专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]CCD芯片调制传递函数测试装置及方法-CN201310644035.4无效
  • 邵晓鹏;高鹏;王琳;徐军;骆秋桦;曹蕾;程坤 - 西安电子科技大学
  • 2013-12-01 - 2014-02-19 - G01M11/02
  • 本发明公开了一种CCD芯片调制传递函数测试装置及测试方法,其测试装置主要包括He-Ne激光器、可调衰减器、扩束镜、针孔滤波器、光阑、准直透镜、改进型迈克干涉仪、暗箱、图像采集卡和PC数据处理系统。He-Ne激光器、可调衰减器、扩束镜、针孔滤波器、光阑、准直透镜依次位于改进型迈克干涉仪入射路上且各部分光轴为一条直线;暗箱位于改进型迈克干涉仪的出射PC数据处理系统与暗箱中接有CCD的图像采集卡相连入射光线经测试装置处理成平行,再经干涉仪射出正弦干涉条纹,利用正弦干涉条纹图样作为靶标,通过CCD成像,然后利用正弦干涉条纹对比度与像对比度比值的方法测试出CCD的调制传递函数。
  • ccd芯片调制传递函数测试装置方法
  • [发明专利]一种解调保偏光纤中动态应力频率的方法-CN201810038379.3有效
  • 张红霞;王宇瑶;温国强;贾大功;刘铁根 - 天津大学
  • 2018-01-16 - 2020-10-02 - G01L1/24
  • 本发明涉及一种解调保偏光纤中动态应力频率的方法,利用白光干涉偏振耦合测试系统实现。步骤如下:利用迈克干涉仪扫描获得保偏光纤受动态应力时的干涉图;根据移动镜扫描时光电探测器采集的干涉图计算动态耦合点的位置;根据动态耦合点的位置调节迈克干涉仪中的移动镜,使迈克干涉仪刚好补偿保偏光纤中产生的光程差;采集迈克干涉仪补偿保偏光纤中的光程差时,光电探测器处干涉光强的变化;对光电探测器采集的干涉光强信号进行时频分析,根据时频分析结果获得动态应力的瞬时频率信息。
  • 一种解调偏光动态应力频率方法
  • [实用新型]一种改进型迈克干涉-CN202022614934.8有效
  • 李泽 - 湖南劳动人事职业学院
  • 2020-11-12 - 2021-07-27 - G01J9/02
  • 本实用新型公开一种改进型迈克干涉仪,包括有底座,所述底座上设置有迈克干涉仪,所述底座上设置有多个升降机构,多个所述升降机构上输出端设置有支撑脚,所述底座上设置有可编辑控制器,所述底座上设置有平衡感应器,所述可编辑控制器通讯连接于平衡感应器,所述可编辑控制器通讯连接于多个升降机构,本实用新型解决了现有的迈克干涉仪,对迈克干涉仪进行改进,本实用新型通过平衡感应器的感应,自动调节多个升降机构之间的支撑高度,使迈克干涉仪保持平衡,不影响测量的精准通避免传统通过扭动底部的调节螺钉进行平衡设置,大大的减少了麻烦,提高了测量效果,且结构简单,使用方便。
  • 一种改进型迈克干涉仪
  • [实用新型]三分量全光纤加速度地震检波器-CN03236643.4无效
  • 丁桂兰;陈才和 - 天津大学
  • 2003-01-28 - 2004-01-14 - G01V1/18
  • 本实用新型公开了一种三分量全光纤加速度地震检波器,该检波器是在金属外壳内,密封有双全光纤迈克干涉仪、顺变柱体质量块简谐振子、光源、光电探测器和信号处理电路及输出显示器,其特征在于:双全光纤迈克干涉仪系统中,在质量块上设置三个方向的六块顺变柱体,在每块顺变柱体上分别缠绕单模光纤,构成三分量的简谐振子,该简谐振子与三个迈克光纤干涉系统和信号处理电路相连,信号处理电路设有三个输出显示器。
  • 分量光纤加速度地震检波器
  • [实用新型]一种压电陶瓷干涉测量实验仪-CN202320099366.3有效
  • 刘振翰;冯志伟 - 天津市拓普仪器有限公司
  • 2023-02-02 - 2023-09-26 - G01R29/22
  • 本实用新型公开了一种压电陶瓷干涉测量实验仪,涉及试验仪技术领域,包括迈克干涉仪,迈克干涉仪的一侧设置有激光器,迈克干涉仪的一侧固定连接有扩束镜,扩束镜的一侧设置有分束器,且分束器与迈克干涉仪之间固定连接,改善了迈克干涉仪不能方便的改变施加在压电陶瓷部两端的电压,从而无法改变压电陶瓷部的电场强度,难以精确的测量压电陶瓷部微小的伸长量、测量压电陶瓷部的压电常数及其振动的频率响应特性的问题,本装置中本装置中能够方便的改变施加在压电陶瓷两端的电压
  • 一种压电陶瓷干涉测量实验

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