专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种离子产生的方法与装置-CN201610154978.2有效
  • 邓贞宙;谢庆国 - 南京瑞派宁信息科技有限公司
  • 2016-03-18 - 2018-05-01 - H01J27/24
  • 一种离子产生的方法,其包括步骤用一飞秒激光射击在一个转动的薄金属靶边缘;薄金属靶通过不断的转动在没有受光的位置浸润待电离物;薄金属靶受飞秒激光照射的背面产生一个强电场;强电场将电离产生的各种离子射出;通过飞秒激光的时间信息门控离子。一种离子产生的装置,其包括飞秒激光器模块、几何光学模块、时间测量模块、薄金属靶模块、离子甄选模块。通过采用本发明的离子产生的方法与装置,能有效减少高能离子产生装置的占地面积和功耗,大幅减少离子的成本,避免由于离子昂贵而无法装备在低价的医疗系统中,特别适合于离子治疗、材料改性和分析等应用场合。
  • 一种离子束产生方法装置
  • [发明专利]离子注入装置-CN201210067360.4有效
  • 内藤胜男;土肥正二郎 - 日新离子机器株式会社
  • 2012-03-14 - 2012-11-28 - H01J37/317
  • 本发明提供离子注入装置,其包括质量分离磁铁,即使在伴随基板尺寸的大型化,带状离子的长度方向的尺寸增大的情况下,与以往的技术相比,该质量分离磁铁的耗电量小、磁极间的磁场分布均匀且尺寸小。离子注入装置包括:离子源,生成带状离子;质量分离磁铁,具有一对磁极,该一对磁极隔着离子的主平面相对设置,通过在磁极之间产生的磁场,使离子的行进方向在离子的长度方向上偏转;分析狭缝,使包含所希望的离子种类的离子通过;处理室,配置有基板,通过分析狭缝后的离子照射到该基板上。在磁极之间产生的磁场的方向倾斜地横穿通过质量分离磁铁内部的离子的主平面。
  • 离子注入装置
  • [发明专利]一种基于荧光三维影像的离子聚焦装置-CN202110911268.0在审
  • 孙宗丽;伦俊杰;孟凡瑞 - 昌乐县人民医院
  • 2021-05-11 - 2021-11-12 - H01J29/66
  • 本发明涉及一种基于荧光三维影像的离子聚焦装置,离子聚焦装置与控制单元连接,离子聚焦装置设置在离子的发射路径上并将通过深度调节板的扩散的离子聚焦在靶区,离子聚焦装置包括离子聚焦组件,离子聚焦组件包括第一透镜和第二透镜,第一透镜和第二透镜分别通过电磁控制的机械架独立进行角度参数和位置参数的控制;第一透镜设置在深度调节板的离子输出路径上,由深度调节板降低能量并扩散的离子通过第一透镜的折射形成平行的离子,控制单元控制第二透镜将平行的离子聚焦在靶区的目标点本发明调整离子的路径并使得离子聚焦,根据肿瘤位置的位移直接进行离子的聚焦点的适应性调整,照射的精确度更高,对健康组织的损害更小。
  • 一种基于荧光三维影像离子聚焦装置
  • [发明专利]离子注入方法及离子注入机-CN201110386245.9有效
  • 沈政辉 - 汉辰科技股份有限公司
  • 2011-11-17 - 2012-05-30 - H01J37/317
  • 本发明提供了一应用离子截面特征分析仪的一离子注入方法及一离子注入机。该方法包含设定扫描条件、侦测离子截面特征、依据侦测得到的离子截面特征计算出离子注入剂分布以及扫描条件、测定位移距离用以进行离子注入,以及将离子簇注入在晶圆表面。该离子注入机运用了离子截面特征分析仪来侦测离子截面特征、计算离子注入剂分布以及测定位移距离,以及将位移距离应用在离子注入上使注入达到最佳化,其中该离子截面特征分析仪包含了具有离子通道的主体,以及侦测单元配置在离子流道后方的侦测单元,用以侦测离子截面特征。该离子截面特征分析仪可以是一维、二维或者斜角离子截面特征分析仪。
  • 离子注入方法
  • [发明专利]一种全息-离子刻蚀制备光栅的方法-CN200810023121.2有效
  • 刘全;吴建宏;杨卫鹏 - 苏州大学
  • 2008-07-14 - 2008-12-10 - G03F7/00
  • 本发明公开了一种全息-离子刻蚀制备光栅的方法,首先进行全息光刻,获得光刻胶光栅掩模,然后进行离子刻蚀,最后去除残余的光刻胶,获得所需的光栅,其特征在于:所述离子刻蚀为,先用氩离子进行刻蚀1至3分钟,再用三氟甲烷反应离子刻蚀至所需槽形深度。本发明在离子刻蚀中,采用了两步法,首先进行氩离子刻蚀,对光刻胶光栅掩模进行形貌修正,再采用三氟甲烷进行刻蚀,从而可以获得较小占宽比的光栅;通过对氩离子刻蚀的时间控制,实现对光栅占宽比的控制,方法简便
  • 一种全息离子束刻蚀制备光栅方法

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