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专利名称
农业 化学；冶金 建筑 机械工程 区域搜索
主分类
A 农业
B 作业；运输
C 化学；冶金
D 纺织；造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]缺陷检测方法及缺陷检测装置-CN201410156468.X在审
  • 高志豪;邓亦书 - 由田新技股份有限公司
  • 2014-04-18 - 2015-09-16 - G01N21/88
  • 一种缺陷检测方法及其装置，用以取得一待测物的影像以对其进行缺陷检测，该方法提供一灯源，使交替发出一第一种光及一第二种光，并在该灯源发出该第一种光时，以一控制器控制一取像单元，使在该第一种光的亮度维持在一第一预设亮度的至少一半以上的一第一时间区间，取得该待测物的一第一影像，以及在该灯源发出该第二种光时，以该控制器控制该取像单元，使在该第二种光的亮度维持在一第二预设亮度的至少一半以上的一第二时间区间，取得该待测物的一第二影像。
  • 缺陷检测方法装置
  • [实用新型]光学取像系统及光学检测系统-CN201420105222.5有效
  • 高志豪;江庆原;邓亦书 - 由田新技股份有限公司
  • 2014-03-10 - 2014-08-06 - G02B26/10
  • 一种光学取像系统及光学检测系统，该光学取像系统用于对一待测物取像，包含一具有一入光端及一出光端的微分干涉装置，该待测物之光线由该入光端进入该微分干涉装置，经微分干涉后由该出光端发出；该光学取像系统还包含一线扫描取像装置，连接于该微分干涉装置的该出光端，撷取该出光端发出的光线而产生一线扫描影像。该光学检测系统包含该光学取像系统及一检测模块。通过该线扫描取像装置搭配该微分干涉装置，使所述感光元件排列的方向是平行该微分干涉装置能清楚成像的区域的延伸方向，而使取像全程被线型感光单元取像的视野均保持清楚的成像。
  • 光学系统检测
  •  1 
  • 共 3 条
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