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[实用新型]一种HW11废液中金属杂质的检测及处理装置-CN202020213596.4有效
发明人：赵启龙;沈向丞;邢忠舜;张浩东;闫娟娟;李波波;朱雪梅;段兴发 -专利权人：乐陵力维化学品有限责任公司
申请日： 2020-02-26 - 公布日： 2020-10-27 - 主分类号： B03C1/02 文献下载
摘要：HW11废液中含有一些会影响原液纯度的金属杂质，如铁屑。过多的铁屑杂质会影响原液的纯度，同时对反应进程产生未定影响。本实用新型针对这一问题，设计了一种HW11废液中金属杂质的检测及处理装置，利用磁铁对铁屑的吸附性，将铁屑从原液中分离出来，从而减少了原液中的铁屑杂质，增加了原液的纯度。
一种 hw11 废液金属杂质检测处理装置

[发明专利]判定杂质对固体类自反应物质热稳定性影响的方法-CN201410147217.5有效
发明人：金满平;张帆;张晨;费轶;孙峰;姜杰;徐伟;石宁;谢传欣 -专利权人：中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司青岛安全工程研究院
申请日： 2014-04-11 - 公布日： 2014-08-27 - 主分类号： G01N33/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种判定杂质对固体类自反应物质热稳定性影响的方法，主要解决现有技术尚未建立判定杂质对固体类自反应物质热稳定影响的测试方法的问题。本发明通过采用一种判定杂质对固体类自反应物质热稳定性影响的方法，通过差示扫描量热、真空安定性及自加速分解温度（SADT）测试等方法分别测定固体类自反应物质及其与杂质混合物的热稳定性、真空条件下的安定性以及SADT，用以评价该杂质是否与被测固体类自反应物质相容的技术方案较好地解决了上述问题，可用于判定杂质对固体类自反应物质热稳定性的影响中。
判定杂质固体反应物质热稳定性影响方法

[发明专利]判定杂质对含液体类自反应物质热稳定性影响的方法-CN201410147218.X有效
发明人：金满平;张帆;张晨;费轶;孙峰;姜杰;徐伟;石宁;谢传欣 -专利权人：中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司青岛安全工程研究院
申请日： 2014-04-11 - 公布日： 2014-08-27 - 主分类号： G01N25/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种判定杂质对含液体类自反应物质热稳定性影响的方法，主要解决现有技术尚未建立判定杂质对含液体类自反应物质热稳定影响的测试方法的问题。本发明通过采用一种判定杂质对含液体类自反应物质热稳定性影响的方法，通过差示扫描量热、绝热量热及自加速分解温度（SADT）测试等方法分别测定含液体类的自反应物质及其与杂质混合物的热稳定性、绝热条件下的热稳定性以及SADT，用以评价该杂质是否与被测含液体类自反应物质相容的技术方案较好地解决了上述问题，可用于判定杂质对含液体类自反应物质热稳定性的影响中。
判定杂质液体反应物质热稳定性影响方法

[发明专利]一种降低高压互连影响的横向高压器件-CN202010358929.7有效
发明人：周锌;师锐鑫;乔明;张波 -专利权人：电子科技大学;电子科技大学广东电子信息工程研究院
申请日： 2020-04-29 - 公布日： 2021-08-03 - 主分类号： H01L29/06 文献下载
摘要：本发明提供一种降低高压互连影响的横向高压器件，包括第一型掺杂杂质接触区、第二型掺杂杂质接触区、第一型掺杂杂质阱区、第二型掺杂杂质阱区、第一型掺杂杂质外延层、第一型掺杂杂质漂移区、绝缘埋层、第二型掺杂杂质衬底、源电极、栅电极、漏电极、栅氧化层、硅局部氧化隔离氧化层，器件高压互连区的漂移区设置为线性变掺杂，降低高压互连线对器件表面电场的影响，提高器件击穿电压。
一种降低高压互连影响横向器件

[实用新型]一种石油压裂酸化用酸性废液处理装置-CN202120406411.6有效
发明人：王谣;张杰 -专利权人：西南石油大学
申请日： 2021-02-24 - 公布日： 2021-09-24 - 主分类号： E21B43/27 文献下载
摘要：本申请公开了一种石油压裂酸化用酸性废液处理装置，包括处理箱、封堵结构和辅助结构，所述处理箱底端开设有杂质腔，且杂质腔前侧的处理箱上设置有箱门；所述封堵结构包括封堵板，所述处理箱底端内部设置有封堵板，且封堵板延伸至处理箱外侧的一端胶粘有密封垫通过封堵板将处理箱和杂质腔之间封堵隔离，避免杂质处理时影响处理箱内部的运行，且通过密封垫配合，保证处理箱内部的密封性，解决了现有的处理箱在处理杂质时影响正常处理的问题，提高了处理箱的实用性，通过推板和滤网配合，对杂质腔内部的杂质进行过滤，将杂质中的水单独排出，避免杂质中含有的水较多影响后续处理，提高了处理装置的处理效果。
一种石油酸化酸性废液处理装置

[发明专利]降低高压互连影响的器件结构及制造方法-CN202010354969.4有效
发明人：周锌;师锐鑫;乔明;张波 -专利权人：电子科技大学;电子科技大学广东电子信息工程研究院
申请日： 2020-04-29 - 公布日： 2022-02-08 - 主分类号： H01L29/06 文献下载
摘要：本发明提供一种降低高压互连影响的器件结构及制造方法，包括非高压互连区和高压互连区：非高压互连区包括第二型掺杂杂质衬底、埋氧化层、第一型掺杂杂质外延层、第二型掺杂杂质阱区、第一型掺杂杂质接触区、第二型掺杂杂质接触区、第一型掺杂杂质阱区、场氧化层、栅氧化层，高压互连区结构包括第二型掺杂杂质衬底、埋氧化层、第一型掺杂杂质外延层、第二型掺杂杂质阱区、第二型掺杂杂质接触区、第一型掺杂杂质阱区、第一型掺杂杂质接触区、场氧化层、淀积氧化层；本发明通过在常规的制造工艺中额外增加淀积氧化层和光刻工艺，提高了高压互连线到器件表面的氧化层厚度，且不影响非高压互连区的氧化层厚度。该方法降低了高压互连线(HVI)对器件表面电场的影响，提高了器件的击穿电压。
降低高压互连影响器件结构制造方法

[发明专利]一种量产型自动保护有机小分子提纯设备的升华仪-CN202010525248.5在审
发明人：孔令杰;李晓丽 -专利权人：合肥百思新材料研究院有限公司
申请日： 2020-06-10 - 公布日： 2020-09-29 - 主分类号： B01D7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种量产型自动保护有机小分子提纯设备的升华仪，设置的阻挡机构，利用阻挡机构中的旋转挡板、传动轴、磁流体、联轴器和气缸的配合使用，可以将提纯材料加热过程中的杂质气体进行隔离收集，避免杂质气体进入至分子泵中，对分子泵的运行和真空座内的真空度造成影响，克服了现有方案中不能对杂质气体进行处理，导致杂质气体进入至分子泵中，对分子泵的工作造成影响，进而影响真空座内的真空度以及提纯材料的加工效果；设置的双层冷井和阻挡机构的配合使用，部分杂质气体穿过旋转挡板后进入双层冷井，通过双层冷井对杂质气体进行降温冷却，可以进一步提高对杂质气体的处理效果，克服了杂质气体处理的效率不佳的缺陷。
一种量产自动保护有机分子提纯设备升华

[实用新型]具有除渣功能的叶片泵-CN202221872074.0有效
发明人：龚敬华;冷潇伟;江松;武增艳 -专利权人：金贝特流体传动产品（青岛）有限公司
申请日： 2022-07-15 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： F04C15/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了叶片泵技术领域的一种具有除渣功能的叶片泵，包括泵体、定子、转子，所述泵体上设有进液通道和出液通道，所述定子和转子偏心设置，所述转子的外周均匀地滑动连接有叶片；所述进液通道设置有过滤装置，所述过滤装置包括过滤网、圆形凹槽和杂质收集装置，所述圆形凹槽内壁与过滤网的外壁连接，所述圆形凹槽的外壁固定于进液通道的内壁，所述圆形凹槽的下端设置有杂质出口，所述杂质出口的下端与杂质收集装置连接。有益效果如下：在液体进入叶片泵之前进行过滤，避免杂质进入叶片泵内部影响叶片泵的正常使用，本过滤装置设计巧妙，杂质不会影响液体的流动，杂质进入杂质收集装置内部后，可以及时排出，不会影响叶片泵的正常使用。
具有功能叶片泵

[发明专利]一种电子硅片的清洗方法-CN201510664241.0在审
发明人：蒋俊 -专利权人：桂林市味美园餐饮管理有限公司
申请日： 2015-10-14 - 公布日： 2016-03-16 - 主分类号： H01L21/02 文献下载
摘要：2.在等离子边缘腐蚀中，如果有油污、水气、灰尘和其它杂质存在，会影响器件的质量，清洗后质量大大提高。3.清除杂质，防止硅片中杂质离子影响P-N结的性能，导致P-N结的击穿电压降低和表面漏电，影响P-N结的性能。4.清除杂质，防止杂质的存在影响硅片的电阻率不稳定。
一种电子硅片清洗方法

[实用新型]一种过滤式鸭嘴止回阀-CN202120626568.X有效
发明人：刘刚;高建明;刘铭 -专利权人：无锡市祥通管阀有限公司
申请日： 2021-03-26 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： F16K15/14 文献下载
摘要：本实用新型涉及止回阀技术领域，提供了一种过滤式鸭嘴止回阀，包括带鸭嘴端的止回阀本体，止回阀本体的另一端设置有安装法兰板；本实用新型克服了现有技术的不足，解决了现有的排放的水中带有杂质，影响鸭嘴端的密封的问题；本实用新型通过设置过滤结构，可有效过滤杂质，避免杂质留在鸭嘴端处影响其密封造成介质倒流的问题；通过设置转轴和流体叶轮，流体叶轮随水流转动，带动转轴和球形滤网转动过滤，避免滤网堵塞影响过滤效果；通过设置刮渣板和储泥槽，便于集中处理杂质；本实用新型设计合理，结构简单，仅靠水流即可完成过滤，解决了排放的水中带有的杂质影响鸭嘴端密封的问题，实用性高。
一种过滤式鸭嘴止回阀

[发明专利]降低高压互连影响的横向器件及制备方法-CN202010355723.9有效
发明人：周锌;师锐鑫;乔明;张波 -专利权人：电子科技大学;电子科技大学广东电子信息工程研究院
申请日： 2020-04-29 - 公布日： 2021-09-24 - 主分类号： H01L29/06 文献下载
摘要：本发明提供一种降低高压互连影响的横向器件及制备方法，包括第二型掺杂杂质半导体衬底、第一型掺杂杂质漂移区、第二型掺杂杂质阱区、第二型掺杂杂质接触区、第一型掺杂杂质接触区、第一型掺杂杂质阱区、第二型掺杂杂质顶层结构、栅氧化层、埋氧化层、硅局部氧化隔离氧化层、栅电极、源电极和漏电极，在所述器件的高压互连区设置高浓度掺杂的第二型掺杂杂质顶层结构。本发明提供的横向器件可以降低高压互连线对器件表面电场分布的影响，以此来提高器件的击穿电压。
降低高压互连影响横向器件制备方法

[发明专利]六氟化硫电气设备故障检测方法、装置及终端设备-CN202011507522.2有效
发明人：张立军;刘克成;郁金星;韩鹤松;高燕宁;陈秋 -专利权人：国网河北省电力有限公司电力科学研究院;国家电网有限公司;国网河北能源技术服务有限公司
申请日： 2020-12-18 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G01N30/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种六氟化硫电气设备故障检测方法、装置及终端设备，该方法包括：获取目标六氟化硫电气设备中各种杂质气体的含量；对各种杂质气体的含量进行模糊化转换，得到各种杂质气体对应的含量标识；基于各种杂质气体的含量确定各种杂质气体的影响度，并基于各种杂质气体的影响度对各种杂质气体进行划分，得到多种目标杂质气体和多种非目标杂质气体；根据各种目标杂质气体的气体种类构建概率神经网络模型，将各种目标杂质气体对应的含量标识输入至概率神经网络模型中
六氟化硫电气设备故障检测方法装置终端设备

[发明专利]一种印铁在线缺陷检测设备-CN202211137760.8在审
发明人：姚健;刘峰;孟祥道;刘应勤;谭木生 -专利权人：艾科芯（深圳）智能科技有限公司
申请日： 2022-09-19 - 公布日： 2022-12-27 - 主分类号： G01B21/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种印铁在线缺陷检测设备，涉及印铁检测技术领域，解决清洁刷上附着的杂质不能很好的进行清理，同时对于清理下来的杂质不能很好的来进行收集，单一的来对清洁刷进行支撑，存在支撑不稳定的情况，进一步的会对整个清洁过程中造成影响的技术问题，通过设置的清洁机构，利用设置的清刮刀片来对清洁胶圈表面的杂质进行清理，从而避免在利用清洁胶圈进行清理时会继续有杂质附着在印铁上，其次利用设置的收集机构来对清理下来的杂质进行收集，防止杂质的四处飘散，被人体吸收后对人体的健康造成影响，同时避免杂质再次的飘落到印铁上，对检测造成影响，通过设置的滑动凹块和连接凸块来方便对收集杂质后的收集盒进行拆卸处理。
一种在线缺陷检测设备

[发明专利]一种改善漏电流的发光二极管制备方法-CN201510196122.7有效
发明人：林继宏;卓昌正;林兓兓;张家宏 -专利权人：安徽三安光电有限公司
申请日： 2015-04-23 - 公布日： 2018-07-10 - 主分类号： C23C16/44 文献下载
摘要：本发明提出了一种发光二极管的制备方法，在N型层与浅量子阱层沉积步骤之间插入一杂质去除步骤，利用陡变方式增加杂质管路的载气流量，充分快速吹扫该管路的残留杂质，避免残留杂质进入浅量子阱层影响该层的晶体结构，降低对发光二极管的反向漏电流的影响，改善LED结构的可靠性和生产的良品率。
发光二极管量子阱层制备残留反向漏电流晶体结构杂质去除载气流量良品率漏电流吹扫沉积生产

[实用新型]蒸汽水路结构和用水系统-CN202221358355.4有效
发明人：陈飞;毕大岩;史林;丁威 -专利权人：恒洁智能卫浴（深圳）有限公司
申请日： 2022-05-30 - 公布日： 2022-09-09 - 主分类号： F22B1/28 文献下载
摘要：蒸汽水路结构包括依次连通的进水管、蒸汽发生器、蒸汽净化器，也即，水中可能存在杂质，杂质被带入用汽装置，可能堵塞用汽装置，以及影响用户的使用体验，蒸汽发生器内的水垢会在用汽装置内积累，导致用汽装置堵塞，影响用户使用，为此，在蒸汽发生器的出口连接蒸汽净化器，用以过滤杂质或水垢，避免杂质、水垢进入用汽装置，影响用汽装置的使用体验，以及避免堵塞用汽装置。
蒸汽水路结构水系

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