专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]缺陷检测装置及缺陷检测方法-CN202211544130.2在审
  • 永岛知贵;畠堀贵秀;田窪健二 - 株式会社岛津制作所
  • 2022-12-02 - 2023-09-26 - G01N21/88
  • 本发明提供一种缺陷检测装置及缺陷检测方法。缺陷检测装置(10)包括:激振部(11),对被检查物体(S)赋予振动数可变的振动;振动状态测定部(散斑剪切干涉仪(15)、位移算出部(163),利用光学部件对赋予了所述振动的被检查物体(S)的表面的振动状态进行测定,并基于所述测定的结果针对所述表面的每个位置求出表示所述振动状态的数值;判定指标值决定部(164),基于表示所述每个位置的振动状态的数值,通过傅立叶变换求出表示每个波数的振动的强度的数值即判定指标值;以及波数/波长决定部(165),基于所述每个波数的判定指标值,决定通过所述振动的赋予而所述被检查物体受到激发而产生的弹性波所具有的波数或波长。
  • 缺陷检测装置方法
  • [发明专利]缺陷检测装置及缺陷检测方法-CN202211481788.3在审
  • 畠堀贵秀;田窪健二;永岛知贵 - 株式会社岛津制作所
  • 2022-11-24 - 2023-07-28 - G01N21/88
  • 本发明提供一种可设定适合于缺陷检测的频率的缺陷检测装置及缺陷检测方法。缺陷检测装置包括:输入受理部,受理用户输入的假定为被检查物体中产生的缺陷的种类及大小的信息;激振部,对所述被检查物体激发弹性波,且所述弹性波的频率可变;测量部,利用光学部件测量由所述弹性波产生的所述被检查物体的表面的振动状态;波长决定部,根据由所述测量部获取的振动状态,求出所述被检查物体受到激发而产生的弹性波的波长;以及频率选择部,基于通过使所述激振部激发出的弹性波的频率变化而所述波长决定部针对多个频率各者获取的波长、以及由所述输入受理部受理的缺陷的种类及大小,从所述多个频率中选择适当的频率。
  • 缺陷检测装置方法
  • [发明专利]波形重构装置、波形重构系统以及波形重构方法-CN201380010306.9有效
  • 小西毅;高桥考二;永岛知贵 - 国立大学法人大阪大学
  • 2013-02-06 - 2017-02-22 - G01J11/00
  • 波形重构装置(140)具备相位频谱算出部(143),(a)按输入光信号的每个强度,设想为输入光信号具有给定的相位频谱,来进行输入光信号在光传输媒体内的传播模拟,从而算出输出光信号的计算功率谱,(b)以使计算功率谱和测量功率谱的按输入光信号的每个强度的差异变小的方式,使给定的相位频谱变化,进行传播模拟,从而探索输入光信号的相位频谱;波形重构部(144),利用探索出的相位频谱来对输入光信号的时间波形进行重构,相位频谱算出部(143)只根据非线性光学效果以及色散效果中的一方,来使给定的相位频谱变化,或者进行传播模拟。
  • 波形装置系统以及方法

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