专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]过载继电器可靠性试验装置-CN200410094147.8有效
  • 陆俭国;李奎;王景芹;李文华;陈才伟;赵靖英;陈鹏 - 河北工业大学
  • 2004-12-31 - 2005-06-29 - G01R31/327
  • 本发明涉及一种过载继电器可靠性试验装置,由硬件与软件组成,软件部分由运行参数显示与修改模块、文件处理模块、试验运行控制模块组成;硬件部分包括由显示器、主机、键盘构成的计算机、触点状态检测电路、试品试验控制电路、试验电流产生电路,计算机通过总线接口分别与触头状态检测电路、试品试验控制电路、试验电流产生电路相连,触点状态检测电路、试品试验控制电路、试验电流产生电路分别与试品相连。本装置可以实现试验电流的自动调节、自动稳流,还能自动完成整个过载继电器可靠性试验,实现试验数据的自动记录和故障数据的自动记录,并能实现自动屏蔽故障试品。
  • 过载继电器可靠性试验装置
  • [实用新型]过载继电器可靠性试验装置-CN200420013397.X无效
  • 陆俭国;李奎;王景芹;李文华;陈才伟;赵靖英;陈鹏 - 河北工业大学
  • 2004-12-31 - 2006-03-29 - G01R31/00
  • 本实用新型涉及一种过载继电器可靠性试验装置,由硬件与软件组成,软件部分由运行参数显示与修改模块、文件处理模块、试验运行控制模块组成;硬件部分包括由显示器、主机、键盘构成的计算机、触点状态检测电路、试品试验控制电路、试验电流产生电路,计算机通过总线接口分别与触头状态检测电路、试品试验控制电路、试验电流产生电路相连,触点状态检测电路、试品试验控制电路、试验电流产生电路分别与试品相连。本装置可以实现试验电流的自动调节、自动稳流,还能自动完成整个过载继电器可靠性试验,实现试验数据的自动记录和故障数据的自动记录,并能实现自动屏蔽故障试品。
  • 过载继电器可靠性试验装置
  • [发明专利]一种水压试验方法、装置、设备及存储介质-CN202010789253.7有效
  • 崔现伟;李小平;胡起辉;魏祥;吉顺 - 上海森松制药设备工程有限公司
  • 2020-08-07 - 2023-06-23 - G01N3/12
  • 本发明实施例公开了一种水压试验方法、装置、设备及存储介质。所述方法包括:读取水压试验设计数据;响应于水压试验请求,向待试压容器中充满水后,控制所述待试压容器处于密封状态;根据所述水压试验设计数据对处于密封状态的待试压容器进行水压试验;其中,在根据所述水压试验设计数据对处于密封状态的待试压容器进行水压试验的过程中,实时监控并记录试压数据;根据所述试压数据生成水压试验报告。本发明实施例提供的技术方案,通过读取水压试验设计数据,自动对待试压容器进行水压试验,并根据水压试验过程中记录的试压数据生成水压试验报告,有效提高了水压试验的效率和准确性。
  • 一种水压试验方法装置设备存储介质
  • [发明专利]试验装置、压入方法以及微流路器件-CN202111028364.7在审
  • 竹内一平 - 株式会社岛津制作所
  • 2021-09-02 - 2022-03-08 - G01N33/15
  • 本发明涉及一种试验装置,使用微流路器件进行使用含有检体的试验液的试验试验装置具备:加压部,与第1开口连接,赋予空气压来向微流路压入试验液;开闭部,切换第2开口的开闭的状态;以及控制部,控制加压部及开闭部。控制部控制为由开闭部关闭第2开口的状态,由加压部向微流路压入试验液,在向微流路压入试验液之后,控制为由开闭部打开第2开口的状态,由加压部赋予空气压而使分支流路的试验液回收到回收部。
  • 试验装置方法以及微流路器件
  • [发明专利]一种故障容错性测试方法、装置、电子设备及存储介质-CN202210329625.7在审
  • 王振;周论;王科;于航;洪柱;肖志康 - 武汉工程大学
  • 2022-03-31 - 2022-08-16 - G01R31/3185
  • 本发明涉及一种故障容错性测试方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:获取待测试验数据,将待测试验数据复制得到待测对照组数据;将待测试验数据和待测对照组数据分别输入至第一FPGA状态机和第二FGPA状态机中进行翻转和直接输出,得到第一试验输出数据和对照组输出数据并进行对比,根据比较结果确定第一FPGA状态机的第一输出状态;当第一输出状态为所述第一试验输出数据和所述对照组输出数据不一致时,重新进行试验得到第二试验输出数据并与对照组输出数据进行对比并根据所述第二比较结果确定所述第一FPGA状态机的故障容错情况。本发明解决了现有技术中对状态机进行单粒子碰撞容错性实验成本高且受实验环境影响导致实验机会少的技术问题。
  • 一种故障容错测试方法装置电子设备存储介质

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