专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种自适应抵消无线收发系统中无互调信号的装置及方法-CN201810134215.0有效
  • 孟庆南 - 香港梵行科技有限公司
  • 2018-02-09 - 2020-07-10 - H04B1/525
  • 本发明涉及一种自适应抵消无线收发系统中无互调信号的装置及方法,其将无线收发系统产生的无互调信号中落入到接收频段的分量抵消,包括多组耦合器,抵消器电路,发射信号鉴频电路,抵消检测电路,数字处理控制单元;其串接在无线收发设备和天线之间,经多组耦合器耦合分出三路信号:第一路信号经抵消器电路产生抵消无互调的信号,并通过信号叠加实现抵消;第二路信号经发射信号鉴频电路和数字处理控制单元计算无互调信号频率;第三路信号经抵消检测电路和数字处理控制单元对无互调信号抵消结果检测,实时调控上述抵消器电路幅度和相位,使无互调信号抵消结果满足预设值;本发明可安装在无线收发设备外或无线收发设备内。
  • 一种自适应抵消无线收发系统无源信号装置方法
  • [发明专利]基于遗传算法的智能电能表功能检定方法-CN201810345721.4有效
  • 杨成林;黄建国;胡聪;陈芳 - 电子科技大学
  • 2018-04-18 - 2020-06-12 - G01R35/04
  • 本发明公开了一种基于遗传算法的智能电能表功能检定方法,首先根据实际需要设置智能电能表待检定事件以及智能电能表功能检定时所涉及的电源参数,获取待检定事件的触发条件表,然后根据触发条件表得到每个电源参数的取值范围;然后以调参数向量作为个体染色体,采用遗传算法依次获取每个调参数向量,其中个体的适应度值为其对应调参数向量所触发的待检定事件数量;最后根据调参数向量对智能电能表的电源参数进行设置,实现对智能电能表功能的检定。本发明可以自动生成智能电能表功能检定的所需的调参数向量,且能采用数量较少的调参数向量完成全部待检定事件的检定,可以减少测试人员工作量,提高智能电能表功能检定的效率。
  • 基于遗传算法智能电能表功能检定方法
  • [发明专利]薄膜晶体管及其制造方法-CN201010533970.X有效
  • 陈昶亘 - 友达光电股份有限公司
  • 2010-11-01 - 2011-05-11 - H01L29/786
  • 本发明公开了一种薄膜晶体管及其制造方法,该薄膜晶体管包括一基板、一半导体层、一图案化掺杂半导体层、一极与一漏极、一栅绝缘层以及一栅极。半导体层配置于基板上。极与漏极配置于图案化掺杂半导体层上且位于半导体层的相对两侧上方,其中被极与漏极覆盖的部分半导体层具有一第一厚度,以及位于极与漏极之间且未被极与漏极覆盖的部分半导体层具有一第二厚度,第二厚度介于200栅绝缘层配置于极与漏极以及部分半导体层上。栅极配置于栅绝缘层上。在本发明的薄膜晶体管可使得薄膜晶体管具有较佳的元件特性。
  • 薄膜晶体管及其制造方法
  • [发明专利]不对称晶体管的形成方法-CN200910056032.2有效
  • 邹立;罗飞 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2009-08-06 - 2011-03-23 - H01L21/336
  • 一种不对称晶体管的形成方法,包括:提供衬底,所述衬底包括有源区;在所述有源区表面形成栅极结构;在所述有源区内、栅极结构两侧形成漏极区、极区和介于极区与漏极区之间的沟道区;在衬底表面形成覆盖所述漏极区、极区和栅极结构的介质层;在介质层表面形成光刻胶图形;以所述光刻胶图形为掩膜,依次刻蚀介质层直至形成暴露出漏极区的第一沟槽和暴露出极区的第二沟槽;所述第二沟槽的线宽大于第一沟槽;以所述光刻胶图形为掩膜,对沟道区进行离子注入,形成口袋区,所述口袋区与极区相邻,所述口袋区掺杂类型与极区相反;在所述第一沟槽和第二沟槽内形成金属插塞。
  • 不对称晶体管形成方法
  • [发明专利]半导体装置-CN201110206210.2有效
  • 宫原真一朗;高谷秀史;杉本雅裕;森本淳;渡边行彦 - 株式会社电装;丰田自动车株式会社
  • 2011-07-15 - 2012-02-01 - H01L29/78
  • 一种SiC半导体装置,包括:反转型MOSFET,所述MOSFET包括:基底(1);基底上的漂移层(2)和基极区(3);基极区上的基极接触层(5)和极区(4);多个沟槽(6),具有在第一方向上的纵向方向,沟槽(6)穿透所述极区和所述基极区;经由栅极绝缘膜(8)处于每个沟槽中的栅极电极(9);中间层绝缘膜(12),覆盖所述栅极电极并具有接触孔(12a),所述极区和所述基极接触层通过所述接触孔(12a)得到暴露;极电极(11),通过所述接触孔与所述极区和所述基极区电耦合;以及所述基底上的漏极电极(13)。极区和基极接触层沿垂直于第一方向的第二方向延伸,并且沿第一方向交替布置。接触孔具有在所述第一方向上的纵向方向。
  • 半导体装置
  • [发明专利]一种烃岩有机碳含量的确定方法和装置-CN201410042090.0有效
  • 李长喜;李华阳;李潮流;胡法龙;王昌学 - 中国石油天然气股份有限公司
  • 2014-01-28 - 2014-05-14 - G01N33/24
  • 本发明提供一种烃岩有机碳含量的确定方法,包括:S1:实验测量烃岩岩心的有机碳含量值;S2:获取各岩心深度处的测井曲线中铀含量、电阻率、补偿声波时差和补偿密度的测井值;S3:根据S2的测井值计算ΔlgR;S4:根据S1-S3的结果建立有机碳含量值和ΔlgR、铀测井值的对应关系并拟合成函数;S5:根据拟合的函数确定井中各位置处的烃岩有机碳含量。本发明还提供了一种烃岩有机碳含量的确定装置实施例。本发明提供的一种烃岩有机碳含量的确定方法和装置是基于铀测井曲线和ΔlgR联合来确定有机碳含量的,计算结果精度高,在烃岩有机碳含量的计算中具有明显的实际应用效果。
  • 一种烃源岩有机含量确定方法装置

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