专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]内存测试方法、装置、设备及存储介质-CN202310004896.X在审
  • 连军委 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2023-01-03 - 2023-04-18 - G06F11/22
  • 本公开提供了一种内存测试方法、装置、设备及存储介质,涉及内存测试技术领域。该方法包括获取多个无交集的内存测试单元;利用多个内核对各个内存测试单元进行测试,得到各个内核对各个内存测试单元的测试时间;根据各个内核对各个内存测试单元的测试时间,为各个内核匹配内存测试单元组,以基于内核与内存测试单元组的匹配关系对内存进行测试,其中,任意两个内核对应的内存测试单元组的测试时间的差值在预设时间范围内,且任意两个内存测试单元组无交集。本公开提供的内存测试方法、装置、设备及存储介质,在无操作系统的情况下,将内存绑定内核,提高测试效率。
  • 内存测试方法装置设备存储介质
  • [发明专利]高温环境下光电模块性能测试装置及测试方法-CN201310246502.8有效
  • 舒勤;姜振超;李旻;杨书佺;黄宏光;顾益双 - 四川电力科学研究院;四川大学
  • 2013-06-20 - 2013-09-11 - G01R31/00
  • 本发明公布了高温环境下光电模块性能测试装置及测试方法,包括高温烤箱,在高温烤箱内安装有内部测试板,还包括外部测试板,内部测试板与外部测试板连接,外部测试板的输出端传输至计算机。本发明直接对整个光电模块进行加温实验,采集光电模块的5个关键参数在温度变化下的采样数据,对采样数据利用阿伦尼斯模型进行计算,从而评估光电模块在正常情况下的寿命;且不需要剥离出LED即可进行测试,方便实验的成规模应用;最佳的测试温度对应的加速因子可以取得最大值,在此温度上进行实验,其测试时间实际上远远低于在标准规定的温度下进行测试所需的时间测试时间往往只有原来的测试时间的5%左右,极大地缩短了测试时间
  • 高温环境光电模块性能测试装置方法
  • [发明专利]一种自动驾驶汽车驾驶能力评测系统及其评测方法-CN202111356911.4在审
  • 杨燕红;姚露;郭森杰;张春锋;王侃 - 西华大学
  • 2021-11-16 - 2022-03-01 - G01M17/007
  • 本发明公开了一种自动驾驶汽车驾驶能力评测系统及其评测方法,包括测试模块和场景构建,所述测试模块包括行车测试、泊车测试和交互测试,所述行车测试用于测试自动驾驶汽车在行车状态下的驾驶结果,所述泊车测试用于测试自动驾驶车辆在泊车状态下的驾驶结果,所述交互测试用于测试自动驾驶车辆在行车和泊车状态下的交互结果,所述场景构建包括封闭道路、高速公路场景、城镇道路场景和乡村道路场景;本发明采用对自动驾驶汽车命令执行日志以及时间发生各项人工勘测数据进行集中评测,一方面能够结合命令执行日志的命令执行时间、传感时间、处理时间配合事件发生时刹车制动时间、转向时间、刹车距离进行综合评测,评测效果更好。
  • 一种自动驾驶汽车能力评测系统及其方法
  • [发明专利]一种应用测试方法、计算设备及存储介质-CN202210380324.7在审
  • 张哲渊 - 张哲渊
  • 2022-04-08 - 2022-07-12 - G06F11/34
  • 本发明公开了一种应用测试方法、计算设备及存储介质,适于在计算设备中执行。计算设备与一个或多个测试设备通信连接,包括步骤:根据视频获取函数从目标测试设备中获取测试视频流;从测试视频流中确定图标定位帧,定位待测应用的应用图标;根据待测应用图标在目标测试设备中启动应用,并确定应用的启动开始时间;根据启动开始时间测试视频流中确定应用的启动开始帧,根据启动开始帧从测试视频流中确定应用的启动结束帧,根据启动结束帧确定应用的启动结束时间,根据启动开始时间和启动结束时间计算应用的启动时间。本发明通过远程启动测试设备中的应用,避免同时在测试设备中运行应用和计时操作,干扰应用启动过程造成测试结果不准。
  • 一种应用测试方法计算设备存储介质
  • [发明专利]骑行测试方法、服务器、测试桩及可读存储介质-CN202110220049.8有效
  • 杨磊;徐天鹏;杨晓华 - 上海钧正网络科技有限公司
  • 2021-02-26 - 2022-04-22 - H04L9/40
  • 本发明公开了一种骑行测试方法、服务器、测试桩及可读存储介质,涉及骑行测试技术领域,可以防止代工厂漏做骑行质检测试。该骑行测试方法包括:根据终端设备发送的测试车辆的骑行测试开锁请求确定测试车辆标识;在确定终端设备发送的与测试车辆标识对应的第一验证码和第二验证码都合法的情况下,确定接收第一验证码的第一时间和接收第二验证码的第二时间;判断第一时间与第二时间之间的时间间隔是否位于预设时间区间;若是,则向终端设备发送骑行测试成功的指示信息,若否,则向终端设备发送骑行测试失败的告警信息。
  • 测试方法服务器可读存储介质
  • [发明专利]一种自动时间同步的方法和装置-CN202010207314.4在审
  • 任立涛 - 北京信而泰科技股份有限公司
  • 2020-03-23 - 2020-07-07 - H03K5/15
  • 本申请公开了一种自动时间同步的方法和装置,该方法包括:当第一测试仪作为时间主设备,第二测试仪作为时间从设备,第一测试仪基于25MH时钟生成秒脉冲信号和时间信息;第一测试仪在第一时刻向第二测试仪发送秒脉冲信号和时间信息;第二测试仪接收到秒脉冲信号和时间信息后,向第一测试仪零延时返回秒脉冲信号对应的秒脉冲返回信号;第一测试仪在第二时刻接收秒脉冲返回信号后,基于第一时刻、第二时刻获得第一测试仪和第二测试仪之间的时延值;第一测试仪向第二测试仪发送时延值,第二测试仪根据时延值自动调整其接收的时间信息。可见,即使多台测试仪中任意两台测试仪之间的连接网线长度不固定,也可进行任意两台测试仪之间的时延自动校准。
  • 一种自动时间同步方法装置
  • [发明专利]自动化测试方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202011298508.6在审
  • 袁璐 - 平安消费金融有限公司
  • 2020-11-18 - 2021-03-09 - G06F11/36
  • 本申请涉及测试领域,提供一种自动化测试方法、装置、计算机设备和存储介质,方法包括:接收用户提交的自动化测试请求;从自动化请求提取出用户信息,并基于用户信息判断用户是否具备测试权限;若是,从自动化测试请求中提取出测试用例信息,并基于测试用例信息从预存储的用例数据库筛选出指定测试用例;获取指定测试用例中包含的测试步骤;根据测试步骤,生成与指定测试用例对应的测试程序;获取预设的定时测试时间及当前时间,判断当前时间是否与定时测试时间相同;若是,运行测试程序,生成相应的测试结果。本申请能够提高自动化测试测试效率,降低测试成本。本申请还可以应用于区块链领域,所述指定测试用例等数据可以存储于区块链上。
  • 自动化测试方法装置计算机设备存储介质
  • [发明专利]一种芯片共享资源串行测试装置及方法-CN202010113069.0有效
  • 薛孟锡 - 上海御渡半导体科技有限公司
  • 2020-02-24 - 2022-07-08 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种芯片共享资源串行测试方法,包括如下步骤:S01:将芯片A和芯片B通过双掷继电器同时连接至测试平台;S02:测试平台录入每个芯片中各个测试项目的占用时间;S03:测试平台控制双掷继电器连接至芯片A,当芯片A的测试项目X的闲置时间大于芯片B的一个或多个测试项目的测试时间时,进入步骤S04;否则,测试平台对芯片A各个测试项目依次进行测试测试完成之后,测试平台控制双掷继电器连接至芯片B,测试平台对芯片B进行测试;S04:测试平台控制双掷继电器连接至芯片B,测试平台对芯片B进行一个或多个测试项目的测试;S05:测试平台控制双掷继电器连接至芯片A,返回步骤S03。本发明可以节省芯片测试时间
  • 一种芯片共享资源串行测试装置方法
  • [发明专利]一种无人车应急响应时间测试方法及装置-CN201610606329.1有效
  • 武毅 - 百度在线网络技术(北京)有限公司
  • 2016-07-28 - 2019-05-10 - G01M17/007
  • 本发明公开了一种无人车应急响应时间测试方法及装置。该测试方法包括:基于所获取无人车的行驶数据信息,确定无人车故障发生时的应急响应时间;基于设定的响应时间测试标准,确定所述无人车的标准响应时间;比较所述应急响应时间与所述标准响应时间,以确定无人车应急响应时间测试结果利用该方法,能够通过设定的响应时间测试标准,实现无人车应急响应时间测试,由此确保无人车在实际行驶过程中具有良好的工作性能,进而保证无人车驾驶时车辆自身的运行安全、交通运输环境的安全以及乘客的生命安全。
  • 一种无人应急响应时间测试方法装置
  • [发明专利]芯片测试系统及芯片测试方法-CN201310574106.8有效
  • 张大成;施瑾;刘远华;顾春华;郝丹丹 - 上海华岭集成电路技术股份有限公司
  • 2013-11-15 - 2014-02-12 - G01R31/28
  • 本发明提供了一种芯片测试系统及芯片测试方法,其中,所述芯片测试系统包括:测试机、晶振及信号分析系统,所述测试机及晶振均与所述信号分析系统连接;所述测试机用以提供测试信号;所述晶振用以提供时钟信号;所述信号分析系统用以获取测试机输出测试信号的信号输出时间;其中,所述测试机根据信号输出时间输出测试信号。在此,通过信号分析系统获取测试机输出测试信号的信号输出时间测试机据此输出测试信号,由此测试机便能够选择输出测试信号的时刻,进而实现与时钟信号同步,从而得到可靠/准确的芯片测试结果。
  • 芯片测试系统方法

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