专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种方便调整的迈克干涉-CN201410655819.1无效
  • 陈健;朱纯;朱云 - 江南大学
  • 2014-11-17 - 2015-01-28 - G09B23/22
  • 本发明公开了一种方便调整的迈克干涉仪,包括分光板、补偿板、第一平面反光镜、第二平面反光镜、观察屏,还包括倒“L”形支架和支架底座,倒“L”形支架包括相互垂直的第一支架壁和第二支架壁,第一平面反光镜与第二平面反光镜分别吸附在第一支架壁与第二支架壁的表面本发明可替代传统迈克干涉仪用于干涉现象的观察及测量,大大方便迈克干涉仪的调整,有效提高实验效率。
  • 一种方便调整迈克干涉仪
  • [实用新型]带倒“L”形支架的迈克干涉-CN201420690233.4有效
  • 陈健;朱纯;朱云 - 江南大学
  • 2014-11-17 - 2015-02-18 - G09B23/22
  • 本实用新型公开了一种带倒“L”形支架的迈克干涉仪,包括分光板、补偿板、第一平面反光镜、第二平面反光镜、观察屏,还包括倒“L”形支架和支架底座,倒“L”形支架包括相互垂直的第一支架壁和第二支架壁,第一平面反光镜与第二平面反光镜分别吸附在第一支架壁与第二支架壁的表面本实用新型可替代传统迈克干涉仪用于干涉现象的观察及测量,方便迈克干涉仪的调整,有效提高实验效率。
  • 支架迈克干涉仪
  • [发明专利]基于双声光调制器的迈克外差干涉仪的位移测量方法-CN201910886293.0有效
  • 赵冬娥;马亚云;李沅;王思育;李诺伦 - 中北大学
  • 2019-09-19 - 2022-03-25 - G01B11/02
  • 本发明公开了一种基于双声光调制器的迈克外差干涉纳米位移测量方法,采用迈克干涉结构,两臂分别加入声光调制器件产生移频;将一级干涉光斑通过一维探测器转变为电信号,将其与信号发生器产生的基准信号用锁相器比较获得两者的相位差,当物体产生纳米位移,信号一级衍射光斑携带其变化量,含有变化量的一级干涉信号与基准信号的相位差发生变化,通过计算相位差的变化量,可以得到纳米位移引起的相位变化量,根据相位差与位移公式可得到位移量;本发明系统简单,易于调节,可有效解决现有技术方案中外差干涉存在复杂、调整困难等问题,在超精密位移、振动测量领域具有显著的技术优势。
  • 基于双声调制器迈克外差干涉仪位移测量方法
  • [实用新型]一种用于迈克实验仪的激光光源装置-CN202221320823.9有效
  • 李玉彬;施佳斌 - 杭州杭光实验设备有限公司
  • 2022-05-26 - 2022-11-08 - G01B9/02
  • 本实用新型公开了物理实验仪器技术领域的一种用于迈克实验仪的激光光源装置,包括横置开口框、弧形铁夹、竖板、手动夹具、激光发射装置、第一伸缩方杆、第二伸缩方杆和L型杆,L型杆的外端与弧形铁夹的一个夹块外壁固定,将弧形铁夹与迈克干涉仪底座夹持固定,调节第一伸缩方杆和第二伸缩方杆的长度和方向使竖板贴合迈克干涉仪反射镜的滑轨外侧时,固定第二伸缩方杆后再缩短第一伸缩方杆,使手动夹具夹持的激光发射装置下移并位于迈克干涉仪反射镜的滑轨上方
  • 一种用于迈克实验激光光源装置
  • [发明专利]PZT调制系数测试装置及测试方法-CN201310257844.X有效
  • 方高升;徐团伟;李芳 - 中国科学院半导体研究所
  • 2013-06-26 - 2013-10-09 - G01M11/02
  • 本发明提供一种PZT调制系数测试装置及测试方法,其中PZT调制系数测试装置,包括:一窄线宽半导体激光器;一隔离器,其输入端与窄线宽半导体激光器的输出端连接;一迈克干涉仪,其第一输入端与隔离器的输出端连接;一光电探测器,其输入端与迈克干涉仪的输出端连接;一数据采集卡,其第一输入端与光电探测器的输出端连接;一数据处理系统,其输入端与数据采集卡的输出端连接;一载波电路,其第一输出端与迈克干涉仪的第二输入端连接
  • pzt调制系数测试装置方法
  • [发明专利]一种基于折叠和抽真空方式测量气体折射率的装置-CN202110450167.8在审
  • 官盛果;孙静;乐建新;程晏蓓;徐小凤;黄晓霞;董元皓 - 江西师范大学
  • 2021-04-25 - 2021-08-13 - G01N21/45
  • 本申请涉及一种基于折叠和抽真空方式测量气体折射率的装置,它包括自主搭建的折叠式迈克干涉仪、特制气室、真空抽气模块和数据采集系统;所述折叠式迈克干涉仪包括光源、方形分束棱镜、五块平面反射镜和扩束镜;所述特制气室为两端设置有石英玻璃观察窗的铝制圆管;所述真空抽气模块包括真空软管、真空缓冲室、抽气泵和数字温度气压计;所述数据采集系统包括屏,光强探测器和计算机。本发明使用五块平面反射镜实现折叠,极大增强待测效应和压缩了仪器装置所需空间;采用先抽真空,再充入气体的测量方式可以测各种气体的折射率,通过设置真空缓冲室,使得气室内气压的变化能够均匀缓慢,提高测量气体折射率的精确度
  • 一种基于折叠真空方式测量气体折射率装置
  • [发明专利]MEMS微镜、迈克干涉系统及光学系统-CN202110030650.0有效
  • 薛原;谢会开 - 无锡微奥科技有限公司
  • 2021-01-11 - 2022-07-08 - G02B26/08
  • 公开了一种MEMS微镜、迈克干涉系统及光学系统,该MEMS微镜包括:衬底以及镜面结构,镜面位于所述衬底的一侧,且其第一表面与衬底的第一表面之间形成空隙,其中,光源发出的入射光线照射在衬底的第二表面上,第一部分入射光线经由衬底的第二表面反射形成第一反射,第二部分入射光线经由镜面结构的第一表面反射形成第二反射,第一反射光和第二反射耦合形成第一干涉。该干涉系统基于MEMS芯片表面反射与其衬底表面反射的特性,利用MEMS微镜中不运动衬底反射的光线与运动的镜面结构反射的光线耦合后形成干涉,达到迈克系统的干涉要求,又减少了定镜的设置,有效提高干涉系统组装效率的同时
  • mems微镜迈克干涉系统光学系统
  • [实用新型]抗干扰型迈克干涉仪条纹自动计数器-CN201220332571.1有效
  • 徐一清;余定国;戴朝卿 - 浙江农林大学
  • 2012-07-04 - 2013-01-02 - G01J9/02
  • 一种抗干扰型迈克干涉仪条纹自动计数器,有迈克干涉仪(11),其特征是还增添有控制箱(1)和光电传感探头(9),控制箱(1)内的集成电路板(5)上布置有变压器降压电路(12)、整流滤波电路(13)15)、触发整形电路(16)、计数控制电路(17)和数码管显示电路(18);控制箱(1)壳体上有数码显示屏(2)、计数按钮(3)、电源开关(4)和灵敏度调节旋钮(6),光电传感探头(9)准对且迎面安装在迈克干涉仪运用本装置能同时测得干涉条纹信号和环境干扰信号,再经减法运算、放大整形等处理,得到稳定准确的干涉条纹数。相比现有技术,能消除人眼疲劳,能较好地消除背景的影响,能自动适应不同的背景光强,稳定性高、抗干扰能力强、操作简单。
  • 抗干扰迈克干涉仪条纹自动计数器

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