专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]二氧化硅改性压敏胶及其应用-CN202111359416.9有效
  • 金明实;张林;张嘉琪;申晨 - 延边大学
  • 2021-11-17 - 2023-05-12 - C09J133/08
  • 本发明公开了二氧化硅改性压敏胶,它包括:二氧化硅纳米粒子0.5~2.0份、改性二氧化硅纳米粒子0.5~2.0份、软单体55~70份,硬单体30~40份,功能单体0~5份,引发剂0.5份,溶剂100份;所述的改性二氧化硅纳米粒子是由六甲基二胺表面处理二氧化硅纳米粒子得到的;一种透皮贴剂,它包括:背衬层、药层和防粘层;所述的药层,是在所述的二氧化硅改性压敏胶中掺入1.5wt%吲哚美辛制备的;本发明的二氧化硅改性压敏胶粘结性能提高、耐水性良好且剥离强度高、吸水率低、透气率高;制备的透皮贴剂,吲哚美辛在3天内释放70%,效果好。
  • 二氧化硅改性压敏胶及其应用
  • [发明专利]半导体存储器电路的电容器的制造方法-CN00133189.2无效
  • 曾鸿辉 - 世界先进积体电路股份有限公司
  • 2000-10-24 - 2002-05-22 - H01L21/82
  • 形成字线和转移栅晶体管后,沉积第一电层、薄的氮化硅与第二电层。蚀刻以形成存储单元接触窗。沉积第一多晶,在接触窗内形成第一多晶插塞。去除第二电层以露出一部分第一多晶插塞。形成第二多晶和第三电层,对第三电层回蚀刻以形成第三电层侧壁间隔。形成第三多晶,回蚀刻第三多晶和第二多晶,以形成第三多晶侧壁间隔与第二多晶侧壁间隔。去除第三电层侧壁间隔,剩余的第一多晶插塞、第二多晶侧壁间隔与第三多晶侧壁间隔构成了电容器的电荷储存电极。
  • 半导体存储器电路电容器制造方法
  • [发明专利]一种有序非均相钯催化剂的原位还原制备方法-CN201010165326.1有效
  • 张昉;殷洁炜;柴委;李和兴 - 上海师范大学
  • 2010-04-29 - 2010-10-20 - B01J31/28
  • 本发明涉及一种有序非均相钯催化剂的原位还原制备方法,在加热条件下,将表面活性剂、强酸、水及4-双三乙氧基硅烷苯混合,并持续搅拌混合反应,而后将混合反应过滤,滤饼依次经洗涤和干燥处理后,形成有序有机载体,该载体与有机溶剂混合,并在加热且伴以氮气保护的条件下与具有氢键的硅烷反应,形成功能化的有序有机载体,该功能化载体与钯盐的乙醇-水溶液反应形成有序非均相钯催化剂。本发明工艺简单,制备的有序非均相钯催化剂具有高效持久的催化活性,可有效提高反应速度,降低生产成本,提升产品的品质,并可回收使用,降低环境污染。
  • 一种有序介孔非均相催化剂原位还原制备方法
  • [发明专利]一种铈镨复合氧化的制备方法-CN201210511070.4有效
  • 郝仕油;侯杰;叶群峰 - 浙江师范大学
  • 2012-11-30 - 2013-02-13 - C05F17/00
  • 本发明涉及一种铈镨复合氧化的制备方法,将P123完全溶解在HCl中后加入正硅酸乙酯,经水浴、晶化、过滤、洗涤洪干后得预产物,预产物经煅烧后获得SBA-15材料;然后在Ce(NO3)3和Pr(NO3)3的乙醇混合溶液中分别加入SBA-15材料,经磁力搅拌、水浴、经烘干、煅烧获得铈镨复合氧化;再把这些复合氧化与Ce(NO3)3和Pr(NO3)3的乙醇混合溶液充分搅拌,经水浴、烘干、煅烧后第二次获得铈镨复合氧化,最后用NaOH溶液除去复合氧化中的SBA-15,经过滤、洗涤、烘干后即得到铈镨复合氧化。该方法制备的铈镨复合氧化对可见光具有强吸收性能。
  • 一种介孔铈镨复合氧化物制备方法
  • [发明专利]半导体器件的制作方法-CN201010131820.6有效
  • 孙武;王新鹏 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2010-03-15 - 2011-09-21 - H01L21/768
  • 本发明公开一种制作半导体器件的方法,包括:a)在前端器件层上依次形成停止层、高应力覆盖层、第一电层、第二电层、含的底部抗反射涂层以及带有图案的光刻胶层;b)以光刻胶层作为掩模,刻蚀含的底部抗反射涂层和第二电层,露出第一电层的上表面;c)以含的底部抗反射涂层和第二电层为掩膜,对第一电层和高应力覆盖层进行干法刻蚀,并停止在停止层;d)通入包含氟代烃气体和氧气的反应气体,以去除含的残留;以及e)对第二电层进行剥离根据本发明的方法能有效去除接触或通刻蚀之后器件表面残留,使晶片表面变得平整,并提高器件的长期可靠性和良品率。
  • 半导体器件制作方法

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