专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种用于多铁性材料微结构表征的赫兹时域光谱-CN202111184049.3在审
  • 张朋 - 阜阳师范大学
  • 2021-10-11 - 2021-11-16 - G01N21/3563
  • 本发明公开了一种用于多铁性材料微结构表征的赫兹时域光谱,包括飞秒激光器、赫兹发射器和赫兹探测器。通过借助LiNbO3晶体赫兹发射技术,利用强赫兹脉冲提高了赫兹时域谱系赫兹源脉冲的能量,产生能量大于1.5微焦,频谱在0.1‑2.0THz范围的赫兹脉冲,在待测样品前配置两个可旋转的用于调节赫兹强度和确定所需入射光偏振方向金属线栅赫兹线偏振器第一WGP和第二WGP,在待测样品后放置两个赫兹线偏振器第三WGP和第四WGP,确保最大效率探测Ey或Ex赫兹分量,得到两个相互垂直的赫兹电场分量,并将赫兹时域谱技术结合9T超导磁体,可以直接测量赫兹透射的幅度、相位和偏振
  • 一种用于多铁性材料微结构表征赫兹时域光谱系统
  • [发明专利]光刻胶折射率的测定方法-CN201310122640.5无效
  • 王银萍;张大伟;李媛;洪瑞金;盛斌;黄元申;倪争技;王琦 - 上海理工大学
  • 2013-04-10 - 2013-07-10 - G01N21/41
  • 本发明涉及一种光刻胶折射率的测定方法,包括以下步骤:使光刻胶液体在水面上凝固得到光刻胶薄膜;将光刻胶薄膜置于回形支架中并加热得到样品支架;使用赫兹时域光谱仅测定赫兹电磁波通过空白回形支架后脉冲电场的时间波形,傅立叶转换后得到参照相位;使用赫兹时域光谱测定赫兹电磁波通过样品支架后脉冲电场的时间波形,通过傅立叶转换后得到样品相位;根据参照相位和样品相位得到相位差;根据计算公式得到光刻胶在赫兹频段内的折射率因为光刻胶对赫兹电磁波不敏感,所以不会发生光敏反应,可以实现准确测量曝光前后光刻胶在赫兹频段内的折射率。本发明方便快捷,测试结果精确,拓展了光刻胶折射率的测量范围。
  • 光刻折射率测定方法
  • [发明专利]奶制品中山梨酸钾的检测方法-CN201610223042.0在审
  • 廉飞宇;张元;葛宏义;付麦霞;蒋玉英 - 河南工业大学
  • 2016-04-11 - 2016-07-27 - G01N21/3586
  • 本发明公开了奶制品中山梨酸钾的检测方法,包括如下步骤:1)无添加山梨酸钾的奶制品标准品、纯山梨酸钾进行赫兹光谱检测分别建立奶制品光谱库、纯山梨酸钾的标准赫兹光谱;2)待测试奶制品样品放入赫兹时域光谱中的样品测试区进行赫兹光谱测试,存储获得的原始数据;3)步骤2)所得原始数据进行傅里叶变换得到待测试样品的赫兹光谱图,将待测样品的赫兹光谱与标准品的赫兹光谱进行相关性比较,确定待测样品中是否含有山梨酸钾。
  • 奶制品山梨检测方法

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