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[发明专利]一种光控荧光蛋白标记生物组织包埋样品的荧光控制方法-CN201610967351.9有效
发明人：吕晓华;刘秀丽;张其;郭文炎;杨雄;曾绍群 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2016-10-31 - 公布日： 2019-07-09 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明公开了一种光控荧光蛋白标记生物组织包埋样品的荧光控制方法，用激活光激活样品表层的光控荧光蛋白，用激发光激发所述表层的光控荧光蛋白进而发出荧光。通过选择合适的激活光和激发光的波长范围，同时控制合适的激活方向和样品上表面的夹角，实现光控荧光蛋白标记生物组织包埋样品表层荧光的精确控制，激活方便，激活表层厚度薄；本发明的荧光控制方法激活时只激活生物组织包埋样品表层的荧光，应用于生物组织包埋样品的荧光层析成像时，激发光激发被激活表层而进行荧光成像，样品被激活表层的厚度即为荧光成像的轴向分辨率，轴向分辨率高。
激活荧光生物组织包埋光控荧光蛋白标记样品表层激发光轴向分辨率荧光成像荧光蛋白荧光层析成像光激活上表面波长激发应用

[实用新型]熔石英亚表层微缺陷探测装置-CN201520629413.6有效
发明人：刘红婕;蒋晓东;黄进;王凤蕊;孙来喜;耿峰;叶鑫;李青芝 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2015-08-20 - 公布日： 2015-12-09 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种熔石英亚表层微缺陷探测装置，涉及光学器件领域。该熔石英亚表层微缺陷探测装置用于对放置于样品台上的样品进行损伤探测，包括激光器、成像系统、电子倍增电荷耦合元件和显示器，电子倍增电荷耦合元件和成像系统设置于同一直线，当该熔石英亚表层微缺陷探测装置工作时，所述激光器设置于激光能够直接照射至样品的位置，所述电子倍增电荷耦合元件与所述显示器电连接。激光照射到样品后，样品的亚表面缺陷会发出荧光，电子倍增电荷耦合元件接收到的样品发出的荧光图像，并将图像传送给显示器显示，这样，使用者便收集到样品的亚表层微缺陷的荧光图像，对样品的亚表层微缺陷做出判断，避免了对熔石英元件的损坏
石英表层缺陷探测装置

[实用新型]海底表层取样器的储样仓-CN201320513348.1有效
发明人：刘欣德 -专利权人：刘欣德
申请日： 2013-08-22 - 公布日： 2014-01-29 - 主分类号： G01N1/02 文献下载
摘要：涉及海底表层取样器的适于采集多种海底土质样品的海底表层取样器的储样仓，用于采集、存放多种海底土质沉积物样品。本实用新型采取储样仓的底部有贯通储样仓内外的样品收集口，样品收集口的口缘固定连接样品袋的技术方案，解决了现有海底表层取样器的取样器收口密封性较差，致使取样率低，影响样品的分析数据的技术问题。本实用新型取样率高，适于采集多种海底土质样品。
海底表层取样储样仓

[发明专利]一种准确控制厚度的表层沉积物采样装置-CN201410125476.8有效
发明人：李学刚;宋金明;袁华茂;李宁;段丽琴 -专利权人：中国科学院海洋研究所
申请日： 2014-03-31 - 公布日： 2017-02-15 - 主分类号： G01N1/10 文献下载
摘要：本发明涉及海洋监测技术领域，具体为一种准确控制厚度的表层沉积物采样装置。包括采样深度控制装置、刮泥装置、样品储存盘及外支架，其中样品储存盘的一侧为敞开口，所述外支架设置于样品储存盘的上方，所述采样深度控制装置设置于样品储存盘的敞开口侧、并上端与外支架连接，所述采样深度控制装置可上下移动，所述刮泥装置设置于样品储存盘内、并与样品储存盘的敞开口侧相对的样品储存盘后侧板连接，所述刮泥装置可前后移动。本发明适用于海洋、河流、湖泊底质监测调查时采集一定厚度的表层沉积物，可简单、方便的控制所采沉积物的厚度，获得满意的表层沉积物样品。
一种准确控制厚度表层沉积物采样装置

[发明专利]一种铜合金材料表层逐层分析方法-CN201010605633.7有效
发明人：刘湘生;刘英;潘元海;李继东;王长华 -专利权人：北京有色金属研究总院
申请日： 2010-12-24 - 公布日： 2012-07-04 - 主分类号： G01N27/68 文献下载
摘要：本发明提供一种铜合金材料表层逐层分析方法，其包括：选定辉光放电离子源和质谱分析条件，样品处理和样品分析，利用辉光放电离子源使分析样品在阴极溅射作用下均匀地逐层剥离，在高灵敏度的质谱仪系统中，实时记录分析样品质谱峰强度随时间的连续变化信号，采用组成成份和深度双重定标的方法，将这种连续变化信号转化为样品的化学组成随深度的变化，完成黄铜基材上铝青铜膜样品的表层逐层定量分析。本发明选择合适的氩气压力、放电电压、样品溅射斑面直径、样品的测量时间等分析参数可将层间分辨率提高到几干纳米，实现了黄铜基材上铝青铜表层的超薄层逐层分析。
一种铜合金材料表层分析方法

[发明专利]一种低介电常数材料之TEM样品的制备方法-CN201610327894.4在审
发明人：陈胜;陈强;史燕萍 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2016-05-17 - 公布日： 2016-07-20 - 主分类号： G01N23/22 文献下载
摘要：一种低介电常数材料之TEM样品的制备方法，包括：步骤S1：提供具有表层低介电常数材料之待分析芯片样品，并将表层低介电常数材料的一侧与承载硅片粘贴；步骤S2：对待分析芯片样品之硅基衬底进行研磨，对研磨程度的控制通过硅基衬底之边缘处所露出的器件层图形进行判断；步骤S3：进一步研磨，以使得研磨面平整；步骤S4：通过聚焦离子束制样工具制备低介电常数材料之TEM样品，且从硅基衬底一侧向表层低介电常数材料一侧进行切割。本发明可有效避免离子束和电子束对稀疏、多孔的表层低介电常数材料的损伤，显著提高低介电常数材料之TEM样品的质量，利于观测表层低介电常数材料的结构形貌和层次性，进行精确的工艺参数判断。
一种介电常数材料 tem 样品制备方法

[发明专利]一种无取向硅钢析出物的检测分析方法-CN202210011882.6在审
发明人：程林;张立峰;刘云霞;刘晓强;刘兆月;刘恭涛;曹瑞芳;董晨曦;陈继冬;李跃 -专利权人：首钢智新迁安电磁材料有限公司
申请日： 2022-01-05 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G01Q30/20 文献下载
摘要：本申请涉及材料分析测试领域，尤其涉及一种无取向硅钢析出物的检测分析方法；所述方法包括：得到硅钢样品；将硅钢样品进行表面处理，得到纯净样品；将纯净样品进行电解腐蚀、冲洗和干燥，得到待检测样品；将待检测样品沿厚度方向设定为边缘层、次表层和中心层；将边缘层、次表层和中心层分别按照多个设定点位进行电镜图形的采集，得到边缘层的样品电镜图样、次表层的样品电镜图样和中心层的样品电镜图样；通过对前期制样过程中控制工艺参数，再通过在待检测样品的厚度方向的不同位置进行电镜图形的采集
一种取向硅钢析出检测分析方法

[发明专利]一种硅藻样品分层氟化的分析方法-CN201010244436.7有效
发明人：李铁军;李洪伟;冯连君;张福松;霍卫国 -专利权人：中国科学院地质与地球物理研究所
申请日： 2010-08-03 - 公布日： 2011-08-17 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明提供了一种硅藻样品分层氟化的分析方法，包括：(1)将所述硅藻样品颗粒的表层氧去除掉；(2)在真空条件下，用氟化剂对去除了表层氧的硅藻样品颗粒进行完全氟化；(3)将完全氟化生成的O2转化成CO2，并将CO2进行质谱分析，以得到硅藻样品的δ18O‰值，将所述硅藻样品的表层氧去除掉的方法包括：在真空条件下，用氟化剂对硅藻样品颗粒进行预氟化，以硅藻样品颗粒中的二氧化硅计，相对于100摩尔的二氧化硅，预氟化所用氟化剂的用量为本发明提供的分析方法能够有效地将硅藻样品颗粒的表层氧去除掉，并且无需额外的设备，在有效地获得特征氧同位素信息的情况下，也大大地拓展了硅藻氧同位素分析法的应用范围。
一种硅藻样品分层氟化分析方法

[实用新型]一种环境检测用表层土壤取样装置-CN202220169992.0有效
发明人：费俭;张晓婷;李晓斌 -专利权人：苏州晓创环境科技有限公司
申请日： 2022-01-21 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G01N1/08 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种环境检测用表层土壤取样装置，包括表层土壤取样器壳体，所述表层土壤取样器壳体的外侧设有定位架，所述表层土壤取样器壳体的内部设有取样杆。该实用新型中分为定位架、表层土壤取样器壳体和取样杆三部分，通过定位架可以对锥形钻头插入土壤的位置进行限制，便于操作人员进行操作，使锥形钻头位于表层最佳的采样位置，在锥形钻头的下端共设有四个开合板，通过开合板可以将插入土壤的部分进行密封，防止取样杆与最表面的土壤接触，当锥形钻头插入土壤表层时，再将取样杆向下推动，通过内部的样品存放槽将样品进行采集，可以保证土壤样品的纯度，提高检测的准确性。
一种环境检测表层土壤取样装置

[发明专利]一种基于光学相控阵的亚表层损伤的检测方法和装置-CN202310333341.X在审
发明人：许剑锋;白龙;谭伟;孙浩;阮奕潇 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2023-03-30 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G01N21/49 文献下载
摘要：本发明属于光学精密测量技术领域，并公开了一种基于光学相控阵的亚表层损伤的检测方法和装置，方法包括：发射激光光束，将激光光束偏振整形为平顶光束后分为多路平行光束，并经由相控阵准直入射到待测样品上；使相控阵相邻阵元之间产生特定相位差，进而使平行光束在特定方向发生干涉增强，使光束偏转特定角度并射入待测样品进行扫描，并在亚表层损伤处多次散射以形成散射光束；利用硅光电倍增管采集散射光束的光强数据；重复进行多次扫描，直至将待测样品表面全部扫描，并将采集到的多组光强数据与正常样品的光强数据进行分析对比，以确定待测样品的亚表层损伤的位置与形貌。本发明能实现快速高精度的亚表层损伤检测，具有广泛的应用前景。
一种基于光学相控阵表层损伤检测方法装置

[发明专利]一种地外天体的钻表异构式采样系统及方法-CN202110212607.6有效
发明人：邓湘金;金晟毅;郑燕红;赵志晖;姚猛;杨孟飞;彭兢;李青;史伟;李晟 -专利权人：北京空间飞行器总体设计部
申请日： 2021-02-25 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G01N1/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种地外天体的钻表异构式采样系统及方法，系统包括：装在地外天体采样航天器上的钻探采样模块、铲挖采样模块、样品封装模块和环境感知及视觉监测模块，铲挖采样模块与钻探采样模块对侧安装，样品封装模块在铲挖采样模块和钻探采样模块之间，环境感知及视觉监测模块的位置由铲挖采样模块、钻探采样模块和样品封装模块确定；方法为：钻探采样模块用于获取地外天体表层下方设定深度内的次表层土壤，铲挖采样模块用于获取地外天体表层土壤样品，二者采集到的样品均转移至样品封装模块中；环境感知及视觉监测模块，一用于获取钻探采样和铲挖采样的采样区地形结构，二用于对钻探采样、铲挖采样、样品封装以及样品转移过程进行视觉监测。
种地天体钻表异构式采样系统方法

[发明专利]设备表层耐化测试装置及测试方法-CN202111399615.2有效
发明人：黄振兴 -专利权人：北京荣耀终端有限公司
申请日： 2021-11-19 - 公布日： 2023-04-11 - 主分类号： G01N17/00 文献下载
摘要：本申请涉及耐化性测试技术领域，旨在解决已知设备表面耐化性测试方法无法准确指示设备的耐化性或者难以量化为具有可比性的耐化性指标的问题，提供设备表层耐化测试装置及设备表层耐化测试方法。该设备表层耐化测试方法基于设备表层耐化测试装置，并包括：通过压力控制系统控制所述活动台带动置于活动台上的样品移动，至使所述样品的待测试表面以设定的压力压合于所述包裹材料；所述药液供应模块向所述包裹材料供应药液，形成用于包裹样品的待测试表面的带有药液的包裹材料；保持设定时间后，检查样品的待测试表面的腐蚀情况。
设备表层测试装置方法

[实用新型]X射线衍射仪块状样品架-CN201920953312.2有效
发明人：汤云晖 -专利权人：北京工业大学
申请日： 2019-06-24 - 公布日： 2020-06-16 - 主分类号： G01N23/20025 文献下载
摘要：X射线衍射仪块状样品架，涉及大型仪器测试领域，适用于岛津衍射仪。整体结构分为三个部分：表层部分、连接立柱部分、基底部分；表层部分由插片、测量基准面构成，两者在同一个平面上；基底部分由基底组成；中央为立柱，立柱的顶与测量基准面连接，立柱的底与基底连接；表层的插片在使用过程中插于衍射仪的样品夹中，通过插片使样品架与衍射仪相连、且固定样品架相对于衍射仪的位置；测量基准面、立柱、基底构成一个容纳样品的容器，样品置于其中，橡皮泥置于样品之下。此样品架能够协助具有一个完好平面的固体样品方便地安放在衍射仪上；并能在安放之前调整好待测面，一旦放好即待测面自动对准光斑位置，实现了其方便快捷性。
射线衍射块状样品

[发明专利]一种用于改善铜铟镓硒薄膜材料表层质量的化学处理方法-CN201310101351.7有效
发明人：张德涛;徐传明;曹章轶;吴敏;张冬冬 -专利权人：上海空间电源研究所
申请日： 2013-03-27 - 公布日： 2013-06-12 - 主分类号： H01L31/18 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于改善铜铟镓硒薄膜材料表层质量的化学处理方法，其包含：步骤1，将玻璃衬底上涂覆有Mo层和CIGS薄膜的样品放入酒精溶液中浸泡5~10min，取出后在30~50℃下热处理30~60s；步骤2，配制含去离子水、氨水和锌盐的化学处理液，其中，氨水浓度为3mol/L，锌盐浓度为0～1×10-2mol/L，将步骤1中采用热处理后的样品，放入上述化学处理液中，经过7-10min浸润后取出样品，用干燥氮气吹干样品表面残留溶液，完成CIGS薄膜材料表层质量的化学处理。本发明通过化学溶液浸润处理的方法，以减少表层的杂质，使得锌离子扩散进入表层并占据Cu空位，修复表面缺陷态，且可形成浅埋结，从而改善CIGS薄膜材料表层质量，工艺简单，材料成本低，适合铜铟镓硒薄膜太阳电池的规模化生产
一种用于改善铜铟镓硒薄膜材料表层质量化学处理方法

[实用新型]一种水体取样装置-CN201821336646.7有效
发明人：孙路;李惠 -专利权人：山东泰诺检测科技有限公司
申请日： 2018-08-20 - 公布日： 2019-05-07 - 主分类号： G01N1/16 文献下载
摘要：所述汲水动力腔内设置有汲水装置，所述汲水装置出液口与第一出液管连通，所述第一出液管分别与第二出液管、第三出液管和第四出液管连通，且第二出液管、第三出液管和第四出液管上分别设置有开关阀；所述储液腔内包括有表层样品室、中层样品室和深层样品室；所述第二出液管出液口设置在表层样品室上方，所述第三出液管出液口设置在中层样品室上方，所述第四出液管出液口设置在深层样品室上方；能够储存表层、中层和深层的样品水，这样便于随时随地对样品水的携带和测试
出液管样品室出液口汲水装置取样装置汲水中层储液腔样品水连通水体本实用新型便于携带装置结构动力腔开关阀测试储存携带

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