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[发明专利]光谱辐射计视场响应非均匀性标定方法-CN202111605673.6有效
发明人：李益文;焦朝强;陈戈;李瑶;化为卓;柴世杰;李玉琴;王超哲;张浦幼森 -专利权人：中国人民解放军空军工程大学
申请日： 2021-12-25 - 公布日： 2023-06-20 - 主分类号： G01J5/53 文献下载
摘要：本发明一种光谱辐射计视场响应非均匀性的标定方法属于光谱辐射测试设备技术领域，一种光谱辐射计视场响应非均匀性的标定方法包括设置第一黑体、采集第一黑体的电压响应值、求取光谱辐射计的响应函数、设置第二黑体、采集第二黑体的光谱辐射亮度、求取视场响应非均匀性修正系数、光谱辐射强度修正的步骤。非均匀性修正时不受目标辐射源的影响，所述标定方法适用范围广、适用程度强，处理方法简便，在得到非均匀性修正曲线后，无需知道目标辐射源的理论辐射强度，便可对目标辐射源进行标定修正，有利于外场实际测试的应用，提高了光谱辐射计的测量精度。
光谱辐射计视场响应均匀标定方法

[实用新型]一种预缩机的远红外辐射架-CN201721610129.X有效
发明人：李荣华;陈梅汀 -专利权人：新昌县宇峰印染机械有限公司
申请日： 2017-11-27 - 公布日： 2018-06-05 - 主分类号： D06C7/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种预缩机的远红外辐射架，包括辐射板和辐射管，辐射管设于辐射板上，辐射板上均匀分布有安装槽，辐射板上滑动连接有至少两根托条，托条与辐射管的底面接触，托条将辐射管限位在安装槽内，辐射板上设有保护罩，保护罩的底部设有开口，开口内等距分布有分隔条，分隔条上均匀分布有通孔。本实用新型结构简单，连接灵活，安全性高，辐射均匀，辐射效果好。
辐射板辐射管托条本实用新型远红外辐射安装槽保护罩分隔条缩机开口等距分布滑动连接辐射底面通孔限位灵活

[发明专利]一种空间环境下的MEMS红外辐射面均匀性提升系统-CN201911179919.0有效
发明人：张玉国;孙红胜;张鑫;王加朋;吴柯萱;李世伟;杨旺林;宋春晖;邱超;吴红霞;孙广尉;张林军;郭靖 -专利权人：北京振兴计量测试研究所
申请日： 2019-11-26 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： G01J5/52 文献下载
摘要：本发明涉及一种空间环境下的MEMS红外辐射面均匀性提升系统，属于红外辐射定标技术领域，解决了现有红外辐射面的温度均匀性差的问题。本发明的空间环境下的MEMS红外辐射面均匀性提升系统，包括热匀化导热层、加热层和分离式电极组，热匀化导热层位于加热层和MEMS红外辐射面之间；分离式电极组为加热层供电，使加热层发热；加热层对MEMS红外辐射面进行加热；热匀化导热层对MEMS红外辐射面起到热匀化作用，提升MEMS红外辐射面温度的均匀性。本发明能够大幅度提升空间环境下MEMS红外辐射面的均匀性，温度分布均匀性优于3K，确保其满足红外载荷辐射定标的使用要求。
一种空间环境 mems 红外辐射均匀提升系统

[发明专利]一种薄壁辐射管-CN202010912492.7有效
发明人：孔键;朱敏 -专利权人：江苏金诺炉辊有限公司
申请日： 2020-09-03 - 公布日： 2021-07-16 - 主分类号： F28F1/34 文献下载
摘要：本发明属于辐射管技术领域，尤其是一种薄壁辐射管，薄壁辐射管包括：薄壁辐射管本体；螺旋条，螺旋条设置于薄壁辐射管本体内壁；加强凸点，加强凸点设置于薄壁辐射管本体的表面，多个加强凸点与螺旋条相对应，在薄壁辐射管本体的表面螺旋均匀分布该薄壁辐射管，通过设置螺旋条和加强凸点，在使用时，通过螺旋条将薄壁辐射管本体上的热量进行均匀导热，使薄壁辐射管本体表面的温度更加均匀，且通过加强槽内加强条和抗高温条增加螺旋条的导热性能，加强凸点具有增加薄壁辐射管本体的硬度和韧性的效果，从而解决了现有的辐射管在使用时表面温度不均匀，影响辐射管的加热能力和加热质量，且降低了辐射管的使用寿命的问题。
一种薄壁辐射

[发明专利]横向均匀场微波加热炉-CN201811380175.4在审
发明人：王清源 -专利权人：成都赛纳为特科技有限公司
申请日： 2018-11-20 - 公布日： 2019-03-29 - 主分类号： H05B6/72 文献下载
摘要：本发明采用一个到两个辐射阵列在横向均匀的微波加热炉的加热腔的前方、后方或上方尽量多地激励起高次模TEn0模式（n为整数，大于等于2），从而在所述加热腔中形成均匀分布的驻波。所述至少一个辐射阵列包括沿Z轴的至少两行辐射器。所述辐射阵列通过地板向所述加热腔辐射微波能量。所述任意辐射阵列上的辐射器沿X方向和沿Z方向都均匀分布。位于同一辐射阵列上的所有辐射器中辐射的微波为相干波。为了进一步改善加热的均匀性，我们使用了可以横向平移的或者可以绕加热腔的垂直轴线进动的旋转圆盘。本发明通过控制横向均匀的微波加热炉的空腔中的微波模式来改进横向均匀的微波加热炉在三维空间中的加热的均匀性。
辐射阵列微波加热炉加热腔辐射器均匀性加热三维空间辐射微波能量垂直轴线辐射器沿横向平移微波模式旋转圆盘高次模均匀场进动空腔驻波微波地板辐射改进

[发明专利]横向均匀的微波加热炉-CN201811382228.6在审
发明人：王清源;徐立 -专利权人：成都赛纳为特科技有限公司
申请日： 2018-11-20 - 公布日： 2019-06-28 - 主分类号： H05B6/72 文献下载
摘要：本发明采用一个到两个辐射阵列在横向均匀的微波加热炉的加热腔的前方、后方或上方尽量多地激励起高次模TEn0模式（n为整数，大于等于2），从而在所述加热腔中形成均匀分布的驻波。所述至少一个辐射阵列包括沿Z轴的至少两行辐射器。所述辐射阵列通过地板向所述加热腔辐射微波能量。所述任意辐射阵列上的辐射器沿X方向和沿Z方向都均匀分布。位于同一辐射阵列上的所有辐射器中辐射的微波为相干波。为了进一步改善加热的均匀性，我们使用了可以横向平移的或者可以绕加热腔的垂直轴线进动的旋转圆盘。本发明通过控制横向均匀的微波加热炉的空腔中的微波模式来改进横向均匀的微波加热炉在三维空间中的加热的均匀性。
辐射阵列微波加热炉加热腔辐射器均匀性加热三维空间辐射微波能量垂直轴线辐射器沿横向平移微波模式旋转圆盘高次模进动空腔驻波微波地板辐射改进

[发明专利]激光辐射方法和使用其方法制造半导体装置的方法-CN200910164535.1有效
发明人：田中幸一郎;山本良明 -专利权人：株式会社半导体能源研究所
申请日： 2005-04-28 - 公布日： 2009-12-16 - 主分类号： H01L21/268 文献下载
摘要：本发明提供一种激光辐射方法，用于即使被辐射物的厚度不均匀也能够对被辐射物进行均匀的激光辐射。在对具有不均匀厚度的被辐射物进行辐射的情况下，通过使用自动聚焦机构，可以在执行激光辐射的同时使被辐射物和透镜之间的距离保持不变，其中该透镜用于使激光束在被辐射物的表面上聚光。特别是，在用激光束对被辐射物进行辐射时，通过沿被辐射物上形成的光斑的第一方向和第二方向相对于激光束移动该被辐射物，在被辐射物沿第一和第二方向移动被辐射物之前，由自动聚焦机构控制被辐射物和透镜之间的距离。
激光辐射方法使用制造半导体装置

[发明专利]激光辐射方法和使用其方法制造半导体装置的方法-CN200510081724.4有效
发明人：田中幸一郎;山本良明 -专利权人：株式会社半导体能源研究所
申请日： 2005-04-28 - 公布日： 2006-01-25 - 主分类号： H01L21/00 文献下载
摘要：本发明提供一种激光辐射方法，用于即使被辐射物的厚度不均匀也能够对被辐射物进行均匀的激光辐射。在对具有不均匀厚度的被辐射物进行辐射的情况下，通过使用自动聚焦机构，可以在执行激光辐射的同时使被辐射物和透镜之间的距离保持不变，其中该透镜用于使激光束在被辐射物的表面上聚光。特别是，在用激光束对被辐射物进行辐射时，通过沿被辐射物上形成的光斑的第一方向和第二方向相对于激光束移动该被辐射物，在被辐射物沿第一和第二方向移动被辐射物之前，由自动聚焦机构控制被辐射物和透镜之间的距离。
激光辐射方法使用制造半导体装置

[发明专利]基于辐射传输模型的杂散辐射光线追迹方法及装置-CN202211295397.2在审
发明人：胡铭钰;张新;史广维;刘铭鑫;闫磊 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-10-21 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明一种基于辐射传输模型的杂散辐射光线追迹方法及装置，包括：在均匀温度场的元件范围内采用传统光线追迹方法；在非均匀温度场内采用辐射传输追迹方法，使用辐射传输模型计算微元面的能束传输过程；其中传统光线追迹与辐射传输追迹过程独立本发明结合传统的非序列光线追迹方法，将热辐射传输过程与杂散光分析过程结合，在均匀温度场的元件范围内采用传统光线追迹方法，在非均匀温度场内引入辐射传递因子，采用辐射传输模型计算微元面的能束传输过程，热辐射杂散光集成分析仿真结果具有实时性和直观性，适用于非均匀温度场及温度梯度系统的仿真应用。
基于辐射传输模型光线方法装置

[实用新型]实现热对流及二次辐射的双功能均匀加热装置-CN201520075588.7有效
发明人：韩志根 -专利权人：杭州金舟科技股份有限公司
申请日： 2015-02-03 - 公布日： 2015-07-22 - 主分类号： F27B17/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种实现热对流及二次辐射的双功能均匀加热装置，包括离心搅拌风机、辐射管，所述的加热装置安装在加热炉的炉顶位置上，所述的离心搅拌风机安装在加热装置的中间，辐射管安装在离心搅拌风机旁边，二次辐射导风板安装在离心搅拌风机和辐射管的下方，该二次辐射导风板通过耐热钢拉杆固定于加热装置上，且正对于加热炉的炉顶位置；通过二次辐射导风板吸收辐射管温度，在辐射管及二次辐射导风板之间蓄热并形成高温带，通过二次辐射导风板表面将热量均匀向下辐射。本实用新型的有益效果为：同时实现了辐射及热对流的均匀化，提高了炉膛均匀性，避免工件因受热不均出现局部质量不合格，同时起到了活化炉膛气氛，保护工件表面的作用。
实现对流二次辐射功能均匀加热装置

[发明专利]均化器-CN02824304.8有效
发明人：托比约恩·桑兹特罗姆 -专利权人：麦克罗尼克激光系统公司
申请日： 2002-12-05 - 公布日： 2005-03-23 - 主分类号： G02B27/09 文献下载
摘要：本发明的一个方面包括一种用于使电磁辐射束均匀化的方法。所述电磁辐射束入射在第一阵列偏转元件上。所述电磁辐射束被所述第一阵列偏转元件分散成多个空间分离的小电磁辐射束。所述偏转小电磁辐射束入射在第二阵列偏转元件上。所述小电磁辐射束在目标平面处叠加，从而形成具有均匀空间强度分度的辐射束。本发明还涉及一种用于使电磁辐射束均匀化的设备。
均化器

[实用新型]一种用于被动式太赫兹成像的环境控制系统-CN201821639253.3有效
发明人：靖红军;安德越;朱剑飞;王文静 -专利权人：中国电子科技集团公司第三十八研究所
申请日： 2018-10-10 - 公布日： 2019-04-02 - 主分类号： G05D23/20 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于被动式太赫兹成像的环境控制系统，包括能够产生太赫兹波的辐射板，用于固定辐射板的底座，均匀设置在辐射板上的加热装置，以及设置在辐射板内的反馈式温度控制装置；所述辐射板包括依次排列的加热层、金属层、太赫兹辐射层，加热装置内置于加热层中。本实用新型的有益效果：将加热功能与辐射功能集成在一起；加热层用于将太赫兹波辐射层产生热量和辐射，金属层能够使加热更为均匀，提高太赫兹波辐射层辐射强度的均匀性；而且还设置了反馈式温度控制装置，可灵活控制辐射板内部温度，消除了温度过高导致辐射板烧毁的安全隐患。
辐射板加热层环境控制系统太赫兹波辐射温度控制装置本实用新型太赫兹成像加热装置被动式反馈式金属层辐射辐射板内部固定辐射板太赫兹辐射安全隐患功能集成加热功能均匀设置灵活控制太赫兹波温度过高依次排列均匀性底座加热烧毁

[发明专利]防辐射抗菌织物厚薄均匀面料-CN201410537424.1在审
发明人：吴贤民 -专利权人：江阴市悦达印染有限公司
申请日： 2014-10-14 - 公布日： 2015-02-11 - 主分类号： B32B15/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种防辐射抗菌织物厚薄均匀面料，包括基层（1），基层（1）由经纱（11）和纬纱（12）相互连接制成，经纱（11）和纬纱（12）采用纳米银纤维纺织而成，基层（1）上表面粘合有铝合金薄膜（2），在铝合金薄膜上设置有防静电层本发明能够屏蔽辐射，且可以有效抑制静电放电现象发生。本发明织物厚薄均匀。
防辐射抗菌织物厚薄均匀面料

[发明专利]一种均匀辐射热源-CN201910469758.2在审
发明人：周军红;吴健鸥;梅书刚;罗旭东 -专利权人：广东省计量科学研究院(华南国家计量测试中心)
申请日： 2019-05-31 - 公布日： 2019-08-02 - 主分类号： F21S8/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种均匀辐射热源，包括安装架，所述安装架设有灯泡，所述灯泡外部设有一外罩，所述外罩内设有一容纳灯泡的球形腔；所述外罩的一侧设有与球形腔连通的聚热缺口；所述球形腔的内侧壁设有漫反射层。本发明提供的一种均匀辐射热源，通过球形腔对光的漫反射，减少热量损失的同时使热量集中在聚热缺口上，方便辐射热计对辐射热量的测量，该均匀辐射热源提高了热源的稳定性和均匀性，也提高了检测的效率和数据测量的不确定度
热源均匀辐射球形腔外罩灯泡聚热不确定度辐射热量漫反射层热量集中热量损失数据测量安装架辐射热均匀性漫反射内侧壁连通架设测量容纳检测外部

[发明专利]辐射场均匀性校验定位装置-CN201210092277.2有效
发明人：马欣;邹子英;陆敏;龚增;王晖;张亮;田禾箐 -专利权人：上海市计量测试技术研究院
申请日： 2012-03-31 - 公布日： 2012-07-25 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种辐射场均匀性校验定位装置，其包括垂直连杆、底板、水平连杆、水平套筒；所述垂直连杆，底端固定在所述底板上；所述水平套筒，套设在所述垂直连杆外部，能沿所述垂直连杆轴向滑动；所述水平套筒和/或所述垂直连杆上设置有轴向定位机构本发明的辐射场均匀性校验定位装置，能提高提高辐射场均匀性测试结果的准确性，并提高辐射场均匀性校验定位操作的效率、准确性。
辐射均匀校验定位装置

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