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- [发明专利]存储器测试电路和存储器测试方法-CN200510079461.3无效
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薮田匡史
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株式会社东芝
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2005-06-23
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2006-01-18
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G11C29/00
- 本发明提供缩短存储器测试时间的存储器测试电路和存储器测试方法。存储器测试电路备有生成期望值数据的存储器测试电路生成器、以可以并行传送来自多个存储器的存储器读出的数据的方式分别连接的捕获寄存器;对每个捕获寄存器比较多个捕获寄存器的输出和期望值数据的比较电路;识别多个比较电路中检测出不一致的比较电路的识别电路;存储来自检测出不一致的存储器的存储器读出数据和识别存储器的存储器识别信息的读出寄存器;和串行地读出检测出不一致的存储器读出数据和存储器识别信息,与检测出不一致的存储器的存取信息对应串行地输出的输出寄存器
- 存储器测试电路方法
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