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[实用新型]通用航空插头在线转接测试装置-CN201420803869.5有效
发明人：汤小慷;张学志;魏友国;张帆;张永祯;谢存;范松峰;周晶晶;涂望明;巴宁;林慧贞;邵春雨;王强;侯飞;侯良珍 -专利权人：中国人民解放军武汉军械士官学校
申请日： 2014-12-17 - 公布日： 2015-05-20 - 主分类号： G01R31/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种通用航空插头在线转接测试装置，包括测试箱体，所述测试箱体上设有控制装置，所述测试箱体内具有一测试腔和一循环腔，所述测试腔的两侧均与所述循环腔相连通，且所述测试腔与所述循环腔之间设有一循环风机，所述循环腔内设有一加湿器，所述测试腔的左右两侧设有多对航空接头，所述航空接头用于连接待测试航空插头，所述航空接头与控制装置相连接。本实用新型通过在测试箱体内设置测试腔用于测试航空插头，在使用时，加湿器将测试箱体内的空气加湿，风机驱动潮湿空气在循环腔和测试腔之间循环，模拟潮湿环境，控制装置测试潮湿环境下航空插头的工作情况，方便设计人员对航空插头抗潮湿环境的检验
通用航空插头在线转接测试装置

[发明专利]一种电动汽车用镍氢电池的脉冲循环寿命测试方法-CN201610975942.0有效
发明人：聂靖轩;戴润义;杜小勇;陈柯宇 -专利权人：成都雅骏新能源汽车科技股份有限公司
申请日： 2016-11-07 - 公布日： 2019-07-16 - 主分类号： G01R31/378 文献下载
摘要：本发明公开了一种电动汽车用镍氢电池的脉冲循环寿命测试方法，包括：一、对电池进行放残余；二、对电池进行容量测试；三、直流内阻测试；四、对电池进行放残余；五、循环充电；六、循环放电；七、循环充电；八、循环放电；九、循环步骤七、八100次；十、对电池进行放残余；十一、直流内阻测试；十二、对电池进行放残余；十三、对电池进行容量测试；十四、直流内阻测试；十五、对电池进行放残余，完成测试。本发明设计合理、构思严谨、测试结果精度高，有效解决了现有的电动汽车电池脉冲循环寿命测试测试方式存在测试结果精度低、效率低下、成本投入高、且无改善电解液中水分电解等的问题，因而其适于推广应用。
一种电动汽车镍氢电池脉冲循环寿命测试方法

[发明专利]汽车整车VOC测试舱循环风道结构-CN201210452157.9有效
发明人：夏可瑜;韦名英 -专利权人：东莞市升微机电设备科技有限公司
申请日： 2012-11-12 - 公布日： 2013-02-13 - 主分类号： G01M17/007 文献下载
摘要：本发明公开了一种汽车整车VOC测试舱循环风道结构，包括地基，装设在地基上的测试舱，所述地基内设有与测试舱内相连通的回风通道，测试舱内设有与所述回风通道相连通的循环风道，该循环风道内装设有蒸发器、加热加湿器和循环风机，所述回风通道、循环风道和测试舱围合而成测试空间。通过在所述地基内设有回风通道，该回风通道与测试舱内的循环风道相连通，能使测试舱的测试空间内的气体由上至下作垂直方向流动，风向流动更加科学合理，有利于气体在测试舱的测试空间内分布得更均匀，有效地提高了汽车整车VOC测试精度。
汽车整车 voc 测试循环风道结构

[实用新型]一种光刻胶颗粒度测试装置-CN202222620867.X有效
发明人：许箭;管艺真;崔世彬;王亮乾 -专利权人：国科天骥（滨州）新材料有限责任公司
申请日： 2022-09-30 - 公布日： 2023-02-07 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光刻胶颗粒度测试装置，属于光刻胶颗粒度测试技术领域，包括测试平台、颗粒仪本体、固定支架、第一循环箱体、第二循环箱体和连通管，颗粒仪本体通过固定支架焊接在测试平台的顶部中心位置处，第一循环箱体和第二循环箱体分别安装在测试平台的顶部两侧，第一循环箱体和第二循环箱体分别位于颗粒仪本体的两侧，第一循环箱体和第二循环箱体的顶部均通过连通管与颗粒仪本体的测试端相连接，第一循环箱体和第二循环箱体的内部结构相同，第一循环箱体和第二循环箱体的一侧均设置有注料口，本实用新型能够有效的避免颗粒仪本体的测试端残留产品影响测试结构，无需缓慢的等待气泡自行排出，提高测试效率，实用性更强。
一种光刻颗粒测试装置

[发明专利]一种工业机器人高温环境下耐粉尘测试装置-CN202111587004.0有效
发明人：吕世霞;朱青松;王学雷;王雷欧;柴玉婷;李颖;耿美晴 -专利权人：北京电子科技职业学院
申请日： 2021-12-23 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： B25J19/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种工业机器人高温环境下耐粉尘测试装置，包括测试箱，所述测试箱设有空气循环管道，所述空气循环管道位于所述测试箱外，其一端与所述测试箱的左侧壁密封连接，另一端与所述测试箱的右侧壁密封连接，所述空气循环管道的两端均与所述测试箱的内部空间连通，所述空气循环管道内设有风轮，所述风轮设有风轮驱动电机，所述空气循环管道上设有粉尘投放机构和粉尘回收机构。本发明可以使所述测试箱内的空气循环流动，从而有效提高所述测试箱内粉尘的均匀度，在所述测试箱内形成均匀的粉尘测试环境，提高工业机器人粉尘测试的准确性，所述测试箱内的空气循环流动，还便于测试结束后粉尘的自动清理回收
一种工业机器人高温环境粉尘测试装置

[发明专利]一种锂电池循环寿命快速测试方法-CN201310233747.7有效
发明人：姜久春;张维戈;张彩萍;时玮;刘秋降;张言茹;李雪;王玉坤;白恺;陈豪 -专利权人：北京交通大学;国家电网公司;华北电力科学研究院有限责任公司
申请日： 2013-06-13 - 公布日： 2013-10-09 - 主分类号： G01R31/36 文献下载
摘要：本发明涉及锂电池参数确定方法的技术领域，具体涉及一种锂电池循环寿命快速测试方法。该方法包括如下步骤：步骤1：根据电池样本的极化电压特性，确定循环寿命快速测试的荷电状态区间；步骤2：进行电池循环寿命快速测试，得到循环寿命测试实验数据；步骤3：部分荷电区间循环寿命推演数学模型；步骤4：建立0-100%荷电区间循环寿命推演数学模型；步骤5：得到电池0-100%荷电状态区间的循环寿命公式；步骤6估算出该测试电池的循环寿命。本发明避免了常规测试时间长、加速循环寿命测试方法与实际偏差大的不足，缩短了电池的设计、开发与测试周期。
一种锂电池循环寿命快速测试方法

[发明专利]一种电芯测试方法、装置及设备-CN202211011672.3在审
发明人：迟丽华;李宁 -专利权人：北京新能源汽车股份有限公司
申请日： 2022-08-23 - 公布日： 2022-11-15 - 主分类号： G01R31/385 文献下载
摘要：本发明提供了一种电芯测试方法、装置及设备，涉及电池技术领域，所述电芯测试方法包括：在目标环境温度下，对电芯进行多轮循环测试，其中，每轮循环测试的循环次数不同，每轮循环测试包括多次测试，每次测试包括如下步骤：根据预先设置的多个过充电压限分别对应的过充电时长，对所述电芯进行过充电测试；在对所述电芯进行所述过充电测试后，对所述电芯进行放电测试。本发明的方案能够实现电芯的循环过充电测试。
一种测试方法装置设备

[发明专利]一种针对Java卡不同性能指标的自适应测试方法-CN201210049266.6有效
发明人：李莹;殷中科;张凌飞 -专利权人：浙江大学
申请日： 2012-02-29 - 公布日： 2012-09-12 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种针对Java卡不同性能指标的自适应测试方法，包括如下步骤：1）测试终端向Java卡发送用于性能测试的JavaCardApplet应用命令；2）在测试终端设置所需要的精度；3）测试终端将循环测试次数为设置0，测出Java卡执行所述JavaCardApplet时间后，将循环测试次数为设置1，测出Java卡所述JavaCardApplet执行时间；4）利用公式，测试终端计算得出适合该性能测试的合理循环测试次数C；5）测试终端将循环测试次数设为C，测出Java卡经过C次循环后所述JavaCardApplet的执行时间；6）根据公式；测试终端计算得出测试函数的执行时间平均值，所述即为最终测试结果，在Java卡性能测试中能够对循环次数进行自适应取值且智能化执行测试过程，不受测试环境变动的影响等优点。
一种针对 java 不同性能指标自适应测试方法

[发明专利]老化测试温度循环系统及老化系统-CN202310340641.0在审
发明人：王吉浩;李志成;刘建平 -专利权人：江苏冠佳技术有限公司
申请日： 2023-03-31 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及连接器技术领域，具体涉及一种老化测试温度循环系统及老化系统，包括老化仓，循环通道，循环风机，以及温控装置，老化仓内设有至少一个的老化室；循环通道围设在老化仓的外周，老化室的两侧连通循环通道；循环风机设置在循环通道内、并用于在循环通道内循环吹风；温控装置设于循环通道内、并位于循环风机的出风端，循环风机朝向温控装置吹风、并形成温控风将温控风朝向循环通道内循环流动。本发明将风体经过循环通道时朝向老化室内进行导向，对被测试产品控制在一定的温度内进行测试，可实现温控老化测试，针对不同的产品模拟环境稳定进行老化测试，解决了现有老化测试系统单一的问题。
老化测试温度循环系统系统

[发明专利]一种用于确定设备发尘量绝对值的测试装置和方法-CN201610794951.X在审
发明人：王健;毛华雄;王登;孙欢;赵欢;林骏亚 -专利权人：同济大学建筑设计研究院（集团）有限公司
申请日： 2016-08-31 - 公布日： 2017-02-22 - 主分类号： G01N15/10 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于确定设备发尘量绝对值的测试装置和方法，所述测试装置包括：环境测试舱，用于模拟室内环境；循环净化风组件，用于控制所述环境测试舱内空气的含尘浓度本底值，包括循环风机、循环风送风口和循环风回风口，所述循环风机通过循环风送风口和循环风回风口与环境测试舱连通；搅拌风扇，吊装于所述环境测试舱中央，用于加速所述环境测试舱内空气的混合均匀；设备平台，位于所述环境测试舱内，用于放置受试设备；光学粒子计数器，通过设置于所述环境测试舱侧壁上的采样孔与环境测试舱连接，用于测量所述环境测试舱内空气的含尘浓度。
一种用于确定设备发尘量绝对值测试装置方法

[发明专利]全自动上料折弯测试设备及其方法-CN202211277673.2在审
发明人：容立人;李生 -专利权人：昆山鑫润利自动化科技有限公司
申请日： 2022-10-19 - 公布日： 2023-01-20 - 主分类号： H05K13/08 文献下载
摘要：本发明揭示了全自动上料折弯测试设备及方法，设备包括上料机构、下料机构、折弯机构和环形流线测试机构，所述环形流线测试机构包括循环轨道、设于循环轨道上的用于定位产品的若干循环载具、沿循环轨道循环方向布置的RF测试模组、ICT测试模组、以及AOI测试模组；所述上料机构和折弯机构之间设有用于移载产品的上料吸附模组，所述折弯机构与环形流线测试机构之间设有用于移载产品的机械手吸附模组。本发明实现了利用通用载具使产品在循环轨道内移动，将多种不同测试类型的测试机构集成在循环轨道上，提高了各个测试装置之间产品的转运节拍，整套自动化设备完成产品的上料、折弯、多项测试、下料。
全自动折弯测试设备及其方法

[发明专利]一种光伏组件的可靠性测试方法-CN201110329865.9无效
发明人：徐建美;全鹏;戴荷琴;王昭云 -专利权人：常州天合光能有限公司
申请日： 2011-10-26 - 公布日： 2012-06-20 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明涉及太阳能光伏组件可靠性测试的技术领域，尤其是一种光伏组件的模拟热循环加速测试方法，提高高低温热循环试验箱的性能，通过采用快速升温和快速降温的方法，缩短光伏组件一次热循环的测试时间，减少试验次数，缩短测试总耗时。本发明的光伏组件的模拟热循环加速测试方法，用模拟热循环的加速测试方法代替常规的热循环，对光伏组件的材料进行快速有效、测试和评估，加快了光伏组件热循环的测试时间，有利于光伏材料的研发和测试评估使用，加快光伏行业材料的推广和使用
一种组件可靠性测试方法

[发明专利]一种通过判断实现单机循环调度的连续执行方法-CN202111259311.6在审
发明人：张浩然;朱泽;单酉;韩璐 -专利权人：北京航天云路有限公司
申请日： 2021-10-28 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： G06F9/48 文献下载
摘要：本发明公开了一种通过判断实现单机循环调度的连续执行方法，包括构建逻辑循环队列，初始化动态分配存储空间、逻辑循环队列的队头指针、逻辑循环队列的队尾指针；进行出队、入队和赋值变量或常量操作；设置任务的优先级开关；将要执行的单个任务插入逻辑循环队列中，由单个任务构建测试组循环队列，并设定测试组优先级，由测试组循环队列构建测试任务集循环队列，并设定任务集循环队列的优先级；按照优先级的设置先执行测试组，测试组执行完后，执行由测试组组成的测试集，快速测试，生成测试报告；最后，将完成的算法数据封装成一组API。本发明通过区别设定自动化项目的执行时间，轮询执行自动化测试项目，在单台机器上做到7x24小时的任务连续执行，提高了机器利用率。
一种通过判断实现单机循环调度连续执行方法

[发明专利]一种双信号值周期循环信号测试方法、装置、设备及介质-CN202310403482.4在审
发明人：叶剑政;郑玉多;张富国 -专利权人：北斗星通智联科技有限责任公司;北斗星通智联科技（南京）有限公司
申请日： 2023-04-14 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请提供了一种双信号值周期循环信号测试方法、装置、设备及介质，该方法包括：确定当前测试项的测试内容，根据测试内容，确定待测信号的双信号值和周期循环参数，将双信号值和周期循环参数输入目标功能件，以使目标功能件基于双信号值和周期循环参数对测试内容进行测试本申请能够提高对双信号值周期循环信号的测试效率。
一种信号周期循环测试方法装置设备介质

[发明专利]一种高温老化测试方法-CN202310961726.0在审
发明人：金永斌;王强;贺涛;丁宁;朱伟;章圣达;陈伟 -专利权人：法特迪精密科技（苏州）有限公司
申请日： 2023-08-02 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及芯片高温老化测试技术领域，具体为一种高温老化测试方法；所述高温老化测试方法包括步骤：步骤a，芯片加热；步骤b，辅助降温；步骤c，辅助升温；步骤d，循环测试；本发明配合高温老化测试插座及其循环结构，能够在高温循环老化测试过程中，使芯片升温阶段和降温阶段的时间缩短，使一个温度循环周期时间缩短，从而提高了芯片温度循环老化测试的效率。
一种高温老化测试方法