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专利名称
农业 化学；冶金 建筑 机械工程 区域搜索
主分类
A 农业
B 作业；运输
C 化学；冶金
D 纺织；造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]接触碰撞测试方法、接触碰撞测试系统-CN202310226092.4在审
  • 李景辰;陈壮沛;池国熠;黎雄 - 腾讯科技（深圳）有限公司
  • 2023-02-27 - 2023-10-27 - G01M7/08
  • 本发明提供了一种接触碰撞测试方法，包括：确定接触碰撞测试的测试对象和接触对象，为所述测试对象配置接触碰撞测试参数；根据所述接触碰撞测试参数，执行所述接触碰撞测试，得到所述接触碰撞测试的第一接触力和第一接触形变；根据测试对象的参数和接触碰撞测试参数，执行接触碰撞测试，得到接触碰撞测试的第二接触力和第二接触形变。本发明还提供了接触碰撞测试系统中的计算设备、电子设备、存储介质。本发明能够实现根据不同的接触碰撞测试需求调节碰撞角度，实现不同材料、不同形状、不同速度的接触碰撞的模拟。
  • 接触碰撞测试方法系统
  • [实用新型]接触测试构件及接触测试装置-CN201720606020.2有效
  • 周童 - 武汉华工正源光子技术有限公司
  • 2017-05-27 - 2018-02-27 - G01M13/00
  • 本实用新型涉及一种接触测试构件，包括壳体、一接触弹片和至少一传导弹片，各传导弹片均收容于壳体内且依次连接，接触弹片穿设于壳体上且位于壳体内的插拔端由其中一所述传导弹片压靠抵紧在壳体的内壁上。另外还涉及一种接触测试装置，包括上述接触测试构件以及用于驱动接触弹片靠近或远离测试位的驱动机构。接触弹片由于是穿设在壳体上，并且由传导弹片压靠抵紧在壳体内，而传导弹片本身具有的可压缩性使得其既可以依靠弹力压紧接触弹片，也可以容许接触弹片插入，从而实现接触弹片可插拔连接在壳体上，方便更换、安装，使得本接触测试构件在损坏时能够快速维修
  • 接触测试构件装置
  • [发明专利]用于移除测试接触装置的测试接触件的设备-CN201680048470.2有效
  • 托尔斯滕·克劳斯;加西姆·阿兹达什 - 派克泰克封装技术有限公司
  • 2016-07-26 - 2020-12-11 - G01R3/00
  • 本发明涉及一种用于放置和接触设置在接触载体(19)上的测试接触装置的测试接触件(5)的设备，其中所述设备具有接触头(10)，所述接触头具有至少一个传输通道，所述传输通道用于传输热能和传递负压，其中接触头在其接触端部上在通道口的区域中设有测试接触件容纳部(11)，其中测试接触件容纳部具有容纳缝隙(14)，所述容纳缝隙在两个平行的容纳颊板(12，13)之间构成为用于容纳测试接触件并且与传输通道连接，其中容纳颊板在其接触端部上具有接触面(21)，所述接触端部设计用于与设置在接触载体上的焊料沉积物(20)接触，所述接触面用于建立与焊料沉积物的焊接材料的导热接触。
  • 用于测试接触装置设备
  • [发明专利]接触测试装置-CN201580060261.5有效
  • 金日 - 金日
  • 2015-12-24 - 2020-05-22 - G01R1/04
  • 本发明关于一种接触测试装置，其包含第一导引板、第二导引板、中介板及多个探针，其中第一导引板具有多个第一探针孔，第二导引板平行第一导引板设置，并具有多个第二探针孔；中介板设置于第一导引板及第二导引板之间，根据本发明的接触测试装置，即使探针上未形成绝缘包覆，亦可有效避免以微小节距配置的探针间的短路，且可便利地更换探针而无需拆解接触测试装置。
  • 接触测试装置
  • [实用新型]接触测试装置-CN202022621050.5有效
  • 王沛淇 - 深圳市泰源科技有限公司
  • 2020-11-12 - 2021-06-15 - G01R31/00
  • 本实用新型涉及接触测试技术领域，具体为一种接触测试装置，包括箱体以及控制箱，所述箱体包括机械仓以及测试仓，所述机械仓位于测试仓的下方，所述测试仓包括支撑块、承载板、静电棒、连接板以及升降器，所述连接板安装在测试仓的上端并且与升降器之间设有升降杆连接，所述连接板上设有触摸控制器，所述触摸控制器上设有触摸头，所述机械仓包括电机，所述电机上设有传动轮，所述传动轮安装在电机的前端，并且所述传动轮与传动板之间设有活动连接，通过静电棒与被检测物体的接触
  • 接触测试装置
  • [实用新型]接触测试装置-CN200620149734.7无效
  • 吴俊贤 - 环球联通科技股份有限公司
  • 2006-11-13 - 2007-11-14 - G01R1/02
  • 一种接触测试装置，包含一位于一测试基板上方的绝缘板，及一设于该绝缘板上的连接单元，该连接单元具有至少一具挠性的连接软片，及多个间隔排列并贴设于该连接软片上且与该测试基板形成电连接的金属接线。本实用新型只需将一待测物置放于该连接软片上方，并借由贴设于该连接软片上的金属接线，而与该测试基板形成电连接，就可进行电性测试，由于金属接线的材料使用量相当少，所以可达到有效降低制作成本的目的。
  • 接触测试装置
  • [实用新型]一种光伏组件绝缘耐压自动测试装置和测试系统-CN202020904194.9有效
  • 贾现宁;周江泽;王盼 - 义乌晶澳太阳能科技有限公司
  • 2020-05-26 - 2020-12-29 - H01L21/66
  • 本实用新型公开了一种光伏组件绝缘耐压自动测试装置和测试系统，所述测试装置包括：测试架、及设置在所述测试架上的绝缘耐压测试仪、测试工装接触探针顶升装置、测试工装接触探针、归正装置、阻挡装置、边框接触探针顶升装置、边框接触探针；所述测试工装接触探针顶升装置连接所述测试工装接触探针，带动测试工装接触探针与测试工装接触，所述边框接触探针顶升装置连接边框接触探针，带动边框接触探针与边框接触，所述测试工装接触探针与所述边框接触探针分别与绝缘耐压测试仪连接所述光伏组件绝缘耐压自动测试装置和测试系统能够自动完成对光伏组件的绝缘、耐压和电阻测试，提高光伏组件的生产加工效率，提高了测试的安全性。
  • 一种组件绝缘耐压自动测试装置系统
  • [实用新型]中央控制单元板卡的测试平台组件及测试平台-CN202022064075.X有效
  • 孙涛;王先峰;李玉成;胡福先 - 西门子交通技术（北京）有限公司
  • 2020-09-18 - 2021-05-14 - G05B23/02
  • 中央控制单元板卡的测试平台组件，包括测试中央控制单元(10)、测试接触器组(20)以及状态显示装置(40)。测试中央控制单元用于安装待测试板卡。各测试接触器组包括数接触器。一测试接触器组的第一接触器和第二接触器能与两待测试板卡连接，另一测试接触器组的第一接触器和第二接触器能与冗余中央控制单元的两板卡连接。各测试接触器组的第三接触器和第四接触器的线圈与另一测试接触器组的第一接触器和第二接触器串联。第七接触器与该测试接触器组的其他接触器的串联。状态显示装置能够显示各接触器的通断状态。该测试平台组件用于测试中央控制单元板卡。本实用新型还提供了具有上述测试平台组件的测试平台。
  • 中央控制单元板卡测试平台组件
  • [发明专利]半导体结构的测试方法、半导体测试结构及其制备方法-CN202211437284.1在审
  • 连建伟 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2022-11-17 - 2023-03-14 - H01L21/60
  • 本发明涉及一种半导体结构的测试方法、半导体测试结构及其制备方法，半导体测试结构包括：衬底包括块状有源区和隔离区，块状有源区具有第一测试端和第二测试端；伪栅极；第一介质层；第一金属层包括相互隔离的第一测试线和第二测试线；测试接触对包括第一测试接触和第二测试接触，第一测试端通过第一测试接触与第一测试线电连接，第二测试端通过第二测试接触与第二测试线电连接；第二介质层；伪接触对包括第一伪接触和第二伪接触，第一伪接触与第一测试线电连接，第二伪接触与第二测试线电连接，且伪接触对在衬底上的正投影和伪栅极在衬底上的正投影具有重叠部分。本发明可以测试接触结构是否出现PID问题。
  • 半导体结构测试方法及其制备
  • [发明专利]一种接触孔测试结构和接触孔测试方法-CN202310345608.7在审
  • 曾繁中;宋永梁;刘倩倩 - 上海积塔半导体有限公司
  • 2023-03-31 - 2023-06-23 - H01L23/544
  • 本发明的一种接触孔测试结构和接触孔测试方法，接触孔测试结构包括设置于半导体衬底上的有源区接触孔测试结构、多晶硅接触孔测试结构、第一漏电测试结构以及第二漏电测试结构。其中，有源区接触孔测试结构包括若干串联的第一链条，多晶硅接触孔测试结构包括若干串联的第二链条，有源区接触孔测试结构和多晶硅接触孔测试结构的延伸方向相同；第一漏电测试结构包括若干第三链条，每一第三链条对应插入两相邻的第一链条之间；第二漏电测试结构通过二极管结构与有源区接触孔测试结构连接，第二漏电测试结构包括若干第四链条，每一第四链条对应插入两相邻的第二链条之间。本发明节约了版图面积，减少了漏电测试时间，提高了测试效率。
  • 一种接触测试结构方法
  • [发明专利]测试结构和半导体器件-CN202211165005.0在审
  • 周山;徐峰;刘倩倩 - 上海积塔半导体有限公司
  • 2022-09-23 - 2022-12-09 - H01L21/66
  • 本申请涉及一种测试结构和半导体器件。测试结构包括：接触孔测试单元，包括第一接触孔测试单元及第二接触孔测试单元，第一接触孔测试单元与第二接触孔测试单元均包括密集区及稀疏区，第一接触孔测试单元与第二接触孔测试单元于同一平面的正投影不交叠；测试单元，包括第一测试单元及第二测试单元，第一测试单元与第二测试单元均包括密集区及稀疏区，第一测试单元与第二测试单元于同一平面的正投影不交叠；其中，第一接触孔测试单元、第二接触孔测试单元、第一测试单元及第二测试单元均位于不同层；测试单元与接触孔测试单元于同一平面的正投影不交叠。可以解决测试结构中密集区和稀疏区在进行制样时需要分开制样的问题。
  • 测试结构半导体器件
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