专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]智能家电的测试系统、方法及装置、计算机可读存储介质-CN202111654572.8在审
  • 吴蓉;潘叶江 - 华帝股份有限公司
  • 2021-12-30 - 2022-04-15 - G10L15/01
  • 本申请涉及一种智能家电的测试系统、方法及装置、计算机可读存储介质。所述方法包括:获取待测试智能家电的第一设备状态和测试指令语句序列;如果第一设备状态为目标设备状态,则控制播放器播放测试指令语句序列中的待测试指令语句;获取待测试智能家电的第二设备状态,如果第二设备状态为非目标设备状态,则控制待测试智能家电将设备状态调整为目标设备状态,并执行控制播放器播放测试指令语句序列中的待测试指令语句的步骤。本申请实施例中,在智能家电的语音验证测试过程中,通过每次播放待测试指令语句前,将待测试智能家电的设备状态调整至目标设备状态,实现噪音环境的稳定,进而保证测试结果的有效性。
  • 智能家电测试系统方法装置计算机可读存储介质
  • [发明专利]传感器测试方法、装置、存储介质及电子设备-CN201911323609.1有效
  • 俞斌 - TCL移动通信科技(宁波)有限公司
  • 2019-12-20 - 2022-03-25 - G01D18/00
  • 本发明涉及测试技术领域,公开了一种传感器测试方法、装置、存储介质及电子设备,该传感器测试方法应用于电子设备,电子设备包括传感器,该方法包括:将电子设备与承载电子设备的夹具连接;将传感器测试序列,从电子设备发送至夹具,传感器测试序列包括所有夹具可能调用的指令指令集;将代表所述传感器测试序列中对应指令的码发送至夹具,使得夹具根据码,调用传感器测试序列中的对应指令,对传感器进行测试。本发明方法通过将传感器测试序列及码存储在电子设备中,再依次发送至夹具,实现了基于电子设备的自身状况进行测试,加快传感器的测试进程,从而提高电子设备的生产效率。
  • 传感器测试方法装置存储介质电子设备
  • [发明专利]联锁自动化测试系统、方法、设备以及存储介质-CN202111108239.7在审
  • 朱昆;吴家元;陈磊 - 交控科技股份有限公司
  • 2021-09-22 - 2021-12-24 - G05B23/02
  • 本公开的实施例提供了联锁自动化测试系统、方法、设备以及存储介质。该系统包括数据驱动模块,用于接收测试请求,测试请求中包括目标联锁设备的标识,根据目标联锁设备的标识从测试用例集中确定目标测试用例,目标测试用例中包括测试步骤以及测试步骤对应的标识,基于测试步骤和对应的标识确定测试规则序列指令,并将测试规则序列指令发送给逻辑处理模块;逻辑处理模块,用于执行测试规则序列指令,并根据执行的结果依次向目标联锁设备发送测试指令;逻辑处理模块,还用于接收目标联锁设备执行测试指令生成的测试反馈数据,并根据测试反馈数据与标准结果进行比对,确定测试结果。
  • 联锁自动化测试系统方法设备以及存储介质
  • [发明专利]一种存储器的测试方法和装置-CN201611090839.4有效
  • 王立峰 - 北京京存技术有限公司
  • 2016-11-30 - 2020-07-28 - G11C29/56
  • 本发明实施例公开了一种存储器的测试方法和装置。所述方法包括:根据预设的伪随机函数获取至少一条操作指令,分别对所述操作指令顺序编号,并将所述操作指令按所述编号顺序排列,构成测试序列;根据所述编号顺序执行所述测试序列中的操作指令,对存储器进行测试;如果检测到所述存储器出现错误,则利用所述测试序列对修复后的存储器进行重新测试。实现了对存储器程序和/或数据的随机测试,保证了测试的全面性,提高了测试的准确性和效率。
  • 一种存储器测试方法装置
  • [发明专利]一种渗透测试方法、装置以及测试设备-CN202211559776.8在审
  • 严文涛 - 上海安博通信息科技有限公司
  • 2022-12-06 - 2023-04-18 - H04L9/40
  • 本申请提供了一种渗透测试方法、装置以及测试设备,用于保障基于webshell可以正常地完成目标待测试服务器的渗透测试,保障稳定的渗透测试效果。方法包括:测试设备在目标待测试服务器上配置Webshell相关的配置文件,配置文件为反序列化特性的执行文件;测试设备获取当前渗透测试任务相关的初始控制指令测试设备将初始控制指令转化为可以触发配置文件执行反序列化操作的目标控制指令测试设备将目标控制指令发送至配置文件,使得目标待测试服务器通过Webshell对目标控制指令执行反序列化操作,以执行初始控制指令来推进渗透测试任务的执行;测试设备根据目标待测试服务器的响应,生成渗透测试任务的渗透测试结果
  • 一种渗透测试方法装置以及设备
  • [发明专利]物理收发器的测试模块、测试装置和测试方法-CN202210752761.7在审
  • 杨洗兵;苏孟豪 - 龙芯中科(北京)信息技术有限公司
  • 2022-06-29 - 2022-09-23 - H04L43/0823
  • 本发明提供了一种物理收发器的测试模块、测试装置和测试方法,涉及电子技术领域。测试模块包括序列获取单元和接口控制单元,序列获取单元与接口控制单元连接,用于接收控制指令,根据控制指令获取测试序列,并向接口控制单元发送测试序列;接口控制单元通过物理层接口向连接的物理收发器发送测试序列,使物理收发器将测试序列转为串行数据后输出,以根据输出结果判断物理收发器是否存在故障。序列获取单元可以获取测试序列,并通过接口控制单元向物理收发器输出测试序列,使物理收发器输出测试序列,可以根据物理收发器对测试序列的输出结果判断物理收发器是否存在故障,从而可以简单便捷地对物理收发器进行测试,提高测试效率。
  • 物理收发测试模块装置方法
  • [发明专利]一种机顶盒自动测试方法及系统-CN201510011272.6在审
  • 于海波 - 康佳集团股份有限公司
  • 2015-01-09 - 2015-07-15 - H04N21/422
  • 本发明公开了一种机顶盒自动测试方法及系统,方法包括:A、预先设置形成测试指令序列文件存放于优盘内;B、预先形成测试结果参照序列文件存放于优盘内;C、将所述优盘插入机顶盒USB口;D、机顶盒内测试软件读取并解析优盘内的测试指令序列文件;E、读取并解析优盘内的测试结果参照序列文件;F、按顺序模拟发出测试指令;G、在指定步骤处抓取测试结果与参照序列文件中对应步骤处的参照结果进行比对,如果相同则继续运行,回到步骤F,直到测试完成,结束。采用本发明解决了测试工作中大量重复操作测试带来的巨大工作量问题,切实现成本低廉,适用范围较广。
  • 一种机顶盒自动测试方法系统
  • [发明专利]智能测试遥控器及其使用方法-CN201010233273.2无效
  • 廖青山 - 深圳创维数字技术股份有限公司
  • 2010-07-21 - 2011-01-12 - H04N17/00
  • 本发明公开了一种智能测试遥控器及其使用方法,所述的智能测试遥控器包括:输入模块,用于输入测试指令;控制模块,用于判断输入的测试指令的属性,若输入测试指令是逐个按键指令,则将该指令送往输出模块,直接控制被测试设备,如输入指令是编程序列指令,则进入编程状态,设置测试项目和测试时间,将设定值发送至存储模块存储,并通过输出模块控制被测试设备操作;存储模块,用于存储编程序列指令;输出模块:用于向被测设备发送指令。本发明接近实际测试效果,可进行自动无人测试,大大降低了工作强度,降低了测试成本,提高生产效率。
  • 智能测试遥控器及其使用方法
  • [发明专利]一种测试方法、装置、设备和存储介质-CN202110848609.4在审
  • 张晨浩;周鑫;高恩宇;姜秀鹏 - 北京微纳星空科技有限公司
  • 2021-07-27 - 2021-10-15 - G06F30/15
  • 本发明公开了一种测试方法、装置、设备和存储介质,该方法包括:根据测试对象的测试项和预设指令表,生成所述测试对象所对应的测试细则,所述测试细则包括所述测试项对应的指令代号和判据代号;根据所述指令代号和预设码值表生成执行序列,同时根据所述判据代号和预设执行表生成判读数据;基于所述测试细则、所述执行序列和所述判读数据对所述测试对象进行测试。上述技术方案,可以在较短的时间内生成测试对象的测试细则、执行序列和判读数据,且生成成本较低,自动生成的测试细则、执行序列和判读数据与测试大纲的匹配度更高,提高了自动化测试的效率以及降低了自动化测试的成本和出错率
  • 一种测试方法装置设备存储介质
  • [发明专利]测试系统、存储器的测试方法及测试装置-CN201811535042.X有效
  • 不公告发明人 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2018-12-14 - 2022-03-22 - G06F11/36
  • 本公开提供一种测试系统、存储器的测试方法及测试装置,涉及半导体技术领域。该测试方法包括:根据存储器的一存储块的多个运行状态和每个运行状态下能够执行的指令建立状态机;根据状态机的当前运行状态确定与当前运行状态对应的多个候选指令;确定当前时刻与一初始时刻间的运行时间;从各候选指令中随机选择一候选指令作为目标指令,并根据目标指令更新当前运行状态,直至运行时间达到预设值;根据所有目标指令生成一指令序列;确定指令序列中各目标指令在所有指令中的覆盖率;在覆盖率达到一阈值时,根据指令序列生成执行文件;通过测试机对存储器执行执行文件
  • 测试系统存储器方法装置

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