“光电参数”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果944309个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]发光二极管的光电参数分组测试方法-CN201110258720.4无效
发明人：张建宝;宋超 -专利权人：华灿光电股份有限公司
申请日： 2011-09-02 - 公布日： 2011-12-14 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种发光二极管的光电参数分组测试方法，其特征在于：一个芯片的完整光电参数组中，一部分光电参数是使用本芯片的光电参数，另外一部分光电参数是使用在晶圆位置上与本芯片相邻或相近芯片的光电参数。本发明的优点在于：按照本发明的LED芯片测试方法，不需要完整的测试每一颗LED芯片的光电参数，简化LED的芯片测试。并且每一颗芯片的光电参数在其周围芯片的光电参数中都有体现。
发光二极管光电参数分组测试方法

[发明专利]一种激光器参数文件生成方法-CN03106952.5无效
发明人：艾小平 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2003-03-06 - 公布日： 2004-09-08 - 主分类号： H04B10/02 文献下载
摘要：一种涉及电通信技术的激光器参数文件生成方法，采取如下步骤：a.根据激光器中有关光电转换器的光电流与激光器性能参数的线性关系，检测对应线性关系中的值，确定有关光电转换器的光电流与激光器性能参数之间的线性参数；b.在线性范围内选取若干个激光器性能参数值，并根据所确定的线性参数计算出相应的有关光电转换器的光电流的值，形成有关光电转换器的光电流与激光器性能参数之间的对应参数数据表项；c.根据所得到的对应参数数据表项生成激光器有关的参数文件
一种激光器参数文件生成方法

[发明专利]一种基于时频联合分析的无创血液成分检测方法及系统-CN202010552257.3有效
发明人：董晓曦;李树鑫;阴慧娟;孙美秀;李迎新 -专利权人：深圳智领人工智能健康科技有限公司
申请日： 2020-06-17 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： A61B5/0205 文献下载
摘要：该基于时频联合分析的无创血液成分检测方法包括：获取被检测用户的光电脉搏波信号和各人体检测点的温度分布数据；对温度分布数据、光电脉搏波信号均进行频域分析和参数提取，得到温度频域参数、温度时域参数、光电频域参数和光电时域参数；以温度频域参数、温度时域参数、光电频域参数和光电时域参数为自变量，以目标血液成分值为因变量构建多模态多参量线性回归分析模型；由多模态多参量线性回归分析模型确定被检测用户的血液成分值。本发明能减少传统光电容积脉搏波描记法检测血液成分所带来的误差，实现对血液成分的精准检测。
一种基于联合分析血液成分检测方法系统

[发明专利]一种新型光电器件参数检测设备-CN201911392868.X在审
发明人：杨扬 -专利权人：西安灵图电磁技术有限责任公司
申请日： 2019-12-30 - 公布日： 2021-07-16 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种新型光电器件参数检测设备，包括基座，基座上转动安装有转盘，转盘上设有若干用于放置待测光电器件的放置槽，转盘的一侧设有检测箱，检测箱朝向转盘的一侧设有开口，检测箱中安装有对光电器件进行参数采集和检测的参数检测组件，待检测的光电器件依次放置在转盘上的放置槽上，随转盘的转动作用将待测光电器件输送至检测箱中，将检测箱中的参数检测组件进行各项数据采集和检测后，转动离开检测箱，稳定连续的进行光电器件的参数检测工作，极大的提升相关参数检测工作的效率；通过光电器件转动组件使放置在放置槽中的光电组件进行转动，便于在检测箱中接受参数检测组件的参数采集和检测，提高检测精准性。
一种新型光电器件参数检测设备

[实用新型]一种光电器件参数检测设备-CN201922431550.X有效
发明人：杨扬 -专利权人：西安灵图电磁技术有限责任公司
申请日： 2019-12-30 - 公布日： 2021-03-12 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光电器件参数检测设备，包括基座，基座上转动安装有转盘，转盘上设有若干用于放置待测光电器件的放置槽，转盘的一侧设有检测箱，检测箱朝向转盘的一侧设有开口，检测箱中安装有对光电器件进行参数采集和检测的参数检测组件，待检测的光电器件依次放置在转盘上的放置槽上，随转盘的转动作用将待测光电器件输送至检测箱中，将检测箱中的参数检测组件进行各项数据采集和检测后，转动离开检测箱，稳定连续的进行光电器件的参数检测工作，极大的提升相关参数检测工作的效率；通过光电器件转动组件使放置在放置槽中的光电组件进行转动，便于在检测箱中接受参数检测组件的参数采集和检测，提高检测精准性。
一种光电器件参数检测设备

[发明专利]LED灯具制造方法、光电方案模型生成方法和存储介质-CN201910063799.1在审
发明人：皮远军;康伟;董洁;刘伟雄 -专利权人：众普森科技（株洲）有限公司
申请日： 2019-01-23 - 公布日： 2019-05-21 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本申请涉及灯具制造领域，提供了一种LED灯具光电方案模型生成方法、LED灯具制造方法和一种计算机可读存储介质，其中，LED灯具光电方案模型生成方法包括如下步骤：数据获取步骤：获取待设计的LED灯具的部分光电参数，所述部分光电参数至少包括待设计的LED灯具的所采用的灯珠的光电参数；硬件选型步骤：获取在所述LED灯具上应用的硬件参数；数据输出步骤：根据所获取到的所述光电参数和所述硬件参数，计算并输出所述LED灯具的光电方案模型
方案模型光电参数硬件参数计算机可读存储介质数据获取步骤数据输出步骤存储介质灯具制造生产效率灯珠选型申请输出应用

[实用新型]带参数标示的光电缆-CN201020249314.2有效
发明人：苑宝义;苑润东 -专利权人：苑宝义
申请日： 2010-07-07 - 公布日： 2011-04-20 - 主分类号： H01B11/22 文献下载
摘要：本实用新型带参数标示的光电缆，该光电缆由光纤束、导电金属丝、抗拉金属丝或非金属丝等绞合而成。如光电缆为架空裸线缆，其表面纵向每间隔1米或5-10米处有一标示，上面印、刻光电缆参数。如光电缆为单根或多相光电缆，其外包敷有绝缘层，或护套层，其表面纵向每间隔1米或5-10米处有印、刻该光电缆参数的标示。本实用新型上的标示清晰，牢固，不易脱落，使光电缆的铺设、使用更加方便，看到参数就知道光电缆的参数，避免安装、铺设错误。
参数标示电缆

[发明专利]光电异质异构集成工艺参数化基础单元模型构建方法-CN202210379116.5有效
发明人：刘杰;王皓岩;叶雨农;李苗;李嵬;汪志强;戴扬 -专利权人：中国电子科技集团公司信息科学研究院
申请日： 2022-04-12 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本公开涉及建模封装技术领域，提供一种光电异质异构集成工艺参数化基础单元模型构建方法，包括：分别建立各光电异质异构集成基础单元的参数化矩阵模型，其中，光电异质异构集成基础单元包括电驱动芯片、光学有源器件、光学无源器件、光电异质异构无源互连结构；根据光电异质异构集成系统的设计需求，调用各参数化矩阵模型，进行环境参数计算分析，搭建光电异质异构集成系统的仿真链路，得到光电异质异构集成系统。本公开在保障不同专业模型有效性和参数化的同时，考虑了环境因素，实现了基于模型的系统优化仿真分析，提升了光电异质异构集成设计能力和设计效率。
光电异质异构集成工艺参数基础单元模型构建方法

[发明专利]一种光电环境分级方法-CN202111456001.3在审
发明人：王玉菊;石敏;周卿;王雅芬;郑义成;张振杰;黄猛;还迎春 -专利权人：中国人民解放军91977部队
申请日： 2021-04-30 - 公布日： 2022-04-29 - 主分类号： G01N21/3504 文献下载
摘要：本发明公开了一种光电环境分级方法，该方法包括：该方法包括：接收大气辐射衰减参数、背景环境影响参数和干扰影响参数；分别对所述大气辐射衰减参数、所述背景环境影响参数和所述干扰影响参数进行分级，得到大气辐射衰减参数等级、背景环境影响参数等级和干扰影响参数等级；以及根据所述大气辐射衰减参数等级、所述背景环境影响参数等级和所述干扰影响参数等级对光电环境复杂度进行综合评价，以得到光电环境等级。通过本发明提供的技术方案，建立了一套光电环境的分级标准，有助于提高恶劣环境下的目标识别精确度。
一种光电环境分级方法

[发明专利]一种激光电源的寿命预测方法、系统及存储介质-CN202311145400.7在审
发明人：王建廷;杨俊锋;张振伟 -专利权人：深圳市联明电源有限公司
申请日： 2023-09-06 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G06F30/27 文献下载
摘要：本发明涉及一种激光电源的寿命预测方法、系统及存储介质，本发明通过获取激光电源的多源工作参数数据信息，并通过对激光电源的多源工作参数数据信息进行处理，获取关联工作参数之间的拓扑关系图以及独立参数的样本数据，根据关联工作参数之间的拓扑关系图以及独立参数的样本数据构建激光电源的寿命预测参数数据，并对激光电源的寿命预测参数数据进行状态描述，获取寿命预测参数的状态值。通过关联工作参数之间的拓扑关系图以及独立参数的样本数据来构建寿命预测的样本数据，能够提高激光电源的寿命预测系统的预测精度；另一方面，通过融合奇异值分解算法以及余弦度量法，能够降低寿命预测系统的计算复杂度以及提高寿命预测系统的预测精度
一种激光电源寿命预测方法系统存储介质

[发明专利]一种光电环境分级系统和方法-CN202110483949.1有效
发明人：石敏;王玉菊;周卿;王雅芬;郑义成;张振杰;黄猛;还迎春 -专利权人：中国人民解放军91977部队
申请日： 2021-04-30 - 公布日： 2022-03-08 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种光电环境分级系统，该系统包括：接收模块，用于接收大气辐射衰减参数、背景环境影响参数和干扰影响参数；第一分级模块，用于分别对大气辐射衰减参数、背景环境影响参数和干扰影响参数进行分级，得到大气辐射衰减参数等级、背景环境影响参数等级和干扰影响参数等级；第二分级模块，根据大气辐射衰减参数等级、背景环境影响参数等级和干扰影响参数等级对光电环境复杂度进行综合评价，以得到光电环境等级。通过本发明提供的技术方案，建立了一套光电环境的分级标准，有助于提高恶劣环境下的目标识别精确度。
一种光电环境分级系统方法

[发明专利]一种船载光电跟踪设备显示屏幕尺寸自适应装置-CN202110700349.6在审
发明人：周波;邓波;王萌 -专利权人：广州睿铭电子有限公司
申请日： 2021-06-23 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： G06F3/04817 文献下载
摘要：本发明提供一种船载光电跟踪设备显示屏幕尺寸自适应装置。所述包括屏幕参数获取模块、软件标准参数获取模块、显示器比例计算模块和自适应处理模块，所述屏幕参数获取模块用于获取光电跟踪设备显示器屏幕的长度和高度，所述软件标准参数获取模块用于获取光电跟踪设备系统软件所支持的标准显示器的长度和高度本发明提供的船载光电跟踪设备显示屏幕尺寸自适应装置，实现了光电跟踪设备系统软界面对光电跟踪设备不同尺寸显示器的支持，光电跟踪系统软件的窗口自适应。从而提高了光电跟踪系统软件的通用性，在不同尺寸的光电跟踪设备显示器上的光电跟踪系统软件都能很好的显示。
一种光电跟踪设备显示屏幕尺寸自适应装置

[发明专利]一种焊接控制方法-CN202310538811.6在审
发明人：钟立蓉;杨明;史记;张衍;何乐乐;高辉 -专利权人：武汉锐科光纤激光技术股份有限公司
申请日： 2023-05-12 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： B23K26/348 文献下载
摘要：本发明公开了一种焊接控制方法，包括如下步骤：获取用户选择的对接板厚参数、坡口钝边高度参数、坡口的下表面宽度参数、坡口的上表面宽度参数和目标焊缝宽度参数；根据上述参数确定目标焊接截面积；获取用户选择的焊接道次；根据所述目标焊接截面积和所述焊接道次确定填丝焊和激光电弧复合焊的焊接参数；根据所述焊接道次和所述填丝焊和所述激光电弧复合焊的焊接参数控制填丝焊机和激光电弧复合焊机焊接作业。如此，针对不同对接板厚度参数、坡口尺寸参数等参数，对焊接作业进行规划，并控制所述填丝焊机和所述激光电弧复合焊机进行焊接作业，将填丝焊和激光电弧复合焊结合，能够有效提高厚板窄间隙焊接的焊接质量和焊接效率。
一种焊接控制方法

[发明专利]自动校验方法、系统、可读存储介质及终端设备-CN202110721141.2在审
发明人：陈玉华 -专利权人：江西省兆驰光电有限公司
申请日： 2021-06-28 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： G01M99/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种自动校验方法、系统、可读存储介质及终端设备，该方法包括：接收校验光电参数测试误差的时间节点、频率参数及允收范围参数的输入信号；控制机械臂将标准件从存放位置转运至指定位置，及控制其从指定位置转动至测试位置，并在其通电后进行光电参数值测试，以获得对标准件的测试光电参数与标准件的真实光电参数之间的偏差值；检测判断所述偏差值是否落入预设的所述允收范围参数；断开与标准件接通的电源，且控制转盘将标准件从测试位置转动返回至指定位置；控制机械臂将标准件从指定位置返回至存放位置，以备下次校验LED灯珠分选机光电参数测试误差；本发明解决了LED灯珠分选机不能自动地时刻监控并矫正光电参数测试误差的问题。
自动校验方法系统可读存储介质终端设备

[发明专利]miniLED晶圆的测试方法及装置-CN202210098318.2在审
发明人：黎银英;陈桂飞 -专利权人：佛山市国星半导体技术有限公司
申请日： 2022-01-27 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明公开了一种miniLED晶圆的测试方法及装置，涉及半导体光电器件测试领域。该测试方法包括：S1：以预设电信号驱动晶圆上的目标miniLED芯片，以测量该目标miniLED芯片的当前光电参数，所述当前光电参数与预设电信号一一对应；S2：实时判断当前光电参数是否位于预设阈值区间；S3：判断为是时，将该目标miniLED芯片的另一光电参数作为新的当前光电参数，并进入步骤S1，直至该miniLED芯片的所有光电参数均完成测量，则进入步骤S4；S4：判断为否时，将该晶圆上的另一miniLED
miniled 测试方法装置

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条