“高频测试 ”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果877481个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种射频封装芯片测试系统及方法-CN202211024846.X在审
发明人：刘会奇;陈智慧;缪桦;何爱平;叶晓菁;赵涤燹 -专利权人：成都天锐星通科技有限公司;缪桦
申请日： 2022-08-25 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请提供一种射频封装芯片测试系统及方法，涉及芯片测试技术领域。该系统包括：测试插座、高频测试板、高频连接单元以及待测射频封装芯片；测试插座固定设置在高频测试板上，测试插座用于辅助待测射频封装芯片插入高频测试板；高频连接单元固定设置在高频测试板上，当待测射频封装芯片插接至高频测试板时，高频测试板用于通过高频连接单元向待测射频封装芯片提供高频信号源；待测射频封装芯片用于在高频信号源的作用下通过高频连接单元输出高频测试数据。应用本申请实施例，可以减小射频封装芯片的实际性能与测试性能之间的偏差，同时可准确测量待测射频封装芯片的射频性能。
一种射频封装芯片测试系统方法

[发明专利]一种连接器高频性能测试装置及测试方法-CN202211516745.4在审
发明人：李凯;张晓彤;于慧敏;姜睿智 -专利权人：沈阳兴华航空电器有限责任公司
申请日： 2022-11-29 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本说明书实施例提供一种连接器高频性能测试装置，包括：高频测试工装，高频测试工装为转接结构，用于与待测同轴接线连接器的连接端同轴连接，高频测试工装与待测同轴接线连接器的高频特性相同，高频测试工装与待测同轴接线连接器连接时，高频测试工装与待测同轴接线连接器关于连接处对称；矢量网络分析仪的第一高频信号线与待测同轴接线连接器连接，矢量网络分析仪的第二高频信号线与高频测试工装连接，矢量网络分析仪用于通过第一高频信号线向待测同轴接线连接器发送高频测试信号，并通过第二高频信号线接收高频测试工装从待测同轴接线连接器转发的高频测试信号。通过对接的高频测试工装，可简单有效的测试同轴接线连接器的高频性能。
一种连接器高频性能测试装置方法

[实用新型]一种连接器高频性能测试装置-CN202223198906.8有效
发明人：李凯;张晓彤;于慧敏;姜睿智 -专利权人：沈阳兴华航空电器有限责任公司
申请日： 2022-11-29 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本说明书实施例提供一种连接器高频性能测试装置，包括：高频测试工装，高频测试工装为转接结构，用于与待测同轴接线连接器的连接端同轴连接，高频测试工装与待测同轴接线连接器的高频特性相同，高频测试工装与待测同轴接线连接器连接时，高频测试工装与待测同轴接线连接器关于连接处对称；矢量网络分析仪的第一高频信号线与待测同轴接线连接器连接，矢量网络分析仪的第二高频信号线与高频测试工装连接，矢量网络分析仪用于通过第一高频信号线向待测同轴接线连接器发送高频测试信号，并通过第二高频信号线接收高频测试工装从待测同轴接线连接器转发的高频测试信号。通过对接的高频测试工装，可简单有效的测试同轴接线连接器的高频性能。
一种连接器高频性能测试装置

[实用新型]一种特高频局部放电测试系统-CN202120463314.0有效
发明人：蒋燚;刘云;王建;戴军;张方博 -专利权人：上海迈内能源科技有限公司
申请日： 2021-03-03 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： G01R31/12 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种特高频局部放电测试系统，上述特高频局部放电测试系统包括脉冲信号点火器和特高频局部放电测试子系统；上述脉冲信号点火器用于产生特高频脉冲信号，上述特高频局部放电测试子系统采集上述特高频脉冲信号，进行最大信号输入情况下特高频局部放电一致性测试。有益效果是能够代替GTEM环境测试系统进行最大信号输入情况下特高频局部放电一致性测试、配置简单、成本低。
一种高频局部放电测试系统

[发明专利]低频和高频同时测试电磁骚扰测试系统-CN201310068709.0在审
发明人：张博钧;杨子安;曹珺飞;张运转;马守健 -专利权人：深圳电信研究院
申请日： 2013-02-25 - 公布日： 2014-08-27 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种低频和高频同时测试电磁骚扰测试系统，包括暗室、低频测试系统和高频测试系统；低频测试系统包括依次连接的低频测量天线、低频射频切换开关、低频预放、滤波器组、接收机和第一控制计算机；高频测试系统包括依次连接的高频测量天线、高频射频切换开关、高频预放、高通滤波器、频谱仪和第二控制计算机；其中，低频测量天线和高频测量天线安装在暗室内。所要解决的技术问题是低频和高频不能同时测试。
低频高频同时测试电磁骚扰系统

[实用新型]低频和高频同时测试电磁骚扰测试系统-CN201320350151.0有效
发明人：张博钧;杨子安;曹珺飞;张运转;马守健 -专利权人：深圳电信研究院
申请日： 2013-06-09 - 公布日： 2014-02-12 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种低频和高频同时测试电磁骚扰测试系统，包括暗室、低频测试系统和高频测试系统；低频测试系统包括依次连接的低频测量天线、低频射频切换开关、低频预放、滤波器组、接收机和第一控制计算机；高频测试系统包括依次连接的高频测量天线、高频射频切换开关、高频预放、高通滤波器、频谱仪和第二控制计算机；其中，低频测量天线和高频测量天线安装在暗室内。所要解决的技术问题是低频和高频不能同时测试。
低频高频同时测试电磁骚扰系统

[实用新型]高频电流传感器测试电路及装置-CN202320862963.7有效
发明人：张雪凯;汪波 -专利权人：特变电工山东鲁能泰山电缆有限公司;特变电工（山东）电力科技有限公司
申请日： 2023-04-12 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本实用新型提出一种高频电流传感器测试电路及装置，涉及传感器测试技术领域，高频电流传感器测试电路包括控制模块，用于生成多个测试信号；测试模块，与控制模块连接，测试模块上设置有高频电流传感器，测试模块用于传输多个测试信号，使高频电流传感器进行电流检测，产生对应的多个检测信号；控制模块，与高频电流传感器连接，还用于根据多个测试信号和多个检测信号的比较结果，得到测试结果。本实用新型实现了高频电流传感器自动测试，解决了现有高频电流传感器的测试过程繁琐耗时，测试效率低的技术问题，简化了测试过程，提高了测试效率。
高频电流传感器测试电路装置

[发明专利]高频波形测试方法、装置、测试机及存储介质-CN202310496530.9在审
发明人：赵阳 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2023-04-27 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G01R29/02 文献下载
摘要：本申请公开了一种高频波形测试方法、装置、测试机及存储介质，属于数字测试机技术领域，其中，高频波形测试方法包括：确定低频采样波形的采样周期；根据待测高频波形确定触发电平；基于触发电平，利用低频采样波形对待测高频波形经过预设测试时间进行采样，以获取往复循环的目标波形；根据目标波形确定目标波形的循环参数；根据循环参数及采样周期，确定待测高频波形的波形参数。该方法无需高频采样，只需要较低频率的采样波形就可以实现高频波形参数的测试，可以简单并且精准的测试高频波形的参数。
高频波形测试方法装置存储介质

[实用新型]一种高频头性能测试治具-CN202123372272.9有效
发明人：朱俊伟;蒋亚平 -专利权人：丹阳市伟盛电子有限公司
申请日： 2021-12-30 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型适用于卫星电视接收技术领域，提供了一种高频头性能测试治具，解决了现有装置不锈钢丝夹容易损坏高频头的问题；所述高频头性能测试治具包括：测试基台，测试基台上设置有用于安装高频头放置机构的放置机构安装座；高频头放置机构，安装在测试基台上，用于放置待检测的高频头；所述高频头放置机构包括：夹持安装座以及至少一组高频头夹持机构；本实用新型实施例设置了高频头夹持机构，高频头夹持机构能够对不同型号高频头进行夹持，从而避免了高频头的脱落，还能对高频头进行充分的缓冲保护，避免了测试过程中，高频头出现损坏的现象。
一种高频头性能测试

[发明专利]汽车悬置高频性能测试方法、系统以及存储介质-CN202210089509.2在审
发明人：郭军丽;苏文龙;田子龙;田畑俊幸;任超;汤环球 -专利权人：广州汽车集团股份有限公司
申请日： 2022-01-25 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G01M17/007 文献下载
摘要：本发明公开了一种汽车悬置高频性能测试方法、系统以及存储介质，该方法通过对安装在预设动刚度试验台架中的悬置测试样件进行台架高频动刚度测试，以得到与所述悬置测试样件对应的台架高频动刚度测试结果；对安装在预设试验汽车中的悬置测试样件进行整车振动测试，以得到与所述悬置测试样件对应的整车振动测试结果；根据所述台架高频动刚度测试结果以及所述整车振动测试结果，确定与所述悬置测试样件对应的第一悬置高频性能测试结果。本发明可将悬置高频性能与汽车NVH性能之间的关系进行量化。
汽车悬置高频性能测试方法系统以及存储介质

[发明专利]一种通话测试系统、方法及装置-CN202010059915.5有效
发明人：王腾飞;肖远;张董 -专利权人：惠州TCL移动通信有限公司
申请日： 2020-01-19 - 公布日： 2023-06-20 - 主分类号： H04W24/08 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种通话测试系统、方法及装置，所述通话测试系统包括：高频分量天线，用于传输高频信号分量；低频分量天线，用于传输低频信号分量；高频功分器包括高频输入端、高频输出端，所述高频输入端与所述高频分量天线相连，所述高频输出端用于连接对比机与测试机；低频功分器包括低频输入端、低频输出端，所述低频输入端与所述低频分量天线相连，所述低频输出端用于连接所述对比机与所述测试机。本申请实施例保障通话测试中测试机和对比机处于相同的网络环境，减少引起通话问题的变量，在通话测试的过程中出现通话问题时，根据对比分析测试机和对比机的测试日志，可以快速定位问题。
一种通话测试系统方法装置

[发明专利]一种高频变压器测试方法及系统-CN202211676291.7在审
发明人：汪民;朱子强 -专利权人：广州市德珑电子器件有限公司
申请日： 2022-12-26 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种高频变压器测试方法及系统，其方法包括：对组装完成的高频变压器半成品进行半成品测试并对通过半成品测试的高频变压器半成品进行排板、涂覆绝缘漆、进行耐压测试、进行成品测试，通过成品测试的即为高频变压器成品；对高频变压器成品按照需求进行印字与排板、进行层间测试、进行引线耐压测试且进行外检与合脚。使对高频变压器从半成品到成品在质量上和耐压程度上均进行较为完全的测试，降低高频变压器电磁兼容性对产品质量的影响。
一种高频变压器测试方法系统

[发明专利]一种基于雪崩三极管的特高频局部放电检测设备模式识别功能测试系统及其测试方法-CN201510530528.4在审
发明人：彭晶;王科;谭向宇;程志万;项恩新;彭兆裕;马宏明 -专利权人：云南电网有限责任公司电力科学研究院
申请日： 2015-08-26 - 公布日： 2015-11-25 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于雪崩三极管的特高频局部放电检测设备模式识别功能测试系统及其测试方法。其中，测试系统由触发电路、负脉冲电路、正脉冲电路、特高频发射天线组成。测试方法通过使用测试系统产生并发射具有金属尖端或悬浮电位体局部放电模式的特高频信号，通过对比测试系统实际产生并发射的特高频信号局部放电模式和被测特高频局部放电检测设备检测并判断的特高频信号局部放电模式是否一致，达到对被测特高频局部放电检测设备模式识别功能进行测试的目的。本发明具有测试过程安全、测试项目科学、测试速度快、测试系统价格低廉等优点。
一种基于雪崩三极管高频局部放电检测设备模式识别功能测试系统及其方法

[发明专利]一种高频测试插座-CN201710083872.2在审
发明人：蒋卫兵;王坚;刘育璋;戴云;刘健康 -专利权人：苏州微缜电子科技有限公司
申请日： 2017-02-16 - 公布日： 2017-05-31 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种高频测试插座，具有测试座主体，所述测试座主体内设有高频探针，所述高频探针为两头具有弯曲结构，所述高频探针的一端与芯片接触，其另一端与PCB板接触，高频探针组装在测试座主体里，高频探针经过变形组装到测试座主体里，高频探针的一段与芯片接触，另一端与PCB接触，从而实现高频信号的传递；由于这种高频探针的结构有别于传统的探针，这种高频探针传输是通过弹簧丝传递的，与其它传统探针相比，减少了传输环节，因此具有稳定的容抗和感抗
一种高频测试插座

[实用新型]一种高频测试插座-CN201720139726.2有效
发明人：蒋卫兵;王坚;刘育璋;戴云;刘健康 -专利权人：苏州微缜电子科技有限公司
申请日： 2017-02-16 - 公布日： 2017-10-31 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种高频测试插座，具有测试座主体，所述测试座主体内设有高频探针，所述高频探针为两头具有弯曲结构，所述高频探针的一端与芯片接触，其另一端与PCB板接触，高频探针组装在测试座主体里，高频探针经过变形组装到测试座主体里，高频探针的一段与芯片接触，另一端与PCB接触，从而实现高频信号的传递；由于这种高频探针的结构有别于传统的探针，这种高频探针传输是通过弹簧丝传递的，与其它传统探针相比，减少了传输环节，因此具有稳定的容抗和感抗
一种高频测试插座

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条