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[发明专利]安装装置及能谱仪-CN201810094560.6有效
发明人：侯立飞;易荣清;杜华冰;杨轶濛;崔延莉;韦敏习;杨国洪 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2018-01-31 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01T7/00 文献下载
摘要：本发明实施例提出一种安装装置及能谱仪，涉及X射线辐射流测量技术领域，该安装装置包括基座环和固定环；基座环与能谱仪的磁环连接；固定环与基座环连接，且固定环内设置有一容置腔，容置腔用于容置中性衰减片。本发明实施例所提供的一种安装装置及能谱仪，能够使能谱仪工作时，无需其他设备或装置对中性衰减片进行固定。
安装装置能谱仪

[发明专利]一种X射线成像板的定量标定系统-CN201710331835.9有效
发明人：任宽;江少恩;徐涛;郑建华;董建军;韦敏习;李朝光;曹柱荣;杜华冰;晏骥;杨国洪;易荣清;张继彦;黄天暄;刘慎业;王峰;杨志文;李晋;丁永坤 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2017-05-12 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种X射线成像板的定量标定系统，所述的定量标定系统包括钨X射线管、金属箔、准直器、非标快门、限孔、X射线成像板、高纯锗谱仪以及电脑；钨X射线管发射的钨X射线连续谱经出射口入射到金属箔上，激发金属的Kα单能线谱发射，而后由准直器进行准直，非标快门通过控制准直器的准直孔的开合进行时间窗口截取，该单能线谱发射穿过限孔入射到X射线成像板或高纯锗谱仪并被二者记录。本发明使X射线成像板的标定误差减小，在X射线成像技术领域具有较广阔的应用前景。
一种射线成像定量标定系统

[发明专利]一种能谱仪-CN201810218554.7有效
发明人：孙奥;王静;张文海;尚万里;侯立飞;杜华冰;杨国洪;车兴森;韦敏习;杨轶濛;易涛 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2018-03-16 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01T1/36 文献下载
摘要：本发明提供了一种能谱仪，涉及粒子能谱诊断技术领域。能谱仪应用于高能离子、电子和重离子的能谱测量，能谱仪包括准直组件、磁场产生组件、电场产生组件和照相组件；准直组件包括承托面板以及安装在承托面板上的准直板，准直板上开设有准直孔；磁场产生组件包括磁轭和安装在磁轭上的磁体；电场产生组件可相对准直组件滑动，电场产生组件包括相对设置的平行电极板和异形电极板，异形电极板包括相连的平行部和楔形部，平行部与平行电极板平行，楔形部相对平行部向远离平行电极板的方向倾斜预设角度；照相组件对应磁场产生组件和电场产生组件安装。该能谱仪能够同时进行电子与离子的能谱测量，也能够对重离子实现分离并进行能谱测量。
一种能谱仪

[发明专利]一种X光时间分辨记录系统能谱响应标定方法-CN202310905947.6在审
发明人：张玉雪;张志宇;张继彦;杨家敏;赵阳;青波;胡希瑶;孙奥;杨国洪;朱托;宋天明;黄成武;熊刚;吕敏;赵妍;李丽灵;张璐;李晋;韦敏习 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2023-07-24 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种X光时间分辨记录系统能谱响应标定方法，S1：利用脉冲激光轰击丝状靶端面，激光烧蚀产生X光光源；S2：以所述丝状靶轴线，在空间内轴对称布置不同类别的晶体谱仪，晶体谱仪至少包括静态晶体谱仪、条纹晶体谱仪和门控晶体谱仪，其中，所述静态晶体谱仪的记录介质响应特性已知或者已精确标定，所述条纹晶体谱仪和门控晶体谱仪为记录设备响应特性待标定的时间分辨晶体谱仪；S3：线下在同步辐射或实验室X光光源平台上对各个所述晶体谱仪使用的记录介质的能谱响应标定，获得标定曲线；S4，以各晶体谱仪测量光谱数据以及晶体、滤片、IP、胶片或CCD等组件的线下标定数据为已知量。
一种时间分辨记录系统响应标定方法

[发明专利]一种X射线强度准无损二维成像装置-CN201711426316.7有效
发明人：任宽;江少恩;曹柱荣;姚立;谢旭飞;余波;陈进文;王哲斌;王峰;胡智民;刘慎业;徐涛;赵阳;刘伟;杨志文;董建军;韦敏习;马波;黄天暄;张继彦;丁永坤 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2017-12-26 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：本发明公开了一种X射线强度准无损二维成像装置，所述的成像装置适用于50eV~80keV的X射线，包括同轴心设置的可调光阑、辅助瞄准装置、X射线成像器件、支撑与调节机构、屏蔽筒与多重X射线成像板。经辅助瞄准装置对靶进行瞄准后，靶发出50eV~80keV的X射线，经X射线成像器件成像到多重X射线成像板上，通过对多重X射线成像板上的多重像进行数据提取、转换与叠加处理，即可还原强度准无损图像。本发明的成像装置能够实现50eV~80keV的X射线强度准无损二维成像，将获得的X光像的信息量提升0%~85%，具有广阔且重要应用前景。
一种射线强度无损二维成像装置

[发明专利]一种低温辐射流诊断装置-CN202310715042.2在审
发明人：车兴森;杜华冰;郑金华;侯立飞;杨轶濛;孙奥;韦敏习;杨国洪;张文海 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2023-06-16 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：本发明公开了一种低温辐射流诊断装置，该装置包括：被测光源、限孔光阑、X光平面镜、复合滤片和X射线光电二极管；其中限孔光阑、X光平面镜和复合滤片以任意顺序组合设置于被测光源和X射线光电二极管之间的光路。本发明提供的低温辐射流诊断装置，待测光以掠入射方式射入X光平面镜，对待测辐射流中的高能部分进行抑制；复合滤片对照射到X射线二极管探测器的X射线光谱响应进行改造，使探测器对X射线的光谱响应平坦，并将响应能区扩展到20eV。利用本发明的低温辐射流诊断装置可实现等效辐射温度低于60eV的辐射源发射的辐射流的精确测量，测量精度和灵敏度高。
一种低温辐射诊断装置

[发明专利]一种紧凑型的软X射线能谱仪-CN202310343526.9在审
发明人：车兴森;杜华冰;侯立飞;杨轶濛;孙奥;韦敏习;杨国洪;张文海 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2023-04-03 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G01T1/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种紧凑型的软X射线能谱仪，所述紧凑型的软X射线能谱仪包括前端瞄准CCD相机、X射线中性衰减片、滤片监视CCD、选通金属滤片、限孔光阑、X光平面镜、准直监视CCD、X光闪烁体光阑和X射线光电二极管。本发明提供的一种紧凑型的软X射线能谱仪，体积较传统的软X光能谱仪减小了100多倍，可基于诊断搭载平台使用，实现高效的多角度能谱测试，降低维护和加工成本的同时，提高操作的便捷性和测试的精度，解决了目前谱仪小型化设计、谱仪色散元件的模块一体化设计、线上线下快速准直以及在线监视功能的技术问题。
一种紧凑型射线能谱仪

[发明专利]一种宽频谱范围与高光谱分辨的X射线聚焦检测系统-CN202310321906.2在审
发明人：施军;王峰;江月;杨国洪;韦敏习;杨祖华;肖沙里 -专利权人：重庆大学;中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2023-03-29 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明公开一种宽频谱范围与高光谱分辨的X射线聚焦检测系统，用于对光源发出的X射线衍射后进行检测，包括衍射晶体以及检测器，所述衍射晶体表面具有衍射面，所述衍射面能够将所述光源发射并辐射至衍射面的X射线全部衍射后被检测器检测；本发明从源头上解决传统平面晶体X射线收集效率低、柱面或锥面晶体X射线谱分辨率低、球面晶体测谱范围窄的技术问题，使其同时具备高谱分辨率、高收集效率、宽测谱范围的特点，从而实现X射线在多个能点的聚焦测谱功能，减弱对整个X射线光谱检测系统中光源放置位置的限制。
一种宽频范围光谱分辨射线聚焦检测系统

[发明专利]一种X射线成像器件的瞄准装置及其调校方法和应用方法-CN201710017153.0有效
发明人：任宽;刘慎业;侯立飞;杜华冰;景龙飞;赵阳;杨志文;韦敏习;邓克立;姚立;詹夏宇;李晋;杨国洪;李三伟;江少恩;董建军;曹柱荣;丁永坤 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2017-01-11 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G01T1/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种X射线成像器件的瞄准装置及其调校方法和应用方法，所述的瞄准装置包括X射线成像器件、瞄准透镜、可调光阑、支撑机构、四维调节机构和监视器，X射线成像器件位于瞄准透镜中心，且二者分别对靶的X光和可见光成像位置、大小相同；所述的调校方法：将装调用靶中心、X射线成像器件中心和探测器记录面中心放到直线Ⅰ上；调节四维调节机构使装调用靶的可见光像中心与探测器记录面中心重合，且确保X射线成像器件中心仍在直线Ⅰ上。所述的应用方法：整体调整瞄准透镜像与探测器记录面位置关系，实现应用。本发明能够实现用可见光代替不可见X光进行实时在线瞄准，简单方便，将X射线成像器件瞄准效率提升至少80%，具有广阔应用前景。
一种射线成像器件瞄准装置及其调校方法应用

[发明专利]用于射线探测的标定方法、装置、设备及存储介质-CN202010081149.2有效
发明人：孙奥;杜华冰;侯立飞;尚万里;车兴森;张文海;韦敏习;杨国洪;易荣清;杨轶濛;江少恩;王峰;杨家敏 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2020-02-06 - 公布日： 2021-09-10 - 主分类号： G01T7/00 文献下载
摘要：本申请提供一种用于射线探测的标定方法、装置、设备及存储介质，涉及光学技术领域。该方法可包括：获取探测器为标准探测器，且滤片为第一滤片的情况下探测的第一电流数据；获取标准探测器在标定设备中无第一滤片情况下探测的第二电流数据；根据第一电流数据和第二电流数据，得到第一滤片的实测透过率曲线；根据实测透过率曲线，采用最小二乘法拟合，得到第一滤片的理论透过率曲线；根据实测透过率曲线和理论透过率曲线，得到高次谐波和基波的标定份额比。本申请的方法可以有效提高获取的高次谐波和基波的标定份额比的精确度。
用于射线探测标定方法装置设备存储介质

[发明专利]一种新型晶体及紧凑型成像装置-CN202110598913.8有效
发明人：尚万里;杨国洪;韦敏习;王峰;杨家敏;青波;赵阳;陈铭;黎淼;施军 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2021-05-31 - 公布日： 2021-08-13 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明提供了一种新型晶体及紧凑型成像装置，所述晶体包括晶体水平段和晶体倾斜段，所述晶体水平段和晶体倾斜段相连接，二者分别对两种不同波长的光衍射分光。所述成像装置包括晶体、光源S及记录设备；所述晶体包括水平段和倾斜段，所述水平段和倾斜段分别对光源S发射的两种不同波长的入射光进行衍射，其中不同波长的入射光经过晶体反射后成像在记录设备的不同位置；所述记录设备记录面与晶体水平段上表面所在方向垂直、且布置于靠近晶体倾斜段末端侧的位置。本发明通过对晶体尺寸进行特殊设计以改变入射光轨迹，缩短了不同波长反射X光入射到记录面的相对距离，减少记录设备尺寸、节省诊断成本，具有广阔且重要的应用前景。
一种新型晶体紧凑型成像装置

[实用新型]X射线时间演化过程测量装置-CN202020346413.6有效
发明人：侯立飞;刘慎业;杨家敏;袁铮;杨国洪;杜华冰;李晋;陈韬;杨轶濛;车兴森;韦敏习;孙奥;尚万里;王峰 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2020-03-18 - 公布日： 2020-12-08 - 主分类号： G01T1/36 文献下载
摘要：一种X射线时间演化过程测量装置，涉及X射线辐射流定量测量领域，所述X射线时间演化过程测量装置包括：脉冲展宽系统和信号处理系统，所述脉冲展宽系统包括加速区、漂移区和收集区，所述加速区用于对电子进行加速，且使得不同时间段进入所述加速区的电子的速度不同，所述漂移区用于使电子匀速运动，所述收集区用于收集电子；所述信号处理系统与所述收集区连接，用于通过展宽回推计算获得信号测量结果。所述X射线时间演化过程测量装置能够将信号展宽，然后通过展宽回推计算获得短脉冲信号的测量结果，从而实现高时间分辨的测量。
射线时间演化过程测量装置

[发明专利]一种平响应的霍尔晶体-CN202010792710.8有效
发明人：尚万里;韦敏习;孙奥;杨国洪;施军;罗靖;车兴森;侯立飞;杜华冰;张文海;杨轶濛;曹磊峰;王峰;杨家敏;江少恩;张保汉 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2020-08-10 - 公布日： 2020-10-30 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种平响应的霍尔晶体，所述的平响应霍尔晶体由变化弧长、变化收光立体角、变化曲率半径的特殊锥面晶体构成。该晶体由一系列弧带紧密连接组成，相邻弧带的长度、收光立体角、曲率半径连续变化。光源发射光不同的入射波长对应于晶体不同的弧带，在晶体弧带上进行衍射分光，经过晶体反射后成像到记录设备上。本发明通过不同弧带弧长、收光立体角、曲率半径的特殊设计，实现晶体和记录设备对不同波长入射光的光谱响应效率一致，达到平响应的效果。本发明的晶体结构能够实现光源不同波长发射光的光谱响应一致，不受入射光波长的影响，具有广阔的应用前景。
一种响应霍尔晶体

[发明专利]弯曲晶体检测方法及装置-CN201810082028.2有效
发明人： 韦敏习;杨国洪;王静;侯立飞;车兴森;张文海;尚万里;杨轶濛 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2018-01-29 - 公布日： 2020-10-16 - 主分类号： G01N23/00 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种弯曲晶体检测方法及装置，所述装置包括射线发射源、晶体转动机构以及记录面，射线发射源用于按照预设角度发射入射光线，所述晶体转动机构用于放置弯曲晶体，放置于所述晶体转动机构的弯曲晶体接收所述射线发射源发射的入射光线，并将所述入射光线的折射光线折射向所述记录面。记录面接收弯曲晶体折射产生的折射光线在记录面的位置，并判断该位置是否与预设位置相重合，若是，则说明当前放置于晶体转动机构的弯曲晶体为合格的弯曲晶体。通过转动弯曲晶体，并检测弯曲晶体折射的光线在记录面投射的位置的方法，能够较好地实现对弯曲晶体是否合格的检测。
弯曲晶体检测方法装置

[实用新型]一种多功能在线便携式测谱仪-CN201922042546.4有效
发明人：张文海;孙奥;尚万里;韦敏习;车兴森;陈铭;杜华冰;侯立飞;杨国洪;杨轶濛 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2019-11-22 - 公布日： 2020-10-16 - 主分类号： G01T1/36 文献下载
摘要：本申请提供一种多功能在线便携式测谱仪。测谱仪包括：第一狭缝装置，包括：开设有竖直狭缝和瞄准孔的第一承载件；用于固定所述第一承载件的第一固定装置；和所述第一固定装置连接的第一调节机构，用于调节所述第一承载件的位置；第二狭缝装置，包括：第一CCD；开设有水平狭缝的第二承载件；用于固定所述第一CCD和所述第二承载件的第二固定装置；和所述第二固定装置连接的第二调节机构，用于调节所述第二固定装置的位置；所述第一固定装置和所述第二固定装置连接；真空插板阀，所述真空插板阀一端与所述第二固定装置连接；第二CCD，所述第二CCD与所述真空插板阀的另一端连接。该测谱仪的瞄准精度较高。
一种多功能在线便携式测谱仪

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