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[发明专利]位置测量技术-CN200510062774.8无效
发明人：林望 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2005-03-30 - 公布日： 2005-10-05 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种测量标记位置的位置测量装置，该装置具备：摄像单元；求出用上述摄像单元得到的图像数据的偏差的计算单元；基于对于在不同受光量下用上述摄像单元得到的多个图像数据用上述计算单元分别求得的偏差，设定与上述摄像单元的受光量有关的参数的设定单元
位置测量技术

[发明专利]新测量技术-CN02810193.6无效
发明人： C·阿布拉哈姆松;S·安德松－恩格尔斯;S·福勒斯塔;J·约翰松;S·斯万贝里 -专利权人：阿斯特拉曾尼卡有限公司
申请日： 2002-03-18 - 公布日： 2004-11-03 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：本发明涉及用于执行混合药品样本如片剂、胶囊或构成药剂的类似样本的定量分析的装置。药品样本(24，57，67)用辐射的激发束(20，53，64)，如，近红外辐射，照射。从样本(24，57，67)发射的辐射(30)的强度作为发射的辐射的波长和光子穿过所述样本的传播时间的函数被检测。可选地，从样本(24，57，67)发射的辐射(30)的强度还以空间分解方法检测。
测量技术

[发明专利]等待时间测量技术-CN201811435947.X在审
发明人： A·V·戈尔什科夫;M·别列宰斯基;K·莱维特-格瑞维奇;J·费奥多罗娃;N·伊扎基;A·纳尔基斯;S·伯科威茨 -专利权人：英特尔公司
申请日： 2018-11-28 - 公布日： 2019-07-05 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：公开了等待时间测量技术。系统、装置和方法可提供接收经编译的代码并标识该经编译的代码中的多个块的技术。通过将这些块修改为包括用于测量经插桩的代码在图形处理器上执行期间这些块的等待时间的探针来从经编译的代码生成经插桩的代码。
编译等待时间测量插桩图形处理器代码生成探针测量

[实用新型]工程技术测量装置-CN201922159945.9有效
发明人：牛天珂;袁军 -专利权人：牛天珂;袁军
申请日： 2019-12-05 - 公布日： 2020-05-19 - 主分类号： G01B5/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及工程测量技术领域，具体地说，公开了一种工程技术测量装置，其包括安装板，安装板的一端连接有长度方向垂直于安装板长度方向设置的尺板，尺板包括若干个依次连接的子尺板；尺板上设有刻度线，尺板上设有与尺板间隙配合且可滑动的滑套本实用新型可以适用于不同大小的钢筋笼的测量，从而较佳的提升了本实用新型的适用性。
工程技术测量装置

[发明专利]眼睛测量和建模技术-CN200980133903.4无效
发明人： G·尤西非;J·霍夫;B·卢岑贝格尔;A·希尔格 -专利权人：泰克诺拉斯完美视觉股份有限公司
申请日： 2009-08-24 - 公布日： 2011-07-27 - 主分类号： A61B3/10 文献下载
摘要：一种屈光手术系统，包括被构造成适于改变角膜的多个局部化区域的屈光治疗设备和被构造成适于测量角膜上至少两个位置点处的角膜形状参数的眼科测量装置。角膜建模设备包括被构造成适于根据屈光治疗参数计算两个或更多个位置点处的预期的角膜形状参数的处理器和被构造成适于比较角膜上的两个或更多个位置点处的测量的形状参数和预期的角膜形状参数的处理器，所述角膜上的两个或更多个位置点对应于所述预期的角膜形状参数的两个或更多个位置点
眼睛测量建模技术

[发明专利]测量技术及计算机数控技术-CN200410057078.3有效
发明人：铃木建彦 -专利权人：富士通株式会社
申请日： 2004-08-30 - 公布日： 2005-03-09 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：测量技术及计算机数控技术。测量设备包括：投影仪；照相机；生成器，根据校准时由投影仪投影到表面上的条纹图的拍摄图像产生第一元组，各第一元组包括照相机受光面上的点坐标、光强及表面高度；转换器，将光强转换成条纹图的相位角并产生第二元组，各第二元组包括受光面上的点坐标、相位角及表面高度；超曲面生成器，根据第二元组产生张量积型复合超曲面表示数据；提取器，根据测量时由投影仪投影到物体上的条纹图的拍摄图像提取包括受光面上的点坐标和光强的第三元组数据
测量技术计算机数控技术

[发明专利]无线接入技术间小区测量-CN202080095127.X在审
发明人：王原野;王燕鸣 -专利权人：哲库科技有限公司
申请日： 2020-09-15 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： H04W24/08 文献下载
摘要：公开了用于无线接入技术(RAT)间小区测量的装置和方法的实施例。在一个示例中，使用第一RAT接收测量第二RAT的小区的请求。确定是否满足第一准则和第二准则。所述第一准则基于终端设备的模式。所述条件与测量所述第二RAT的小区无关。响应于满足所述第一准则和所述第二准则，跳过对所述第二RAT的小区的测量。
无线接入技术小区测量

[发明专利]用于薄膜表征的测量技术-CN201580045695.8有效
发明人：郝玲;约翰·查尔斯·盖洛普 -专利权人： NPL管理有限公司
申请日： 2015-07-24 - 公布日： 2020-10-09 - 主分类号： G01N22/00 文献下载
摘要：一种测量装置，包括高电容率介质谐振器(10)，其具有低微波损耗角正切和至少一个第一对称轴(z1)；导电谐振腔(100)，其包含谐振器(10)且几何形状类似于该谐振器(10)，并具有与第一对称轴(z1)重合的第二对称轴、500、600、700、800)，其连接至所述多个端口(104)中用于将微波射入谐振腔的第一端口(P1)，同时还连接至所述多个端口(104)中用于接收来自谐振腔的微波的其他端口(P2、P3)；其中该测量装置还包括与谐振腔这样的测量装置可用于在谐振器(10)并未与薄膜或其上形成有薄膜的衬底(20)接触的情况下，测量薄膜(30)的电导率或薄膜电阻以及薄膜的载流子迁移率。
用于薄膜表征测量技术

[发明专利]过程测量技术传感器-CN201911186856.1有效
发明人：朱莉安·奥塞;弗兰克·韦伯 -专利权人：恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司
申请日： 2019-11-28 - 公布日： 2022-05-03 - 主分类号： G01D11/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种过程测量技术传感器(1)，包括具有传感器头(3)的传感器壳体(2)，其中所述传感器头(3)具有至少一个用于确定被测介质的被测量的传感器元件，所述传感器元件被布置在所述传感器壳体(2)内，并且其中所述传感器(1)具有被布置在所述传感器壳体(2)内的电子测量设备(5)，其中所述传感器壳体(2)在离所述电子测量设备(5)和所述传感器元件一定距离处具有冷凝阱(6、13、14)，所述冷凝阱呈所述传感器壳体(2)的壳体壁的局部区域的形式
过程测量技术传感器

[发明专利]用于测量电路电压的技术-CN200980116938.7有效
发明人： A·恩古延;俞玲 -专利权人：阿尔特拉公司
申请日： 2009-04-14 - 公布日： 2011-04-20 - 主分类号： G01R19/165 文献下载
摘要：一种电路可以包括比较器、电阻器分压器、控制电路和多路复用器。比较器将电路的内部供给电压与选择的参考电压进行比较。电阻器分压器生成参考电压。控制电路接收比较器的输出信号并且生成选择信号。多路复用器响应于选择信号而将来自电阻器分压器的参考电压之一作为选择的参考电压传送给比较器。
用于测量电路电压技术

[发明专利]利用诊断技术的流量测量-CN00805410.X有效
发明人：伊文瑞·埃尔于雷克;卡迪尔·卡瓦克利澳格鲁 -专利权人：罗斯蒙德公司
申请日： 2000-02-24 - 公布日： 2002-04-24 - 主分类号： G01F1/50 文献下载
摘要：一种流体流量计(82),该流量计诊断其基本部件(28)或与差压传感器(31)相连的脉冲线路(30)的状况。与差压传感器(31)相连的差分电路(90)具有一个差值输出,该输出表示传感的压差减去移动平均数。计算电路(92)接收差值输出并计算初始训练期间得到的历史数据的训练输出。计算电路(92)还计算监控期间或流体流量计(82)正常运行期间得到的当前数据的监控输出。诊断电路接收训练输出和监控输出并产生诊断输出,该输出指示基本部件(82)和脉冲线路(30)的当前状况。
利用诊断技术流量测量

[发明专利]齿轮副整体误差测量技术及其测量方法-CN201010237779.0有效
发明人：石照耀;康焱 -专利权人：北京工业大学
申请日： 2010-07-23 - 公布日： 2010-12-15 - 主分类号： G01M13/02 文献下载
摘要：本发明开创性地提出了可以替代传动误差的新误差指标(齿轮副整体误差)及其测量方法。其测量方法是：以齿轮整体误差测量技术为基础，采用间接测量法，得到齿轮副每个共轭齿对上的全部误差信息和完整啮合周期上的误差数据，既解决了传动误差测量中存在的问题，又使由我国首创的齿轮整体误差理论得到进一步推广和应用测量得到的齿轮副整体误差曲线的外包络线就是传动误差曲线，相对于传动误差，齿轮副整体误差包含的误差信息更全面、更完整，不仅反映了主从轮误差相互作用的大小，而且反映了误差作用的形式和具体过程。
齿轮整体误差测量技术及其测量方法

[发明专利]用于高压测量技术的测量变换器-CN201780040128.2有效
发明人：延斯-亨德里克·席费尔 -专利权人：科尼克电子测量仪器有限及两合公司
申请日： 2017-06-22 - 公布日： 2021-10-08 - 主分类号： G01D11/24 文献下载
摘要：本发明一种用于高压测量技术的测量变换器，包括：‑带有平行六面体状基本轮廓的壳体(1)；‑设置在所述壳体(1)上的输入接头(25、26)，这些输入接头引导在高压范围内的输入测量信号；‑设置在所述壳体(1)上的输出接头(12、13)，这些输出接头引导低压范围内的输出信号；‑设置在所述壳体(1)中的测量变换器电路(29)，该测量变换器电路实施在至少一个印制电路板(30)上且与输入和输出接头(12、13、25、26)接触连接，其中，‑所述壳体(1)的平行六面体状的基本轮廓被设计成竖直的构造型式；‑带有所述测量变换器电路(29)的所述印制电路板(30)竖直地设置在安置于所述壳体(1)中的拱顶(22)的对置的侧壁‑所述输入接头(25、26)彼此背离地在所述壳体(1)的基本轮廓内部设置在所述侧壁(23、24)的外侧面(27、28)上，以及穿过所述拱顶(22)的相应的侧壁(23、24)与所述印制电路板(30)上的测量变换器电路
用于高压测量技术变换器

[实用新型]基于GPS控制测量技术的高精度测量装置-CN202022603292.1有效
发明人：刘新平;王禹 -专利权人：湖南安全技术职业学院（长沙煤矿安全技术培训中心）
申请日： 2020-11-02 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： G01S19/43 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于GPS控制测量技术的高精度测量装置，包括：GPS‑RTK定位装置、固定基座以及三角支架；所述GPS‑RTK定位装置设置于所述固定基座内，所述固定基座与所述三角支架连接；所述固定基座包括底座和限位座本实用新型提供的一种基于GPS控制测量技术的高精度测量装置，通过设置固定基座，从而形成对GPS‑RTK定位装置的稳定固定，并通过设置限位组件，进一步减小体积大小以及空间占用，同时便于工作人员携带。
基于 gps 控制测量技术高精度装置

[发明专利]基于干涉测量表面轮廓的厚度测量技术-CN200580030629.X无效
发明人：泽维尔·C·德莱格 -专利权人：齐戈股份有限公司
申请日： 2005-07-14 - 公布日： 2007-08-15 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本发明公开了利用膜的干涉测量表面轮廓测量透明膜的厚度的技术。
基于干涉测量表面轮廓厚度技术

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