专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]马达堵转测试设备及测试方法-CN202110483438.X在审
  • 李威;周华国;廖建勇 - 深圳市合力士机电设备有限公司
  • 2021-04-30 - 2021-07-23 - G01R31/34
  • 本发明涉及测试装置技术领域,具体涉及一种马达堵转测试设备及测试方法。它包括机架、取料机构、上料机构、测试机构和收料机构。取料机构安装于所述机架上,并用于传递马达;所述取料机构在传递方向上依次设置有上料工位、测试工位和收料工位;上料机构设置于所述上料工位处,并用于放置马达;测试机构设置于所述测试工位处;在所述取料机构将马达从所述上料工位传递至所述测试工位时,所述测试机构能够固定马达的主体和输出轴,并对马达进行通电以测试马达;取料机构能够将马达传递至所述收料工位或所述上料工位;收料机构设置所述收料工位处,并用于收集马达。
  • 马达测试设备方法
  • [发明专利]半导体测试结构及测试方法-CN202110103680.X在审
  • 武城;段淑卿;高金德 - 上海华力微电子有限公司
  • 2021-01-26 - 2021-08-06 - H01L23/544
  • 本发明提供了一种半导体测试结构及测试方法。所述半导体测试结构包括:第一金属层,包括若干间隔排布的第一金属;第二金属层,包括若干间隔排布且错位设置于所述第一金属上方的第二金属,所述第一金属和所述第二金属通过金属通孔首尾相连,相互电连接,形成多个互连平行且首尾相连的链状结构本发明提供的所述半导体测试结构及测试方法通过在第二金属层上方设置电接触件,实现对半导体测试结构阻值的分段测试,避免直接通过第二金属进行阻值测试导致第二金属因接触空气或其他原因被腐蚀,进而提高半导体测试结构的稳定性和使用寿命,减小测试误差。
  • 半导体测试结构方法
  • [发明专利]AAU测试方法、装置以及多探头吸波暗箱-CN202010581635.0在审
  • 任辉;别业楠;段向阳;黄攀;王博明 - 中兴通讯股份有限公司
  • 2020-06-23 - 2021-08-10 - H04W24/08
  • 本发明实施例提供了一种AAU测试方法、装置以及多探头吸波暗箱,其中,该方法包括:根据预先存储的频点与校准结果的对应关系获取多探头吸波暗箱在当前测试频点对应的目标校准结果,其中,所述校准结果为对测试环境进行校准得到的校准结果;根据所述目标校准结果对所述测试环境进行补偿;在补偿后的所述测试环境中,通过所述多探头吸波暗箱的测试探头对待测有源天线单元AAU进行测试,得到所述待测AAU的射频指标及无线指标,其中,所述待测AAU设置于所述多探头吸波暗箱中,可以解决相关技术中AAU使用标准远场或紧缩场测试无线性能时,场地指标要求严苛、建设费用高且测试复杂,不能应用在批量生产测试的问题。
  • aau测试方法装置以及探头暗箱
  • [发明专利]一种大学生体质测试智能化系统-CN202110419862.8在审
  • 刘进;赵国振;白金强;刘志强;李成攻;许金冬 - 山东舜知信息科技有限公司
  • 2021-04-19 - 2021-08-13 - A63B71/06
  • 本发明涉及体质测试技术领域,公开了一种大学生体质测试智能化系统,包括体测平台学生端APP、体测平台教师端、测试终端、测试仪器和云服务器。本发明可节省人力和时间,可自动保存测试数据,可防止作弊,能提高学生进行体质健康测试的积极性;可有效避免人群排队、聚集情况的发生,基本实现了本发明无人值守、随时预约测试的方式,学校无需投入大量人力,可节省学校90%的工作量;整个测试环节全部项目用时可控制在20分钟以内,也可实现单个项目随时预约随时测试,有效提高了学生的测试效率,也可增强学校对学生日常锻炼的监控力度,增加了学生日常锻炼的积极性,让学生更注重自己的身体健康发展
  • 一种大学生体质测试智能化系统
  • [发明专利]一种设备测试系统和方法-CN202110528632.5在审
  • 任志伟 - 宝能(广州)汽车研究院有限公司
  • 2021-05-14 - 2021-08-13 - G01M17/007
  • 本发明公开了一种设备测试系统和方法,涉及汽车电子领域,系统包括:用于放置待测试控制器的温度箱、硬件在环仿真设备和上位机;其中,温度箱用于通过调整内部温度以确定待测试控制器所处的环境温度,且温度箱的内部温度是根据在上位机中已设定的测试工况进行设定的;硬件在环仿真设备与待测试控制器之间电连接,用于在确定测试工况以及待测试控制器所处环境温度的情况下,对待测试控制器的硬件和软件进行测试。本发明实施例中,在对待测试控制器进行各工况功能验证的同时,温度箱内部的温度也会相应的根据设定的工况进行变化,如此即可以验证不同工况不同环境温度下待测控制器的功能性和稳定性。
  • 一种设备测试系统方法
  • [发明专利]转盘智能导向系统测试装置-CN202110065101.7在审
  • 易先中;马苏南;周元华;易军;刘航铭;房军;高德利 - 长江大学;中国石油大学(北京)
  • 2021-01-18 - 2021-06-15 - E21B47/18
  • 转盘智能导向系统测试装置,涉及到旋转导向钻井技术领域,包括液压站,用于为转盘智能导向系统通入测试泥浆;驱动装置,用于使转盘智能导向系统绕其中心轴周向转动;和测试井筒,用于为转盘智能导向系统提供钻井环境;测试井筒通过两个间隔设置的调节夹具支撑固定,测试井筒以的一端还设有泄压孔,泄压孔上安装有可插拔的泄压堵头;通过设置测试模拟装置,利用液测试井筒模拟钻井,通过驱动装置使位于测试井筒中的转盘智能导向系统绕其中心轴周向转动;同时利用液压站向转盘智能导向系统通入测试泥浆,实现对转盘智能导向系统的性能测试,来测量转盘智能导向系统的导向能力和性能指标,为指导设备的改进提供必要的参考数据。
  • 转盘智能导向系统测试装置
  • [发明专利]一种可靠性同测装置及其控制方法-CN202110084786.X在审
  • 戴昭君;蒋艳;宗磊;葛文启;吕瑞恩 - 上海华虹集成电路有限责任公司
  • 2021-01-22 - 2021-06-15 - G06F11/00
  • 本发明公开了一种可靠性同测装置及其控制方法,用于微控制器芯片内置大容量存储器可靠性测试,可实现多芯片并行测试。同时以测试区间可配置的形式,可选择全部覆盖存储空间,也可以选择以不同芯片不同区间的等效方式以覆盖全面,从同测数与测试空间配置两方面兼顾测试效率、优化测试时间。记录测试结果的同时,保存所有在测芯片的失效现场信息,便于对任何一个失效芯片进行分析。该方法基于测试硬件主控制板、上位机控制,还包括被测微控制器存储器测试程序。以较小的成本实现批量微控制器的存储器测试,广泛应用于各类微控制器芯片耐久力等可靠性自验证中。
  • 一种可靠性装置及其控制方法
  • [发明专利]天线测试系统-CN202110163724.8在审
  • 董栋栋;李男难 - 合肥楚航科技发展有限公司
  • 2021-02-05 - 2021-06-15 - G01R29/10
  • 本发明提供一种天线测试系统,包括:上位机、第一待测雷达和第二待测雷达,上位机分别与第一待测雷达和第二待测雷达通讯连接,其中,第一待测雷达用于发射单频连续波;第二待测雷达用于接收第一待测雷达发送的单频连续波,并将接收的数据发送至上位机;上位机用于对第一待测雷达和第二待测雷达的测试频率进行设置,并接收第二待测雷达发送的数据并进行处理,以获得频率对应的幅值。本发明的测试系统,无需使用专门的测量仪器,降低了测试成本,并且简化了测试步骤,确保测试的准确性,同时优化了测试时间,在短时间内完成测试,及时为测试人员提供测试数据。
  • 天线测试系统
  • [发明专利]一种应用测试方法、装置、计算机设备及可读存储介质-CN202110230276.9在审
  • 杨建邦;武海涛 - 北京高途云集教育科技有限公司
  • 2021-03-02 - 2021-06-15 - G06F11/36
  • 本公开提供了一种应用测试方法、装置、计算机设备及可读存储介质,其中,该方法包括:控制无头浏览器获取待测试网页的目标界面代码;获取在所述无头浏览器中运行所述目标界面代码产生的测试信息;若根据所述测试信息确定出所述无头浏览器运行所述目标界面代码时发生异常,则确定所述待测试网页存在运行异常风险。从而,可以有针对性地对相应的目标界面进行测试,获取该部分代码运行后的测试信息,无需重新运行整个应用程序,还可以借助无头浏览器所具备的功能,更为便捷地完成目标界面的测试工作。此外,在运行目标界面发生异常后,还可以针对目标界面进行异常排查,节省测试所需的时间,提高对于应用测试的效率。
  • 一种应用测试方法装置计算机设备可读存储介质
  • [发明专利]作业测试方法和装置、电子设备和存储介质-CN202110240733.2在审
  • 曹振 - 北京金山云网络技术有限公司
  • 2021-03-04 - 2021-06-15 - G06F8/34
  • 本申请提供了一种作业测试方法和装置、电子设备和存储介质,其中,该方法包括:检测到对目标可视化界面执行的触发操作,其中,触发操作用于触发对与目标可视化界面中的目标作业流程对应的目标作业进行测试,目标作业是使用目标处理算子对目标数据源进行处理的作业;响应触发操作,选取与目标数据源对应的目标测试数据,其中,目标测试数据用于替换目标数据源;将目标作业流程和目标测试数据的目标标识信息发送给目标服务端,以使目标服务端使用目标处理算子对目标测试数据进行处理,得到目标作业的目标测试结果。通过本申请,解决了相关技术中的作业测试方式存在由于测试过程复杂导致的测试效率低、用户体验度差的问题。
  • 作业测试方法装置电子设备存储介质
  • [发明专利]一种显示芯片测试设备-CN202110380838.8在审
  • 陈弈星;吴庆飞 - 南京芯视元电子有限公司
  • 2021-04-08 - 2021-06-01 - G01R31/28
  • 本发明提供一种显示芯片测试设备,涉及显示芯片测试技术领域,包括:处理器与显卡模块电连接,显卡模块与图像存储模块电连接,在电路板上还设置有与显卡模块连接的测试接口,在测试时,可以将已封装显示芯片插接于壳体上的测试接口同时,通过显示芯片测试设备对已封装显示芯片进行显示特性测试时,能够通过处理器、显卡模块等配合测试程序进行自动化的测试,从而可以提高测试效率。
  • 一种显示芯片测试设备

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