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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]内存测试方法、装置、设备及存储介质-CN202110609485.4在审
发明人：李晓磊 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-06-01 - 公布日： 2022-12-06 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本公开是关于一种内存测试方法、装置、设备及存储介质。其中，内存测试方法包括：获取预设内存和待测内存；将待测内存设置为预留内存；启动操作系统，其中，操作系统运行于预设内存中；执行内存测试程序，测试待测内存，其中，内存测试程序运行于预设内存中。该内存测试方法中，提前准备一个预设内存，并使操作系统以及内存测试程序均运行于预设内存，以对待测内存的全部存储单元进行测试。该内存测试方法将待测内存置于操作系统的运行环境进行测试，测试结果更加可靠。而且，待测内存未运行操作操作系统和内存测试程序，因此，在对待测内存进行测试时，可以消除待测内存中各存储单元间的耦合影响，以更好地确保测试的可靠性。
内存测试方法装置设备存储介质

[发明专利]一种服务器内存测试方法、装置、系统、终端及介质-CN202310090351.5在审
发明人：刘子丽 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2023-02-09 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明涉及内存测试领域，具体公开一种服务器内存测试方法、装置、系统、终端及介质，接收内存测试指令；内存测试指令中包含内存插装规则；根据内存测试指令中的内存插装规则，控制机械手抓取内存，并插装到待测服务器的相应内存插槽上；控制待测服务器进行内存测试，并收集内存测试结果。本发明由上位机控制机械手执行内存安装，覆盖内存的POR插法，并控制内存测试执行，实现内存测试的自动化，节省测试人力，提高测试效率，避免人为因素造成的测试精度和内存损坏问题。
一种服务器内存测试方法装置系统终端介质

[发明专利]内存质量检测方法及系统-CN202310594223.4在审
发明人：庞潇 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2023-05-24 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：本发明提供一种内存质量检测方法及系统，该方法包括：基于第一预设内存测试参数，对待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定待检测内存的质量等级为第一等级；若测试未通过，基于第二预设内存测试参数，对待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定待检测内存的质量等级为第二等级；其中，第一预设内存测试参数和第二预设内存测试参数是基于多个不同加严程度的内存测试参数对样本内存进行测试所得到的测试结果确定得到的；第一等级对应的内存质量高于第二等级本发明基于不同加严程度的内存测试参数对样本内存进行测试得到的多种预设内存测试参数，对待检测内存进行质量等级检测，实现了内存质量的精细化等级划分。
内存质量检测方法系统

[发明专利]内存可靠性测试方法、系统、计算机设备和存储介质-CN202211138631.0在审
发明人：李长治 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2022-09-19 - 公布日： 2022-12-16 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请涉及一种内存可靠性测试方法、系统、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取内存可靠性测试要求；所述基板管理控制器基于内存可靠性测试要求，变换所述内存在位状态，生成内存测试项，基于所述内存测试项，变换所述内存可靠性测试环境，生成内存测试组，所述内存测试项至少为一；获取内存可靠性测试指令；所述基板管理控制器基于所述内存可靠性测试指令，对所述内存测试组进行测试，生成测试数据，所述测试轮次至少为一；整合切分所述测试数据，以实现所述内存的可靠性测试。
内存可靠性测试方法系统计算机设备存储介质

[发明专利]一种内存测试方法、装置和系统-CN202210467000.7在审
发明人：翟庆伟;王兴隆;李金锋 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2022-04-29 - 公布日： 2022-07-22 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种内存测试方法、装置和系统，BMC接收到测试指令时，向共享内存写入测试指令携带的所需测试的目标内存的内存标识以及测试标识。BIOS在初始化阶段，会从共享内存中读取内存测试信息；在测试标识属于开启内存测试标识的情况下，依据内存标识完成内存的配置，以对目标内存执行测试。在测试完成后，BIOS可以将测试过程对应的测试日志存放至共享内存，以便于BMC从共享内存中读取测试日志，对测试日志解析以得到测试结果。BIOS在开机阶段可以对共享内存进行访问，一次开机便可以完成内存的配置和测试，提高了内存测试效率。并且BMC可以实现与终端设备的交互，有效的帮助运维人员及时找到有问题的内存。
一种内存测试方法装置系统

[发明专利]内存测试装置及内存测试方法-CN200710137283.4无效
发明人：郭文孝 -专利权人：环达电脑（上海）有限公司
申请日： 2007-07-19 - 公布日： 2008-09-03 - 主分类号： G11C29/48 文献下载
摘要：本发明提供一种内存测试装置及内存测试方法，适用于测试一内存，其中，该内存测试装置包括一调整模块、一构建模块及一测试模块，且该调整模块耦合该内存；而该内存测试方法通过上述内存测试装置以达成，且该内存测试方法包括以下步骤：调整模块将内存划分成一内核占用模块及一待测内存模块，其中，该待测内存模块的物理地址连续；构建模块为待测内存模块构建字符设备；测试模块依序对字符设备进行测试。如此一来，本发明内存测试装置及内存测试方法可令待测内存模块的物理地址连续，且可依序测试，以避免长时间的重复测试以及内存被漏测，从而保证内存测试的高效性且准确性。
内存测试装置方法

[发明专利]内存测试方法-CN201910683860.2在审
发明人：蔡振龙;基因·罗森塔尔 -专利权人：第一检测有限公司
申请日： 2019-07-26 - 公布日： 2021-02-02 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明公开一种内存测试方法，是在对内存进行预烧测试、高温测试、低温测试及常温测试的过程中，将相对应的测试结果数据及测试参数写入该内存中。本发明还公开一种内存测试方法，是在对内存进行预烧测试、高温测试、低温测试及常温测试后，将相对应的测试结果数据及测试参数写入该内存中。通过本发明的内存测试方法完成测试的内存，内存内部将储存有测试结果数据及测试参数，而相关人员将可通过读取多个数据轻易地追踪该内存的测试历程。
内存测试方法

[发明专利]一种内存测试方法及系统-CN201910591215.8在审
发明人：李创锋;梁春意;农腾飞;曹祥 -专利权人：深圳市金泰克半导体有限公司
申请日： 2019-07-02 - 公布日： 2019-11-22 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本申请实施例提供的一种内存测试方法及系统，通过内存测试平台上设置的PXE向与内存测试平台连接的服务器发送内存测试软件加载请求，从而获取服务器发送的内存测试软件，将内存测试软件加载到内存测试平台的内存中，并执行内存测试软件，进行内存测试。本申请使用服务器作为启动设备，无需使用U盘或硬盘，实现了无盘测试，而且服务器的内存容量大，读写速度远高于U盘或硬盘，因此提高了内存测试速度，节省了测试时间，并且在应用时，一个服务器可以通过交换机同时连接多个内存测试平台，与现有的每个内存测试平台都需要配置一个U盘或硬盘相比，节省了测试成本。
内存测试硬盘服务器服务器发送软件加载测试测试成本内存容量启动设备读写交换机内存申请配置应用

[发明专利]内存测试方法、装置、设备及存储介质-CN202310004896.X在审
发明人：连军委 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2023-01-03 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本公开提供了一种内存测试方法、装置、设备及存储介质，涉及内存测试技术领域。该方法包括获取多个无交集的内存测试单元；利用多个内核对各个内存测试单元进行测试，得到各个内核对各个内存测试单元的测试时间；根据各个内核对各个内存测试单元的测试时间，为各个内核匹配内存测试单元组，以基于内核与内存测试单元组的匹配关系对内存进行测试，其中，任意两个内核对应的内存测试单元组的测试时间的差值在预设时间范围内，且任意两个内存测试单元组无交集。本公开提供的内存测试方法、装置、设备及存储介质，在无操作系统的情况下，将内存绑定内核，提高测试效率。
内存测试方法装置设备存储介质

[发明专利]一种内存测试装置和内存测试方法-CN202111350027.X在审
发明人：李银国;郭恒飞 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-11-15 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种内存测试装置和内存测试方法，应用于包括第一控制模块和内存模块的电子设备；内存测试装置包括：寄存器模块，用于存储测试参数；第二控制模块，用于存储内存测试标记；内存测试标记用于指示第一控制模块向第二控制模块发送测试启动信息；功能选择模块，用于在第二控制模块接收到测试启动信息之后，控制第一控制模块与内存模块处于隔绝状态，且控制第二控制模块与内存模块处于接通状态，以使得内存测试装置处于测试模式；第二控制模块，还用于在内存测试装置处于测试模式后，根据测试参数对内存模块进行测试，得到测试结果。本申请实施例中的内存测试装置可以提高内存测试的效率。
一种内存测试装置方法

[发明专利]内存自动化测试与分级方法-CN201811549868.1在审
发明人：张迎华;刘晓玲;田利新;曹瑞 -专利权人：曙光信息产业股份有限公司
申请日： 2018-12-18 - 公布日： 2019-05-03 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明提供一种内存自动化测试与分级方法。所述方法包括：利用内存测试仪器中的Shmoo工具测量待测试内存的内存参数边界值；根据所述内存参数对所述待测试内存性能的影响制作多个测试模板，其中每一个测试模板对应一个内存性能等级；将所述待测试内存依次经过所述多个测试模板的测试，以实现所述待测试内存的自动化测试和分级。本发明能够提高内存测试效率以及故障内存定位的准确性，而且能够实现内存等级分类的自动化以对内存质量进行更准确的评判。
内存测试内存自动化测试测试模板分级内存参数内存测试等级分类自动化测量评判测试制作

[发明专利]一种内存测试方法、系统、装置及可读存储介质-CN202310028649.3在审
发明人：皂慧丽;吴彦华 -专利权人：深圳市章江科技有限公司
申请日： 2023-01-09 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本说明书实施例提供一种内存测试方法、系统、装置及可读存储介质，属于内存测试领域，其中，所述方法包括：在测试系统下，查询待测试内存中已占用内存空间的地址信息和未占用内存空间；将已占用内存的地址信息存储至目标空间；执行第一内存测试程序对未占用内存空间进行测试，获取未占用内存空间的测试结果；根据目标空间存储的已占用内存空间的地址信息，将已占用内存空间存储的系统和/或程序搬迁至已完成测试的未占用内存空间；执行第二内存测试程序对已占用内存空间进行测试，获取已占用内存空间的测试结果，具有提高内存测试的覆盖率的优点。
一种内存测试方法系统装置可读存储介质

[发明专利]内存测试方法及装置-CN201611218265.4在审
发明人：陈小松 -专利权人：迈普通信技术股份有限公司
申请日： 2016-12-26 - 公布日： 2018-07-03 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明提供了一种内存测试方法及装置，涉及计算机领域。其中，该方法包括：加载内存测试代码到缓存；执行所述内存测试代码对内存进行内存测试。该方法及装置使执行的用于内存测试的内存测试代码被加载于缓存中，测试速度更快，测试时间更短。
内存测试缓存加载计算机领域测试

[发明专利]一种内存测试方法及嵌入式设备-CN201210558256.5有效
发明人：陈小松 -专利权人：迈普通信技术股份有限公司
申请日： 2012-12-20 - 公布日： 2013-03-27 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种内存测试方法及嵌入式设备，针对现有的内存测试代码在ROM中运行不能使用堆栈，只能使用寄存器，测试程序较为复杂，通用性不强的问题，本发明具体通过TLB映射改变待测试内存对应的物理内存空间，可以做到待测试内存区域的虚拟地址不变，而实际测试内存不同，通过两次内存测试可以覆盖全部内存空间。本发明的测试方法在不增加硬件成本的情况下，通过映射进行内存全面测试，测试程序实现简单，能够提升测试速度，并且内存测试程序在内存中运行，速度快，实现测试结果同步输出。
一种内存测试方法嵌入式设备

[发明专利]一种内存测试方法及设备-CN201210416948.6有效
发明人：宋东匡;李龙壮;游相斌 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2012-10-26 - 公布日： 2013-02-13 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明公开了一种内存测试方法及设备，该方法包括：执行内存测试程序对第一部分内存进行测试，并在所述第一部分内存测试完毕之后重启设备，其中，所述执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试时，所述第一部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留，所述内存测试程序运行在第二部分内存中；所述设备重启后，执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试，其中，所述执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试时，所述第二部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留，所述内存测试程序运行在所述第一部分内存中。本发明能够实现快速全覆盖的内存测试。
一种内存测试方法设备

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