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- [发明专利]磁场传感器-CN201810454238.X有效
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李大来;蒋乐跃;刘海东
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美新半导体(无锡)有限公司
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2018-05-14
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2023-10-13
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G01R33/06
- 本发明提供一种磁场传感器,其包括:至少一个磁场传感单元,其具有磁易轴和与所述磁易轴垂直的磁敏感轴,所述磁场传感单元包括沿其磁易轴方向延伸的磁电阻条;至少一个设置‑重置导线组,所述设置‑重置导线组位于对应的磁电阻条的上方或下方,所述设置‑重置导线组包括沿对应的所述磁电阻条的纵长延伸方向平行排布的多根导线,且靠近对应的所述磁电阻条边缘区域的所述导线的宽度小于靠近对应的磁电阻条的中间区域的所述导线的宽度。与现有技术相比,本发明的磁场传感器,其设置‑重置线圈在通入电流后,可以在磁电阻条边缘区域产生强度很大的磁场,在磁电阻条中间区域产生强度适中的磁场,从而有效地设置‑重置磁电阻条的磁矩。
- 磁场传感器
- [发明专利]光学图像稳定器的测试系统-CN202211574478.6在审
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张曦军;李妍君;柯亮;林武
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美新半导体(无锡)有限公司
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2022-12-08
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2023-06-27
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H04N17/00
- 本发明提供一种OIS器件的测试系统,OIS器件包括处理器、信号输入接口、调试接口、模拟信号控制开关、模拟信号输出接口、数字通信接口,OIS器件的测试系统包括OIS测试板,OIS测试板包括:OIS器件载具,其用于安置OIS器件;一个或多个电信号输出接口,其通过OIS器件载具与OIS器件的模拟信号输出接口连接;通信测试单元,其通过OIS器件载具与OIS器件的数字通信接口连接;硬件通信单元,其通过OIS器件载具与OIS器件的调试接口连接。与现有技术相比,本发明用于集成了CPU的OIS器件的测试,灵活性强,兼容多种关键信号的测试,能够有效地指导OIS器件的电路设计改进及生产工艺改进。
- 光学图像稳定测试系统
- [发明专利]一种单芯片六轴传感器及其加速度计-CN202310092141.X在审
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刘尧;凌方舟;蒋乐跃;苏云鹏
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美新半导体(无锡)有限公司
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2023-02-09
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2023-06-23
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G01P15/08
- 本发明提供一种单芯片六轴传感器及其加速度计,所述加速度计包括Z轴加速度计。所述Z轴加速度计包括:Z轴质量块,其内定义有第一空间和第二空间;锚点结构,其位于第一空间内;转轴,其位于第一空间内且平行于X/Y轴放置,转轴连接锚点结构和Z轴质量块,Z轴质量块位于转轴一侧的质量与另一侧的质量不同,以使Z轴质量块以转轴为轴发生跷跷板式运动;空气阻尼单元,其位于第二空间内,其包括第一锚点,连接在第一锚点上的若干固定阻尼梳齿,连接在Z轴质量块上的若干可动阻尼梳齿,固定阻尼梳齿和可动阻尼梳齿呈叉指排布。与现有技术相比,本发明通过设计空气阻尼结构,不同刚度的限位器来增强加速度计在低压腔体中的可靠性,降低生产成本和提高集成度。
- 一种芯片传感器及其加速度计
- [发明专利]I3C器件的量产测试系统-CN202211573630.9在审
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张曦军;李妍君;柯亮;林武
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美新半导体(无锡)有限公司
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2022-12-08
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2023-04-25
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B07C5/344
- 本发明提供一种I3C器件的量产测试系统,I3C器件为带有I3C接口的MEMS器件,I3C器件的量产测试系统包括量产测试机和FPGA测试板卡,所述FPGA测试板卡包括:测试机接口,其连接于所述FPGA主控单元和所述量产测试机之间;FPGA主控单元,其用于通过所述测试机接口接收所述量产测试机发送的测试启动指令,并执行所述I3C器件的多个项目的测试,以得到每个项目的测试数据,通过所述测试机接口向所述量产测试机发送各个项目的所述测试数据;高速缓冲器,其与所述FPGA主控单元连接,其用于改善经过信号的失真;I3C器件载具,其与所述高速缓冲器连接,其用于放置待测的所述I3C器件。与现有技术相比,本发明能够兼容现有的慢通信时序的量产测试设备,对MEMS器件的高速I3C通信功能进行量产阶段的测试。
- i3c器件量产测试系统
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