专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]球形状测定方法和装置-CN201510425225.6有效
  • 萩野键;横山雄一郎;栗山豊 - 株式会社三丰
  • 2015-07-17 - 2019-05-07 - G01B11/24
  • 本发明提供球形状测定方法和装置。一种球形状测定方法,使被测定球(10)能够自如地旋转,在各个旋转位置针对以彼此相邻的测定区域之间具有重复区域的方式设定的每个测定区域测定局部的球面形状,基于这些重复区域的形状来通过拼接运算将各个局部的球面形状接合,由此测定表面形状,在该球形状测定方法中,在从能够自由地保持或释放被测定球(10)的球保持机构(50)释放了被测定球(10)的状态下能够通过球支承台(52)保持球,通过转换对球进行保持的位置,能够高精度地测定球整体的形状
  • 球形测定方法装置
  • [发明专利]测定装置和测定方法-CN202210328582.0在审
  • 冈田修平 - 横河电机株式会社
  • 2022-03-30 - 2022-10-04 - G01N21/3581
  • 本发明提供了测定装置和测定方法。测定装置(10)测定表示异常方差的测定对象(M)的状态,该测定装置(10)具备控制部(116),该控制部(116)取得基于向测定对象(M)照射的电磁波的测定对象(M)的分光光谱的信息,根据所取得的分光光谱的信息计算测定对象(M)的状态,该分光光谱包括观测异常方差的影响的第一频率区域和与第一频率区域邻接的第二频率区域
  • 测定装置方法
  • [发明专利]车辆控制系统以及车辆控制方法-CN202110824278.0在审
  • 长谷川哲史;山口文彰;高桥佑典;野口顺平;岛本岳 - 本田技研工业株式会社
  • 2021-07-21 - 2022-02-18 - G07C9/00
  • 车辆控制系统(10)具备:第一位置测定部(21),通过第一位置测定处理来测定便携终端的位置;第二位置测定部(23),其通过无线通信在车辆中的消耗电力比第一位置测定处理少的第二位置测定处理来测定便携终端的位置;以及位置测定控制部(24),其将车辆(1)的车外的第一区域以及第一区域的外侧的第二区域作为监视区域,在由第二位置测定部(23)测定出的便携终端的位置处于第二区域内时,继续由第二位置测定部(23)对便携终端的位置的测定,在由第二位置测定部(23)测定出的便携终端的位置成为第一区域内后,切换为由第一位置测定部(21)进行的便携终端的位置的测定
  • 车辆控制系统以及控制方法
  • [发明专利]轮胎面形状测定方法和轮胎面形状测定装置-CN201610424862.6有效
  • 丸冈清人;大喜多刚;伊都刚 - 住友橡胶工业株式会社
  • 2016-06-15 - 2020-04-21 - G01B11/24
  • 本发明涉及轮胎面形状测定方法和轮胎面形状测定装置,提供一种即使在容易受到环境温度的影响的环境下也能够迅速地校正多个位移计的测定值并提高测定精度的轮胎面形状测定方法。轮胎面形状测定方法使用多个非接触式的位移计来测定测定轮胎的轮胎面部的表面形状。轮胎面形状测定方法包括:配置工序S1,将各位移计在轮胎轴向上隔出间隔地配置,并配置成作为各个测定区域的一部分的校正用测定区域相互重复;测定工序S2,通过各位移计而测定从各位移计到被测定轮胎的轮胎面部的表面的距离数据;以及校正工序S4,以在校正用测定区域通过各位移计测定出的距离数据为基准,校正在至少一个位移计的整个测定区域测定出的距离数据。
  • 轮胎形状测定方法装置
  • [发明专利]气体分析装置-CN201710140558.3在审
  • 大西敏和;辻本敏行 - 株式会社堀场制作所
  • 2012-12-27 - 2017-12-01 - G01N21/85
  • 本发明涉及具有通过光学测定系统测定在配管内流动的试样气体的浓度的气体分析用探测器的气体分析装置,其抑制热透镜效应现象的影响,提高测定精度。气体分析装置(1)包括用于将在配管内流动的试样气体导入内部中空的规定测定区域的、与配管内的试样气体的流路交叉配置的探测管(11);分别向探测管(11)的测定区域照射测定光、接收通过了测定区域内的试样气体的测定光的发光部(15)和受光部(16);为了向这些光学系统构件与测定区域之间的区域提供吹扫气体而配置于探测管(11)内的、与探测管(11)的内壁面隔开间隙地配置的吹扫气体提供管(26)。
  • 气体分析装置
  • [发明专利]气体分析装置-CN201210580054.0有效
  • 大西敏和;辻本敏行 - 株式会社堀场制作所
  • 2012-12-27 - 2017-04-12 - G01N21/17
  • 本发明涉及具有通过光学测定系统测定在配管内流动的试样气体的浓度的气体分析用探测器的气体分析装置,其抑制热透镜效应现象的影响,提高测定精度。气体分析装置(1)包括用于将在配管内流动的试样气体导入内部中空的规定测定区域的、与配管内的试样气体的流路交叉配置的探测管(11);分别向探测管(11)的测定区域照射测定光、接收通过了测定区域内的试样气体的测定光的发光部(15)和受光部(16);为了向这些光学系统构件与测定区域之间的区域提供吹扫气体而配置于探测管(11)内的、与探测管(11)的内壁面隔开间隙地配置的吹扫气体提供管(26)。
  • 气体分析装置
  • [发明专利]测定装置-CN202111181707.3在审
  • 增田将宣;新藤善二郎 - 阿自倍尔株式会社
  • 2021-10-11 - 2022-04-29 - G01J5/48
  • 本发明涉及一种能够削减热成像装置的校正所花费的工夫的测定装置,本申请的热成像装置(100)具备:获取部(41),其获取使用摄像元件(51)中的规定的拍摄区域测定出的电磁波的测定结果,该摄像元件对从测定对象放射出的电磁波进行测定;以及计算部(43),其使用校正信息,根据测定结果来计算测定对象的温度,该校正信息是将使用摄像元件(51)中的一部分校正区域测定出的电磁波的测定结果与测定出该电磁波时的测定对象的温度相对应的校正信息,并且该校正信息是针对每个校正区域生成的多个校正信息中的、与拍摄区域对应的校正信息。
  • 测定装置
  • [发明专利]时间强度曲线测定装置-CN201810122813.6有效
  • 妻鸟纮之 - 株式会社岛津制作所
  • 2018-02-07 - 2021-07-30 - A61B5/00
  • 本发明提供一种时间强度曲线测定装置,该时间强度曲线测定装置不使用标记就能够准确地得到时间强度曲线。图像处理部(44)具备灰度图像生成部(61)、发光区域去除部(62)、关注区域跟踪部(63)以及时间强度曲线测定部(64)。另外,时间强度曲线测定部(64)具备:像素值测定部(76),其对由荧光用摄像元件(56)拍摄到的荧光图像中的特定点的像素值进行测定;以及测定位置移动部(77),其使该像素值测定部(76)中的像素值的测定位置与由关注区域跟踪部(63)跟踪的关注区域相对应地进行移动。
  • 时间强度曲线测定装置

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