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[发明专利]一种集成式内存老化测试装置-CN202111594265.5在审
发明人：谷新亮;刘德旺 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2021-12-23 - 公布日： 2022-04-29 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明公开一种集成式内存老化测试装置，测试板卡设置用于模拟整机工作条件的辅助元器件，测试板卡设置至少两组规格不同的内存插座，可以匹配至少两种不同规格的内存条，每组内存插座能够插装若干块相应规格的内存条，每组可以同时对多块内存条提供测试；测试板卡设置老化罩，壳体状的老化罩能够环绕罩设在内存插座的外周，为待测内存条提供制冷和/或制热环境，通过老化罩对模拟工作状态的内存条施加不同的温度，加速内存条的老化，加速老化测试的进程本发明针对内存条老化测试设计，可以同时为不同规格的内存条同时测试，利用老化罩施加不同的温度条件，快捷高效地完成内存条老化测试，不需要将不同规格的内存条单独匹配整机进行测试。
一种集成内存老化测试装置

[发明专利]一种PCIE加速卡老化测试方法、系统、终端及存储介质-CN202310367828.X在审
发明人：王云胜;刘传彬 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2023-04-07 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明涉及老化测试领域，具体公开一种PCIE加速卡老化测试方法、系统、终端及存储介质，为每个PCIE加速卡申请各自的直接读写缓冲区；将老化测试数据拷贝到各个直接读写缓冲区；触发直接存储器访问控制器将直接读写缓冲区中到老化测试数据传输到对应的PCIE加速卡的内存，以同时对各个PCIE加速卡进行老化测试；响应于直接读写缓冲区中的老化测试数据到PCIE加速卡内存传输完成，触发PCIE加速卡进行老化测试校验；接收各个PCIE加速卡的老化测试结果，本发明基于直接存储器访问技术，实现在不影响CPU性能的基础上同时对多个PCIE设备进行老化测试，有效提高测试效率，进而提高企业产能，降低产品成本。
一种 pcie 加速卡老化测试方法系统终端存储介质

[实用新型]一种适用于液晶显示模组的老化测试架-CN202022462094.8有效
发明人：李继龙;徐妍妍;骆志锋;王斯福 -专利权人：深圳同兴达科技股份有限公司
申请日： 2020-10-29 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种适用于液晶显示模组的老化测试架，包括架体，所述架体上方相对应的两面各设有一隔板，两隔板上相对应地设有若干对插槽，每一对插槽宽度及高度相同；每一对插槽用于放置一待测试的液晶显示模组；所述架体下方固定有至少一个老化测试板本实用新型提供一种适用于液晶显示模组的老化测试架，使进行老化的液晶显示模组竖向放置于老化测试架内，大大提高了老化测试架的容量，提高了老化测试效率。且竖向放置的老化测试架使每一液晶显示模组均衡地受到试验箱内空气对流的影响，保证了液晶显示模组测试条件的一致性，老化测试结果参考性大大提高。
一种适用于液晶显示模组老化测试

[实用新型]分立式节能测试老化装置-CN201921363628.2有效
发明人：任传建;任义 -专利权人：任传建
申请日： 2019-08-21 - 公布日： 2020-05-08 - 主分类号： G01R31/40 文献下载
摘要：本实用新型公开了分立式节能测试老化装置，包括柜体和设置在柜体内的老化盘，老化盘沿柜体的高度方向呈多列设置，相邻两列老化盘之间通过隔板隔开，隔板与柜体的内侧壁均设置有U型导轨，老化盘插入柜体内，老化盘插入柜体内的一端设有AC电源母座，柜体内设有AC电源插头，老化盘上设有控制显示面板、被测电源插座、DC测试母座和DC老化母座，AC电源母座与被测电源插座电性连接，DC测试母座旁设有用于指示工作状态的指示灯，指示灯与DC测试母座和DC老化母座并联，一个DC测试母座、一个DC老化母座和一个指示灯三者组合为一组。本实用新型结构简单、操作方便，可以在同一设备上进行电性测试和老化测试，且能将老化盘从柜体上拆下，测试便捷。
立式节能测试老化装置

[发明专利]一种基于子母板的集成电路芯片老化测试装置及测试方法-CN201710135630.3有效
发明人：朱笑鶤;余瑶 -专利权人：上海鑫匀源科技有限公司
申请日： 2017-03-08 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于子母板的集成电路芯片老化测试装置及测试方法，该装置包括通用老化母板和多个老化子板；通用老化母板上设有多个工位，工位上安装有呈阵列布置的多个弹簧针；老化子板可安装于通用老化母板的一工位上，其正面上设有芯片安装部、并集成有外围应用电路；老化子板的背面上安装有呈阵列布置的多个金属触点，其中，多个金属触点的一部分与待测试芯片的管脚连接，另一部分与外围应用电路连接；工位上的插针与老化子板背面的金属触点相匹配、并相接触，从而将老化子板接入通用老化母板；还提供了一种测试方法。本发明能够适用于多种类型的集成电路芯片进行老化试验以及老化后的性能测试，有效地节约测试成本，降低测试周期。
一种基于母板集成电路芯片老化测试装置方法

[实用新型]老化测试电路、老化测试装置以及老化测试系统-CN202121213997.0有效
发明人：李坤;徐勋明;夏建平;李小明;余义江 -专利权人：惠州市艾比森光电有限公司
申请日： 2021-06-01 - 公布日： 2022-04-19 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种老化测试电路、老化测试装置以及老化测试系统，通过循环控制模块，在第一时长内循环老化进程，老化进程包括持续第二时长输出第一导通信号和持续第三时长停止输出第一导通信号；开关模块在输入第一导通信号时转接电源电压；N个LED接收卡模块在输入电源电压时显示老化N个LED模组，以及当停止电源电压时断电老化N个LED模组；从而实现对N个LED模组在第一时长内进行循环第二时长的显示老化和第三时长的断电老化，使N个LED模组的老化测试过程与之实际通断电的真实使用场景相近，从而更好地在老化测试过程发现N个LED模组在真实使用时出现的元件不良问题。
老化测试电路装置以及系统

[实用新型]老化测试座、老化测试组件及老化测试装置-CN202320172473.4有效
发明人：王源;李萱;杨斌 -专利权人：上海水木蓝鲸半导体技术有限公司
申请日： 2023-01-30 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本申请提供了老化测试座、老化测试组件及老化测试装置。所述老化测试座包括承载底座，具有相连通的第一凹槽及第二凹槽，所述第二凹槽设于所述第一凹槽相对的两侧，所述第一凹槽用于收容待测芯片，所述第二凹槽与所述第一凹槽用于收容承载所述待测芯片的老化子板的部分，其中贯穿所述承载底座，且所述多个引脚显露于所述承载底座的两端，所述多个引脚的一端显露于所述承载底座的部分位于所述第一凹槽内，且用于电连接所述待测芯片，另一端显露于所述承载底座的部分背离所述第一凹槽，且用于电连接老化母板本申请提供的老化测试座能够避免待测芯片的多次拆装，减少了老化测试成本。
老化测试组件装置

[发明专利]全自动老化测试生产线-CN202310240705.X在审
发明人：张智勇 -专利权人：东莞市艾普达科技有限公司
申请日： 2023-03-13 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明公开一种全自动老化测试生产线，包括：工装载具，上下料装置，测试线；第一升降装置，用于将承载有测试后的电子产品的工装载具运输至老化线中，以使老化线对该工装载具上的电子产品进行老化，或者，用于将承载有老化后的电子产品的工装载具运输至测试线中，以使测试线对该工装载具上的电子产品进行测试；老化线，用于对工装载具承载的测试后的电子产品进行老化；上下料装置、测试线、第一升降装置、老化线均设置有通电导轨，工装载具的底部设置有导电片，导电片电性连接于通电导轨；借此，其提高了老化测试的自动化程度，减少了人工，提高了生产效率，降低了生产成本，且电子产品能持续不间断地保持通电状态，从而实现了在线老化测试。
全自动老化测试生产线

[实用新型]一种充电器老化测试仪-CN201820207840.9有效
发明人：张恒 -专利权人：深圳市讯茂科技有限公司
申请日： 2018-02-02 - 公布日： 2018-11-02 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种充电器老化测试仪，包括基板、老化筒和测试架，所述基板的表面设置有半圆槽，且半圆槽的内侧嵌入有扣杆，所述扣杆之间固定有调节盘，所述老化筒的表面设置有滑槽，且老化筒位于调节盘之间，所述滑槽的外侧安装有嵌套，所述嵌套的上方设置有双头插座，且嵌套的下方焊接有滑杆，所述老化筒的内壁设置有插头，且插头的内侧固定有测试插座，所述测试架的内侧安装有气动伸缩杆，且测试架位于测试插座的内侧，所述气动伸缩杆之间安装有转动轴该充电器老化测试仪结构简单，操作简便，可以运用到实验室环境下的老化测试，老化过程与测试过程可一体进行，避免了频繁的插拔动作带来测试困扰。
充电器老化测试仪测试架老化气动伸缩杆表面设置测试插座插头半圆槽调节盘嵌套的滑槽基板扣杆嵌套本实用新型实验室环境测试过程插拔动作老化测试老化过程双头插座转动轴滑杆内壁焊接嵌入测试

[实用新型]一种用于光模块的抽屉式老化测试装置-CN202222037064.1有效
发明人：黄河 -专利权人：武汉固捷联讯科技有限公司
申请日： 2022-08-03 - 公布日： 2022-12-02 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于光模块的抽屉式老化测试装置，属于光通信测试技术领域。本实用新型通过盖板将待测光模块压紧在散热块与测试工位之间，位于夹具底座与测试工位之间加热板对待测光模块进行加热，位于盖板上相对测试工位上方的位置设置的散热块进行散热，从而将单个测试夹具构成独立的测试区，从而兼容SFP、QSFP等多种光模块的老化测试。本实用新型兼容性强，可测试多种型号的光模块测试。采用抽屉式设计，人工拿取方便，可批量装配于老化箱，实现大批量同时老化测试，提高测试效率。各光模块之间的测试电流、温度、老化计时等完全独立，需求扩展时批量增加老化箱及老化抽屉即可，维护更加方便。
一种用于模块抽屉老化测试装置

[发明专利]一种电解电容老化测试方法-CN202010394018.X在审
发明人：朱键雄 -专利权人：深圳市必事达电子有限公司
申请日： 2020-05-11 - 公布日： 2021-11-12 - 主分类号： G01R31/01 文献下载
摘要：本发明公开了一种电解电容老化测试方法，包含以下步骤：A、制作进料老化插板；将电容置入老化插板上；B、机械手或人工将插板导入老化烘箱；C、老化处理；D、将老化好的插板用机械手或人工置入测试机上，进入未充电测试；E、将插板上的电容下架至测试机进料；F、容量损耗测试；G、置入测试充电排架进行充电；H、进入漏电流测试；I叠加交流测试，过电压，过电流测试以及电压波动图形记录和评定等其他测试。本发明能够增加电容检测的效率，并且降低测试不准的概率，同时还有检测过程记录保存、控制、判定功能。
一种电解电容老化测试方法

[发明专利]DRAM芯片老化测试设备、方法、计算机设备及存储介质-CN202010029257.5有效
发明人：赵佳思;刘栋;张卫民 -专利权人：记忆科技（深圳）有限公司
申请日： 2020-01-10 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明涉及一种DRAM芯片老化测试设备、方法、计算机设备及存储介质，设备包括用于提供环境温度控制的老化柜，及连接并控制所述老化柜的通信控制模块，以及用于放置被测试DRAM芯片的测试板，所述测试板包括有用于测试DRAM芯片的SSD主控模块，所述SSD主控模块通过高速DRAM接口连接多个DRAM芯片进行测试。本发明通过在测试板上使用SSD主控模块来同时连接多个DRAM芯片进行老化测试，在保证单个DRAM芯片的测试效率不受影响的前提下，大大提高了DRAM芯片老化测试设备的同测数量，进而提高了DRAM芯片老化测试的效率
dram 芯片老化测试设备方法计算机存储介质

[实用新型]一种电源设备智能化测试系统-CN201821520193.3有效
发明人：黄勇 -专利权人：四川创宏电气有限公司
申请日： 2018-09-18 - 公布日： 2020-01-17 - 主分类号： G01R31/42 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种电源设备智能化测试系统，可以由主控处理器控制完成至少三个待测应急电源的逆变老化测试、充电老化测试，并能在测试过程中自动控制老化时间，依据各模块传出的测试数据生成数据报表，自动获得相应的老化测试结果从而在一个平台上实现了对应急电源各单元的老化测试，具有提高测试效率和节省测试资源的技术效果。
老化测试应急电源智能化测试系统测试数据生成本实用新型主控处理器测试过程测试效率测试资源电源设备技术效果自动获得逆变充电老化

[实用新型]一种无线充电器电路老化测试装置-CN201821891380.2有效
发明人：黄生祥;王道兵;王丽丽 -专利权人：河南壹元科技有限公司
申请日： 2018-11-16 - 公布日： 2019-08-20 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种无线充电器电路老化测试装置，包括老化测试装置本体，老化测试装置本体的前端设置有显示屏，显示屏的下方设置有方形按钮，显示屏的一侧设置有圆形按钮，圆形按钮设置有输入端口和输出端口，输入端口和输出端口的下方设置有开关，老化测试装置本体的内部设置有电源模块、数据采集模块、老化测试模块。本实用新型是一种无线充电器电路老化测试装置，该老化检测装置通过设置电源模块、数据采集模块、老化测试模块、控制模块和传感器模块，检测导线通过输入端口和输出端口与无线充电器检测电路是否老化，可以通过显示屏观察数据
老化测试装置无线充电器输出端口输入端口显示屏数据采集模块本实用新型电路电源模块老化测试圆形按钮老化检测装置传感器模块显示屏观察检测电路控制模块内部设置前端设置按钮老化检测应用

[发明专利]一种量产测试仪及量产老化测试系统-CN201210010861.9无效
发明人：何宏;李志雄;尹慧 -专利权人：深圳市江波龙电子有限公司
申请日： 2012-01-13 - 公布日： 2012-07-04 - 主分类号： G01R31/01 文献下载
摘要：本发明适用于测试技术领域，提供了一种量产测试仪及量产老化测试系统。其中的量产测试仪包括：老化测试单元；插接口，用于连接待量产测试设备；温度采集单元，用于采集待量产测试设备周围的环境温度；控制单元，用于检测到插接口连接有待量产测试设备后，调用量产工具，通过插接口完成对待量产测试设备的量产工序，之后获取温度采集单元采集的环境温度，当环境温度大于或等于预设温度时，控制老化测试单元对处于老化测试中的待量产测试设备进行质量检测；供电单元。该量产测试仪在进行量产老化测试时，无需将量产测试后的待量产测试设备取下再连接到单独的老化测试仪上，减少了测试工序，缩短了测试时间，提高了测试效率，且节约了人力成本。
一种量产测试仪老化测试系统