专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]印刷电路板-CN202080067239.4在审
  • 南一植;金勇锡;李东根;金泰基;曹慧真 - LG 伊诺特有限公司
  • 2020-08-25 - 2022-05-06 - H05K1/11
  • 根据实施例的印刷电路板包括:绝缘;第一焊盘,其被设置在绝缘的上表面上;第二焊盘,其被设置在绝缘的下表面上;第一器件,其被安装在第一焊盘上;第二器件,其被安装在第二焊盘上;第一模制,其被设置在绝缘上并模制第一器件;以及第二模制,其被设置在绝缘的下表面上并模制第二器件。第二模制的下表面被定位在与第二器件的下表面相同的平面上。
  • 印刷电路板
  • [发明专利]半导体存储器件-CN202211478284.6在审
  • 崔贤根;李基硕 - 三星电子株式会社
  • 2022-11-23 - 2023-06-06 - H10B41/30
  • 根据本发明构思的一些实施例,半导体存储器件包括:多个模制绝缘,位于衬底上并且彼此间隔开;多个半导体图案,分别位于所述多个模制绝缘中的彼此相邻的模制绝缘之间;多个栅电极,位于所述多个半导体图案中的相应的半导体图案上;信息存储元件,包括电连接到所述多个半导体图案中的每一者的第一电极、位于第一电极上的第二电极以及位于第一电极和第二电极之间的电容器电介质膜;位线,位于衬底上并且接触半导体图案;以及绝缘缓冲膜,位于第一电极和第二电极之间,并且位于所述多个模制绝缘中的相应的模制绝缘的侧壁上。
  • 半导体存储器件
  • [发明专利]具有挡板结构的半导体器件-CN202110663661.2在审
  • 高木世济 - 三星电子株式会社
  • 2021-06-15 - 2022-05-06 - H01L27/11565
  • 一种半导体器件包括:衬底上的存储器堆叠,所述存储器堆叠包括栅电极、绝缘模制,所述模制在贯通电极区域中被设置在与所述栅电极相同的水平高度处;沟道结构,在单元阵列区域中竖直地延伸穿过所述栅电极;以及挡板结构,在顶视图中被设置在隔离绝缘之间并且围绕所述贯通电极区域。所述挡板结构包括具有挡板形状的挡板绝缘、所述挡板绝缘内部的内部绝缘、以及所述挡板绝缘外部的外部绝缘。所述内部绝缘包括在水平方向上突出的第一突出部,并且所述外部绝缘包括在所述水平方向上突出的第二突出部。
  • 具有挡板结构半导体器件
  • [发明专利]半导体存储器件及其制造方法-CN202010822815.3在审
  • 孙龙勋 - 三星电子株式会社
  • 2020-08-14 - 2021-04-09 - H01L27/11521
  • 可以提供该方法,包括:通过在衬底上交替堆叠多个第一绝缘和多个第二绝缘来形成模制结构;对模制结构进行图案化以形成第一沟槽,第一沟槽暴露模制结构的第一内侧壁;使用衬底作为种子,在第一沟槽中生长竖直半导体,使得竖直半导体覆盖第一内侧壁;对模制结构进行图案化以形成第二沟槽,第二沟槽暴露模制结构的第二内侧壁;通过从模制结构中经由第二沟槽选择性地去除第二绝缘来形成多个凹陷;以及使用竖直半导体作为种子,在相应的凹陷中水平生长多个水平半导体
  • 半导体存储器件及其制造方法
  • [发明专利]图像传感器-CN202210037334.0在审
  • 宋智娟;白寅圭;金大训;金昇埴 - 三星电子株式会社
  • 2022-01-13 - 2022-07-29 - H01L27/146
  • 提供了一种图像传感器,该图像传感器包括:具有第一表面和第二表面的半导体基板;在第一表面上的晶体管;第一下焊盘电极和第二下焊盘电极,在覆盖晶体管的第一绝缘膜上彼此间隔开;在第一下焊盘电极和第二下焊盘电极上的模制绝缘;第一下电极,在穿过模制绝缘的第一开口内部在第一下焊盘电极上;第二下电极,在穿过模制绝缘的第二开口内部在第二下焊盘电极上;电介质膜和上电极,在第一下电极和第二下电极上;第一接触插塞,穿过模制绝缘并且连接到第一下焊盘电极;以及第二接触插塞,穿过模制绝缘并且连接到第二下焊盘电极。
  • 图像传感器
  • [发明专利]具有隔离绝缘的半导体装置-CN202110181920.8在审
  • 金基玄;权宁镐 - 三星电子株式会社
  • 2021-02-09 - 2021-10-26 - H01L27/11568
  • 提供了一种半导体装置,该半导体装置包括:衬底,其包括单元阵列区域、延伸区域和贯穿电极区域;存储器堆叠件,其在衬底上,并且包括第一栅电极、绝缘模制,第一栅电极和绝缘按次序堆叠,并且模制包括绝缘材料,位于贯穿电极区域上并且与第一栅电极在同一水平;沟道结构,其竖直地穿过第一栅电极;贯穿电极,其竖直地穿过模制;第一隔离绝缘,其竖直地穿过存储器堆叠件,在第一方向上延伸,并且在第二方向上彼此间隔开;以及第二隔离绝缘,其在沟道结构与贯穿电极区域之间,并且在第二方向上延伸,并且竖直地穿过第一栅电极,并且在平面图中,第二隔离绝缘与第一隔离绝缘相交。
  • 具有隔离绝缘半导体装置
  • [发明专利]制造垂直存储器装置的方法-CN201910884495.1在审
  • 金一宇;罗相虎;崔炳德;金益秀;吴民在 - 三星电子株式会社
  • 2019-09-19 - 2020-05-05 - H01L27/1157
  • 公开了一种制造垂直存储器装置的方法,该方法包括:在基底上形成第一牺牲,第一牺牲包括第一绝缘材料;形成包括绝缘和第二牺牲模制体,绝缘和第二牺牲交替地且重复地堆叠在第一牺牲上,绝缘和第二牺牲分别包括与第一绝缘材料不同的第二绝缘材料和第三绝缘材料;穿过模制体和第一牺牲形成沟道;穿过模制体和第一牺牲形成开口以暴露基底的上表面;通过开口去除第一牺牲以形成第一间隙;形成沟道连接图案以填充第一间隙;以及用栅电极替换第二牺牲
  • 制造垂直存储器装置方法
  • [发明专利]集成电路器件和制造其的方法-CN202010869840.7在审
  • 崔恩荣;李洙衡;李要韩;赵容锡 - 三星电子株式会社
  • 2020-08-26 - 2021-03-05 - H01L27/1157
  • 该集成电路器件包括:沟道,在穿透导电绝缘的沟道孔中;电荷捕获图案,在导电与沟道之间在沟道孔内部;以及虚设电荷捕获图案,在绝缘与沟道之间在沟道孔内部。为了制造该集成电路器件,形成穿透绝缘模制的沟道孔。形成连接到沟道孔的模制凹口。在模制凹口中形成初始电介质图案。氧化初始电介质图案以形成第一阻挡电介质图案。在沟道孔中形成电荷捕获。去除模制以形成导电空间。去除电荷捕获的一部分以形成电荷捕获图案和虚设电荷捕获图案。
  • 集成电路器件制造方法

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