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- [发明专利]自由发光图案的导光结构-CN201310462188.7在审
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萧隆智;蔡佩蓉
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大億交通工业制造股份有限公司
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2013-09-30
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2015-04-15
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G02B6/00
- 本发明提供一种自由发光图案的导光结构，尤指一种可自由构图的立体发光结构，其包含：一导光本体，其中心设有一入光面，该入光面相对应构成一第一反光面及第二反光面，将极大多数的光全反射收敛在第一与第二反光面间，且该第一反光面设有至少一出光微结构；所述入光面依发光源表面形状而配合成平面或内凹的面，达到全面收光的效果；所述出光微结构由第一反光面凸起、凹陷或粗化表面形成，将导光本体间全反射光导出形成发光图形；凭借的，本发明可凭借入光面将发散光聚集在有效导光轨迹中，第一及第二反光面将直射光全数导入导光轨迹中而倍增有效导光量，供出光微结构充分应用，达到最少发光源，最小光通量，能产生渐渐均匀的高发光任意图形。
- 自由发光图案结构
- [发明专利]脉宽调制结构光编码图案方法-CN201310283157.5有效
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林斌;张万祯
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苏州江奥光电科技有限公司
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2013-07-08
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2013-10-09
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H04N5/235
- 本发明公开了一种脉宽调制结构光编码图案方法，包括以下步骤，1）将三级脉宽调制波形分解为两组二级脉宽调制波形；2）由两组二级脉宽调制波形生成两幅二级脉宽调制结构光编码图案；3）对两幅二级脉宽调制结构光编码图案按照相同的投影与曝光成像参数顺序投影和曝光成像，获得两幅二级脉宽调制曝光图像；4）对两幅二级脉宽调制曝光图像进行灰度值相加合成，获得三级脉宽调制编码结构光图案照明效果的复合图像。该方法仅使用两个灰度级的结构光编码图案，结构光投影成像时不需要进行复杂的投影非线性校正，也不需要精确的投影与曝光成像同步控制，并且能够投影获得与三级脉宽调制结构光编码图案方法照明效果相同的场景图像。
- 脉宽调制结构编码图案方法
- [发明专利]多台结构光模组深度重建系统-CN202111060632.3在审
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黄龙祥;汪博;朱力;吕方璐
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深圳市光鉴科技有限公司
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2021-09-10
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2023-03-14
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H04N13/128
- 本发明提供了一种多台结构光模组深度重建系统，包括：控制模块和至少两台结构光模组：结构光模组，用于向同一目标投射结构光，采集结构光形成的结构光图案，根据结构光图案进行深度重建生成深度图像；控制模块，用于当深度图像重建失败时，获取结构光图案，判断结构光图案中光斑的密度是否大于预设置的密度阈值，且当密度大于预设置的密度阈值时，对每一结构光模组的光束投射接收时序分别增加或减少一随机调节时间，随机调节时间为曝光时间的自然数倍，根据更新后的投射接收时序控制至少两台结构光模组向同一目标投射结构光图案，以使结构光图案进行深度重建生成深度图像。本发明能够通过不改动硬件结构的条件下达到解决模组投射器串扰的问题。
- 结构模组深度重建系统
- [发明专利]一种测量方法以及测量系统-CN202111322085.1在审
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张小龙
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华为技术有限公司
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2021-11-09
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2023-05-12
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G01B11/25
- 本发明实施例公开了一种测量方法以及测量系统，用于提高区分结构光图案的准确性，以提高测量待测物体的三维信息的准确性。所述方法包括：测量装置获取测量图像，所述测量图像为对待测物体进行拍摄以形成，所述测量图像包括N个结构光图案以及M个标识光图案，所述M为大于或等于1的正整数，所述N为大于或等于2的正整数；所述测量装置在所述测量图像中识别出所述N个结构光图案以及所述M个标识光图案；所述测量装置根据所述M个标识光图案区分所述N个结构光图案中的每一个结构光图案；所述测量装置根据已区分的所述N个结构光图案获取所述待测物体的三维信息。
- 一种测量方法以及测量系统
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