专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种检测孤岛的方法、装置及光伏并网发电系统-CN202010228325.0有效
  • 刘江波;易德刚;资志翔 - 深圳市首航新能源股份有限公司
  • 2020-03-27 - 2022-05-17 - G01R31/00
  • 本发明实施例涉及光伏并网发电领域,公开了一种检测孤岛的方法,应用于与外部电网连接的光伏并网发电系统,通过从所述光伏并网发电系统的存储单元中获取孤岛检测参数;采集与所述外部电网连接的光伏并网发电系统的电学参数;根据所述电学参数和所述孤岛检测参数,对所述光伏并网发电系统进行孤岛检测;若所述光伏并网发电系统发生孤岛,则记录所述光伏并网发电系统处于孤岛的时长;获取在预定时间段内所述光伏并网发电系统处于孤岛的时长小于预设阈值时的外部电网的电学参数;根据获取到的所述外部电网的电学参数,调整所述孤岛检测参数。从而,实现自动调整孤岛检测参数,以适配不同的电网环境,能够提高检测准确性,以及减少电网维护的工作量。
  • 一种检测孤岛方法装置并网发电系统
  • [发明专利]一种热载流子注入测试MOS器件的方法-CN200810035113.X有效
  • 唐逸 - 上海集成电路研发中心有限公司
  • 2008-03-25 - 2008-09-24 - G01R31/26
  • 本发明提供的一种热载流子注入测试MOS器件的方法包括以下步骤:1.根据JEDEC标准,对器件进行热载流子注入实验,计算所测试出的电学参数衰退幅度值;2.将不同时间点下计算出的MOS器件电学参数衰退幅度数据利用公式y=Atn+Bexp(c/t)+Dln(t)+E进行拟合;3.据步骤2的拟合结果,确定步骤2中公式中指数n和常数A、B、C、D、E值;4.依据步骤3得出的电学参数退化规律的计算公式来推算所测试的MOS器件的电学参数的可靠性是否合格。通过采用步骤2中拟合公式可刻画MOS器件电学参数在整个阶段的变化规律,克服了胡模型中密指数函数拟合精度不高和人为因素导致的测试结果不同的问题,从而提高了MOS器件性能评估的准确度。
  • 一种载流子注入测试mos器件方法
  • [实用新型]温度冷媒表贴片PCB测试治具-CN201720072499.6有效
  • 张炳秋;张艳娥 - 珠海华凯电子有限公司
  • 2017-01-20 - 2017-08-11 - G01R31/28
  • 本实用新型涉及温度冷媒表贴片PCB测试治具,包括机架、操作保护罩、检测探头、操控系统、显示系统、电池盒和电路系统,机架构成支撑框架,检测探头与电池盒、操控系统、显示系统和电路系统组成检测回路,检测探头进行PCB的电学参数的检测,显示系统进行所需检测的电学参数的显示,根据所显示的所述电学参数与设计的电学参数比对进行所述待测温度冷媒贴片PCB判定。本实用新型的温度冷媒表贴片PCB测试治具,通过绕转轴旋转的操作防护罩水平靠合,与电池、操控系统、显示系统电连接的所述检测探头与PCB板电触点电接触,测试得到的各种电参数通过显示屏或毫安电流表进行显示,效率高,操作简单,电参数一目了然判定,测试治具结构简单,成本低。
  • 温度冷媒表贴片pcb测试

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