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[发明专利]层1和层3测量协调-CN202180089480.1在审
发明人：崔杰;唐扬;Y·齐;H·R·达维德;P·博西尼斯;张大伟;何宏;M·拉加万;李启明;陈翔 -专利权人：苹果公司
申请日： 2021-01-06 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： H04W24/00 文献下载
摘要：一种用户设备(UE)，其可以被配置为执行层1(L1)测量过程和层3(L3)测量过程。UE配置信道状态信息‑参考信号(CSI‑RS)层3(L3)测量窗口，识别层1(L1)测量操作与L3测量操作之间的冲突，并且响应于识别到冲突而省略至少一个L1测量。
测量协调

[发明专利]耐火层测量系统-CN201280046287.0无效
发明人： K.M.沙利文;S.马尼;A.阿瓦利亚诺 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2012-08-29 - 公布日： 2014-05-28 - 主分类号： G01B21/08 文献下载
摘要：本说明书中的实施例涉及一种用于测量气化器耐火层的系统。在一个实施例中，所述气化器包括：第一耐火层，所述第一耐火层设置在气化室周围；第二耐火层，所述第二耐火层设置在所述第一耐火层周围；以及温度传感器，所述温度传感器设置在所述第一耐火层与所述第二耐火层之间。所述温度传感器可以收集温度数据，以用于确定所述第一耐火层的厚度。
耐火测量系统

[发明专利]膜层厚度测量方法及膜层厚度测量装置-CN201810634417.1有效
发明人：刘公才 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2018-06-20 - 公布日： 2020-07-24 - 主分类号： G01B15/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种膜层厚度测量方法及膜层厚度测量装置。膜层厚度测量方法包括如下步骤：提供一图像，图像为两个以上同轴嵌套的膜层的截面图；选择一待测量膜层的膜层截面，待测量膜层的膜层截面包括相对的第一边界和第二边界；采用第一边缘检测算法获取第一边界的第一轮廓；采用第二边缘检测算法获取第二边界的第二轮廓；计算第一轮廓中的多个像素点到第二轮廓的垂直距离，得到第一膜层的厚度。本发明简化了膜层厚度的测量步骤，节省了人力成本，提高了膜层厚度测量的精准度和可靠性。
厚度测量方法测量装置

[发明专利]钝化层测量结构及测量方法-CN202210295780.1在审
发明人：宁殿华;蒋胜;黄小蕾;李荷琴;柳永胜 -专利权人：苏州英嘉通半导体有限公司
申请日： 2022-03-24 - 公布日： 2022-06-24 - 主分类号： H01L23/544 文献下载
摘要：本发明揭示了一种钝化层测量结构及测量方法，所述测量结构包括外延结构及位于外延结构上且交错分布的若干金属层及若干钝化层，每两个金属层层叠部分及之间的钝化层形成一平行板电容器，且不同的平行板电容器中钝化层的厚度不同本发明测量结构中的金属层和钝化层可形成多个平行板电容器，测量方法简单易操作，测量结构可兼容绝大多数GaN HEMT工艺流程，通过测量平行板电容器的电容参数或电流参数可以获取钝化层的厚度、介电常数、耐压、
钝化测量结构测量方法

[发明专利]硬化层深度测量装置-CN201680014059.3有效
发明人：三阪佳孝;川崎一博;樱井健太;后藤雄治 -专利权人：高周波热錬株式会社;国立大学法人大分大学
申请日： 2016-03-02 - 公布日： 2020-11-06 - 主分类号： G01N27/72 文献下载
摘要：一种测量在淬火工件的表层形成的硬化层的深度的装置。该装置包括：被构造为产生磁通量以使工件磁化的激励线圈，以及被构造为检测由激励线圈产生的磁通量的检测线圈。
硬化深度测量装置

[发明专利]双模逐层测量系统-CN201710596413.4有效
发明人：刘胜;李辉;张国庆;申胜男 -专利权人：武汉大学
申请日： 2017-07-20 - 公布日： 2019-12-20 - 主分类号： G01N23/20058 文献下载
摘要：本发明涉及电子衍射仪，提供一种双模逐层测量系统，包括真空样品室，真空样品室内设置有样品台，还包括电子脉冲控制单元、缺陷调控光路以及处理单元，缺陷调控光路上设置有激光脉冲能量调节装置以及激光脉冲扫描装置，本发明的测量系统可对微纳制造过程原位实时无损测量，实现边生长、边检测，且通过对衍射图像以及背散射花样处理获得样品表面缺陷信息，并根据此信息反馈调节飞秒激光脉冲能量及扫描位置，进行缺陷的修复，实现边检测、
双模测量系统

[发明专利]积雪层密度测量装置-CN202210009813.1有效
发明人：刘章文;韩春坛;刘俊峰;郭淑海;陈仁升 -专利权人：中国科学院西北生态环境资源研究院
申请日： 2022-01-06 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G01N9/02 文献下载
摘要：本申请提供一种积雪层密度测量装置，积雪层密度测量装置包括外筒组件和内筒组件，外筒组件包括外筒体、两个第一截断板和两个第二截断板，外筒体的筒壁上设置两个第一截断口；两个第一截断板用于分别封闭外筒体的两端；积雪层密度测量结果准确性高。
积雪密度测量装置

[实用新型]叠层厚度测量装置-CN201420194603.5有效
发明人：窦琴;韩欢庆;陈文智;张淑兰;张志英;刘囡楠;张涛 -专利权人：安泰科技股份有限公司;安泰南瑞非晶科技有限责任公司
申请日： 2014-04-21 - 公布日： 2014-09-10 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种叠层厚度测量装置，应用于冶金行业中金属叠层的叠片系数测量设备领域。所述叠层厚度测量装置包括：具有支架的测量台，所述支架位于所述测量台的台面上；夹紧机构；具有上压面和下压面的压力传感器；位于所述测量台台面上的第一驱动机构，与所述夹紧机构连接；固定于所述支架上的第二驱动机构，与所述上压面连接；以及固定于所述支架上的测距仪，位于所述上压面上方，用于测量叠层式样的叠层厚度。本实用新型通过上述技术方案提高了测量效率，降低了劳动强度，同时提高了测量结果的准确度。
厚度测量装置

[实用新型]层间偏移测量装置-CN201020248780.9有效
发明人：吕明* -专利权人：瀚宇博德股份有限公司
申请日： 2010-07-06 - 公布日： 2011-01-19 - 主分类号： G01B7/00 文献下载
摘要：本实用新型层间偏移测量装置至少包含有：设于待测物上的对位靶标、至少一测试探针、一接地探针、至少一警示组件以及一负载，该对位靶标设有与该待测物相对应的复数层体，各层体于该对位靶标处设有导电层，该对位靶标于导电层处设有至少一镀通孔以及一接地孔，该导电层与该接地孔接触，而与该镀通孔隔离相对，该测试探针可伸入接触对应的镀通孔，该接地探针可伸入接触对应的接地孔，该警示组件与测试探针形成电性连接，该负载构成该警示组件与该接地探针形成电性连接，若其中有层体产生偏移，使得该层体的导电层与镀通孔形成短路，令相对应的警示组件通电发出警示，以判断此待测物为良品或瑕疵品。
偏移测量装置

[实用新型]料层厚度测量装置-CN201820916975.2有效
发明人：赵宝盛;张清山;杨再兴;张宝民;丁润禄;武林雨;王长军 -专利权人：河北南玻玻璃有限公司
申请日： 2018-06-13 - 公布日： 2018-12-28 - 主分类号： G01B5/06 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种料层厚度测量装置，涉及玻璃生产的技术领域，该料层厚度测量装置包括测量杆、固定套管和辅助翼板；所述固定套管设置在所述辅助翼板上，在所述固定套管内设置有所述测量杆；且在所述辅助翼板上设置有穿孔本实用新型提供的料层厚度测量装置的辅助翼板可以较好的保护料层形成，保证测量杆与料层垂直，提高测量的精度，测量杆迅速穿透混有碎玻璃的料层，提高测量效率及测量精度，并能够通过测量杆与固定套管的配合，可以直接在测量杆上读取料层厚度数值，减少了弯腰读取操作步骤，不仅提高了测量效率及精度而且在料铲连续投料过程中使测量操作更加安全。
测量杆固定套管料层厚度测量装置辅助翼板料层本实用新型测量效率穿孔测量读取玻璃生产测量操作读取操作连续投料碎玻璃料铲连通弯腰穿透垂直配合安全保证

[实用新型]金属层线宽测量装置-CN201220637335.0有效
发明人：刘杰;曲泓铭;安峰;张光明;李伟;宋泳珍;郑云友;吴成龙 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司
申请日： 2012-11-27 - 公布日： 2013-04-24 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种金属层线宽测量装置，包括：光发射装置，包括发射检测光信号的发光单元；光接收装置，与所述光发射装置相对设置，接收所述光发射装置发出的光信号并生成光强信号；所述光发射装置和光接收装置分别位于被测基板两侧；信号处理装置，与所述光接收装置连接，对所述光接收装置接收的光强信号进行处理，得到测量结果。本实用新型通过光发射装置和光接收装置保持同步扫描金属膜层，通过分析光发射装置和光接收装置接收到的信号强度变化，计算金属层线宽值，结构简单、使用方便、测量结果准确可靠。
金属层线宽测量装置

[实用新型]层间偏移测量装置-CN201220437854.2有效
发明人：钟强;吕明 -专利权人：瀚宇博德科技（江阴）有限公司
申请日： 2012-08-31 - 公布日： 2013-03-27 - 主分类号： G01B7/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种层间偏移测量装置，其至少包含有：设于待测物上之对位靶标（10）、至少一测试探针（20）、一接地探针（30）、一输入电压（50）、一电压侦测模块（60）以及一显示模块（70），该对位靶标（10）设有与该待测物相对应之复数层体，各层体于该对位靶标处设有导电层（12），该对位靶标于导电层处设有至少一镀通孔以及一接地孔（137），该导电层系与该接地孔接触，而与该镀通孔隔离相对，该测试探针系可伸入接触对应之镀通孔，该接地探针系可伸入接触对应之接地孔，该电压侦测模块系与测试探针形成电性连接，该输入电压系与该接地探针形成电性连接，若其中有层体产生偏移，可由该电压侦测模块测得而将结果直接显示于显示模块上，以判断此待测物为良品或瑕疵品
偏移测量装置

[实用新型]高炉料层测量装置-CN201720013273.9有效
发明人：李佳;杜辉 -专利权人：武汉科技大学
申请日： 2017-01-06 - 公布日： 2017-08-04 - 主分类号： C21B7/24 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种在高炉连续投料状态下获知料层分布及变化的高炉料层测量装置，包括位于原始料面上方且连接于炉墙内壁的固定架；固定架上设有测量筒，测量筒为中空结构，内设有运动导轨、可沿运动导轨升降运动的摄像头，摄像头设有光源；测量筒的线路经铺设在原始料面上的保护套管连接至炉墙内壁边缘，通过金属导管引出炉外连接远程控制端；测量筒侧壁设有测量窗口，测量窗口为透明，内侧设有刻度；本实用新型将摄像头置于密封的测量筒内，建立良好测量环境；连续投料情况下可远程控制实时精准测量，避免停机；以测量窗口的刻度为参照系测定炉料厚度及变形状况；自带光源克服高炉内环境并获取彩色图像输送至炉外；避免“器壁效应”。
炉料测量装置

[实用新型]半值层测量装置-CN201721717632.5有效
发明人：吴金杰;杜海燕;刘莹;赵瑞 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2017-12-12 - 公布日： 2018-07-10 - 主分类号： G01N23/083 文献下载
摘要：本实用新型实施例涉及一种半值层测量装置，包括：支撑部，顶部设有导轨，轨上具有滑块；调节部，包括座体、伸缩杆、调节手柄和台体；座体的底面安装于滑块上，使得调节部沿导轨运动；伸缩杆连接座体的上表面和台体的下表面本实用新型实施例提供的半值层测量装置，通过增置光阑组件，将测量过程中的散射辐射的影响尽可能减小，实现半值层的精确测量。
台体吸收片光阑测量装置插接孔伸缩杆座体本实用新型光阑组件屏蔽体滑块手柄测量过程导轨运动连接座体散射辐射手柄驱动支架固定上表面外边缘下表面导轨底面减小拉伸支架匹配对准测量压缩支撑

[实用新型]雪层密度测量系统-CN201920253647.3有效
发明人：唐志光;邓刚 -专利权人：湖南科技大学
申请日： 2019-02-28 - 公布日： 2019-11-12 - 主分类号： G01N9/02 文献下载
摘要：本实用新型所要解决的问题是简便、高精度地测量雪层密度。雪层密度测量系统，包括雪筒，封尾端，推平端，称重仪，雪筒横截面是矩形，封尾端位于雪筒底端，封尾端包括封尾布、拉绳，封尾布位于雪筒底端一侧，封尾布与拉绳相连，拉绳穿过雪筒底面，沿着雪筒上与封尾布相对的另一侧延伸至雪筒顶端拉紧位于雪筒顶端的拉绳，封尾布受力后，水平插入雪筒底部，分割雪筒内部积雪与地面；推平端使用时,推入雪筒底部，将内部积雪往上推；称重仪用于称量内部积雪的重量；雪筒的材料是透明的，雪筒外表面或/和内表面设置有刻度，用于测量积雪深度和推平端所在雪筒内的位置
雪筒封尾积雪拉绳平端雪层密度测量系统称重仪底端测量本实用新型内表面透明的系统量称量底面拉紧受力推入挖坑穿过分割延伸

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