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[发明专利]一种基于交换机的pattern文件多路同步下发方法-CN202311174681.9在审
发明人：张大伟;耿雪冰;屈粮富 -专利权人： 天津普智芯网络测控技术有限公司
申请日： 2023-09-13 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： H04L67/06 文献下载
摘要：本发明提供一种基于交换机的pattern文件多路同步下发方法，包括获取主机端PC1网口的MAC信息、获取PC2网口的MAC信息、pattern信息和pattern信息的类型信息，生成N个均以PC2网口的MAC信息为目的地址字段、PC1网口的MAC信息为源地址字段、类型信息为类型字段和pattern信息为数据字段的下发数据包并发送至交换机；所述交换机同时接收N个下发数据包并分发送至对应PC2网口；每个所述子卡接收对应下发数据包，依据类型字段区分pattern信息，并以类型字段对应格式下载pattern信息；所述子卡校验下发数据包的完整性，并依据PC1网口和PC2网口的MAC信息发送反馈数据包至主机端。本发明能够快速同步下发多个pattern文件至对应的子卡，提高老练测试一体机的性能。
一种基于交换机 pattern 文件同步下发方法

[发明专利]一种老练测试一体机用的pattern文件快速下发方法-CN202311174682.3在审
发明人：张大伟;耿雪冰;屈粮富 -专利权人： 天津普智芯网络测控技术有限公司
申请日： 2023-09-13 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G06F16/27 文献下载
摘要：本发明提供一种老练测试一体机用的pattern文件快速下发方法，包括PC端转换并编译pattern总文件，以获取向量信息和标号信息；获取pattern子文件的文件信息、TimeSet信息、PinList信息，将文件信息、TimeSet信息、PinList信息、标号信息和向量信息以第一存储格式存储并生成pattern信息，所有pattern信息构成下发数据；获取下发数据内所有pattern信息的字节数和测试端的剩余内存地址，生成包含起始地址的分区表信息，分区表信息以第二存储格式存储并生成前端数据；获取前端数据和下发数据以生成下发报文；测试端接收并识别下发报文的前端数据，依据前端数据快速解析下发数据并分别存储pattern信息。本发明能够快速准确的同步下发多个通道的pattern子文件。
一种老练测试一体机 pattern 文件快速下发方法

[发明专利]一种自动测试霍尔开关器件动作延迟时间的方法和系统-CN202311014843.2在审
发明人：张大伟;耿雪冰;屈粮富;马慧娟;姚文达 -专利权人： 天津普智芯网络测控技术有限公司
申请日： 2023-08-14 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01R31/327 文献下载
摘要：本发明提供一种自动测试霍尔开关器件动作延迟时间的方法和系统，包括步骤一，磁场发生器流通第一电流，以产生磁场强度变化一个单位所需时间远小于霍尔器件延迟的第一变化磁场，高频采样设备采集霍尔器件动作时的电流值并定义成电流阈值；步骤二，第二电流输入磁场发生器以产生磁场快速变化的第二变化磁场，接收霍尔器件在第二变化磁场下的实际动作时对应的第一动作时刻，依据电流阈值获取第二电流刚好超过电流阈值时对应的第二动作时刻，获取第一动作时刻与第二动作时刻之间的时差差值以生成该霍尔器件的检测延时值。本发能够更为准确获取霍尔器件实际的切换阈值，以便准确的获取霍尔器件的实际切换时间。
一种自动测试霍尔开关器件动作延迟时间方法系统

[发明专利]ADC测试系统的自动配置相干采样频率采样方法-CN202310603306.5在审
发明人：屈粮富;张大伟;姜海洋 -专利权人： 天津普智芯网络测控技术有限公司
申请日： 2023-05-26 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： H03M1/10 文献下载
摘要：本发明提供ADC测试系统的自动配置相干采样频率采样方法，包括如下步骤：S1：为模拟输入信号预制一原始输入频率，将原始输入频率输入至上位机进行测试得到FFT数据以及中心频率；S2：二分频处理后得到当前输入频率；S3：再次进行数据采样得到与之对应的FFT数据和中心频率，将当前输入频率所对应的FFT数据与原始输入频率所对应的FFT数据进行比对，判断是否需要继续分频，是则将原始输入频率进行四分频处理后得到当前输入频率，重复步骤S3四至六次；否则，输出当前输入频率已调制到相干采样准确频率。本发明通过四到六次分频就可以将当前输入频率调制到相干采样的准确频率，解决了传统窗口算法运算过程较为复杂的问题。
adc 测试系统自动配置相干采样频率方法

[发明专利]一种高速高精度的数据传输系统和方法-CN202310221583.X有效
发明人：马慧娟;张大伟;屈粮富;姚文达;聂永东;姜海洋 -专利权人： 天津普智芯网络测控技术有限公司
申请日： 2023-03-09 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G06F13/38 文献下载
摘要：本发明提供一种高速高精度的数据传输系统和方法，包括有接收高速的串行数据并转换成低速的并行数据，依据并行数据其每路数据到达采样口时间获取每路数据的延时值，依据延时值调整每路数据的输出延时，接收端同步接收并行数据。本发明能够使控制模块高速高精度的获取的待测模块反馈数据，以便控制模块及时给待测芯片反馈，有效的缩短待测芯片其测试时间，同时提高了传输数据的准确性。
一种高速高精度数据传输系统方法

[发明专利]一种基于FPGA的正弦数字信号输出方法-CN202310218403.2在审
发明人：屈粮富;张大伟;姚文达;马慧娟;张徐阳 -专利权人： 天津普智芯网络测控技术有限公司
申请日： 2023-03-09 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G06F1/02 文献下载
摘要：本发明提供一种基于FPGA的正弦数字信号输出方法，包括有：若干存储有点数字信号的正弦地址，FPGA顺序读取并输出正弦地址内的点数字信号。本发明能够无须使用波形发生器，即可输出不同传输速度和频率的正弦数字信号，以便测试不同处理速度和处理精度的DAC，同时节约测试设备的成本。
一种基于 fpga 正弦数字信号输出方法

[发明专利]一种SRAM单粒子翻转故障模拟测试系统和方法-CN202211353335.2在审
发明人：张大伟;屈粮富;姚文达 -专利权人： 天津普智芯网络测控技术有限公司
申请日： 2022-10-28 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明提供一种SRAM单粒子翻转故障模拟测试系统和方法，包括有用于配置若干组写入SRAM内的准确数据集的信息配置模块和用于往SRAM内写入、擦除和读取随机棋盘格的信息读写模块，所述准确数据集内数据依据SRAM内地址成棋盘格排列，所述信息配置模块和信息读写模块均连接有用于数据比较的并给出比较结果的FPGA，FPGA连接有上位机，所述FPGA定时往上位机传输比较结果，所述上位机包括有用于显示SRAM故障情况的PC端和示波器。本发明能够测试SRAM持续受单粒子轰击时性能的变化情况。
一种 sram 粒子翻转故障模拟测试系统方法

[发明专利]运放测试系统管脚识别自学习方法-CN202211161768.8在审
发明人：张大伟;屈粮富;姚文达 -专利权人： 天津普智芯网络测控技术有限公司
申请日： 2022-09-20 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： G01R31/3181 文献下载
摘要：本发明提供运放测试系统管脚识别自学习方法，包括选取测试芯片其一管脚为当前测试管脚，其余管脚为当前待测管脚，输入第一测试指令，输出电压满足第一判定条件时，标记最低参考电位管脚和未知管脚；输入第二测试指令，输出电压满足第二判定条件时，标记电源管脚和未知管脚；依据测试芯片的管脚排布约束条件剔除管脚并得到运算放大器功能管脚；从中选两个短接，向剩余管脚输入正弦信号，当得到波形幅值相同，相位相同时，定义输入端和输出端，然后进行反向一倍放大测试过程以得到正相输入端和反相输入端对应位置。本发明通过逻辑判断就能够自动识别测试芯片各管脚功能配置定义。
测试系统管脚识别自学习方法

[发明专利]一种ADC器件及DAC器件验证方法-CN202110508673.8在审
发明人：张大伟;屈粮富;宋晓荣;马慧娟 -专利权人： 天津普智芯网络测控技术有限公司
申请日： 2021-05-10 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： G05B19/042 文献下载
摘要：一种ADC器件及DAC器件验证方法，包括：步骤S1，采集ADC芯片的数据信号及时钟信号进行缓存处理，经过跨时钟域处理后，写入随机存储器，读出随机存储器的数据信号进行分析处理，完成ADC各项性能指标的计算，及频域与参数实时图形化显示；步骤S2，编辑产生自定义测试向量，存入随机存储器，循环读出随机存储器的数据，完成DAC芯片的数字信号的输入；对测试仪器进行参数设置，且读出测试结果并进行数据处理及自动保存；步骤S3，上位机通过UART传输控制模块输出总线信号控制随机寄存器，控制整个测试流程，及通过以太网接口用于数据传输，能支持高速接口、提高数据传输速度、存储深度以及便于数据分析。
一种 adc 器件 dac 验证方法

[实用新型]一种电源测试的瞬态负载生成电路-CN202221696621.4有效
发明人：张大伟;屈粮富;姚文达 -专利权人： 天津普智芯网络测控技术有限公司
申请日： 2022-07-01 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： G05F1/56 文献下载
摘要：本实用新型提供一种电源测试的瞬态负载生成电路，包括有U3运放，所述U3运放的OUT端口与连接有INN端口之间串接有增益电路；所述增益电路包括有栅极与U3运放的OUT端口连接的Q7mos管，所述Q7mos管的源极与U3运放的INN端口之间串接有用于调节阻值的RX7可调电阻，所述Q7mos管的漏极用于输出瞬态负载；所述U3运放的INN端口与地之间串接有用于调节阻值的RX5可调电阻，所述U3运放的INN端口与电源之间串接有用于调节接入电压的RX5可调电阻。本实用新型能够降低导线上寄生电感对激励信号的影响。
一种电源测试瞬态负载生成电路

[发明专利]集成电路芯片OS测试机-CN202210777113.7在审
发明人：张大伟;屈粮富;马慧娟 -专利权人： 天津普智芯网络测控技术有限公司
申请日： 2022-06-30 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供集成电路芯片OS测试机，包括背板，背板通过连接器连接有母板，母板包括FPGA主控单元、PMU测量单元以及呈树形结构排布的若干通道切换组，每组通道切换组均包括一继电器开关以及四条独立通道，每条独立通道与另一通道切换组的继电器开关相连以形成若干测试通道，FPGA主控单元通过PMU测量单元控制通道切换组的继电器通断使得相应测试通道输出电压或电流。本发明大大提高了对集成电路芯片进行功能测试的测试密度，有效降低了测试成本。
集成电路芯片 os 测试

[发明专利]一种适用于不同通信端口的检测脉冲调制和使用方法-CN202210808432.X有效
发明人：张大伟;屈粮富;马慧娟 -专利权人： 天津普智芯网络测控技术有限公司
申请日： 2022-07-11 - 公布日： 2022-09-30 - 主分类号： G01R1/28 文献下载
摘要：本发明提供一种适用于不同通信端口的检测脉冲调制和使用方法，包括有获取用于改变波频率和形状的命令集，并控制发生器输出的主频波；命令集内包括有用于定时划分主频段的时段值和顺序设置的若干用于改变发生器输出波形的波形变换指令，依据时段值对发生器输出的主频波进行划分以形成若干连续的主频段；依据所述波形变换指令排列顺序依次调整连续输出的主频段的波形，以输出与通信端口匹配的对应频率的激励。本发明能够输出多种频率输出检测脉冲，用于匹配不同类型的通信端口，保障芯片的检测效率和准确性的同时，节约生产成本。
一种适用于不同通信端口检测脉冲调制使用方法

[发明专利]一种检测机用调制波的读取方法-CN202210807847.5有效
发明人：屈粮富;张大伟;马慧娟 -专利权人： 天津普智芯网络测控技术有限公司
申请日： 2022-07-11 - 公布日： 2022-09-13 - 主分类号： H03K5/1534 文献下载
摘要：本发明提供一种检测机用调制波的读取方法，包括S1：获取激励波信号的传输周期和测试设备的基准周期，依据传输周期和基准周期获取循环值和补偿时间；S2：测试设备间隔循环值个基准周期并延迟补偿时间后读取一次信号，叠加补偿时间生成总延时；S3：判断总延时是否小于基准周期时，是，跳转至S2步骤；否，测试设备间隔循环值+1个基准周期和延迟补偿时间后读取一次信号，总延时减去一个基准周期并叠加补偿时间后生成新的总延时，跳转至S2步骤。本发明能够读取任意频率的激励波信号的同时，提高了数据读取的准确性，以保证芯片的测试效率和准确性。
一种检测调制读取方法

[发明专利]一种FPGA的测试系统及方法-CN202210798546.0在审
发明人：屈粮富;张大伟;马慧娟 -专利权人： 天津普智芯网络测控技术有限公司
申请日： 2022-07-05 - 公布日： 2022-09-09 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明提供一种FPGA的测试系统及方法，包括有待测FPGA和CPU主控，所述CPU主控通过主以太网模块与PC端连接，所述PC端将若干用于测试FPGA内单一功能模块的测试程序传输至CPU主控，所述CPU主控连接有用于存储测试程序的DDR存储模块；所述CPU主控连接有用于存储和传输测试程序的FLASH存储模块，所述FLASH存储模块通过副以太网模块与待测FPGA连接，用于依次将若干测试程序烧录至待测待测FPGA内并使其运行，待测FPGA的运行结果通过数据采集模块传给CPU主控，CPU主控判断待测FPGA不同功能模块的性能。本发明能够百分之百的检测FPGA内所有资源，保证FPGA检测的准确性。
一种 fpga 测试系统方法

[发明专利]电源测试系统-CN202210768604.5在审
发明人：屈粮富;张大伟;姚文达 -专利权人： 天津普智芯网络测控技术有限公司
申请日： 2022-06-30 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： G01R31/40 文献下载
摘要：本发明提供电源测试系统，包括验证母板和验证子板，验证母板包括FPGA主控模块和继电器阵列，FPGA主控模块用于接收来自上位机的直流信号，通过FPGA主控模块向继电器阵列输出控制信号以控制相应通路控制电路选通，从而实现相应测试电路的接通，验证母板外接有仪器仪表用于将外部激励信号进行整合，整合后的激励信号经由子母板连接器传输至验证子板。本发明FPGA主控模块经由对插连接器接入验证母板，接收上位机发出的指令控制验证母板继电器阵列对应的继电器通断，从而实现相应测试电路的接通，以实现不同测试电路的切换，满足了被测器件的不同测试功能需求。
电源测试系统

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