专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]波形中的峰值端点检测方法及检测装置-CN201380080242.X有效
  • 小泽弘明 - 株式会社岛津制作所
  • 2013-10-17 - 2017-08-25 - G01N30/86
  • 本发明提供一种波形中的峰值端点检测方法及检测装置。峰值端点检测装置,包括波形形状分析部、峰顶位置获取部,分别获取峰值检测对象波形的拐点提取波形、峰顶位置;基准值获取部,在峰值检测对象波形的峰顶位置的左右侧中任一侧,检测拐点提取波形的极大值及获得极大值的横轴的位置;相对阈值计算部,将极大值乘以具有规定的0至1之间的值的相对阈值率而计算相对阈值;以及峰值端点位置检测部,以获得极大值的横轴的位置为基点,在远离与峰顶位置相对应的横轴的位置的方向上,检测出拐点提取波形的值下降至相对阈值为止的最早的点作为峰值端点的横轴位置,并检测出与峰值端点的横轴位置相对应的峰值检测对象波形上的点作为峰值端点。
  • 波形中的峰值端点检测方法装置
  • [发明专利]FSK解调电路-CN201210036283.6有效
  • 羽深贵光 - 拉碧斯半导体株式会社
  • 2012-02-17 - 2012-08-22 - H04L27/14
  • 本发明提供一种能够更多地提取频率检波信号应当有效的拐点并且能够使噪声导致的拐点的错误检测减少的FSK解调电路及拐点检测方法。频率偏移除去部的拐点检测电路具有:拐点提取部,按规定的每个工作时钟对从频率检波部输出的频率检波信号的振幅值进行采样,对应于采样值的变化,提取拐点;振幅判定部,判定由拐点提取部提取到的拐点前后的频率检波信号的采样值的峰值间的大小是否在第一规定范围内;前导判定部,判定提取到的拐点所属的码元以及其前1个码元中的至少1个码元的最初的采样值与最终的采样的差分是否在第二规定范围内;以及“与”部,在由振幅判定部判定为峰值间的大小在第一规定范围内并且由前导判定部判定为差分在第二规定范围内时,将由拐点提取部提取到的拐点作为正规的拐点
  • fsk解调电路
  • [发明专利]一种星载大光斑激光雷达全波形数据分解方法-CN201911061627.7有效
  • 唐新明;刘诏;高小明;薛玉彩 - 自然资源部国土卫星遥感应用中心
  • 2019-11-01 - 2021-09-21 - G01S7/48
  • 本发明公开了一种星载大光斑激光雷达全波形数据分解方法,该方法包括以下步骤:步骤S1,对星载大光斑激光雷达全波形数据包括的每个原始回波波形数据进行预处理,得到滤波后的回波波形;步骤S2,检测所述滤波后的回波波形中的明显峰值点和与所述明显峰值点对应的拐点,并估计有效峰值点对应的高斯分量的参数的初始值;步骤S3,检测有效明显峰值点两侧的叠加高斯分量,并估计叠加高斯分量的参数初始值;步骤S4,对滤波后的回波波形中检测到的高斯分量的总个数进行更新并对所述高斯分量的参数进行最优化估计本发明结合拐点匹配和迭代优化算法,改进高斯分量的初始检测策略,得到了较好的回波波形的高斯分量初始估计。
  • 一种星载大光斑激光雷达波形数据分解方法
  • [发明专利]半导体晶片的激光加工方法-CN201010185082.3有效
  • 森数洋司 - 株式会社迪思科
  • 2010-05-21 - 2010-11-24 - B23K26/36
  • ,具有如下的加工槽形成工序:沿着半导体晶片的分割预定线,照射对于半导体晶片具有吸收性的波长的脉冲激光束而在半导体晶片上形成激光加工槽,在该加工槽形成工序中,将脉冲激光束的脉宽设定为2ns以下,并且,以拐点以下的峰值能量密度向半导体晶片的分割预定线照射激光束,所述拐点是形成在半导体晶片的分割预定线上的激光加工槽的深度进展随每1个脉冲的峰值能量密度的上升而发生急剧变化的点。
  • 半导体晶片激光加工方法

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