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[发明专利]利用反射太赫兹辐射计算材料属性-CN201380062304.4在审
发明人： J·S·怀特;D·奇姆达斯 -专利权人：派克米瑞斯有限责任公司
申请日： 2013-10-18 - 公布日： 2015-08-26 - 主分类号： G01B9/04 文献下载
摘要：用于解译太赫兹辐射的系统包括配置为输出太赫兹辐射的脉冲的太赫兹发射器以及配置为从太赫兹发射器接收辐射脉冲的至少一部分的太赫兹接收器。太赫兹接收器配置为基于由太赫兹接收器接收的辐射输出信号。
利用反射赫兹辐射计算材料属性

[发明专利]宽波段太赫兹源辐射功率校准装置及校准方法-CN201510133777.X有效
发明人：杨鸿儒;李宏光;常伟军;腾国奇;汪建刚;张博妮;薛占理;孙宇楠;曹锋;马世帮 -专利权人：西安应用光学研究所
申请日： 2015-03-25 - 公布日： 2017-01-25 - 主分类号： G01J1/16 文献下载
摘要：本发明提出了一种宽波段太赫兹源辐射功率校准装置及校准方法，可以测试的太赫兹源为光束发散角大于1.732°、光谱范围为(30～3000)μm的太赫兹源。本发明采用标准太赫兹源和待测太赫兹源的辐射参数比对的测量方法，标准太赫兹源或待测太赫兹源的辐射经过太赫兹透射窗口进入低温真空背景通道后，与液氮制冷黑体的背景辐射交替被斩光片调制成周期性变化的太赫兹辐射信号，被卡塞格林系统会聚，经过太赫兹光谱滤光片入射到太赫兹探测器上，转换为周期性变化的电压信号，经过锁相放大器处理得到稳定的测量电压信号；根据由弱标准辐射源或强标准辐射源测量得到的辐射功率修正系数计算得到待测光源的辐射功率，同时还可计算得到待测源的辐射亮度。
波段赫兹辐射功率校准装置方法

[发明专利]一种基于二维材料声子模的太赫兹发生器-CN202110425829.6有效
发明人：盛志高;成龙 -专利权人：中国科学院合肥物质科学研究院
申请日： 2021-04-20 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： H01S1/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于二维材料声子模的太赫兹发生器，包括低能量宽带太赫兹脉冲产生装置、太赫兹单色辐射发生器和用于控制太赫兹单色辐射发生器所处温度的温度控制装置；所述太赫兹单色辐射发生器包括二维材料层和高透射基底，二维材料层装载于高透射基底上，低能量宽带太赫兹脉冲产生装置发出的宽带太赫兹脉冲依次经过二维材料层、高透射基底输出单色太赫兹辐射；通过该太赫兹发生器的二维材料层在出射端实现高效的单色太赫兹辐射。
一种基于二维材料子模赫兹发生器

[发明专利]一种太赫兹无损检测硅片电阻率的装置及其使用方法-CN201711478375.9在审
发明人：严辉;史珂;吴卫东;王雪敏;张永哲;仝文浩;邹蕊矫;黎维华;宋雪梅 -专利权人：北京工业大学;中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2017-12-29 - 公布日： 2018-06-29 - 主分类号： G01N21/59 文献下载
摘要：一种太赫兹无损检测硅片电阻率的装置及其使用方法，涉及太赫兹技术领域。包括太赫兹辐射源、准直扩束系统、样品台、太赫兹探测器、计算机、机械吸盘、返工片收集盒；太赫兹辐射源设置在最下方，太赫兹辐射源垂直向上辐射太赫兹波，准直扩束系统设置在太赫兹辐射源的正上方，所述太赫兹探测器设置在准直扩束系统正上方，太赫兹探测器与准直扩束系统之间有一段间距，太赫兹探测器的探头朝下，用于接收太赫兹辐射，样品台设置在太赫兹探测器与准直扩束系统之间，能够沿水平面移动，计算机与太赫兹探测器数据线相连，机械吸盘与计算机数据线连接
太赫兹探测器准直扩束系统太赫兹辐射源硅片电阻率机械吸盘无损检测收集盒样品台硅片返工计算机数据线太赫兹辐射测量硅片垂直向上太赫兹波不接触电阻率数据线计算机无损损伤辐射移动

[实用新型]一种直接太赫兹无损检测硅片透过率并进一步检测电阻率的装置-CN201721925351.9有效
发明人：严辉;史珂;吴卫东;王雪敏;张永哲;仝文浩;邹蕊矫;黎维华;宋雪梅 -专利权人：北京工业大学;中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2017-12-29 - 公布日： 2018-10-26 - 主分类号： G01N21/59 文献下载
摘要：一种直接太赫兹无损检测硅片透过率并进一步检测电阻率的装置，涉及太赫兹技术领域。包括太赫兹辐射源、准直扩束系统、样品台、太赫兹探测器、计算机、机械吸盘、返工片收集盒；太赫兹辐射源设置在最下方，太赫兹辐射源垂直向上辐射太赫兹波，准直扩束系统设置在太赫兹辐射源的正上方，所述太赫兹探测器设置在准直扩束系统正上方，太赫兹探测器与准直扩束系统之间有一段间距，太赫兹探测器的探头朝下，用于接收太赫兹辐射，样品台设置在太赫兹探测器与准直扩束系统之间，能够沿水平面移动，计算机与太赫兹探测器数据线相连，机械吸盘与计算机数据线连接
太赫兹探测器准直扩束系统太赫兹辐射源硅片电阻率机械吸盘无损检测收集盒透过率样品台返工计算机数据线太赫兹辐射测量硅片垂直向上太赫兹波不接触数据线计算机检测无损损伤辐射移动

[发明专利]一种太赫兹探测阵列校准系统及方法-CN202010163083.1有效
发明人：冯辉;安德越;张华坤;卜伟华;王文静;韦巍;涂昊;高炳西;武帅 -专利权人：博微太赫兹信息科技有限公司
申请日： 2020-03-10 - 公布日： 2023-06-20 - 主分类号： G01J1/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种太赫兹探测阵列校准系统及方法，属于太赫兹探测校准技术领域，包括校准组件、旋转驱动组件和导电组件，所述校准组件包括常温辐射板与高温辐射板，所述常温辐射板与所述高温辐射板尺寸相同正对设置，所述常温辐射板与所述高温辐射板的两端均对应连接，所述旋转驱动组件与所述常温辐射板、所述高温辐射板的一端连接。本发明利用常温辐射板和高温辐射板辐射的太赫兹波的强度的不同，对太赫兹探测阵列中各个通道单元进行校准，有效的解决现有太赫兹探测阵列定标过程复杂，并且随着温度环境的变化需重复定标等缺点，可在太赫兹安检、太赫兹无损探伤和太赫兹雷达等领域得到广泛的应用
一种赫兹探测阵列校准系统方法

[发明专利]一种太赫兹成像系统及太赫兹安检装置-CN201610816019.2有效
发明人：谭易东;潘奕;李辰;丁庆 -专利权人：深圳市太赫兹系统设备有限公司;华讯方舟科技有限公司
申请日： 2016-09-09 - 公布日： 2019-05-03 - 主分类号： G01V8/10 文献下载
摘要：本发明适用于安检技术领域，提供一种太赫兹成像系统及太赫兹安检装置，其中，太赫兹成像系统包括：太赫兹辐射模块；将太赫兹辐射模块辐射的太赫兹波调制为预设频率的太赫兹波并覆盖式辐射至待测物体的光学斩波器；将携带有待测物体的复介电函数信息的太赫兹波聚焦于其像方焦平面的成像物镜；感光面的最小边长大于或等于所述成像物镜的成像区域的最大边长，将携带有复介电函数信息的太赫兹波转换为模拟电流信号的太赫兹探测模块；以及与太赫兹探测模块连接的信号处理模块。本发明可以对人体或生物组织进行无损检测，减小的辐射伤害，一次辐射即可获得待测物体的完整检测数据，检测效率高，可有效识别金属、毒品、炸药等高危物品。
一种赫兹成像系统安检装置

[发明专利]太赫兹超宽带辐射计集成前端-CN202211149078.0在审
发明人：张波;牛中乾;支炜;苏一洪 -专利权人：苏州华域祥电子科技有限公司
申请日： 2022-09-21 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： H01P5/12 文献下载
摘要：本发明提供一种太赫兹超宽带辐射计集成前端，其包括：输入链路、第一频段太赫兹辐射计电路、第二频段太赫兹辐射计电路、第三频段太赫兹辐射计电路、第四频段太赫兹辐射计电路以及连接链路。本发明的太赫兹超宽带辐射计集成前端中，通过一体成型的连接链路将不同频段的太赫兹辐射计电路集成为一个整体的模块，不需要外部的法兰进行连接，从而保证了太赫兹雷达前端的小型化，并具有结构简单、成本较低的优点。此外，本发明的太赫兹超宽带辐射计集成前端的收发架构也保证了各频段辐射计同源的需求，可以进一步提高辐射计系统的分辨率。
赫兹宽带辐射计集成前端

[发明专利]用于测量试验对象的太赫兹测量装置和太赫兹测量方法-CN201780047434.9有效
发明人： R·克洛泽 -专利权人：伊诺埃克斯挤压技术创新设备公司
申请日： 2017-06-16 - 公布日： 2021-08-03 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于通过运行时间测量在确定至少一个第一距离的情况下来测量试验对象的太赫兹测量装置，具有：用于发射太赫兹辐射并且探测由试验对象反射的第一太赫兹辐射的太赫兹发射和接收单元，和用于确定太赫兹辐射的第一运行时间和试验对象的至少一个第一距离的评估单元，规定：设有至少一个被动的太赫兹接收设备，其光轴相对于太赫兹发射和接收单元的光轴位错或倾斜地设置并且探测由太赫兹发射和接收单元发射的且在试验对象上反射的第二太赫兹辐射；设有数据连接，用于借助于同步信号来同步太赫兹发射和接收单元和所述被动的太赫兹接收单元，评估单元或太赫兹接收单元由反射的第二太赫兹辐射和同步信号确定第二运行时间和第二距离。
用于测量试验对象赫兹装置测量方法

[发明专利]太赫兹发射天线系统-CN201710117566.6在审
发明人：郑小平;苏云鹏;邓晓娇 -专利权人：清华大学
申请日： 2017-03-01 - 公布日： 2017-05-10 - 主分类号： H01Q15/14 文献下载
摘要：本发明涉及一种太赫兹发射天线系统，其特征在于，包括光导天线、透镜、主反射器、副反射器；所述光导天线用于产生太赫兹辐射波；所述透镜用于对所述太赫兹辐射波进行会聚，将会聚后的太赫兹辐射波作为发射天线的馈源；所述副反射器用于将汇聚后的太赫兹辐射波反射至主反射器；所述主反射器用于将经过副反射器反射的太赫兹波再次进行反射，形成太赫兹波束。本发明提供的太赫兹发射天线系统所形成的太赫兹波束可以实现高功率定向发射，能量损失小，发射效率高。
赫兹发射天线系统

[实用新型]一种太赫兹成像系统及太赫兹安检装置-CN201621045452.2有效
发明人：谭易东;潘奕;李辰;丁庆 -专利权人：深圳市太赫兹系统设备有限公司;华讯方舟科技有限公司
申请日： 2016-09-09 - 公布日： 2017-04-19 - 主分类号： G01V8/10 文献下载
摘要：本实用新型适用于安检技术领域，提供一种太赫兹成像系统及太赫兹安检装置，其中，太赫兹成像系统包括太赫兹辐射模块；将太赫兹辐射模块辐射的太赫兹波调制为预设频率的太赫兹波并覆盖式辐射至待测物体的光学斩波器；将携带有待测物体的复介电函数信息的太赫兹波聚焦于其像方焦平面的成像物镜；感光面的最小边长大于或等于所述成像物镜的成像区域的最大边长，将携带有复介电函数信息的太赫兹波转换为模拟电流信号的太赫兹探测模块；以及与太赫兹探测模块连接的信号处理模块。本实用新型可以对人体或生物组织进行无损检测，减小的辐射伤害，一次辐射即可获得待测物体的完整检测数据，检测效率高，可有效识别金属、毒品、炸药等高危物品。
一种赫兹成像系统安检装置

[实用新型]一种太赫兹波探测装置-CN201922110866.9有效
发明人：李龙 -专利权人：北立传感器技术（武汉）有限公司
申请日： 2019-11-30 - 公布日： 2020-07-28 - 主分类号： G01N21/3581 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种太赫兹波探测装置，本实用新型提供的太赫兹波探测装置，包括太赫兹波辐射源、第一透镜、用于承载待测物的载物台、采集部、转换部和信号输出部，所述太赫兹波辐射源设置在所述第一透镜的一侧，并正对所述第一透镜设置，所述第一透镜用于将太赫兹波辐射源产生的辐射状的太赫兹波转换为相互平行的太赫兹波，所述采集部设置在所述第一透镜的另一侧，并正对所述第一透镜设置，通过并列设置的采集探头，将所有穿过待测物的太赫兹波，且每个采集探头采集对应部位的太赫兹波并将该部位的太赫兹波汇聚至一点以增强该部位的辐射强度本实用新型提供的太赫兹波探测装置具有增强每个采集部位辐射强度的效果。
一种赫兹探测装置

[发明专利]一种收发一体的太赫兹天线及其制造方法和太赫兹测量系统-CN201610631091.8有效
发明人：林琦;林中晞;苏辉 -专利权人：中国科学院福建物质结构研究所
申请日： 2016-08-04 - 公布日： 2018-09-28 - 主分类号： H01Q1/36 文献下载
摘要：本发明涉及一种收发一体的太赫兹天线，该太赫兹天线包括太赫兹辐射材料和环形分布的多极天线；所述多极天线由多块金属电极组成，该多块金属电极形成环形对称分布结构，其中该多块金属电极的数量大于等于3；所述环形分布的多极天线位于所述太赫兹辐射材料的上表面，并平行于太赫兹辐射材料表面分布，该多块金属电极环绕形成中心间隙区；所述太赫兹辐射材料上形成光照区，该光照区位于该中心间隙区。本发明还涉及该太赫兹天线的制造方法和太赫兹测量系统。本发明提出的天线能够同时实现太赫兹辐射的收发。
一种收发一体赫兹天线及其制造方法测量系统

[实用新型]一种收发一体的太赫兹天线和太赫兹测量系统-CN201620836636.4有效
发明人：林琦;林中晞;苏辉 -专利权人：中国科学院福建物质结构研究所
申请日： 2016-08-04 - 公布日： 2017-01-18 - 主分类号： H01Q1/36 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种收发一体的太赫兹天线，该太赫兹天线包括太赫兹辐射材料和环形分布的多极天线；所述多极天线由多块金属电极组成，该多块金属电极形成环形对称分布结构，其中该多块金属电极的数量大于等于3；所述环形分布的多极天线位于所述太赫兹辐射材料的上表面，并平行于太赫兹辐射材料表面分布，该多块金属电极环绕形成中心间隙区；所述太赫兹辐射材料上形成光照区，该光照区位于该中心间隙区。本实用新型还涉及包括该太赫兹天线的太赫兹测量系统。本实用新型提出的天线能够同时实现太赫兹辐射的收发。
一种收发一体赫兹天线测量系统

[发明专利]一种太赫兹成像系统中探测器自身干扰的抑制方法和装置-CN202111002826.8在审
发明人：袁毅;周景石;臧元章;侯丽伟;俞旭辉;周德亮;谢巍;潘鸣;孙义兴;侯树海 -专利权人：上海亨临光电科技有限公司;江苏亨通太赫兹技术有限公司
申请日： 2021-08-30 - 公布日： 2021-10-19 - 主分类号： G01N21/3581 文献下载
摘要：本发明提供了一种太赫兹成像系统中探测器自身干扰的抑制方法，其将将探测器自身发出的太赫兹辐射反射向别处，不让其最终被自身或者其他太赫兹成像系统所接收到，且不影响探测器对于外界的太赫兹辐射的接收和成像，从而提高了太赫兹图像的信噪比其将太赫兹隔离器斜向放在太赫兹成像系统的光学系统和探测器之间，就能将探测器自身发出的太赫兹辐射反射向别处，不让其最终被自身或者其他太赫兹成像系统所接收到，且不影响探测器对于外界的太赫兹辐射的接收和成像。
一种赫兹成像系统探测器自身干扰抑制方法装置

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