专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种改进的迈克干涉仪装置-CN201921970626.X有效
  • 何景婷 - 太原工业学院
  • 2019-11-15 - 2020-08-14 - G09B23/22
  • 本实用新型公开了一种改进的迈克干涉仪装置,包括:本体,所述本体上设置有光学系统;横架,设置在所述本体的一侧;接收屏,可拆卸地设置在所述横架上,用于接收从所述光学系统传递过来的,以在所述接收屏上显示出干涉条纹本实用新型提供的改进的迈克干涉仪装置能够方便学生进行调节,缩短了实验时间,提高了实验效率,同时避免对眼睛造成损伤。
  • 一种改进迈克干涉仪装置
  • [发明专利]一种基于数字全息技术的迈克干涉仪及其测量方法-CN201710286218.1在审
  • 潘云;苏琳 - 南京航空航天大学金城学院
  • 2017-04-27 - 2017-11-24 - G01J9/02
  • 本发明公开了一种基于数字全息技术的迈克干涉仪及其测量方法,该装置采用两个CCD相机代替传统迈克干涉仪中的平面反射镜,并引入与球面光相干的平面参考与球面光发生干涉,利用数字全息技术直接获取两个CCD记录面上的球面光复振幅信息,然后通过最小二乘拟合获取球面光参数,并对球面光复振幅进行解调来得到居中后的球面光复振幅,最后通过数字干涉的方法实现两球面光的干涉。实验结果表明,该装置能实时生动地显示入射球面光的三维图像和两球面光的干涉图像,同时根据拟合得到的参数还能便捷地测量透明等厚介质的折射率,实验中测量了三种不同材料的折射率,其误差均能控制在5%以内,有较高的测量精度
  • 一种基于数字全息技术迈克干涉仪及其测量方法
  • [发明专利]一种迈克干涉仪专用激光光源-CN201210446038.2有效
  • 梁霄;田源;刘强;龚恒翔 - 重庆理工大学
  • 2012-11-09 - 2013-02-13 - G02B7/04
  • 本发明涉及一种迈克干涉仪专用激光光源,该激光光源包括光源外壳和用于产生点状扩展光源的激光管,激光管安装于光源外壳一端的内部,还包括滑动式准直透镜调焦器和准直镜,滑动式准直透镜调焦器套接在光源外壳的另一端外,且可沿光源外壳左右滑动,准直镜固定安装在滑动式准直透镜调焦器远离激光管的一端,用于对激光管发出的激光进行准直或扩束;光源外壳上还设有用于与迈克干涉仪相连的连接支架。本发明实现了激光光源的小型化和集成化,通过连接支架将其与迈克干涉仪连为一体,提高了测试的准确性,通过利用滑动式准直透镜调焦器使准直镜承担了激光的准直和扩束工作,避免了外加扩束镜,简化了调节步骤,使仪器的调节速度大大加快
  • 一种迈克干涉仪专用激光光源
  • [实用新型]一种迈克干涉仪专用激光光源-CN201220588591.5有效
  • 梁霄;田源;刘强;龚恒翔 - 重庆理工大学
  • 2012-11-09 - 2013-04-10 - G02B7/04
  • 本实用新型涉及一种迈克干涉仪专用激光光源,该激光光源包括光源外壳和用于产生点状扩展光源的激光管,激光管安装于光源外壳一端的内部,还包括滑动式准直透镜调焦器和准直镜,滑动式准直透镜调焦器套接在光源外壳的另一端外,且可沿光源外壳左右滑动,准直镜固定安装在滑动式准直透镜调焦器远离激光管的一端,用于对激光管发出的激光进行准直或扩束;光源外壳上还设有用于与迈克干涉仪相连的连接支架。实现了激光光源的小型化和集成化,通过连接支架将其与迈克干涉仪连为一体,提高了测试的准确性,通过利用滑动式准直透镜调焦器使准直镜承担了激光的准直和扩束工作,避免了外加扩束镜,简化了调节步骤,使仪器的调节速度大大加快
  • 一种迈克干涉仪专用激光光源
  • [发明专利]一种基于相干层析的太赫兹成像装置-CN201611252346.6有效
  • 凌福日;姚刚 - 华中科技大学
  • 2016-12-30 - 2023-05-05 - G01B11/24
  • 本发明公开了一种基于相干层析的太赫兹三维成像装置,该装置包括太赫兹源、太赫兹波准直系统、迈克干涉系统和探测系统,准直系统对太赫兹源产生的波进行准直,迈克干涉系统用于将准直后的太赫兹波入射到分束镜上分为样品光和参考,通过参考臂的扫描和样品台的移动,改变参考光和样品的光程差,实现了对样品的不同部位、不同深度的扫描;探测系统用于对干涉信号进行探测处理,并控制参考臂上下扫描和样品臂左右扫描,实现太赫兹相干层析成像。
  • 一种基于相干层析赫兹成像装置
  • [实用新型]一种基于相干层析的太赫兹成像装置-CN201621472500.6有效
  • 凌福日;姚刚 - 华中科技大学
  • 2016-12-30 - 2017-10-13 - G01B11/24
  • 本实用新型公开了一种基于相干层析的太赫兹三维成像装置,该装置包括太赫兹源、太赫兹波准直系统、迈克干涉系统和探测系统,准直系统对太赫兹源产生的波进行准直,迈克干涉系统用于将准直后的太赫兹波入射到分束镜上分为样品光和参考,通过参考臂的扫描和样品台的移动,改变参考光和样品的光程差,实现了对样品的不同部位、不同深度的扫描;探测系统用于对干涉信号进行探测处理,并控制参考臂上下扫描和样品臂左右扫描,实现太赫兹相干层析成像。
  • 一种基于相干层析赫兹成像装置
  • [发明专利]利用90°光学混波器数字剪切散斑动态检测系统及方法-CN201810597274.1有效
  • 杨馥;李姝欣;刘政;钟平;詹亚歌;姜萌 - 东华大学
  • 2018-06-11 - 2021-05-28 - G01N21/88
  • 本发明涉及一种利用90°光学混波器对材料缺陷进行动态检测装置包括激光光源、若干光纤、90°光学混波器、基于迈克干涉仪的剪切设备以及四套同规格的光纤接口CCD。所述的激光光源近似垂直入射至被测物体,带有被测物体缺陷信息的散斑信号光通过一套剪切迈克干涉仪得到剪切散斑干涉信号,该信号耦合至光纤后输入至90°光学混波器,光学混波器输出的四个通道的信号经四套同规格CCD接收,从而同时接收四幅具有90°相位差的散斑干涉图想。即只需采集单幅图像的时间,就能实现常见四步时间相移法的四幅相位相差90°的散斑干涉图样的采集,高质量地实现对材料缺陷的动态检测。
  • 利用90光学混波器数字剪切动态检测系统方法
  • [发明专利]激光干涉游标卡尺-CN201711069761.2在审
  • 闫洪一 - 闫洪一
  • 2017-11-01 - 2018-01-09 - G01B11/04
  • 本发明公开一种激光干涉游标卡尺,是一种利用相干光源的干涉来测量长度的测量工具,可测长度、内外径以及深度,其测量精度小于1微米。其组成部分包括干涉模块、卡尺模块、光电计数及显示模块。干涉模块采用类似迈克干涉仪的,将激光器发出的分为参考光和测量,在光电计数器的探头形成干涉条纹;卡尺中游标尺在本体上的移动引起测量光光程变化,导致干涉条纹变化;用光电计数器计量条纹变化数,即可得到测量的长度数据
  • 激光干涉游标卡尺

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