专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于动态地定位组件上所观察到的故障的系统和方法-CN201280057649.6有效
  • 乔纳森·勒布朗 - 斯奈克玛
  • 2012-11-21 - 2016-10-26 - G01N29/44
  • 本发明涉及一种用于动态地定位与锻造操作有关的缺陷组件(1t)上所观察到的故障(33)的方法和系统,包括:‑处理装置(15),所述处理装置用于使用所述组件(1)的一套连续模型(21a‑21f)来模型化通过锻造形成组件(1)的操作,‑处理装置(15),所述处理装置在对应于所述缺陷组件(1t)上的故障被定位的区域的区中,用于将故障跟踪器(43)添加到所述一套模型的第一模型,以便形成第一跟踪模型(21t),以及,‑处理装置(15),所述处理装置用于从所述第一跟踪模型(21t)向前地所述模型化期间随着时间的过去监视所述故障跟踪器(43),以定位所述故障(33)的起源。
  • 用于动态定位组件观察到故障系统方法
  • [发明专利]一种多分支软件缺陷跟踪方法及系统-CN201310606529.3有效
  • 刘学明;舒弋 - 迈普通信技术股份有限公司
  • 2013-11-26 - 2017-01-04 - G06F11/36
  • 本发明公开了一种多分支软件缺陷跟踪方法及系统,该方法主要包括:对需要检测的软件代码进行测试,若发现BUG,则在缺陷管理系统中提交原始BUG单,并记录发现此BUG的软件分支信息;确认此BUG是否在其他软件分支存在,并将存在此BUG的软件分支记录到原始BUG单中,根据记录的软件分支信息,复制新的BUG单,关闭原始BUG单;根据新的BUG单,对其他软件分支存在的BUG进行单独跟踪处理。该方法及系统解决了多个软件分支共有的BUG在多个软件分支跟踪处理的问题,避免BUG处理出现遗漏。
  • 一种分支软件缺陷跟踪方法系统
  • [发明专利]接触透镜缺陷分析跟踪系统-CN202111200256.3在审
  • 雅各布·宾·穆罕默德;陈美全 - 亿美视觉私人有限公司
  • 2021-10-14 - 2022-05-03 - G06T7/00
  • 一种用于检查接触透镜中的缺陷的手动检查系统和方法,包括:具有至少两个高分辨率摄像装置的图像获取系统;用于获取亮场图像的顶部照明光头;用于获取暗场图像的背光式照明模块;用于获取不同类型的亮场图像的至少其他背光式照明模块用于改变适用于特定产品的测量器具的可互换机构;嵌入有多个光学滤波器以满足不同成像要求的旋转轮;第一摄像装置;第二摄像装置;玻璃模板或测量器具;柔性模板测量器具,作为可选叠加;用于定位接触透镜的XYZ台;在计算机上创建将几何信息和详细缺陷信息以及它们各自的位置信息制成表格的数据库
  • 接触透镜缺陷分析跟踪系统
  • [发明专利]一种太阳能电梯的寻日跟踪方法及装置-CN201310176522.2无效
  • 钱江明;沈鼎康;施双艳 - 恒达富士电梯有限公司
  • 2013-05-10 - 2013-09-04 - G05D3/12
  • 本发明公开了一种太阳能电梯的寻日跟踪方法及装置。在太阳的高度角低于恰好使太阳能电梯的光伏阵列产生阴影的角度时,让太阳能电梯的光伏阵列保持在相互之间刚好没有阴影遮挡的状态;在太阳的高度角不低于恰好使太阳能电梯的光伏阵列产生阴影的角度时,让太阳能电梯的光伏支架系统朝着太阳的位置并进行跟踪本发明克服了现有的太阳能电梯的光伏支架系统无法确保光伏阵列相互之间无阴影遮挡的缺陷、现有的太阳能电梯不能通过调整光伏阵列的角度来降低所承受的风力的缺陷和现有的电梯的寻日跟踪装置不能与外界进行信息交换的缺陷
  • 一种太阳能电梯跟踪方法装置
  • [发明专利]网络跟踪先前层级减除的装置及方法-CN201711474453.8有效
  • O·D·帕特森;P·林;高维鸿 - 格芯(美国)集成电路科技有限公司
  • 2017-12-29 - 2021-11-12 - H01L21/66
  • 本发明涉及网络跟踪先前层级减除的装置及方法,揭示一种执行芯片中的集成电路结构的连通性测试的方法。该连通性测试执行于该芯片的第一层级。在该芯片中识别潜在缺陷位置,其表示因过孔开路或过孔短路而容易系统性失效的过孔位置。将该潜在缺陷位置转换至该芯片的第二层级的过孔位置。该第二层级位于该第一层级下方。在转换热点以后,检查该第二层级有无缺陷。检查该第一层级上的该过孔位置有无缺陷。将该第二层级的所有缺陷转换至该第一层级的该过孔位置。利用该第二层级的该转换缺陷及该第一层级的该缺陷的先前层级减除形成缺陷的网络跟踪
  • 网络跟踪先前层级减除装置方法

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