控制数据；选择模块，与老化输入控制模块电连接，用于选择输出的数据；伪随机数生成模块，与选择模块电连接，用于生成伪随机数；移位器，与伪随机数生成模块电连接，用于对伪随机数进行移位处理；老化测试沿检测模块，与老化输入控制模块电连接，并通过芯片中的扫描链与移位器电连接；用于检测扫描链上的数据是否发生翻转，以对芯片进行老化测试。本发明实施例提供的芯片老化测试电路，能够保证测试的可靠性。
一种芯片老化测试电路

[发明专利]一种显示面板的老化测试电路、老化测试方法和显示装置-CN201910497883.4在审
发明人：李汶欣 -专利权人：惠科股份有限公司;重庆惠科金渝光电科技有限公司
申请日： 2019-06-10 - 公布日： 2019-11-15 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明公开一种显示面板的老化测试电路、老化测试方法和显示装置，所述显示面板，包括老化测试模块可输出老化测试信号，控制电路根据所述老化测试信号输出切换信号，切换显示面板至正常模式或老化测试模式，驱动显示面板的扫描线的栅极驱动电路；开启电压电路根据所述切换信号输出第一驱动信号用于开启栅极驱动电路和关断电压电路根据所述切换信号输出第二驱动信号用于关断栅极驱动电路；在所述老化测试模式下，所述第一驱动信号的电压大于所述正常模式的电压，所述第二驱动信号的电压小于所述正常模式的电压；使显示面板的跨压更大，加速老化测试模式，将早期的不良产品控制在厂内。
驱动信号显示面板栅极驱动电路正常模式老化测试模式老化测试信号老化测试切换信号输出老化测试电路不良产品测试模式加速老化开启电压控制电路驱动显示输出切换显示装置扫描线关断跨压压电断电电路

[实用新型]一种显示屏老化测试装置-CN202222539472.7有效
发明人：聂世球;李业华;张扬扬;姚鑫荣;王金福;张伟钊;姜承湘;朱泓衍 -专利权人：深圳前海骁客影像科技设计有限公司
申请日： 2022-09-23 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型实施例公开了一种显示屏老化测试装置。包括：壳体、老化测试器件、制冷剂输入管、蒸发器、制冷剂输出管以及一个或多个风扇；其中，所述老化测试器件设置于所述壳体内部，用于对显示屏进行老化测试；所述蒸发器用于使用从所述制冷剂输入管送入的制冷剂进行冷热交换，并使得使用后的制冷剂从所述制冷剂输出管送出；所述风扇用于将外部空气经由所述蒸发器吹入到所述壳体内部，以降低所述老化测试器件的温度。从而解决了显示屏老化测试装置的散热问题，保障了显示屏老化测试装置的长期稳定工作，提高了显示屏老化测试装置的使用寿命。
一种显示屏老化测试装置

[实用新型]日光灯测试老化试验工作面板-CN200820085268.X无效
发明人：张文坤;茆学华;孙裕康 -专利权人：施继君
申请日： 2008-03-28 - 公布日： 2009-05-27 - 主分类号： F21S2/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及节能灯和日光灯制造的机械装备，是一种可在传统节能灯测试老化生产线上增加测试老化日光灯的装置。所述的一种日光灯测试老化装置，是针对现有节能灯测试老化生产线的基础上进行改正拓展其使用功能，当产品由节能灯转换生产日光灯时，只要在原节能灯测试老化生产线上增加日光灯测试老化装置，节能灯测试老化生产线立即转换成对日光灯产品的测试老化试验功能
日光灯测试老化试验工作面板

[发明专利]一种低成本的PoE交换机带载PD的老化测试方法-CN201810777962.6在审
发明人：黄石勇 -专利权人：深圳市吉祥腾达科技有限公司
申请日： 2018-07-16 - 公布日： 2019-01-01 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种低成本的PoE交换机带载PD的老化测试方法，包括以下步骤：S1、测试准备；S2、研发老化测试步骤；S3、工厂老化测试步骤。本发明的有益效果是：可以实现低成本可批量进行PoE交换机老化测试。
老化测试低成本带载研发测试

[实用新型]一种抗静电测试机的测试载具-CN202320283701.5有效
发明人：黄章挺;张帆;郑高林 -专利权人：福建兆元光电有限公司
申请日： 2023-02-22 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及LED芯片老化板的抗静电能力测试用具技术领域，具体涉及一种抗静电测试机的测试载具，包括老化板载台和沿老化板载台的边部沿轮廓设置的卡箍；所述老化板载台的台面上设置有定位槽；所述卡箍具有夹紧端，所述夹紧端夹持在所述抗静电测试机的载物台的边部。本实用新型增设用于装载老化板的老化板载台，并且在老化板载台的边部沿轮廓设置卡箍，利用卡箍的夹紧端与抗静电测试机的载物台的边部夹持，使得老化板载台能够位于抗静电测试机的载物台的上方，进而操作人员便可将固晶有LED芯片的老化板放置定位槽中让抗静电测试机进行测试。
一种抗静电测试

[发明专利]老化测试方法和系统-CN201010129134.5无效
发明人：托尼·俄伽扎瑞恩 -专利权人：苹果公司
申请日： 2010-03-08 - 公布日： 2011-09-21 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了老化测试方法和系统。老化测试方法包括以下步骤：加载老化软件包，该老化软件包包含针对待测设备的多个测试序列；基于老化软件包对待测设备中的一个或多个部件的每一个执行预定的开始迭代次数的测试；以及基于部件记录测试故障结果。可以引入延展老化测试来建立所发现故障的可重复性并捕获可重复样本以供工程分析。在具有足够的故障结果数据的情况下，可以基于某些准则来减少测试的迭代次数。
老化测试方法系统

[实用新型]一种老化测试机-CN201821617313.1有效
发明人：高长华 -专利权人：苏州精濑光电有限公司
申请日： 2018-09-30 - 公布日： 2019-07-09 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及电子产品测试技术领域，具体公开了一种老化测试机，其包括老化炉体，一种老化测试机，包括老化炉体，还包括：搬运通道，设置于老化炉体的一侧，搬运通道包括分别设置于其两端的通道入口和通道出口；搬运装置，设置于搬运通道内，用于将待老化工件由通道入口运送至老化炉体内，并用于将老化后的工件由老化炉体搬出，及将老化后的面板搬运至通道出口。本实用新型提供的老化测试机中设置在搬运通道内的搬运装置，实现了搬运装置与老化炉体的线上对接，搬运装置自动将待老化工件放置于老化炉内，并将老化后的工件由老化炉体搬出，及将老化后的面板搬运至所述通道出口，使得老化测试机自动化程度高
老化炉老化测试机搬运老化搬运装置通道出口本实用新型通道入口搬出电子产品测试工件放置人工成本自动化体内运送节约

[发明专利]一种用于电子设备的老化测试装置-CN202110191576.0在审
发明人：邓武英 -专利权人：深圳市环测威检测技术有限公司
申请日： 2021-02-18 - 公布日： 2021-05-04 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于电子设备的老化测试装置，包括用于对电子设备老化测试的设备主体，设备主体包括有设备外壳，设备外壳内设置有老化测试腔，老化测试腔处设置有多个顶角，顶角内有相匹配的限位柱，相邻两根限位柱之间设置有连接层，连接层遮挡住老化测试腔的内壁，连接层朝向老化测试腔的内壁的一侧设置有多个加厚部，加厚部内设置有密封腔，设备外壳的底部设置有出风组件，老化测试腔的腔底设置有多个出风孔。
一种用于电子设备老化测试装置

[发明专利]基于USB传输的芯片设备端数据收集系统和方法-CN202310479678.1在审
发明人：胡鸿源;贺乐;赖鼐;龚晖 -专利权人：深圳市晶存科技有限公司
申请日： 2023-04-27 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请实施例提供了基于USB传输的芯片设备端数据收集系统和方法，其中系统包括上位机、主机端、芯片设备端；主机端与芯片设备端连接，上位机与主机端通过USB数据线连接；方法包括将芯片设备端放置到芯片老化测试设备中进行老化测试，芯片设备端将老化测试日志发送至主机端，主机端通过USB数据线将老化测试日志转发至上位机；提高了芯片老化测试设备的空间利用率，保证了USB数据线所传输的老化测试日志不失真，保证了老化测试结果的准确性。
基于 usb 传输芯片设备数据收集系统方法

[实用新型]一种新型恒温老化系统-CN202021233525.7有效
发明人：范丹青 -专利权人：东莞市冠达自动化设备有限公司
申请日： 2020-06-29 - 公布日： 2021-04-16 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种新型恒温老化系统，包括老化箱，老化箱内腔两侧壁均安装有若干个隔板，老化箱内腔安装有加热装置、加湿器、照明灯、温度传感器和湿度传感器，隔板底部安装有振动器，老化箱上设置有计时器、温度调节旋钮、湿度调节旋钮、光照强度调节旋钮、电压调节旋钮、振动器开关和总控开关，本实用新型操作简便，可以自动控制加热装置和加湿器的工作状态，使老化箱内的环境稳定在设置的温度和湿度，该老化系统可以根据测试需要进行不同光照、温度、湿度、冲击电压等因素下的老化测试，且该老化系统可以同时对多个测试样品进行老化测试，将测试结果进行对比分析，使测试更加合理有效。
一种新型恒温老化系统

[实用新型]一种重合闸的兼容性老化测试装置-CN202222086510.8有效
发明人：夏文明;汪群华;张全伟;韦超平;赵喜明;张明磊 -专利权人：浙江俊朗电气自动化股份有限公司
申请日： 2022-08-09 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种重合闸的兼容性老化测试装置，应用于不同型号的重合闸进行老化测试，包括:支架、设置在支架上的至少两层老化工件放置台、设置于每层老化工件放置台下方的挡料条、与重合闸的触点相对应的电极触头组、以及连杆驱动机构；其中，每层老化工件放置台设置有至少两个老化测试工位，每个所述老化测试工位上对应设置有一个电极触头组；所述挡料条可拆卸，根据待老化测试的重合闸的型号设置其所放置的挡料位置。本实用新型所提供的重合闸的兼容性老化测试装置，能够实现一台装置兼容不同型号重合闸的老化测试，极大地节省了成本。
一种合闸兼容性老化测试装置