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[发明专利]缺陷检测装置、缺陷修复装置、缺陷检测方法-CN201110072153.3无效
发明人：山本修平;中西秀信;植木章太 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2011-03-16 - 公布日： 2011-12-14 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开一种缺陷检测装置、缺陷修复装置、缺陷检测方法。本发明提供即使在缺陷包含多种颜色的图像元素的情况下、也能根据所包含的颜色的比例以适当基准进行判断的缺陷检测装置。该缺陷检测装置包括：拍摄显示面板并获取作为图像数据的拍摄部；从图像数据提取缺陷部位候选的缺陷部位检测部；确定关于缺陷部位候选的对象物的图像元素的颜色的颜色确定部；及对对比度值乘以根据颜色不同而不同的修正系数以计算出缺陷度、并在缺陷度大于判定值的情况下判定为缺陷的好坏判定部，好坏判定部在一个缺陷部位候选包含多种颜色的图像元素的情况下，对每一颜色的对比度值乘以根据颜色不同而不同的修正系数之后进行总计以计算出缺陷度。
缺陷检测装置修复方法

[发明专利]缺陷检测装置、缺陷检测方法-CN201380029536.X有效
发明人：永田泰昭;佐藤雄伍 -专利权人：新日铁住金株式会社
申请日： 2013-06-06 - 公布日： 2017-06-23 - 主分类号： G01N29/04 文献下载
摘要：缺陷检测装置(100)包括相位阵列探头(120)，其设置于电阻焊接钢管(200)的外表面(200G)的外侧，排列有多个超声波振子(121)；发送部(144)，其从由排列于相位阵列探头(120)的多个超声波振子中的一部分的多个超声波振子构成的探伤用超声波振子组与电阻焊接钢管(200)的外表面(200G)呈斜角向电阻焊接钢管(200)的外表面(200G)输出探伤用超声波束(131)；接收部(145)，其借助探伤用超声波振子组接收反射后的探伤用超声波束(131)；以及缺陷判断部(147)，其基于接收部(145)所接收的探伤用超声波束(131)判断焊接部(210)是否存在缺陷。
缺陷检测装置方法程序以及存储介质

[发明专利]缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法-CN201910317402.7有效
发明人：梅红伟;涂彦昕;胡伟;刘健犇;刘立帅;王黎明 -专利权人：清华大学深圳研究生院;中国电力科学研究院有限公司
申请日： 2019-04-19 - 公布日： 2022-02-25 - 主分类号： G01N25/72 文献下载
摘要：一种缺陷检测装置，用于检测复合绝缘子金具压接处的缺陷，所述缺陷检测装置包括一固定装置、一电磁激励源、一红外热像采集仪、一电磁屏蔽罩及一放置台，所述固定装置具有一空腔，所述电磁激励源及红外热像采集仪固定在所述空腔内，所述放置台置于所述空腔内，所述固定装置的外部设置所述电磁屏蔽罩，所述电磁激励源用于发射电磁激励信号于所述复合绝缘子金具压接处，所述红外热像采集仪用于采集所述金具压接处的红外热图信息。本发明还提供一种复合绝缘子金具压接处的缺陷检测系统及缺陷检测方法。
缺陷检测装置系统方法

[发明专利]缺陷检测装置、缺陷修正装置及缺陷检测方法-CN201310377121.3在审
发明人：大庭博明 -专利权人： NTN株式会社
申请日： 2013-08-26 - 公布日： 2014-03-12 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：发明的缺陷检测装置包括：摄像头，该摄像头拍摄基板并输出电信号；以及图像处理装置，该图像处理装置中输入有由摄像头输出的电信号。图像处理装置使用从电信号中得到的多个信号各自的图像对比度中较大的对比度，来检测基板的缺陷部。由于使用多个信号各自的图像对比度中较大的对比度来检测缺陷部，因此即使对于在被区分为各信号之前的图像中与正常部之间的对比度较小的缺陷部，也能够检测出缺陷部，而不会使灵敏度显著降低。
缺陷检测装置修正方法

[发明专利]缺陷检测方法及缺陷检测装置-CN201410156468.X在审
发明人：高志豪;邓亦书 -专利权人：由田新技股份有限公司
申请日： 2014-04-18 - 公布日： 2015-09-16 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：一种缺陷检测方法及其装置，用以取得一待测物的影像以对其进行缺陷检测，该方法提供一灯源，使交替发出一第一种光及一第二种光，并在该灯源发出该第一种光时，以一控制器控制一取像单元，使在该第一种光的亮度维持在一第一预设亮度的至少一半以上的一第一时间区间
缺陷检测方法装置

[发明专利]缺陷检测装置和缺陷检测方法-CN201710108958.6在审
发明人：濑户基司;村上浩明 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2012-08-29 - 公布日： 2017-08-18 - 主分类号： G01R31/04 文献下载
摘要：提供缺陷检测装置和缺陷检测方法。一实施方式的缺陷检测装置具备测定部，测定向被检查装置输入信号之后到接收由被检查装置的缺陷部位反射的反射信号为止的第1时间；存储部，存储表示与多个部件或多个部分分别相应的传导特性的多个模型数据；控制部，对于被检查装置内的检查对象的范围时间代入与第2部分对应的模型数据来运算第2部分中的第1预测传导距离，该第2时间是从第1时间减去与向第1部分输入信号之后反射而接收所花费的时间相当的时间而得到的时间；以及显示部，其基于运算结果在图像数据显示缺陷部位的位置
缺陷检测装置方法

[发明专利]缺陷检测装置及缺陷检测方法-CN201911283887.9在审
发明人：久利龙平 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2019-12-13 - 公布日： 2020-06-23 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本申请提供缺陷检测装置及缺陷检测方法，能够检测比像素更小的缺陷的位置以及缺陷的大小。缺陷检测装置具备对测定对象照射照明光的照明部、对由所述测定对象反射后的所述照明光进行拍摄的拍摄部、以及基于由所述拍摄部拍摄所述照明光而得到的拍摄图像对所述测定对象的表面的缺陷进行检测的检测部，所述拍摄图像包括分光波长分别不同的多个分光图像，所述检测部基于多个所述分光图像对所述照明光被扩散反射的扩散反射区域进行检测，并基于检测到所述扩散反射区域的所述分光图像的分光波长来判定缺陷尺寸。
缺陷检测装置方法

[发明专利]缺陷检测装置和缺陷检测系统-CN202110672218.1在审
发明人：王千陇;郝勖加;周凌波;徐海新;庄莉 -专利权人：摩比天线技术（深圳）有限公司;摩比科技（深圳）有限公司;摩比通讯技术（吉安）有限公司;摩比科技（西安）有限公司;深圳市晟煜智慧网络科技有限公司;西安摩比天线技术工程有限公司
申请日： 2021-06-17 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明涉及移动通信天线技术领域，公开了一种缺陷检测装置和缺陷检测系统，用于检测天线是否存在缺陷，缺陷检测装置包括：机台；检测机构，包括设于机台上的移动组件、用于安装天线的定位件以及用于采集测试图像的相机，移动组件用于驱动定位件和相机中的至少一者移动；电气控制机构，设于机台上且电连接于移动组件；控制装置与检测机构和电气控制机构电连接，控制装置用于导入天线的特征图像，特征图像包括天线的目标缺陷信息；控制装置还可用于获取相机采集的测试图像，并将测试图像与特征图像进行对比，以检测天线是否有缺陷。上述缺陷检测装置及系统提升了天线测试速度及天线检测过程的一致性，进而提升了天线检测结果的准确度和检测效率。
缺陷检测装置系统

[发明专利]缺陷检测装置及缺陷检测方法-CN202110739531.2在审
发明人：林彬;于大维;张凯 -专利权人：上海微电子装备（集团）股份有限公司
申请日： 2021-06-30 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种缺陷检测装置和缺陷检测方法。所述缺陷检测装置中，照明光学系统形成照射到基片上的激光光束且该激光光束被反射，当激光光束照射到残留物时，在残留物的上表面和下表面分别进行反射而形成相干光；成像系统对从基片反射的光进行成像，形成检测图像，其中，相干光成像后对应于检测图像中的干涉条纹，通过干涉条纹获得残留物的信息。利用上述装置可以降低残留物的检测难度，提高缺陷的检出率。所述缺陷检测方法中，形成照射到基片上的激光光束且激光光束被反射，对从基片反射的光进行成像形成检测图像，其中，通过检测图像中的干涉条纹获得残留物的信息。
缺陷检测装置方法

[发明专利]缺陷检测方法及缺陷检测装置-CN202111659790.0在审
发明人：曹徐均;于海涛;张利军;林保银 -专利权人：上海仪电显示材料有限公司;昆山仪电显示材料有限公司
申请日： 2021-12-30 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种缺陷检测方法及缺陷检测装置，其中检测方法包括获取待检测基板的初始位置信息，所述待检测基板包括显示区域、包围所述显示区域的非显示区域以及边缘区域，所述非显示区域位于所述边缘区域与所述显示区域之间；对比所述初始位置信息与预设位置信息，当所述初始位置信息与所述预设位置信息之间的偏差小于阈值时，确认所述待检测基板的位置信息；采用光源对所述待检测基板发出检测光束；对所述非显示区域进行扫描，获取缺陷信息；实现对滤光片非显示区域缺陷独立的检测，提高了非显示区域缺陷检测效率并且大大地降低了缺陷误检率，具有较广泛的应用范围。
缺陷检测方法装置

[发明专利]缺陷检测装置及缺陷检测方法-CN202211481788.3在审
发明人：畠堀贵秀;田窪健二;永岛知贵 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2022-11-24 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种可设定适合于缺陷检测的频率的缺陷检测装置及缺陷检测方法。缺陷检测装置包括：输入受理部，受理用户输入的假定为被检查物体中产生的缺陷的种类及大小的信息；激振部，对所述被检查物体激发弹性波，且所述弹性波的频率可变；测量部，利用光学部件测量由所述弹性波产生的所述被检查物体的表面的振动状态根据由所述测量部获取的振动状态，求出所述被检查物体受到激发而产生的弹性波的波长；以及频率选择部，基于通过使所述激振部激发出的弹性波的频率变化而所述波长决定部针对多个频率各者获取的波长、以及由所述输入受理部受理的缺陷的种类及大小
缺陷检测装置方法

[发明专利]缺陷检测装置及缺陷检测方法-CN202211257100.3在审
发明人：北邨益飞 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2022-10-14 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种缺陷检测装置及缺陷检测方法，无需用户针对每一频率进行设定操作的时间精力便可执行测定。缺陷检测装置(1)包括：激振部(11、12)，通过依次对被检查物体(S)赋予具有相互不同的频率的多种振动而对所述被检查物体(S)激发弹性波；照明部(13、14)，对所述被检查物体的表面的测定区域进行频闪照明
缺陷检测装置方法

[发明专利]缺陷检测装置及缺陷检测方法-CN202211544130.2在审
发明人：永岛知贵;畠堀贵秀;田窪健二 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2022-12-02 - 公布日： 2023-09-26 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种缺陷检测装置及缺陷检测方法。缺陷检测装置(10)包括：激振部(11)，对被检查物体(S)赋予振动数可变的振动；振动状态测定部(散斑剪切干涉仪(15)、位移算出部(163)，利用光学部件对赋予了所述振动的被检查物体(S)的表面的振动状态进行测定
缺陷检测装置方法

[发明专利]缺陷检测方法以及缺陷检测装置-CN200810173355.5有效
发明人：冈山敏之 -专利权人：大日本网屏制造株式会社
申请日： 2008-11-13 - 公布日： 2009-06-24 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：提供一种缺陷检测方法以及缺陷检测装置。在缺陷检测装置中，通过摄像部取得基板的被检查图像，通过采用边缘提取滤波器使被检查图像提取二值化来提取边缘。
缺陷检测方法以及装置

[发明专利]缺陷检测方法以及缺陷检测装置-CN201810601368.1有效
发明人：畠堀贵秀;长田侑也;田窪健二 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-06-12 - 公布日： 2021-02-26 - 主分类号： G01N29/04 文献下载
摘要：本发明提供能够容易地测量缺陷的深度的缺陷检测方法，其包括：位移统括测定工序，一边在被检查物体的整个检查区域内激发第1弹性波，一边对该检查区域内的该被检查物体的整个表面进行频闪照明，并控制弹性波的相位和频闪照明的时刻，由此，在该弹性波的互不相同的至少3个相位下统括测定检查区域的各点的前后方向的位移；缺陷位置确定工序，根据该至少3个相位下的检查区域的各点的前后方向的位移来确定缺陷在该检查区域的表面上的位置即表面位置；和深度方向信息获取工序，从抵接在包含用缺陷位置确定工序确定的表面位置的所述表面的限定区域内的探头朝表面位置的内部投射第2弹性波，根据其响应波来求该缺陷的深度方向的位置及/或大小。
缺陷检测方法以及装置

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