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[发明专利]集成特征工程-CN202180088431.6在审
发明人： S·M·弗明;J·M·坎特;K·K·维拉马查内尼 -专利权人：奥特瑞克斯股份有限公司
申请日： 2021-12-16 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G06N20/00 文献下载
摘要：一种特征工程应用程序从不同的数据源接收多个数据集合，用于训练模型，该模型用于基于新数据进行预测。特征工程应用程序基于数据集合生成基元。将基元应用于数据集合中的变量以合成特征。特征工程应用程序还接收时间参数，该时间参数指定用于生成基于时间的特征的时间值。在生成基元并接收到时间参数之后，特征工程应用程序基于多个数据实体中的主变量，聚合多个数据实体，并基于该聚合生成实体集合。特征工程应用程序然后基于实体集合、至少一些基元和时间参数来合成特征，该特征包括基于时间的特征。
集成特征工程

[发明专利]具有集成保护特征的容器-CN201880079762.1在审
发明人：斯科特·德马雷斯特;奥斯卡·索伊 -专利权人：高露洁-棕榄公司
申请日： 2018-12-13 - 公布日： 2020-07-28 - 主分类号： B65D23/08 文献下载
摘要：一种容器包括：容器主体，所述容器主体具有用于在其中接收产品的腔和密封所述腔的开口的盖，所述容器主体具有前表面、后表面、第一侧壁和第二侧壁，以及附接到所述容器主体的所述第一侧壁的第一缓冲器，所述第一缓冲器构造成吸收施加到所述容器的力，其中所述第一缓冲器包括第一接合机构，所述第一接合机构构造成锁定地接合位于所述容器主体上的第二接合机构。
具有集成保护特征容器

[发明专利]具有集成冲洗特征的水槽-CN202110844745.6在审
发明人： N·艾尔姆斯;钟昌炫;S·F·埃林森;C·桑托斯 -专利权人：科勒公司
申请日： 2021-07-26 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： E03C1/04 文献下载
摘要：冲洗系统与水池集成。冲洗系统包括一个或更多个出水口和一流体导管。所述一个或更多个出水口沿着水池的第一壁定位并且构造成将水分配到水池中。流体导管至少部分地沿着水池的第一壁延伸。
具有集成冲洗特征水槽

[发明专利]用于以所请求的特征集来配置集成电路的方法和设备-CN201780018468.5在审
发明人： I·麦克莱恩;S·莫斯科维奇;B·坎贝尔;M·德拉吉斯维奇 -专利权人：高通股份有限公司
申请日： 2017-03-09 - 公布日： 2018-11-09 - 主分类号： G06F21/54 文献下载
摘要：一种用于配置集成电路的特征的方法。在所述方法中，所述集成电路接收来自第一方的特征向量消息。所述特征向量消息包含于从所述第一方到第二方的对特征集请求的响应中。所述集成电路基于所述特征向量消息中的特征向量来配置所述集成电路的至少一个特征。所述集成电路基于所述集成电路的所述至少一个经配置特征，且使用安全地存储在所述集成电路中且所述第二方已知且所述第一方未知的密钥，来产生证明结果。所述集成电路将所述证明结果转发给所述第一方。
集成电路特征向量配置特征集方法和设备结果转发密钥存储响应

[发明专利]一种消息集成方法、系统、终端及存储介质-CN202310779105.0在审
发明人：韩伟 -专利权人：山西合力思创科技股份有限公司
申请日： 2023-06-28 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： H04L51/046 文献下载
摘要：本申请涉及数据集成技术领域，尤其涉及一种消息集成方法、系统、终端及存储介质，其方法包括：判断是否接收到消息集成指令，若接收到消息集成指令，则基于消息集成指令获取集成账号信息，基于集成账号信息，判断集成账号信息所对应的信息系统是否存在待处理消息，若集成账号信息所对应的信息系统存在待处理消息，则获取待处理消息的消息特征，判断消息特征是否满足预设特征要求，若消息特征满足预设特征要求，则将待处理消息发送至集成终端。
一种消息集成方法系统终端存储介质

[发明专利]具有集成特征的金属天线组件-CN202211664455.4在审
发明人： S·D·布兰登伯格;D·W·齐默尔曼;M·W·赫德森;S·麦克法尔兰;D·C·诺恩斯 -专利权人：安波福技术有限公司
申请日： 2022-12-23 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： H01Q1/40 文献下载
摘要：本文档描述了具有集成特征的金属天线组件的技术、装置和系统。所描述的天线组件包括天线结构，天线结构包括天线主体，天线主体具有由处于触变状态的金属合金形成的至少一个天线元件。天线结构包括至少一个集成对准特征，集成对准特征在天线组件的制造期间促进对准。天线结构进一步包括天线主体中的限定集成散热器部分和集成电磁干扰部分的内部部分，电路部件可以驻留在该内部部分内。在各方面中，使用至少一个集成对准特征，可以将多个天线元件组装或堆叠在一起，以形成具有复杂波导图案的天线组件。
具有集成特征金属天线组件

[发明专利]光子集成视觉特征成像芯片-CN201911033848.3有效
发明人：李学龙 -专利权人：西北工业大学
申请日： 2019-10-28 - 公布日： 2021-12-28 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种光子集成视觉特征成像芯片，由嵌入式光学卷积模块、光电转换模块组成，其中，嵌入式光学卷积模块包括一个及以上基本超短光学成像单元，用于实现卷积功能，外部像源经光学卷积模块后由光电转换模块成像本发明集成了多个傅里叶变换透镜和相位掩膜等器件，具有超快光学计算功能，能够解决现有基于电子计算的视觉图像特征提取算法效率低、能耗高、算法普适性差，以及基于光学计算的特征提取装置体积大、结构复杂、功能单一等问题，可以满足视觉图像特征的高效、低能、安全获取的需求。
光子集成视觉特征成像芯片

[发明专利]采用图像纹理特征的集成表型-CN201380060670.6有效
发明人： N·班纳吉;N·迪米特罗瓦;V·瓦拉达恩;S·卡玛拉卡兰;A·亚内夫斯基;S·迈蒂 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2013-10-25 - 公布日： 2019-06-07 - 主分类号： G06T7/40 文献下载
摘要：根据对象中的感兴趣的解剖特征的图像，针对图像纹理特征的集合来计算图像纹理特征值，并且基于计算出的图像纹理特征值关于感兴趣的分子特征来对所述对象进行分类。所述图像纹理特征值可以是根据一个或多个灰度共生矩阵(GLCM)来计算的，并且所述图像纹理特征可以包括Haralick图像纹理特征和/或Tamura图像纹理特征。为了训练分类器，根据参考对象中的所述感兴趣的解剖特征的图像，至少针对所述图像纹理特征的集合来计算参考图像纹理特征值。所述参考图像纹理特征值被划分成表示所述感兴趣的分子特征的不同值的不同群组，并且基于所述参考图像纹理特征值来训练所述分类器以在所述不同群组之间进行区分。
采用图像纹理特征集成表型

[发明专利]一种集成电路图像匹配方法及系统-CN202210766255.3在审
发明人：黄茂芹 -专利权人：广东赛昉科技有限公司
申请日： 2022-07-01 - 公布日： 2022-09-06 - 主分类号： G06F30/3947 文献下载
摘要：本发明公开的属于集成电路检测技术领域，具体为一种集成电路图像匹配系统，集成电路数据获取模块，两个均连接有通讯模块，所述集成电路数据获取模块用于获取集成电路的特征模板图片，并将图片发送到通讯模块中；通讯模块，连接有图像对比模块，所述通讯模块用于将特征模板图片发送到图像对比模块中；图像对比模块，连接有输出结果模块，所述图像对比模块用于对比标准集成电路的特征模板图片和待测集成电路的特征模板图片，获取待测集成电路特征模板图片与标准集成电路特征模板图片的差异位点该集成电路图像匹配方法及系统，能够检测出集成电路的损坏位点、位点数量和生产批次后，方便工作人员总结生产经验，改进生产质量。
一种集成电路图像匹配方法系统

[发明专利]集成电路图像匹配方法及系统-CN202010150602.0在审
发明人：王力纬;雷登云;孙宸;侯波;恩云飞 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2020-03-06 - 公布日： 2020-07-24 - 主分类号： G06T7/33 文献下载
摘要：本发明涉及一种集成电路图像匹配方法及系统。一种集成电路图像匹配方法，其特征在于，所述的图像匹配方法包括：构造集成电路版图微观图像的检测算子；基于所述检测算子将所述集成电路版图微观图像的特征点与所述集成电路设计版图的特征点进行比较，以得到匹配点；基于孔特征对集成电路版图微观图像及集成电路设计版图进行精确定位。上述集成电路图像匹配方法与系统，首先实现集成电路版图微观图像与集成电路设计版图之间的区域定位，然后基于集成电路版图微观图像中孔的特征，精确定位到孔中心，而实现集成电路版图微观图像与集成电路设计版图之间的精准匹配从而实现两者之间的像素级对齐
集成电路图像匹配方法系统

[发明专利]集成电路中硬件木马检测的信号处理方法及其系统-CN201310698222.0有效
发明人：王力纬 -专利权人：工业和信息化部电子第五研究所
申请日： 2013-12-18 - 公布日： 2017-01-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种集成电路中硬件木马检测的信号处理方法及其系统，包括：获取待测集成电路的至少两个旁路信号；对各个所述旁路信号分别提取时域特征和频域特征，将所述待测集成电路对应的各个所述旁路信号的时域特征和频域特征组成n维特征向量；将所述n维特征向量按照预设转换方式转换成表征集成电路中存在硬件木马的风险大小的硬件木马风险指数；将所述待测集成电路的硬件木马风险指数与预设的风险指数阈值进行比较，根据比较结果判断所述待测集成电路是否存在硬件木马本发明能够根据多个集成电路的旁路信号对集成电路的硬件木马进行检测，提高集成电路的安全性。
集成电路硬件木马检测信号处理方法及其系统

[发明专利]集成电路制造方法-CN201711237590.X在审
发明人：王宏钧;刘楫平;蔡振坤;简玮成;黄文俊 -专利权人：台湾积体电路制造股份有限公司
申请日： 2017-11-30 - 公布日： 2019-04-02 - 主分类号： H01L21/027 文献下载
摘要：一种集成电路制造方法，包括：接收包括一集成电路特征的集成电路设计布局，集成电路特征指定一掩模特征，掩模特征透过将辐射对设置于一基板上的一光刻胶的一部份进行选择性地曝光；判断设置于基板上且介于光刻胶与基板之间的一底层的地形信息；对集成电路特征执行一光学邻近校正过程，以产生修改的集成电路特征，其中执行光学邻近校正过程包括使用底层的地形信息来补偿被导引至光刻胶的部份的辐射量，从而使得光刻胶的部份曝光于辐射目标剂量；以及提供包括修改的集成电路特征的修改的集成电路设计布局，以根据修改的集成电路设计布局制造掩模。
集成电路特征光刻胶集成电路设计布局基板光学邻近校正集成电路制造地形信息掩模特征曝光辐射目标辐射量导引掩模辐射制造

[发明专利]一种基于大数据分析的运营平台管理系统-CN202211099743.X在审
发明人：田燕楠;高利丰;胡此泰;谢国飞;钱琦 -专利权人：苏州中仑网络科技有限公司
申请日： 2022-09-09 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G06F16/2458 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于大数据分析的运营平台管理系统，包括数据集成模块、数据挖掘模块，所述数据集成模块用于对异构数据进行专项化集成，所述数据挖掘模块用于实现数据并行挖掘，所述数据集成模块包括异构数据筛选模块、局部特征提取模块、全局特征库创建模块、特征映射模块，所述异构数据筛选模块用于对数据集成过程中的异构数据进行筛选，所述局部特征提取模块用于对待处理的异构数据进行局部特征提取，所述全局特征库创建模块用于将提取出的局部特征映射为全局特征并保存到库中，所述特征映射模块用于创建局部特征到全局特征的映射规则，本发明，具有集成精度高和挖掘效率高的特点。
一种基于数据分析运营平台管理系统

[发明专利]基于惩罚集成模型的ICU死亡率预测方法及系统-CN202010188618.0有效
发明人：刘俊飙;戴珅懿;吴端坡 -专利权人：杭州妞诺科技有限公司
申请日： 2020-03-17 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： G16H50/30 文献下载
摘要：本发明提供一种基于惩罚集成模型的ICU死亡率预测方法及系统，基于惩罚集成模型的ICU死亡率预测方法包括：从多维度获取ICU患者的多个原始数据特征；对获取的多个原始数据特征进行预处理；在原始数据特征的基础上挖掘并提取新的数据特征；基于集成模型内的算法对原始数据特征和新的数据特征进行选择，形成输入特征集；将形成的输入特征集输入已训练且测试好的集成模型内以获得ICU死亡率预测结果，所述集成模型集成了基于权重惩罚策略的逻辑回归算法和基于权重惩罚策略的
基于惩罚集成模型 icu 死亡率预测方法系统

[发明专利]基于AdaRank的深度特征和传统特征的集成方法-CN201710450306.0在审
发明人：郑苏桐;郭晓强;李小雨;姜竹青;门爱东 -专利权人：国家新闻出版广电总局广播科学研究院;北京邮电大学
申请日： 2017-06-15 - 公布日： 2017-10-24 - 主分类号： G06K9/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于AdaRank的深度特征和传统特征的集成方法，其主要技术特点是将图像数据进行分割，针对不同部分分别构造并训练深度卷及神经网络，用以获得深度特征；从行人再识别数据中提取传统特征，包括LOMO特征、ELF6特征、Hog3D特征；选取如下三种度量学习方法KISSME、kLFDA和LMNN；将所有特征与三种度量学习方法进行组合张成笛卡尔乘积，得到一系列弱排序器；利用AdaRank算法，对弱排序器进行集成学习本发明设计合理，结合了深度学习、多特征、度量学习、集成学习，通过构造“弱排序器”并进行集成学习，使得系统的整体性能远远高于单一特征和单一度量算法，使得系统整体匹配率大大提升，获得了很好的性能。
基于 adarank 深度特征传统集成方法

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