“表面分布”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果5810232个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种扫描物体表面磁场分布的装置和系统-CN202210451443.7在审
发明人：陈奕;闫国普;查旻罡;邓孝逸 -专利权人：美新半导体（无锡）有限公司
申请日： 2022-04-26 - 公布日： 2022-08-16 - 主分类号： G01R33/10 文献下载
摘要：本发明提供一种扫描物体表面磁场分布的装置和系统，其包括至少一个磁场扫描板，磁场扫描板用于扫描物体表面磁场分布，磁场扫描板包括PCB板和设置于PCB板上的磁场扫描电路，所述磁场扫描电路包括：磁传感器阵列；其用于与外部设备通信连接；微控制器，其一端与所述通信模块相连，其另一端和所述磁传感器阵列相连，所述微控制器通过所述通信模块接收来自所述外部设备的命令，采集所述磁传感器阵列中各个磁传感器的输出数据，以获取被扫描物体表面磁场分布数据，并将该被扫描物体表面磁场分布数据通过所述通信模块传输给所述外部设备。与现有技术相比，本发明可以通过磁传感器阵列方便快速得获取物体表面磁场分布数据。
一种扫描物体表面磁场分布装置系统

[发明专利]测定二维材料表面电荷密度分布的成像方法-CN202210110615.4在审
发明人：刘贤伟;奚馨;赵小娜 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2022-01-29 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G01N27/26 文献下载
摘要：本发明涉及成像分析技术领域，具体涉及一种测定二维材料表面电荷密度分布的成像方法，包括将二硫化钼薄层，固定在氧化铟锡导电芯片上，向氧化铟锡导电芯片中加入样品液或电解质盐溶液，得到待测芯片；将待测芯片放置于阻抗利用相机采集待测芯片中的二硫化钼薄层的干涉反射成像；提取干涉反射成像中的典型样品区域；对干涉反射成像中的像素点以及典型样品区域内的平均光学强度做快速傅里叶变换处理，得到幅度信息；将每个像素点的幅度信息进行累计，得到表面电荷分布的图像
测定二维材料表面电荷密度分布成像方法

[发明专利]一种再生骨料表面残余砂浆层分布的量化方法-CN202210826758.5在审
发明人：李景哲;詹炳根;刘洋;高鹏;周耀宗;洪丽;杨永敢;余其俊 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2022-07-13 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种再生骨料表面残余砂浆层分布的量化方法，该方法包括：1将再生骨料用胶凝材料胶结，并采用切割、打磨法制备包含再生骨料原颗粒‑残余砂浆‑胶浆的微观测试样本，然后采用光学显微镜采集样本断面图像；2对采集到的图像进行预处理，根据三种材料的颜色差异，分别提取再生骨料原颗粒和包含砂浆层的再生骨料的表面轮廓；3基于傅里叶变换，计算得到各轮廓的解析式，从而实现再生骨料残余砂浆含量和分布的量化计算。本发明能准确方便地定量再生骨料残余砂浆分布，实现对再生骨料特征的精确描述，有利于再生骨料的合理和高效应用。
一种再生骨料表面残余砂浆分布量化方法

[发明专利]表面离子阱囚禁电场分布的测量方法及测量装置-CN202310013832.6在审
发明人：郑志月;张翔 -专利权人：北京量子信息科学研究院
申请日： 2023-01-05 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G01Q60/24 文献下载
摘要：本发明提供了一种表面离子阱囚禁电场空间分布的测量方法，包括：向所述离子阱电极施加激励信号；通过包括带电探针组件的原子力显微测量模块对所述离子阱的电极表面进行扫描，其中，所述带电探针组件配置成与扫描对象表面的电场发生相互作用，并诱导所述带电探针组件发生偏转或振荡状态变化；通过所述原子力显微测量模块的光学系统检测所述带电探针组件的状态变化，以确定所述离子阱囚禁电场的空间分布情况。本发明所提供的离子阱囚禁电场分布的测量方法，支持基于原子力显微术对表面离子阱囚禁电场的空间分布进行直接测量，消除了理论计算方法与实际物理模型的差异，解决了表面离子阱电极加工品质和囚禁离子属性难以确定而导致后续量子操作实验效率极低的困扰
表面离子囚禁电场分布测量方法测量装置

[发明专利]一种光学元件亚表面缺陷分布检测装置及其方法-CN202211646986.0在审
发明人：武春风;吴琳;吴丰阳;董理治;荆建行;王勋;王晓丹;戴勋义 -专利权人：航天科工微电子系统研究院有限公司
申请日： 2022-12-21 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明涉及光学器件检测技术领域，具体公开了一种光学元件亚表面缺陷分布检测装置及其方法；其中检测装置包括用于安装光学元件的隔振平台、位于隔振平台上方且与光学元件间形成光束传输路径一的激光光源模块、位于隔振平台上方且与光学元件形成光束传输路径二的光束探测接收模块、以及设置在隔振平台上的光束检测模块；激光光源模块发射光束沿光束传输路径一照射在光学元件上；光学元件表面的光束和缺陷上的光束发生散射现象，散射光沿原光路返回并进入光束探测接收模块。以及公开了检测方法，本发明能够有效的实现对于光学元件的表面形态及内部亚表面缺陷进行检测评估。
一种光学元件表面缺陷分布检测装置及其方法

[发明专利]数字资产材质表面双向反射分布函数测量方法与系统-CN202211295354.4在审
发明人：洪贤斌;张杰昊;费扬;王艺文;郑薛斌;袁秋龙 -专利权人：上海星宙之形科技有限公司
申请日： 2022-10-21 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G01N21/552 文献下载
摘要：本发明提供一种数字资产材质表面双向反射分布函数测量方法与系统，在测量过程中首先使用偏振光源向待测材质表面发射偏振光，并使用偏振相机采集待测材质表面对光线的反射情况，获得多幅材质照片，多幅材质照片中具有重复区域再提取出重复区域，获得每个位置的双向反射分布函数即多个可选值，以其作为输入，通过预先训练的神经网络预测模型，输出BRDF的最优估计值，并结合待测材质与历史材质的相似度确定是否进行二次检测，以最优估计值或者二次检测的校正值结果再次进行微调训练神经网络预测模型
数字资产材质表面双向反射分布函数测量方法系统

[发明专利]一种光伏组件表面温度分布实时监测系统-CN202311132166.4在审
发明人：许伟剑;潘振华;庄赛龙 -专利权人：江苏惠汕新能源集团有限公司;无锡洛宇智能制造有限公司
申请日： 2023-09-05 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G06T7/11 文献下载
摘要：本申请涉及机器视觉领域，特别涉及一种光伏组件表面温度分布实时监测系统，包括：分割模块，用于将光伏组件图像进行图像分割处理，得到初始分割图像；确定模块，用于确定预设数量的基础种子像素点的最快生长方向与最慢生长方向
一种组件表面温度分布实时监测系统

[发明专利]分布式表面等离子体共振光纤传感器-CN201510400263.6有效
发明人：赵恩铭;陈云浩;刘志海;张亚勋;张羽;苑立波 -专利权人：哈尔滨工程大学
申请日： 2015-07-09 - 公布日： 2017-10-03 - 主分类号： G01N21/552 文献下载
摘要：本发明提供的是一种分布式表面等离子体共振光纤传感器。在一段双芯光纤上加工有成对分布的V型槽，V型槽的深度超过纤芯，每对V型槽中的两个V型槽相互错位布置，V型槽的斜面上镀有传感层；在每对V型槽中，从第一纤芯入射的宽谱光在第一V型槽斜面处激发SPR并发生全反射，反射至第二V型槽斜面处也激发SPR并反射至第二纤芯；光在各对V型槽中依次传递实现分布式传感。本发明的分布式SPR光纤传感器在光纤侧面制作多组传感区，利用光纤的特殊结构将多个传感区串联，实现了实时的多通道分布式测量。
分布式表面等离子体共振光纤传感器

[发明专利]高温超导薄膜微波表面电阻分布测试装置及方法-CN201410610448.5有效
发明人：曾成;补世荣;宁俊松;陈柳;张其劭 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2014-11-03 - 公布日： 2015-01-28 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种高温超导薄膜微波表面电阻分布测试装置及方法，测试装置包括测试座、固定组件、校准组件和密封盖，其工作谐振模式为TE012。本发明的有益效果是：(1)解决了在超导薄膜微波表面电阻分布测试中测试装置的分辨率、灵敏度与通用性之间的矛盾；(2)能有效地防止被测超导薄膜被压坏；(3)能够有效地避免发生直接耦合，具有较高的测试精度。
高温超导薄膜微波表面电阻分布测试装置方法

[发明专利]具有改善的表面空气流场分布均匀性的换热器-CN201010281987.0有效
发明人：蒋建龙;吴小辉;黄宁杰 -专利权人：三花丹佛斯(杭州)微通道换热器有限公司
申请日： 2010-09-15 - 公布日： 2011-01-05 - 主分类号： F28D1/04 文献下载
摘要：根据本发明的实施例换热器，当放置到箱体内时，换热器下部与箱体的距离增大而接近换热器上部与箱体的距离，从而空气流场在换热器表面分布的均匀性提高，从而改善了换热性能。
具有改善表面气流分布均匀换热器

[发明专利]一种表面电场分布可调的光学器件及其调节方法-CN201810404997.5有效
发明人：赵文静 -专利权人：苏州绿萃筑信息科技有限公司
申请日： 2018-04-28 - 公布日： 2021-05-07 - 主分类号： G02B5/00 文献下载
摘要：本发明属于光学器件技术领域，具体涉及一种表面电场分布可调的光学器件及其调节方法，该结构包括基底层和单层平面结构，单层平面结构由多个结构相同的纳米周期单元按矩形周期阵列平面连接而成；每个周期单元包括一个结构单元该结构可以通过控制第一棒体材料性质来调节表面电场分布和局域电场共振模式。后期使用时只需要根据需要进行吸氢或脱氢作用即可实现对该结构表面电场分布和局域电场共振模式的调节，制备和调节方法简单快捷，易于操作。
一种表面电场分布可调光学器件及其调节方法

[发明专利]直观显示金属衬底上CVD石墨烯表面褶皱分布的方法-CN201310236946.3有效
发明人：张燕辉;于广辉;陈志蓥;王彬;张浩然 -专利权人：中国科学院上海微系统与信息技术研究所
申请日： 2013-06-14 - 公布日： 2013-10-16 - 主分类号： G01N21/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种直观显示金属衬底上CVD石墨烯表面褶皱分布的方法，包括：将未转移的CVD石墨烯连同金属衬底一起放入密闭腔体中，抽真空后通入惰性气体，然后加热，再通入与石墨烯反应的气体，待反应结束后停止加热本发明的观察方法重复性高、简单易行；本发明通过选择性刻蚀的方法，使CVD石墨烯表面褶皱附近的石墨烯大量去除，从而通过低放大倍数的光学显微镜就可以观察到纳米级褶皱的分布情况。
直观显示金属衬底 cvd 石墨表面褶皱分布方法

[发明专利]一种测量多孔材料表面孔口直径分布的方法-CN200810244140.8有效
发明人：黄彦;俞健 -专利权人：南京工业大学
申请日： 2008-12-23 - 公布日： 2009-05-20 - 主分类号： G01N15/08 文献下载
摘要：本发明涉及一种测量多孔材料表面孔径分布的方法：从多孔体样品的背面通入压缩气体，将样品表面浸入液体润湿剂中，并由高到低调节气体压力，则多孔体表面孔口将按孔径由小到大的顺序依次被润湿剂封堵，并引起气体流量的更快速下降当压力下降到某一数值气体流量降为零时，此压力即对应于多孔体表面的最大孔口。将获得的气体压力～流量关系曲线(称为湿曲线)与样品在干燥状态下获得的气体压力～流量关系曲线(称为干曲线)相对比即可测得孔径分布。孔径和孔分布的计算方法与传统泡压法相同。测量多孔体的表面孔分布对其载体性能的考察有重大意义。
一种测量多孔材料表面孔口直径分布方法

[发明专利]白光干涉测量样品表面形状精细分布的方法及其装置-CN200710018030.5有效
发明人：张民芳;成武 -专利权人：西安普瑞光学仪器有限公司
申请日： 2007-06-12 - 公布日： 2008-12-17 - 主分类号： G01B9/023 文献下载
摘要：本发明涉及一种白光干涉测量样品表面形状精细分布的方法及装置。其方法是将一束白光分别投射到样品和参考镜表面，两表面反射光再合成一束光投射在CCD相机感光面形成干涉条纹；通过改变样品和物镜的间距，在感光面上形成多幅干涉图像，输入计算机后得到振幅调制信号与光源的光谱分布相关的余弦函数的分布，通过非等间隔时间采样方法采得若干振幅调制信号的离散值，进而求得样品表面的相对高度。
白光干涉测量样品表面形状精细分布方法及其装置

[发明专利]连铸铸坯表面温度分布测量方法及装置-CN202011165770.3有效
发明人：乔利锋;李占伟;付开开;冯浩然 -专利权人：河北凯昌科技有限公司
申请日： 2020-10-27 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： B22D11/18 文献下载
摘要：本发明公开了一种连铸铸坯表面温度分布测量方法及装置，该方法包括以下步骤：获取铸坯的红外图像；对红外图像进行矫正；识别矫正后的红外图像中的铸坯目标，并获取铸坯目标表面的多个测温点对应的红外温度值；根据多个红外温度值得到铸坯表面的温度分布本发明易于实现，可方便地实现非接触式铸坯温度测量，能够准确测量铸坯表面的温度分布情况，利于为连铸生产在线控制及铸坯质量分析等多种应用场景提供准确、可靠的数据支持和指导，普适性和可靠性较高。
连铸铸坯表面温度分布测量方法装置