专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]存储器芯片的测试电路及测试方法-CN202210238041.9在审
  • 陆天辰 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2022-03-11 - 2023-09-19 - G11C29/40
  • 本申请公开了一种存储器芯片的测试电路和测试方法,其中,存储器芯片的测试电路包括:数据读取装置,读取被测试存储器所有存储库中存储的字线数据;第一比较模块用于接收一个被测试字线存储的字线数据,将被测试字线存储的字线数据中的每个位数据进行比较测试,并输出第一测试结果;第二比较模块用于接收一个存储库中所有被测试字线的第一测试结果,并将第一测试结果压缩为第二测试结果;第三比较模块用于接收每个存储库的第二测试结果,并将所有第二测试结果压缩为N位的最终测试结果;寄存器装置,用于读取并保存最终测试结果
  • 存储器芯片测试电路方法
  • [发明专利]flash的冗余替换方法、装置、寄存器和存储芯片-CN202310888219.9在审
  • 林朝明;朱雨萌;冯嘉;黄凯怡;康治伟 - 芯天下技术股份有限公司
  • 2023-07-19 - 2023-08-18 - G11C29/24
  • 本发明涉及存储芯片技术领域,具体公开了一种flash的冗余替换方法、装置、寄存器和存储芯片,其中,方法包括步骤:依地址顺序同时选中存储区的存储单元和冗余区的冗余单元进行检测,并分别生成存储单元检测结果和冗余单元检测结果;在存储单元检测结果为坏,以及冗余单元检测结果为坏或冗余单元检测结果对应的冗余单元已用于替换时,获取冗余单元检测结果为好且未用于替换的冗余单元来替换该存储单元检测结果为坏的存储单元;该方法利用冗余单元检测结果为好且未用于替换的冗余单元来进行替换处理,使得替换后的存储单元为好存储单元,省去了flash的冗余替换处理中的二次检测过程,并提高了良品率,且能充分利用冗余区的冗余单元。
  • flash冗余替换方法装置寄存器存储芯片
  • [发明专利]一种基于BIM的协同化快速出图管理系统-CN202310004303.X有效
  • 吴玲玲;陈琳娜;孙国奇;林财进;丁鲁婧 - 浙江城建规划设计院有限公司
  • 2023-01-03 - 2023-09-01 - G06T1/00
  • 本发明公开了一种基于BIM的协同化快速出图管理平台,涉及快速出图管理技术领域,包括处理器,用于结合表向单元和存储单元完成对标的对象和结果对象的存储操作,存储操作具体方式为获取到结果对象,将其存储存储单元的常规区域,常规区域由管理员预先设定;存储在常规区域的结果对象在经过X3时间后会自动删除,X3为预设数值;通过结果对象的相关属性或者通过人为设定的方式,得到标定对象和结果对象,之后将标定对象和结果对象传输到处理器;在利用处理器结合表向单元和存储单元完成对标的对象和结果对象的存储操作,将标的对象和结果对象按照两种不同的方式存储操作,兼顾存储空间的同时,还能起到加密保护作用;本发明简单有效。
  • 一种基于bim协同快速管理系统
  • [发明专利]存储装置的测试方法-CN200710154050.5有效
  • 罗梓桂;陈志丰 - 英业达股份有限公司
  • 2007-09-13 - 2009-03-18 - G11C29/00
  • 一种存储装置的测试方法,预存数个存储装置类型及相对的存储装置效能期望值,接着接收输入待测存储装置类型及测试次数,并对该存储装置执行符合该测试次数的效能测试,然后根据所有的效能测试结果进行运算而得出效能测试结果的平均值,进而依据该待测存储装置类型自该数据库获取对应的存储装置效能期望值与该平均值进行比较,且输出比较结果,最后并个别存储所有的效能测试结果及比较结果
  • 存储装置测试方法
  • [发明专利]一种基于微实数的异步排序方法及装置-CN201810171314.6有效
  • 毕伟 - 中思博安科技(北京)有限公司
  • 2018-03-01 - 2021-04-30 - G06F16/901
  • 本申请公开了一种基于微实数的异步排序方法及装置,区块链中每个节点对连续进入系统的待存储数据中每个待存储数据的顺序进行独立共识,使用预设收敛函数保证每个节点在排序共识的投票过程中达到一致。对于不同待存储数据的共识产生不同的结果,当得到批量多个待存储数据的投票结果时,根据当前批次每个待存储数据的投票结果对当前批次每个待存储数据进行排序,得到当前批次待存储数据的排序结果;当区块链中所有节点对当前批次待存储数据的排序结果达成共识后,根据当前批次待存储数据的排序结果对当前批次待存储数据进行存储,进而在多轮并发的共识过程中,同步对各轮同步进行排序,实现了高并发的异步系统中对待存储数据进行存储
  • 一种基于实数异步排序方法装置
  • [发明专利]查表方法及装置、存储介质以及电子设备-CN202011586010.X在审
  • 赵茂聪;赵国梁;何志川 - 盛科网络(苏州)有限公司
  • 2020-12-28 - 2021-04-09 - G06F16/903
  • 本发明提供了一种查表方法及装置、存储介质以及电子设备,上述方法包括:根据接收到的报文,在交换芯片的多个存储器中进行查表,得到多个查表结果,其中,所述多个存储器中预先存储有相同的数据表,所述多个查表结果中的每个查表结果为所述多个存储器中的一个存储器根据所述报文进行查表得到的查表结果,所述每个查表结果用于指示对所述报文的处理方式;从所述多个查表结果中筛选出一个查表结果,并根据筛选出的所述一个查表结果对所述报文进行处理。通过本发明,解决了相关技术中由于存储器中的数据发生变化从而导致交换芯片无法正常工作的问题。
  • 方法装置存储介质以及电子设备
  • [发明专利]一种基于大数据的存储方法及其系统-CN202210972077.X有效
  • 王晓瑜 - 北京宏数科技有限公司
  • 2022-08-15 - 2022-11-18 - G06F16/906
  • 本申请公开了一种基于大数据的存储方法及其系统,其中,基于大数据的存储系统,包括:存储客户端和大数据存储系统;其中,存储客户端:用于发送登录请求;发送待存储数据;大数据存储系统:用于执行如下步骤:接收登录请求,根据登录请求进行验证,获得类别结果;获取待存储数据,根据类别结果对待存储数据进行分析,获得分析结果;根据分析结果选择存储模式,根据存储模式对待存储数据进行存储,并共享,其中,存储模式包括:更新和新建。本申请能自动对待存储数据进行分析,提高存储的准确性,并有利于节省存储空间。
  • 一种基于数据存储方法及其系统
  • [发明专利]一种数据存储方法及装置-CN200910202972.8有效
  • 孙文福;李永盛;张媛媛 - 炬力集成电路设计有限公司
  • 2009-05-22 - 2009-10-14 - G06F12/06
  • 本发明公开了一种数据存储方法和装置,该方法包括:获得当前待写入数据块的前一数据块的起始存储地址;将所述起始存储地址减去所述当前待写入数据块的大小,得到中间结果;若所述中间结果小于0,则将所述中间结果映射到所述存储器的有效地址内,以该映射的结果作为所述当前待写入数据块的起始存储地址;若所述中间结果大于或等于0,则直接以该中间结果作为所述当前待写入数据块的起始存储地址;从所述当前待写入数据块的起始存储地址对应的存储单元开始写入所述当前待写入数据块利用本发明实施例提供的方法,可以减少对存储器的读写次数,从而降低向存储器中写数据时的功耗。
  • 一种数据存储方法装置
  • [发明专利]存储设备自动测试方法、装置、存储设备及存储介质-CN202211055455.4在审
  • 谭四方 - 深圳市德明利技术股份有限公司
  • 2022-08-31 - 2022-11-22 - G06F11/22
  • 本发明实施例公开了一种存储设备自动测试方法、装置、存储设备及存储介质,该方法包括:当接通电源时,通过所述存储设备的MCU运行预先存入的测试程序,并检测在测试结果数据区域中是否有测试结果数据;若没有所述测试结果数据,则自动进行测试,并在测试结束后,生成测试结果数据并存入所述测试结果数据区域;根据所述测试结果数据生成地址表,并将所述地址表存入所述存储设备中,所述地址表用于记录所述存储设备中的坏块地址。使得在对存储设备进行测试时,无需上位机运行测试程序,只需要存储设备自己存储测试代码,并进行对自身的测试,不需要依赖上位机,增加了测试效率。
  • 存储设备自动测试方法装置介质
  • [发明专利]内容可寻址存储-CN200910146007.3有效
  • 江明澄 - 瑞昱半导体股份有限公司
  • 2009-06-05 - 2010-12-08 - G11C15/04
  • 一种内容可寻址存储器,包含两个存储单元。其中一个存储单元包括:数据存储单位,存储第一数据位;比较电路,比较第一搜索位与第一数据位是否匹配,以输出第一比较结果;及静态互补式金属氧化物半导体逻辑电路,对第一比较结果进行逻辑运算,以输出第一匹配结果其中另一存储单元包括:数据存储单位,存储第二数据位;比较电路,比较第二搜索位与第二数据位是否匹配,以输出第二比较结果;及静态互补式金属氧化物半导体逻辑电路,对第一匹配结果及第二比较结果进行逻辑运算,以输出输出匹配结果
  • 内容寻址存储器

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