专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种厨余垃圾物质去除设备-CN202120520452.8有效
  • 刘维来;晏威;董二宝;朱林;毛磊 - 湖州欣畅源环保科技有限公司
  • 2021-03-12 - 2021-10-29 - B07C5/34
  • 本实用新型公开了一种厨余垃圾物质去除设备,包括振动给料器、设置在振动给料器底部的分选装置和设置在分选装置下部的分选垃圾输送带与物质输送带,分选垃圾输送带和物质输送带的输送方向相背;厨余垃圾经振动给料器的出料口落下进入分选装置后,不需要被剔除部分直接落入分选垃圾输送带上,需要被剔除的物质在分选装置的分选下落入物质输送带上;本实用新型的厨余垃圾物质去除设备,实现将厨余垃圾中物质一次性全部分选剔除,分选效率高,在分选中不产生污水等
  • 一种垃圾物质去除设备
  • [发明专利]存储器失效位元的修复系统及修复方法-CN202111650522.2在审
  • 黄张英;周亚星;何世坤;魏凯 - 浙江驰拓科技有限公司
  • 2021-12-24 - 2023-06-27 - G11C29/42
  • 本发明提供一种存储器失效位元的修复系统及修复方法,系统包括:存储阵列、失效记录区、取反标志区、写操作电路及读操作电路,其中失效记录区记录失效位元的指示信息,取反标志区存储读数据是否取反的取反标志位,写操作电路对存储阵列一个地址上需要被改写的位元写数据,如果需要被改写的位元中包含失效位元,将取反标志位置1;读操作电路对存储阵列一个地址上的存储位元进行读取,如果其中有失效位元,判断取反标志位是否为1,若为1,对失效位元读出的数据进行取反。本发明能够基于单位位元进行失效位元修复。
  • 存储器失效位元修复系统方法
  • [发明专利]自对准层图案化-CN202010690877.3在审
  • B·T·曾;Y·K·萧;J·博迈尔斯 - IMEC非营利协会
  • 2020-07-17 - 2021-01-19 - H01L21/336
  • 一种方法,包括以下步骤:a.通过自对准多重图案化来在要被图案化的层(3)上形成规则地间隔开的芯模(4)的第一图案,b.随后,在所述芯模(4)的侧壁上形成掩模间隔物(5),由此形成第二图案,所述第二图案由包括芯模(4)和其侧壁上的掩模间隔物(5)的组装件(4,5)来形成,以及c.随后,在要被图案化的层(3)中蚀刻所述第二图案。
  • 对准图案
  • [发明专利]形成电子器件的方法-CN201010256809.2有效
  • Y·C·裴;T·卡多拉西亚;刘沂 - 罗门哈斯电子材料有限公司
  • 2010-06-25 - 2011-05-25 - H01L21/027
  • 提供了一种形成电子器件的方法,所述方法包括:(a)提供包括要被图形化的一层或更多层的半导体衬底;(b)在要被图形化的一层或更多层上施加第一光敏组合物层;(c)通过图形化的光掩模将该第一层暴露于激发辐射;(d)显影该曝光的第一层以形成光刻胶图形;(e)在烘烤工艺中热处理该光刻胶图形;(f)采用材料处理该被烘烤的光刻胶图形;(g)施加热敏组合物第二层;(h)加热该热敏组合物第二层;以及(i)显影该被加热的第二层
  • 形成电子器件方法

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