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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[实用新型]照光式操作体-CN201320641680.6有效
发明人：大迫孟;三和敏孝;黑田真吾 -专利权人：阿尔卑斯电气株式会社
申请日： 2013-10-17 - 公布日： 2014-04-02 - 主分类号： H01H9/18 文献下载
摘要：本实用新型提供一种由透光性树脂和非透光性树脂双色成型的、没有在要照光的照光部设置散射面也能够照光且能够扩大可照光范围的照光式操作体。该照光式操作体由透光性树脂和非透光性树脂双色成型，具有由透光性树脂构成的导光体和由非透光性树脂构成的主体部，导光体具有：受光部，接受光源射出的光；反射部，向与受光部不同的方向反射从受光部入射的光；照光部，处在与受光部不对面的位置上并具有比受光部宽的幅宽，在反射部反射的光抵达后被照光；以及导光部，光从受光部起经由反射部到达照光部。在反射部设有多个槽，主体部在除了受光部以外的导光体的下表面成型并覆盖导光部的下侧，并且反射部从主体部露出。
照光式操作

[发明专利]单芯光收发器-CN201380061934.X在审
发明人：稻垣优人;铃木贵幸;胡国祥;郝为民 -专利权人：浜松光子学株式会社;南京光露电子有限公司;中国电力科学研究院
申请日： 2013-11-26 - 公布日： 2015-07-29 - 主分类号： G02B6/42 文献下载
摘要：该单芯光收发器(1)具备发送光信号的发光元件(13)以及接受光信号的受光元件(12)。发光元件(13)是包含在受光元件(12)的受光面(12a)上并与受光面(12a)同轴配置的蓝宝石基板(13b)以及在蓝宝石基板(13b)上层叠的氮化物半导体层(13a)而构成的LED。通过在受光元件(12)的受光面(12a)上配置发光元件(13)，能够在整个受光面(12a)接受来自于光纤(2)的光信号，从而提高受光灵敏度。
单芯光收发

[发明专利]准分子灯用照度测量装置-CN201010116036.8无效
发明人：大塚优一;石原肇 -专利权人：优志旺电机株式会社
申请日： 2010-02-09 - 公布日： 2010-09-15 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：提供一种基本上能够在大气中简单地测量真空紫外光的强度、还能够降低由局部性的放电、及网状电极等的外部电极的影子引起的测量误差的准分子灯用照度测量装置。包括对真空紫外光进行检测的受光传感器和壳体，在上述壳体中，在与受光传感器的受光面相对的位置上，以其一面向外部开口的状态设有导光路空间；并且设有导入惰性气体的气体导入口、以及从这里延伸到导光路空间的气体流路，该装置还具备从气体导入口导入的惰性气体在上述导光路空间沿着包括受光传感器的受光面的面流通后、从导光路空间的开口排出到外部的气体流通机构，从包括受光传感器的受光面的面的垂直方向俯视，导光路空间的开口的面积比受光传感器的受光面的面积大
分子照度测量装置

[发明专利]距离信息取得装置、距离信息取得方法及程序-CN201980048155.3在审
发明人：加藤弓子;佐藤智;稻田安寿;泽田好秀 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2019-10-17 - 公布日： 2021-03-09 - 主分类号： G01S17/894 文献下载
摘要：距离信息取得装置具备光源、受光装置、控制电路和信号处理电路。上述控制电路使上述光源将具有第1空间分布的第1光朝向场景射出，然后将具有第2空间分布的第2光朝向上述场景射出，使上述受光装置的上述多个受光元件中的至少一部分在相同的曝光期间内检测通过上述第1光产生的来自上述场景的第1反射光、以及通过上述第2光产生的来自上述场景的第2反射光。上述信号处理电路基于从上述受光装置的上述多个受光元件输出的受光数据，生成距离数据。
距离信息取得装置方法程序

[发明专利]发光特性测定装置以及方法-CN201310024897.7无效
发明人：伊藤昭成;柳泽幸树;松本宪典;佐藤哲也;石川真治;内田练 -专利权人：横河电机株式会社;夏普株式会社
申请日： 2013-01-23 - 公布日： 2013-08-28 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种测定发光元件的发光特性的发光特性测定装置，其具有：光学积分器，其具有能够对从排列的多个发光元件输出的光进行受光的入射口，从所述入射口对从所述多个发光元件输出的所述光进行受光，将受光的所述光均一化；受光装置，其对由所述光学积分器均一化后的所述光进行受光；以及控制处理装置，其使所述多个发光元件择一地依次发光，并且与所述发光元件相对于所述光学积分器的所述入射口的位置相对应，对从所述受光装置依次获得的受光结果进行校正
发光特性测定装置以及方法

[发明专利]测定装置以及测定方法-CN201880015686.8在审
发明人：平野朝士;东崎智之;樋口刚司 -专利权人：京瓷株式会社
申请日： 2018-02-19 - 公布日： 2019-10-25 - 主分类号： A61B5/1455 文献下载
摘要：测定装置，其具备：第一光源，其射出第一波长的光；第二光源，其射出与第一波长不同的第二波长的激光；第一受光部，其接收来自被检部位的第二波长的激光的散射光；第二受光部，其接收来自被检部位的第一波长的光的透过光；第三受光部，其接收来自被检部位的第二波长的激光的透过光；以及控制部，其根据第一受光部的输出来测定血流量，并根据第二受光部和第三受光部的输出来测定氧饱和度。
受光部波长激光测定装置透过光射出光源氧饱和度输出散射光血流量

[发明专利]受光装置和通信装置-CN202180046410.8在审
发明人：今村俊贵;高田纮也;奥村藤男 -专利权人：日本电气株式会社
申请日： 2021-04-23 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： H04B10/112 文献下载
摘要：一种受光装置，其包括：透镜，用于高效地接收从各个方向到来的空间光信号，并且收集空间光信号，以与多个通信目标进行同时通信；传感器阵列，其包括用于接收透镜收集的空间光学信号的多个受光器；以及接收单元，用于对源自所述多个受光器中的各受光器接收到的空间光信号的电信号进行积分，并且根据积分后的电信号的电压值来选择用于接收所述空间光信号的受光器。
装置通信

[发明专利]检测装置以及检测装置的制造方法-CN202080033086.1在审
发明人：富冈安;松永和己;日向野敏行;西山和广 -专利权人：株式会社日本显示器
申请日： 2020-03-31 - 公布日： 2021-12-07 - 主分类号： G06T1/00 文献下载
摘要：适当将光导向受光元件。检测装置(1)具备接受光的多个受光元件(PD)、以及一方的表面(102b)与受光元件(PD)相对地设置的导光部(102)。导光部(102)包括从导光部(102)的一方的表面(102b)设置到另一方的表面(102a)为止的多个导光路径(110)、以及光的吸收率比导光路径(110)高的吸光部(112)。在从受光元件(PD)与导光部(102)重叠的方向观察的情况下，相对于一个受光元件(PD)重叠有多个导光路径(110)。
检测装置以及制造方法

[发明专利]光拾取装置及信息记录重放装置-CN200610129076.X无效
发明人：三宅浩二 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2006-09-08 - 公布日： 2007-03-14 - 主分类号： G11B7/135 文献下载
摘要：本发明提供一种可正确进行对光记录介质的信息重放及记录的光拾取装置及信息记录重放装置。当在第一激光所对应的第一受光部(24)上为聚焦状态时，调整传感透镜(19)相对于第一受光部(24)的相对位置以使第一FES为零，并限定第二受光部(25)的受光区域，以使从第二受光部输出的第二FES为零，上述第二受光部接收和第二激光对应的由光记录介质所反射的光。这样一来，当从第一受光部(24)输出的第一FES为零时，可以使从第二受光部(25)输出的第二FES也为零。从而对一个激发波长及另一激发波长中的任意一个激发波长均可防止产生焦点偏移。
拾取装置信息记录重放

[发明专利]时间测量装置-CN201910349785.6在审
发明人：西野辰树 -专利权人：索尼半导体解决方案公司
申请日： 2019-04-28 - 公布日： 2019-12-03 - 主分类号： G01S7/486 文献下载
摘要：本发明提供一种时间测量装置，其具备：像素，具有受光元件，能够基于受光元件的受光结果生成包含逻辑脉冲的脉冲信号；时刻检测部，能够基于脉冲信号检测受光元件的受光时刻；脉冲数检测部，能够检测脉冲信号中包含的逻辑脉冲的脉冲数；以及控制部，能够基于脉冲数对射出多个光脉冲的光源的动作进行控制。
受光元件逻辑脉冲脉冲数检测脉冲信号脉冲信号检测时间测量装置脉冲数检测时刻检测部结果生成脉冲信号受光时刻光脉冲射出受光像素光源

[实用新型]时间测量装置-CN201920602586.7有效
发明人：西野辰树 -专利权人：索尼半导体解决方案公司
申请日： 2019-04-28 - 公布日： 2020-03-20 - 主分类号： G01S7/4865 文献下载
摘要：本实用新型提供一种时间测量装置，其具备：像素，具有受光元件，能够基于受光元件的受光结果生成包含逻辑脉冲的脉冲信号；时刻检测部，能够基于脉冲信号检测受光元件的受光时刻；脉冲数检测部，能够检测脉冲信号中包含的逻辑脉冲的脉冲数；以及控制部，能够基于脉冲数对射出多个光脉冲的光源的动作进行控制。
时间测量装置

[发明专利]放射线检测元件及其制造方法-CN200310116107.4有效
发明人：本目卓也;高林敏雄;佐藤宏人 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 1998-02-12 - 公布日： 2004-06-02 - 主分类号： G01T1/164 文献下载
摘要：该放射线检测元件，包括：受光元件阵列，将多个受光元件在基板上一维或二维排列形成其受光单元，并把各行或各列的所述受光元件电连接的多个焊盘配置在所述受光单元的外部；闪烁器层，其至少在所述受光单元的所述受光元件的有效画面区域上层积形成，并把放射线变换成可见光；以封闭框状形成的由树脂构成的一个或多个树脂框，其把所述受光元件阵列上的形成了闪烁器层的区域和配置了焊盘的区域区分开来；以及放射线可通过的耐湿保护膜，其覆盖所述闪烁器层、所述受光元件的包围所述闪烁器层的表面、以及所述树脂框，至少使所述焊盘露出，其中用所述树脂框把所述耐湿保护膜的边缘与所述受光元件结合起来。
放射线检测元件及其制造方法

[发明专利]放射线检测元件及其制造方法-CN200610066138.7有效
发明人：本目卓也;高林敏雄;佐藤宏人 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 1998-02-12 - 公布日： 2006-10-11 - 主分类号： G01T1/24 文献下载
摘要：该放射线检测元件，包括：受光元件阵列，将多个受光元件在基板上一维或二维排列形成其受光单元，并把各行或各列的所述受光元件电连接的多个焊盘配置在所述受光单元的外部；闪烁器层，其至少在所述受光单元的所述受光元件的有效画面区域上层积形成，并把放射线变换成可见光；以封闭框状形成的由树脂构成的一个或多个树脂框，其把所述受光元件阵列上的形成了闪烁器层的区域和配置了焊盘的区域区分开来；以及放射线可通过的耐湿保护膜，其覆盖所述闪烁器层、所述受光元件的包围所述闪烁器层的表面、以及所述树脂框，至少使所述焊盘露出，其中用所述树脂框把所述耐湿保护膜的边缘与所述受光元件结合起来。
放射线检测元件及其制造方法

[发明专利]成分测量装置-CN200810186920.1有效
发明人：近藤晃;长泽靖 -专利权人：泰尔茂株式会社
申请日： 2004-05-21 - 公布日： 2009-05-13 - 主分类号： G01N21/78 文献下载
摘要：一种成分测量装置，包括：组件安装部，可自由拆装地安装具有试验部位的组件；测光部，具有在进行测量时向组件的试验部位投射光的发光元件、对由试验部位反射的反射光进行受光的受光元件以及收纳、保持发光元件和受光元件的支持件以及具有遮光性的测试组件，可自由拆装地安装在组件安装部上，在支持件中形成有光和反射光通过的通道，在支持件的面向试验部位的部分设置有透光性部件，具有污物检测装置，在组件安装部上安装了测试组件的状态下，从测光部的发光元件投射光，由受光元件受光，根据该受光元件的受光光量，检测透光性部件的污物，污物检测装置在透光性部件的污物检测中，当受光元件的受光光量大于阈值时判断为在透光性部件上存在污物。
成分测量装置

[发明专利]荧光量或吸光量的测定方法及测定装置-CN201010250354.3无效
发明人：田名网健雄;青木秀年;杉山由美子;下田聪一郎;兰宗树 -专利权人：横河电机株式会社
申请日： 2010-08-06 - 公布日： 2011-03-30 - 主分类号： G01J1/00 文献下载
摘要：本发明得到一种荧光量或吸光量的测定方法及测定装置，其将从试样产生的荧光量，作为“可溯源至国家标准的每单位面积的光量”而定量地测定。在荧光量测定方法中，向试样照射激励光，经由受光光学系统，利用受光元件测定从该试样产生的荧光，并具有下述步骤：向试样照射激励光的步骤，该激励光具有可溯源至国家标准且在试样表面的每单位面积上为预先指定的光量值；经由受光光学系统，利用受光元件测定从试样产生的荧光的步骤；以及基于每单位面积上的指定激励光量、受光光学系统的光学系数以及受光元件的受光系数，对由受光元件测定的荧光量进行运算，从而作为可溯源至国家标准的每单位面积的光量值而进行计算的步骤
荧光吸光量测定方法装置

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