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专利名称

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申请人
公布日期

农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]光设备-CN202080016865.0有效
发明人：中村和树;稻田安寿 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2020-02-07 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：光设备具备：第1波导，沿第1方向延伸；以及第2波导，与上述第1波导连接；上述第2波导具备：第1镜，具有第1反射面；第2镜，具有与上述第1反射面对置的第2反射面；以及上述第1镜与上述第2镜之间的光波导层，在内部包含包括上述第1波导的前端部的部分；上述第1波导及上述第2波导中的至少一方在当从与上述第1反射面垂直的方向观察的情况下上述第1镜、上述第2镜及上述第1波导重叠的连接区域的一部分具有1个以上的光栅；上述1个以上的光栅从上述连接区域中的上述第1镜或上述第2镜的端部在上述第1方向上离开了比上述第1镜的厚度及上述第2镜的厚度的至少一方长的距离。
设备

[发明专利]货物搬送系统及搬送体-CN202180093446.1在审
发明人：菊池孝平;加藤弓子;稻田安寿;久田和也 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2021-11-17 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： B65G1/00 文献下载
摘要：货物搬送系统(1)是具备多个搬送货物(60)的搬送体(10)的货物搬送系统。多个搬送体(10)包括第一搬送体(10a)及第二搬送体(10b)。第二搬送体(10b)测量第一搬送体(10a)的尺寸，将与该尺寸有关的尺寸信息(is)输出到外部。第一搬送体(10a)取得尺寸信息(is)，基于尺寸信息(is)制作第一搬送体(10a)的行驶计划(P)。
货物系统搬送体

[发明专利]光扫描设备、光接收设备及光检测系统-CN201880014448.5有效
发明人：长尾宣明;山冈义和;稻田安寿;桥谷享;平泽拓 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2018-03-01 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G02F1/295 文献下载
摘要：光扫描设备具备：第1及第2镜；光波导层，位于上述第1镜与上述第2镜之间；一对电极，在该一对电极之间夹着上述光波导层而配置；以及驱动电路，对上述一对电极施加电压。上述第1镜将在上述光波导层内传输的光的一部分向上述光波导层的外部射出。上述光波导层包含液晶材料或电光学材料。上述液晶材料的上述取向方向或上述电光学材料的极化轴的方向与上述光波导层延伸的上述方向平行或垂直。上述驱动电路通过对上述一对电极施加上述电压，使上述液晶材料或上述电光学材料的折射率变化，使光的射出方向变化。
扫描设备接收检测系统

[发明专利]测距系统-CN202180088417.6在审
发明人：加藤弓子;松延徹;稻田安寿 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2021-11-09 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01S17/86 文献下载
摘要：测距系统具备：多个测距装置，包括LiDAR传感器及1个以上的其他测距装置；以及存储装置，存储基于由所述多个测距装置各自取得的测距数据的3维的点群数据。所述LiDAR传感器具备：发光装置，能够使光束的出射方向变化；受光装置，检测由所述光束产生的反射光，输出表示检测结果的信号；以及处理电路，对所述发光装置及所述受光装置进行控制，基于从所述受光装置输出的所述信号生成所述测距数据。所述处理电路参照所述点群数据，决定所述点群数据的1个以上的空白区域，使所述发光装置朝向所述空白区域出射所述光束从而进行所述空白区域的测距。
测距系统

[发明专利]光器件和光检测系统-CN202180073638.6在审
发明人：佃雅彦;桥谷享;中村和树;稻田安寿 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2021-08-03 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：一种光器件，包括沿着第1方向(Y方向)排列的多个光波导单元(100U1、100U2、100U3、100U4)。所述多个光波导单元(100U1、100U2、100U3、100U4)分别具备：第1反射镜(30)，具有第1反射面(30s)；第2反射镜(40)，具有与所述第1反射面相对的第2反射面(40s)；以及至少一个光波导区域(20)，位于所述第1反射镜(30)和所述第2反射镜(40)之间。所述第1反射面(30s)和所述第2反射面(40s)的距离按每个所述光波导单元(100U1、100U2、100U3、100U4)而不同。
器件检测系统

[发明专利]光扫描设备、光接收设备及光检测系统-CN201810787892.2有效
发明人： 稻田安寿;桥谷享;平泽拓 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2018-07-18 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G02F1/295 文献下载
摘要：目的是提供光扫描设备、光接收设备、光检测系统。一实施方式的光扫描设备具备：第1镜；第2镜，与上述第1镜对置；两个非波导区域，位于上述第1及第2镜之间；光波导区域，位于上述第1及第2镜之间且位于上述两个非波导区域之间；和第1调整元件；上述光波导区域及上述两个非波导区域各自包括由共同的材料构成的区域；上述光波导区域或上述两个非波导区域各自还包含具有与上述共同的材料不同的折射率的至少一个部件；上述第1镜将在上述光波导区域内传播的上述光的一部分向外部射出；上述第1调整元件通过使上述光波导区域的折射率及厚度中的至少一方变化，使射出的光的方向变化。
扫描设备接收检测系统

[发明专利]荧光体及发光装置-CN201811136739.X有效
发明人：新田充;长尾宣明;稻田安寿 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2018-09-28 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： C09K11/79 文献下载
摘要：本发明提供可实现在波长为455nm以上且500nm以下的波长区域中光的缺失少、并且演色性高的白色光源的荧光体。本发明的一个方案的荧光体含有具有化学组成(Lu1‑p‑q，Cep，Mq)xβyγzO的晶体相，上述M为选自由Y、La、Sc、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm及Yb组成的组中的一种或两种以上的元素，上述β包含上述β整体的90摩尔％以上的Si，上述γ包含上述γ整体的90摩尔％以上的N，上述x、y、z、p及q满足5.5≤x≤6.5、10.5≤y≤11.5、19.5≤z≤20.5、0p0.03及0≤q≤0.5。
荧光发光装置

[发明专利]光设备及光检测系统-CN202180056198.3在审
发明人：野村幸生;中村和树;稻田安寿 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2021-08-19 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：光设备具备：第1构造体，具有第1表面；第2构造体，具有与上述第1表面对置的第2表面；1个以上的光波导区域，位于上述第1构造体的上述第1表面与上述第2构造体的上述第2表面之间，包含液晶材料；以及作为摩擦取向膜的第1取向膜，设置于上述第1表面，使上述液晶材料取向，(A)上述第2表面不经由任何取向膜而与上述液晶材料接触，或者(B)还具备作为摩擦取向膜以外的取向膜的第2取向膜，该第2取向膜设置于上述第2表面，使上述液晶材料取向。
设备检测系统

[发明专利]光设备及光检测系统-CN202310053887.X在审
发明人：桥谷享;稻田安寿;平泽拓;山冈义和;长尾宣明 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2017-08-21 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G02F1/295 文献下载
摘要：光设备具备：第1波导，通过全反射向导波方向传输光；以及第2波导；上述第2波导具备：第1反射膜；第2反射膜，与上述第1反射膜对置；以及第1光波导层，与上述第1波导直接相连或具有余隙地相连，位于上述第1反射膜与上述第2反射膜之间；上述第1光波导层与上述第1波导的中心线的延长线重叠；上述光设备将在上述第1光波导层内传输的上述光的一部分向上述第2波导的外部射出；或者，上述光设备将入射到上述第2波导中的光的一部分向上述第1光波导层内导入。
设备检测系统

[发明专利]光频梳装置及计测装置-CN202180043013.5在审
发明人：中村将;稻田安寿;J·杰尔曼;B·库伊肯;K·V·加斯;A·赫尔曼斯 -专利权人：松下控股株式会社;根特大学;IMEC公司
申请日： 2021-11-15 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： H01S5/125 文献下载
摘要：光频梳装置(10A)具备：光波导(13w)；反射镜(13m1)，设置在光波导(13w)的第1位置；反射镜(13m2)，设置在光波导(13w)的与第1位置不同的第2位置；增益介质(13g)及可饱和吸收体(13sa)，设置在反射镜(13m1)与反射镜(13m2)之间；以及控制部，将从光波导(13w)的端部输出的光频梳的重复频率及载波包络偏移频率的一方固定，并使另一方变化。
光频梳装置

[发明专利]光扫描设备、光接收设备及光检测系统-CN201780003619.X有效
发明人：桥谷享;稻田安寿;平泽拓;山冈义和;长尾宣明 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2017-08-21 - 公布日： 2023-02-28 - 主分类号： G02F1/295 文献下载
摘要：光扫描设备具备：第1波导，通过全反射向导波方向传输光；第2波导。上述第2波导具备：第1多层反射膜；第2多层反射膜，与上述第1多层反射膜对置；第1光波导层，与上述第1波导直接相连，位于上述第1多层反射膜与上述第2多层反射膜之间。上述第1光波导层具有可变的厚度及/或相对于上述光的可变的折射率，传输在上述第1波导中传输的上述光。上述第1多层反射膜具有比上述第2多层反射膜高的光透射率，将在上述第1光波导层内传输的上述光的一部分向上述第2波导的外部射出。上述第1光波导层的上述厚度及/或相对于上述光的上述折射率发生变化，从而从上述第2波导射出的上述光的上述一部分的方向发生变化。
扫描设备接收检测系统

[发明专利]双光频梳发生装置及计测装置-CN202180040706.9在审
发明人：中村将;稻田安寿 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2021-06-08 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G02F1/025 文献下载
摘要：双光频梳发生装置(201)具备：半导体基板(14)；第1光频梳激光源(20)，包括第1谐振器；第2光频梳激光源(21)，包括第2谐振器，光脉冲的重复频率不同于第1光频梳激光源；两个以上的输出部，包括输出部(50、51)；光波导(20w)，将第1光频梳激光源(20)与输出部(50)连结；光波导(21w)，将第2光频梳激光源(21)与输出部(51)连结；以及光波导(40)，从光波导(20w)分支，与光波导(21w)耦合。第1光频梳激光源(20)、第2光频梳激光源(21)、两个以上的输出部、光波导(20w、21w、40)被集成于半导体基板(14)。
双光频梳发生装置

[发明专利]光扫描设备、光接收设备及光检测系统-CN201780003895.6有效
发明人：桥谷享;稻田安寿;平泽拓;山冈义和;长尾宣明 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2017-08-21 - 公布日： 2022-11-04 - 主分类号： G02F1/295 文献下载
摘要：光扫描设备具备包括在第1方向上排列的多个波导的波导阵列。上述多个波导分别具备：光波导层，使被供给到该波导中的光在与上述第1方向交叉的第2方向上传播；第1镜，具有第1反射面，在上述第2方向上延伸；第2镜，具有与上述第1镜的上述第1反射面对置的第2反射面，在上述第2方向上延伸。上述光波导层位于上述第1镜与上述第2镜之间，具有可变的厚度及/或相对于上述光的可变的折射率。上述第1镜的上述第1方向的宽度及上述第2镜的上述第1方向的宽度比上述光波导层的上述第1方向的宽度长。上述第1镜具有比上述第2镜高的光透射率，使在上述光波导层内传播的上述光的一部分透射并射出。
扫描设备接收检测系统

[发明专利]光扫描设备、光接收设备以及光检测系统-CN201810021600.4有效
发明人： 稻田安寿;平泽拓 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2018-01-10 - 公布日： 2022-11-04 - 主分类号： G02F1/295 文献下载
摘要：本公开提高利用光的二维扫描的效率。某个实施方式中的光扫描系统具备：导波路阵列，其包括多个导波路元件，上述多个导波路元件在第一方向上排列且各自使光在与上述第一方向交叉的第二方向上传播，在与平行于上述第一以及第二方向的假想的平面交叉的第三方向上射出光；和控制电路，其通过从上述导波路阵列射出的光，进行对象区域的扫描。上述第一方向上的扫描速度与上述第二方向上的扫描速度不同。上述控制电路使由上述光扫描设备在平行于上述第一以及第二方向的假想的平面上形成的光点，在上述第一以及第二方向中，上述扫描速度高的方向上大幅移动。
扫描设备接收以及检测系统

[发明专利]光设备、光检测系统及光纤-CN202080093210.3在审
发明人：野村幸生;中村和树;桥谷享;稻田安寿 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2020-12-22 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G02F1/295 文献下载
摘要：光设备具备：第1基板(100a)，具有在第1方向及与上述第1方向交叉的第2方向上扩展的第1表面；第2基板(100b)，具有与上述第1表面对置的第2表面；膜(22)，经由硅氧烷键而键合到上述第1表面及/或上述第2表面；以及至少一个光波导层(20)，位于上述第1基板与上述第2基板之间，包含与上述膜接触的电介质部件(21)。
设备检测系统光纤

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