“定位缺陷”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果2597583个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]缺陷定位方法-CN201510087311.0有效
发明人：高保林;王倩 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2015-02-25 - 公布日： 2019-01-18 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明揭示了一种缺陷定位方法，包括：提供半导体基底，所述半导体基底内包括多个在垂直方向延伸的金属塞，所述半导体基底的材料对激光具有透光性；沿着所述垂直方向对半导体基底制备断面，所述断面与所述金属塞的距离大于等于100μm；以及对所述金属塞通电，并用所述激光从所述断面对所述半导体基底进行照射，并进行热点分析，通过亮点的位置判断缺陷在垂直方向的深度。由于所述半导体基底的材料对激光具有透光性，所以，如果所述金属塞中具有缺陷，所述缺陷经过激光的照射，所述缺陷的电阻值会发生变化，并呈现出亮点，从而经过热点分析，通过亮点的位置判断缺陷在垂直方向的深度。
缺陷定位方法

[实用新型]一种缺陷定位装置和缺陷定位系统-CN202021372134.3有效
发明人：史进;李在桓 -专利权人：西安奕斯伟硅片技术有限公司
申请日： 2020-07-13 - 公布日： 2021-02-02 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本实用新型提供一种缺陷定位装置和缺陷定位系统。缺陷定位装置包括：夹具，用于固定待检测产品；定位传感器，与所述夹具固定连接，所述定位传感器用于检测所述夹具的姿态信息；控制开关，与所述定位传感器电连接，所述控制开关用于向所述定位传感器输出控制所述定位传感器记录检测到的姿态信息的控制信号本实用新型实施例提供的缺陷定位装置用于在目视检测产品缺陷过程中对产品存在的缺陷进行标记，使用过程中，可以通过定位传感器对缺陷定位装置的姿态进行检测，进一步通过操作控制开关实现对于缺陷的记录，从而能够快捷准确的实现对于产品缺陷的定位和记录
一种缺陷定位装置系统

[发明专利]一种基于缺陷报告分析的缺陷源代码定位方法-CN201610543653.3有效
发明人：黎铭;霍轩;周志华 -专利权人：南京大学
申请日： 2016-07-11 - 公布日： 2018-12-11 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开一种基于缺陷报告分析的缺陷源代码定位方法，首先获得新的待检查缺陷报告；如果不存在缺陷定位模型，建立缺陷定位模型。建立缺陷定位模型：获取大量历史缺陷报告、源代码和缺陷定位标记，构造训练集合；初始化缺陷定位模型；利用当前模型，提取训练集合缺陷报告和源代码的统一特征；计算当前模型的缺陷定位训练误差；若缺陷定位模型的训练误差低于预设阈值，模型训练完成，否则更新缺陷定位模型权重参数，继续训练。利用模型提取待检查的缺陷报告和源代码的统一特征并利用统一特征定位包含缺陷的源代码模块；输出定位到的缺陷源代码模块；若还有缺陷报告尚未检查，继续获取并分析新的待检查缺陷报告，否则缺陷定位过程结束。
一种基于缺陷报告分析源代码定位方法

[发明专利]一种基于Bert模型的方法层次缺陷定位方法-CN202010169037.2有效
发明人：倪珍;李斌;孙小兵;陈天浩 -专利权人：扬州大学
申请日： 2020-03-12 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于Bert模型的方法层次缺陷定位方法，该方法包括：构建并训练Bert模型；获取与待定位缺陷相关的历史已修复缺陷；基于Bert模型构建缺陷定位模型；训练缺陷定位模型；利用训练后的缺陷定位模型预测待定位缺陷对应的缺陷方法本发明提出的方法采用历史数据和深度学习技术相结合训练缺陷定位模型，同时利用Bert模型分别训练缺陷报告编码器和源代码编码器，并利用其确定缺陷定位模型中源代码编码器的参数，增强了定位模型中源代码编码器的特征提取能力此外，通过提炼相关的历史已修复缺陷，缩小了缺陷定位的搜索范围，提高了定位的准确度，很好地达到了在方法级别上定位软件缺陷的目的，进而提升软件缺陷修复的效率。
一种基于 bert 模型方法层次缺陷定位

[发明专利]面板缺陷定位机构-CN200810093637.4有效
发明人：叶公旭;林祈廷 -专利权人：东捷科技股份有限公司
申请日： 2008-04-18 - 公布日： 2009-10-21 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：一种面板缺陷定位机构，其包括：一对第一座体，每一第一座体具有一第一滑轨、一第一轴向微调部及一第一位置定位模块；一第二座体有一对第一滑动部及一连结于对第一滑动部间的第二滑轨；对第一滑动部可滑动的设于该对第一滑轨上，使第二座体可沿一第一轴向移动，且利用第一轴向微调部作细微调整；一检测装置有一第二滑动部、一检视镜头、一第二轴向微调部、一第二位置定位模块及一光源发射部；第二滑动部可滑动的设于第二滑轨上，使检测装置可沿一第二轴向移动，且利用第二轴向微调部作细微调整；第一及第二位置定位模块可精确定位出检视镜头所对应的检视位置坐标；而光源发射部可产生一高对比度可见光。
面板缺陷定位机构

[发明专利]基板缺陷位置定位方法及装置和系统-CN201610389092.6有效
发明人：张祥 -专利权人：昆山国显光电有限公司
申请日： 2016-06-02 - 公布日： 2019-09-17 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明涉及一种基板缺陷位置定位方法、装置和系统。一种基板缺陷位置定位方法，用于定位基板上的缺陷位置，缺陷具有灰阶信息，包括步骤：根据缺陷的灰阶信息，判断缺陷类型；根据缺陷类型，调节光源强度并获取视野图片；将视野图片转换为二阶化图片；根据二阶化图片确定缺陷位置一种基板缺陷位置定位装置，用于上述基板缺陷位置定位方法，包括信息处理单元、光源控制单元、目视单元以及图像处理单元。一种基板缺陷位置定位系统，包括自动光学检测设备以及上述基板缺陷位置定位装置，自动光学检测设备连接基板缺陷位置定位装置的信息处理单元。上述方法、装置和系统能够提高了缺陷定位的效率，降低了缺陷误报率。
缺陷位置定位方法装置系统

[发明专利]一种基于信息检索的语句级软件缺陷定位方法及系统-CN202211621334.1在审
发明人：岳雷;崔展齐;郑丽伟 -专利权人：北京信息科技大学
申请日： 2022-12-16 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于信息检索的语句级软件缺陷定位方法及系统，涉及软件缺陷定位技术领域。包括：基于缺陷库构建历史缺陷报告集；根据历史缺陷报告集和目标缺陷报告进行历史缺陷语句提取；根据目标源码文件集和目标缺陷报告进行可疑目标源码文件检测以获得可疑目标源码语句集；基于历史缺陷语句集和可疑目标源码语句集进行目标缺陷语句定位本发明实现了语句级别的缺陷定位，相比于现有的基于信息检索的软件缺陷定位方法粒度更细，定位精度更高；相比于现有的语句级别的缺陷定位方法，本发明不需要设计测试用例并执行程序，减少了缺陷定位所需人力和时间开销
一种基于信息检索语句软件缺陷定位方法系统

[发明专利]道路缺陷检测方法、系统、电子设备及存储介质-CN202310486399.8在审
发明人：汤峰;冒高峰 -专利权人：上海厉鲨科技有限公司
申请日： 2023-04-28 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种道路缺陷检测方法、系统、电子设备及存储介质，其中所述道路缺陷检测方法，包括以下步骤：获取道路的图像数据以及定位数据；将图像数据输入缺陷检测模型得到缺陷图像，缺陷图像为道路存在缺陷的图像；从定位数据中确定与缺陷图像的时间戳对应的目标定位数据；根据目标定位数据确定道路存在缺陷的位置。通过模型识别得到缺陷图像，通过结合缺陷图像的时间戳与定位数据，定位缺陷图像中的缺陷在道路中的具体位置，在检测到道路缺陷的同时，还能够准确定位道路缺陷的位置。
道路缺陷检测方法系统电子设备存储介质

[发明专利]缺陷定位系统及方法-CN201910460972.1在审
发明人：于洋;黄仁德;方桂芹 -专利权人：德淮半导体有限公司
申请日： 2019-05-29 - 公布日： 2019-08-16 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明提供一种缺陷定位系统和缺陷定位方法，所述缺陷定位系统包括：第一缺陷定位模块，用于向晶片表面发射检测光束、并根据所述晶片散射和/或反射所述检测光束形成的光信号确定所述晶片中是否存在缺陷、以及所述晶片中存在的一个或多个缺陷的第一位置；以及第二缺陷定位模块，用于根据所述第一缺陷定位模块确定的所述一个或多个缺陷的第一位置，对所述一个或多个缺陷中的至少一个缺陷进行显微成像，并根据所述至少一个缺陷的显微成像结果对所述一个或多个缺陷的第一位置进行校正，得到所述一个或多个缺陷的第二位置。本发明实施例的缺陷定位系统和缺陷定位方法能够在提高缺陷定位的准确率的同时，大幅度地提高缺陷位置的检测效率。
缺陷定位系统缺陷定位模块第一位置缺陷定位显微成像第二位置发射检测检测光束晶片表面缺陷位置信号确定散射准确率晶片反射校正检测

[发明专利]代码缺陷预测与定位方法、装置、存储介质及计算机设备-CN202310891234.9在审
发明人：黄袁;徐福仁;陈湘萍;郑子彬 -专利权人：中山大学
申请日： 2023-07-19 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请提供了代码缺陷预测与定位方法、装置、存储介质及计算机设备，方法包括：获取待检测变更代码数据；获取目标代码缺陷预测与定位模型；将待检测变更代码数据输入目标代码缺陷预测与定位模型，根据待检测变更代码数据，得到变更代码语义特征，以及利用目标代码缺陷定位器对待检测变更代码数据进行缺陷定位处理，得到每个变更代码行的缺陷概率，并根据各个变更代码行的缺陷概率，得到变更代码结构特征，通过目标代码缺陷预测器对统计类特征、变更代码语义特征和变更代码结构特征进行缺陷预测处理，得到缺陷预测结果，当缺陷预测结果为存在缺陷变更时，根据各个变更代码行的缺陷概率，确定缺陷定位结果。如此，可以提高缺陷预测与定位模型性能。
代码缺陷预测定位方法装置存储介质计算机设备

[发明专利]缺陷定位方法、缺陷分析方法及系统-CN202210777146.1在审
发明人：江倩;吴明敏;蔡钟贤 -专利权人：通富微电子股份有限公司
申请日： 2022-06-30 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本申请公开了一种缺陷定位方法、缺陷分析方法及系统，该缺陷定位方法包括：从半导体器件的第一表面一侧获得缺陷区域的第一位置信息；其中，半导体器件包括经过隐形激光切割形成的切割面，半导体器件包括相背设置的第一表面和第二表面切割面位于第一表面和第二表面之间并与第一表面连接；从第一表面一侧对半导体器件进行多次抛光，并获取每次抛光后半导体器件抛光表面的晶体结构异常区域的第二位置信息；基于第一位置信息、多个第二位置信息和切割面获得缺陷发生起始区域通过上述方式，本申请能够定位隐形激光切割过程中缺陷发生起始区域，以助于对隐形激光切割过程中的散射缺陷进行分析。
缺陷定位方法分析系统

[发明专利]一种代码方法级别的软件缺陷定位方法-CN202010087773.3有效
发明人：李斌;陈天浩;孙小兵;倪珍 -专利权人：扬州大学
申请日： 2020-02-12 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种代码方法级别的软件缺陷定位方法，属于软件维护领域，该方法包括：构建并训练seq2seq模型；基于seq2seq模型构建缺陷定位模型；构建缺陷定位模型的训练样本；利用训练样本训练缺陷定位模型；利用训练后的缺陷定位模型预测缺陷报告中的缺陷方法。本发明提出的方法采用历史数据和深度学习技术相结合训练一个缺陷定位模型，并利用seq2seq模型确定该缺陷定位模型中代码编码器的参数，将代码方法注释作为监督信息，信息量丰富，很好地达到了在方法级别上定位软件缺陷的目的，能极大提升软件缺陷修复的效率。
一种代码方法级别软件缺陷定位

[发明专利]一种基于程序频谱的多缺陷定位方法-CN201810906860.X有效
发明人：金福生;王茹楠;蔡天倚;王树良 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2018-08-10 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于程序频谱的多缺陷定位方法，属于软件安全技术领域。包括以下步骤：步骤一：构造待缺陷定位检测的程序频谱；步骤二：对多缺陷定位问题建模,即构建候选缺陷分布种群，具体为使用二进制序列表示步骤一得到的待缺陷定位检测的程序频谱；步骤三：使用遗传算法对步骤二构建的候选缺陷分布种群的解空间进行搜索，得到用于定位的最优种群；步骤四：对步骤三得到的最优种群中的候选缺陷个体的怀疑值排序，得出最终的怀疑值排名。本发明通过对多缺陷定位问题进行建模，并使用遗传算法得到函数怀疑值列表，能够对程序中的多缺陷同时定位；通过基于程序频谱的多缺陷定位方法以及遗传算法，有效提高了多缺陷的定位效率以及定位准确率。
一种基于程序频谱缺陷定位方法

[发明专利]一种航天器多类型复杂缺陷的量化评估方法-CN202210565052.8在审
发明人：黄雪刚;雷光钰;高延;罗庆;殷春;谭旭彤;石安华;于哲峰 -专利权人：中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所
申请日： 2022-05-23 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种航天器多类型复杂缺陷的量化评估方法，包括：获得表征缺陷特征的红外重构图像，进行缺陷特征提取得到缺陷特征提取图像；得到缺陷特征检测图像；得到缺陷特征识别图像；对缺陷区域进行标定，实现缺陷像素粗定位；基于缺陷像素粗定位结果，根据提取到的缺陷边界像素点，实现亚像素缺陷特征定位；根据亚像素缺陷定位结果，对每一个标定的缺陷区域，对轮廓特征尺寸在水平方向和垂直方向，按照试件和图像的尺寸关系，分别进行映射以得到刻画缺陷不同特征参数的实际尺寸；进行缺陷特征量化计算。本发明有效提高了缺陷定位和量化的准确率，提高了缺陷定位的精度，解决了水平方向和垂直方向像素点像素尺度不同的问题。
一种航天器类型复杂缺陷量化评估方法

[发明专利]电缆缺陷定位方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202110749028.5在审
发明人：穆海宝;卢旭;张浩天;邹星宇;田杰;余鹏 -专利权人：深圳供电局有限公司
申请日： 2021-07-01 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G01R31/08 文献下载
摘要：本申请涉及一种电缆缺陷定位方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括：对被测电缆的阻抗频谱图进行变换处理，得到被测电缆的第一缺陷定位曲线；根据第一缺陷定位曲线的峭度特征，生成被测电缆的峭度曲线；基于被测电缆的峭度曲线，对第一缺陷定位曲线进行调幅处理，得到第二缺陷定位曲线；根据第二缺陷定位曲线，确定被测电缆存在缺陷的位置。由于峭度可以衡量第一缺陷定位曲线的凸起程度，将峭度视为一个权重，通过峭度曲线对第一缺陷定位曲线进行优化，增强了缺陷位置处的阻抗幅值，削弱了其他正常位置处的阻抗幅值，使得缺陷位置处的阻抗幅值远高于其他位置点，因此通过第二缺陷定位曲线可以准确有效地确定被测电缆存在缺陷的位置。
电缆缺陷定位方法装置计算机设备存储介质

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条