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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[实用新型]老炼试验箱-CN201520937636.9有效
发明人：沈冲;羡迪新;王斌;陈剑晟;陈驰;季长春 -专利权人： 北京新润泰思特测控技术有限公司
申请日： 2015-11-24 - 公布日： 2016-08-03 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种老炼试验箱，包括箱体、至少一个风叶控制模块和至少一个气体充入口，其中，所述风叶控制模块包括位于所述箱体外部的风叶驱动装置，位于所述箱体内部与所述风叶驱动装置相分离的风叶从动装置，以及与所述风叶从动装置相连接的风叶。
试验

[发明专利]老炼试验箱-CN201510815287.8在审
发明人：沈冲;羡迪新;王斌;陈剑晟;陈驰;季长春 -专利权人： 北京新润泰思特测控技术有限公司
申请日： 2015-11-24 - 公布日： 2016-05-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种老炼试验箱，包括箱体、至少一个风叶控制模块和至少一个气体充入口，其中，所述风叶控制模块包括位于所述箱体外部的风叶驱动装置，位于所述箱体内部与所述风叶驱动装置相分离的风叶从动装置，以及与所述风叶从动装置相连接的风叶。
试验

[实用新型]老化测试箱-CN201020207501.4有效
发明人：羡迪新;沈冲;王斌;陈剑晟;陈驰;高建辉 -专利权人： 北京新润泰思特测控技术有限公司
申请日： 2010-05-27 - 公布日： 2011-01-19 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种老化测试箱，包括多个老化测试板，每个所述老化测试板上设置有多个老化测试插座，所述老化测试箱还具有多个加热器以及至少一个温度传感器，所述温度传感器检测所述老化测试箱内的温度，得到至少一个温度检测值，所述多个加热器根据所述至少一个温度检测值与老化测试箱的温度设定值启动或关闭。本实用新型还公开了相应的老化测试系统。本实用新型的老化测试箱及老化测试系统可以改善加热的均匀性，提高老化测试结果的准确性。
老化测试

[实用新型]老化测试系统-CN201020207505.2有效
发明人：沈冲;陈剑晟;王斌;羡迪新;陈驰;高建辉 -专利权人： 北京新润泰思特测控技术有限公司
申请日： 2010-05-27 - 公布日： 2011-01-19 - 主分类号： G01R1/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种老化测试系统，包括老化测试箱、测试模块、数据处理模块及系统控制模块，其中，所述测试模块用于测试待老化测试器件的功能和/或直流和/或交流参数；所述数据处理模块用于处理由所述测试模块得到的测试数据；所述系统控制模块用于发出各种控制信号，以控制所述老化测试的完成；所述老化测试箱内具有用于放置所述待老化测试器件的至少一个适配板，通过接口将所述至少一个适配板、所述测试模块、所述数据处理模块和所述系统控制模块相连接。本实用新型的老化测试系统解决了现有老化测试系统中测试功能有限，以致半导体器件的筛选结果不准确的问题。
老化测试系统

[实用新型]老化测试箱-CN201020207504.8有效
发明人：沈冲;王斌;陈剑晟;羡迪新;陈驰;高建辉 -专利权人： 北京新润泰思特测控技术有限公司
申请日： 2010-05-27 - 公布日： 2011-01-19 - 主分类号： G01R1/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种老化测试箱，包括设置于所述老化测试箱的测试板上的多个老化测试插座，第一温度传感器以及加热器，所述第一温度传感器检测所述老化测试箱内的温度，得到第一温度值，所述加热器根据所述第一温度值与老化测试箱的温度设定值启动或关闭，其中，所述老化测试箱内至少设置有一个具有交换器的盖板，所述盖板与待老化测试器件之间设置有第二温度传感器，所述第二温度传感器检测待老化测试器件的温度，得到待老化测试器件的实际温度值，根据待老化测试器件的实际温度值与待老化测试器件的温度设定值对待老化测试器件进行单独的热交换处理。本实用新型的老化测试箱提高了老化测试结果的准确性，实现了多种不同器件的同时老化测试。
老化测试

[实用新型]老化测试系统-CN201020207502.9有效
发明人：王斌;沈冲;陈剑晟;羡迪新;陈驰;高建辉 -专利权人： 北京新润泰思特测控技术有限公司
申请日： 2010-05-27 - 公布日： 2011-01-19 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种老化测试系统，包括具有至少一个老化测试板的老化测试箱、电源模块、报警模块，所述老化测试箱内还具有至少一个加热器，以及至少一个用于检测老化测试温度值的温度检测器，其中，当所述老化测试温度值大于第一设定值时，所述报警模块启动第一报警；当所述老化测试温度值大于第二设定值时，所述报警模块启动第二报警。本实用新型的老化测试系统设置了自保护系统，其可以根据老化测试过程中的异常情况做出不同的报警反应，进一步保护了待老化测试芯片。
老化测试系统

[发明专利]老化测试箱-CN201010187310.0有效
发明人：沈冲;王斌;陈剑晟;羡迪新;陈驰;高建辉 -专利权人： 北京新润泰思特测控技术有限公司
申请日： 2010-05-27 - 公布日： 2010-10-13 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种老化测试箱，包括设置于所述老化测试箱的测试板上的多个老化测试插座，第一温度传感器以及加热器，所述第一温度传感器检测所述老化测试箱内的温度，得到第一温度值，所述加热器根据所述第一温度值与老化测试箱的温度设定值启动或关闭，其中，所述老化测试箱内至少设置有一个具有交换器的盖板，所述盖板与待老化测试器件之间设置有第二温度传感器，所述第二温度传感器检测待老化测试器件的温度，得到待老化测试器件的实际温度值，根据待老化测试器件的实际温度值与待老化测试器件的温度设定值对待老化测试器件进行单独的热交换处理。本发明的老化测试箱提高了老化测试结果的准确性，实现了多种不同器件的同时老化测试。
老化测试

[发明专利]老化测试系统-CN201010187295.X有效
发明人：沈冲;陈剑晟;王斌;羡迪新;陈驰;高建辉 -专利权人： 北京新润泰思特测控技术有限公司
申请日： 2010-05-27 - 公布日： 2010-10-13 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种老化测试系统，包括老化测试箱、测试模块、数据处理模块及系统控制模块，其中，所述测试模块用于测试待老化测试器件的功能和/或直流和/或交流参数；所述数据处理模块用于处理由所述测试模块得到的测试数据；所述系统控制模块用于发出各种控制信号，以控制所述老化测试的完成；所述老化测试箱内具有用于放置所述待老化测试器件的至少一个适配板，通过接口将所述至少一个适配板、所述测试模块、所述数据处理模块和所述系统控制模块相连接。本发明的老化测试系统解决了现有老化测试系统中测试功能有限，以致半导体器件的筛选结果不准确的问题。
老化测试系统

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