专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果2248232个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [实用新型]芯片模块组合-CN200720044756.1有效
  • 刘家豪;廖芳竹;许硕修 - 富士康(昆山)电脑接插件有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
  • 2007-10-26 - 2008-09-10 - H01R33/76
  • 一种芯片模块组合,包括芯片模块与可将芯片模块连接至电路板的电连接器,电连接器包括容设有若干导电端子的绝缘本体,绝缘本体设有大致成平板状的底壁以及沿底壁垂直向上延伸的侧壁,侧壁进一步设有第一侧壁、与第一侧壁相对的第三侧壁、与第一侧壁相邻的第二侧壁及第四侧壁,第一侧壁与第三侧壁设有弹性臂,弹性臂设有抵接部,芯片模块设有靠近侧壁的边缘区,边缘区对应所述抵接部设有凹槽,所述凹槽内设有断差部,其中,芯片模块安装至绝缘本体后,抵接部抵靠于断差部上方从而将芯片模块限位于绝缘本体内
  • 芯片模块组合
  • [实用新型]芯片加载模块-CN202120230415.3有效
  • 许行尚;杰弗瑞·陈 - 南京岚煜生物科技有限公司
  • 2021-01-27 - 2021-11-19 - G01N35/04
  • 本实用新型公开了一种芯片加载模块,包括有芯片仓,所述芯片仓内叠装有多个芯片;还包括有芯片运载槽,所述芯片运载槽的运动方向前端位于所述芯片仓下方;所述芯片运载槽将芯片运载至芯片压力装置,对芯片的进样腔加压样本采样针装置吸取流入芯片采样池中的血浆/血清样本;芯片运载槽的运动方向前端位于所述芯片仓下方,即初始运载芯片时,位于芯片仓内的最下方的那个芯片进入芯片运载槽内,由芯片运载槽将芯片运载至芯片压力装置。
  • 芯片加载模块
  • [实用新型]功率芯片模块-CN202321017889.5有效
  • 高卫东;周晓斌 - 乐健科技(珠海)有限公司
  • 2023-04-29 - 2023-08-04 - H01L23/367
  • 本实用新型公开了一种功率芯片模块。实施例的功率芯片模块包括设置在两块电路基板之间的封装体和功率芯片,功率芯片封装在封装体内部;其中,电路基板包括绝缘基板、导电线路和设置在绝缘基板内的导热组件;导热组件包括绝缘导热部件和金属导热部件,导电线路包括设置在电路基板面对功率芯片一侧的第一导电线路和第二导电线路,第一导电线路设置在绝缘基板上,第二导电线路设置在绝缘导热部件上并与功率芯片连接,第二导电线路的厚度大于第一导电线路的厚度。实施例的功率芯片模块具有结构简单且散热性能佳的优点。
  • 功率芯片模块
  • [发明专利]RFID芯片模块-CN201280041390.6有效
  • 斯蒂芬·比勒 - 泰克斯蒂尔玛股份公司
  • 2012-08-07 - 2014-04-30 - G06K19/077
  • 芯片模块包括载体,该载体具有第一主表面和与所述第一主表面相对的第二主表面。第一凹进结构被布置在所述载体的所述第一主表面中,并且芯片被布置在所述载体的所述第一凹进结构中。所述芯片被电连接到所述第一金属化结构和所述第二金属化结构。所述芯片模块特别包括RFID芯片,并且适于通过激光回流焊接连接到织物基底。
  • rfid芯片模块
  • [发明专利]芯片温度测试系统-CN202011424530.0在审
  • 程鹏;杨晓君;孙浩天;孙瑛琪;杨帆 - 海光信息技术股份有限公司
  • 2020-12-08 - 2021-03-05 - G01R31/28
  • 本发明提供一种芯片温度测试系统,其包括:机架、测试舱、芯片温度调控模块芯片温度监测模块和控制模块;所述测试舱用于提供测试芯片的空间;所述芯片温度调控模块用于调节所述芯片的温度;所述芯片温度监测模块用于监测所述芯片的温度;所述控制模块用于根据所述芯片温度监测模块监测到的温度对所述芯片温度调控模块进行控制;所述测试舱与所述机架固定连接,所述芯片温度调控模块和所述芯片温度监测模块均位于所述测试舱内,所述芯片温度调控模块和所述芯片温度监测模块均与所述控制模块通信连接本发明能够精准的对芯片进行温度考核。
  • 芯片温度测试系统
  • [实用新型]芯片温度测试系统-CN202022920263.8有效
  • 程鹏;杨晓君;孙浩天;孙瑛琪;杨帆 - 海光信息技术股份有限公司
  • 2020-12-08 - 2021-08-20 - G01R31/28
  • 本实用新型提供一种芯片温度测试系统,其包括:机架、测试舱、芯片温度调控模块芯片温度监测模块和控制模块;所述测试舱用于提供测试芯片的空间;所述芯片温度调控模块用于调节所述芯片的温度;所述芯片温度监测模块用于监测所述芯片的温度;所述控制模块用于根据所述芯片温度监测模块监测到的温度对所述芯片温度调控模块进行控制;所述测试舱与所述机架固定连接,所述芯片温度调控模块和所述芯片温度监测模块均位于所述测试舱内,所述芯片温度调控模块和所述芯片温度监测模块均与所述控制模块通信连接本实用新型能够精准的对芯片进行温度考核。
  • 芯片温度测试系统

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top