专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种大尺寸晶片的加工方法-CN202010175416.2在审
  • 秦瑶;陆海凤;李刚;王卿伟;王铭捷;彭大文 - 中锗科技有限公司
  • 2020-03-13 - 2020-06-23 - B28D5/04
  • 本发明公开了一种大尺寸晶片的加工方法,包括如下:(1)根据单晶方片的宽度尺寸为直径拉制单晶晶棒;(2)按单晶方片的长度将所述晶棒截断;(3)采用线切割机纵向切取毛坯片:沿线切割机的进刀方向纵向放置所述晶棒,依次启动线切割机纵向切掉晶棒各侧面宽度达不到要求的部分;再将所述晶棒切片获得毛坯方片;(4)将上述毛坯方片进行平面研磨,获得所述单晶方片所要求的厚度尺寸;(5)对上述方片边缘倒角,使方片达到最终图纸要求的尺寸本发明既能满足晶片对大尺寸的要求,又可以最大化的利用单晶,且加工工艺简单,易于实现批量生产。
  • 一种尺寸靶材用锗晶片加工方法
  • [发明专利]一种及其制备装置、制备方法-CN202210025574.9在审
  • 文崇斌;王英洁;朱刘;童培云 - 先导薄膜材料(广东)有限公司
  • 2022-01-11 - 2022-05-13 - C23C14/34
  • 本发明涉及技术领域,公开了一种及其制备装置、制备方法,其制备方法包括以下步骤:将金属融化后注入引料区,降温冷凝得到块;将上述块加入坩埚主体中,并盖上坩埚盖;将所述坩埚主体竖直放入加热装置内;所述加热装置对融料区进行加热,保温后旋转支撑台;下降所述支撑台,将所述坩埚主体移出冷却;取出所述坩埚主体内的胚料,并去除胚料两端的部分,得到。采用本发明制作时,可在一定范围内根据需要制作任意尺寸的,且方便大批量生产。由于坩埚主体设置在支撑台上,制作过程中支撑台驱动坩埚主体旋转,从而去除了内部的氧气,制作的的致密度大于99%,大大提高了的致密度,且成本低。
  • 一种锗靶材及其制备装置方法
  • [发明专利]一种硒化及其制备方法-CN201910610004.4有效
  • 文崇斌;余芳;朱刘;童培云;谢小林 - 先导薄膜材料(广东)有限公司
  • 2019-07-08 - 2022-07-01 - C04B35/547
  • 本发明涉及光电材料生产技术领域,尤其涉及一种硒化及其制备方法。所述制备方法包括:A)加热块至980~1050℃,保温后,得到液;B)加热硒块至230~250℃,保温后,硒块熔化,并滴入所述液中,得到混合熔炼液;C)将所述混合熔炼液在980~1050℃下加热30~60min,冷却后,得到硒合金;D)将所述硒合金进行球磨,得到的硒粉末经真空热压烧结,得到硒化;步骤A)、B)和C)在真空的条件下进行。本发明采用真空滴落法制备硒合金,再通过球磨得到硒粉体,然后运用真空热压法制备得到硒化,制备出的硒化致密度较高,与理论硒含量相差较小。
  • 一种硒化锗靶材及其制备方法
  • [发明专利]一种层及半导体器件的制作方法-CN201510309045.1有效
  • 赵波 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2015-06-07 - 2017-09-29 - H01L21/203
  • 本发明提供一种层及半导体器件的制作方法,所述层的制作方法,将传统耗时较长的PVD一步生长分解为时间较短的多步PVD生长,各步沉积的厚度之和为要求的层总厚度,打断了电荷在表面的不断聚集过程;同时在每一步小的淀积步骤后,增加一步大气流、高压力的气体吹拂步骤,以将表面累积的电荷吹走,从而减少了与等离子体枪之间的电弧放电现象,保护不被局部融化,减少了融化后滴落到沉积表面的溅射颗粒物数量,最终在保持层总沉积厚度的基础上,明显降低了沉积层表面的颗粒物缺陷数量。本发明的半导体器件的制作方法,采用所述层的制作方法形成其层,提高了器件性能和器件集成合格率。
  • 一种半导体器件制作方法
  • [发明专利]锑碲化合物相变材料溅射靶生产方法-CN201310250531.1有效
  • 李宗雨;丘立安;汪晏清 - 成都先锋材料有限公司
  • 2013-06-21 - 2013-09-25 - C23C14/06
  • 本发明涉及生产制备领域,具体而言,涉及一种锑碲化合物相变材料溅射靶生产方法。包括:将质量分数为13%~16%的,22%~25%的锑,60%~64%的碲混合,组成原料;对原料进行真空熔炼处理,得到GeSbTe金属化合物;将GeSbTe金属化合物进行粉末冶金处理,得到干燥的GeSbTe粉末;将干燥的GeSbTe粉末进行真空热压烧结处理,得到锑碲相变材料溅射靶。本发明中的锑碲相变材料溅射靶生产方法,将利用真空熔炼方法,完成锑碲所形成稳定化合物制成粉末,使之成分均匀;后将该粉末放入热压机进行高压烧结,形成致密的该工艺,解决了粉末成分可能出现不均,或密度不高的技术问题。
  • 锗锑碲化合物相变材料溅射生产方法
  • [发明专利]一种P型热电材料GeSi及其制备方法-CN202111083905.6有效
  • 沈文兴;白平平;童培云 - 先导薄膜材料(广东)有限公司
  • 2021-09-15 - 2022-10-04 - C22C1/02
  • 本发明公开了一种P型热电材料GeSi及其制备方法,涉及合金技术领域,所述制备方法包括如下步骤:(1)将颗粒、硅颗粒放入磁悬浮感应熔炼炉中加热至熔化,保温,水冷,得到硅合金锭;(2)破碎硅合金锭,球磨,得到硅合金粉,加入硼粉,所述硼粉占硅合金粉的质量分数为0.3~1.5%,均质,得到掺硼硅合金粉;(3)将掺硼硅合金粉放入模具中,在真空热压炉中预压以排除模具中的空气,得到掺硼硅合金坯体;关闭炉门,抽真空,升温至1300~1400℃后保温,保温30~60min后加压,压力为30~35MPa,保温保压60~90min,降压,冷却,得到所述GeSi。由本发明所述方法制备的GeSi的相对密度均可达到98%以上,氧含量低于500ppm,电阻率小于0.001Ω·cm,组分均匀。
  • 一种热电材料gesi及其制备方法
  • [发明专利]碳掺杂锑碲相变的制备方法-CN201910905550.0有效
  • 白平平;童培云;沈文兴;朱刘;肖翀 - 先导薄膜材料(广东)有限公司
  • 2019-09-24 - 2022-05-10 - C23C14/34
  • 本发明公开了一种碳掺杂锑碲相变的制备方法。所述制备方法包括以下步骤:以单质、单质锑和单质碲为原料,进行真空感应熔炼,球磨、过筛后得到锑碲粉体;将锑碲粉体和炭黑分散到含丙烯酰胺的反应体系中,经聚合反应得到均匀分布有锑碲粉体和炭黑的聚丙烯酰胺胶体;将分布有锑碲粉体和炭黑的聚丙烯酰胺胶体在无氧环境中进行煅烧,得到掺碳的锑碲粉体;将掺碳的锑碲粉体进行真空热压烧结,得到碳掺杂锑碲相变。本发明以聚丙烯酰胺和炭黑为碳源,在聚丙烯酰胺胶体形成过程中,使锑碲粉体和炭黑悬浮于溶液中,促进炭黑与锑碲粉体充分混合,解决了现有掺碳锑碲中碳颗粒结块导致掺杂不均匀的问题。
  • 掺杂锗锑碲相变制备方法
  • [发明专利]一种掺杂的AZO及其制备方法-CN200910108039.4无效
  • 胡茂横;王会文;张珂 - 中国南玻集团股份有限公司
  • 2009-06-10 - 2009-11-11 - C04B35/453
  • 本发明涉及一种掺杂的AZO,该中含有重量百分比为1-10%的氧化铝、0.1-5%的氧化,以及余量的氧化锌。本发明还提供了该掺杂的AZO的制备方法,包含步骤:S1,按事先确定好的比例分别称取原料氧化锌、氧化铝、氧化粉末,加入粘结剂,加水混合均匀;S2,将混合物干燥后,将粉末进行压制成型,形成预先确定的形状和强度的坯体采用本发明所提供的制得的透明导电膜具有透光率高、电阻率低,薄膜附着力好,致密完整,稳定性好等特点。
  • 一种掺杂azo及其制备方法

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