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[发明专利]基于工业互联网的集成电路测试信息化管理系统-CN201811075156.0有效
发明人：罗斌;祁建华;凌俭波;刘惠巍;汤雪飞;季海英 -专利权人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2018-09-14 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： G06F16/25 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于工业互联网的集成电路测试信息化管理系统，包括设备互联、数据源融合模块子系统，还包括资源管理系统子系统，还包括大数据智能分析子系统，还包括类无人车间工业级APP应用系统；本发明提供的基于工业互联网的集成电路测试信息化管理系统，能够提供丰富快速的线上服务，提高测试效率，提升测试产能，将洁净度车间所有状态(包括测试prober、测试机台、测试数据、信息图表化)实时集成在信息化系统上。
基于工业互联网集成电路测试信息化管理系统

[发明专利]一种电路板检测系统及方法-CN202310441946.0在审
发明人：傅秀菲;鲍小燕 -专利权人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2023-04-23 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本公开提供了一种电路板检测系统及方法，检测系统包括：发射器，其用于向待测电路板发射激光；接收器用于接收经过待测电路板的反射激光；建模装置用于基于反射激光构建待测电路模型，待测电路模型中带有坐标系，通过坐标系确定电子元件的位置；对比装置用于对待测电路模型与标准电路模型进行对比，得到检测结果。本公开提供的电路板检测系统通过发射器发射激光对待测电路板进行扫描并接收反射激光，可以准确的掌握待测电路板的数据，再通过与标准电路模型进行对比完成检测。采用本公开的检测系统对电路板进行检测可以大量减少手工检测的时间，也不会在焊点与电子元件上留下痕迹，避免造成松脱或焊接不良的元件引脚，避免了对电子元件的损伤。
一种电路板检测系统方法

[发明专利]固定装置-CN202310317019.8在审
发明人：熊忠应;徐春;祁建华;叶建明 -专利权人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2023-03-28 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本公开提供一种固定装置，包括：可拆卸地安装在所述重力式分选机的竖直交互面上的第一框架，以及可拆卸地安装在所述测试头上的第二框架。第一框架和第二框架中的一个上具有插杆，一个上具有插孔，所述插杆与所述插孔匹配对接使得所述第二框架与所述第一框架通过所述插杆与所述插孔装配连接。插孔内具有锁定结构，用于在锁定状态和解锁状态之间切换，在所述测试头与重力式分选机装配的过程中，当所述插杆插入至插孔内的预定位置处，所述锁定结构切换至锁定状态使得所述测试头与重力式分选机快速装配锁定。
固定装置

[发明专利]一种带光源的ATE CIS测试夹具及其测试方法-CN202310053770.1在审
发明人：周超;王华;唐靖翔 -专利权人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2023-02-03 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及CIS芯片封装后测试技术领域，具体地说是一种带光源的ATE CIS测试夹具及其测试方法，包括夹具本体，LED光源，压块，遮光密封片，待测芯片，空腔，连接线，夹具本体内设置有空腔，空腔内设置有LED光源，LED光源通过连接线与外部测试机LB电性连接，LED光源设置在待测芯片垂直上方，待测芯片由压块压紧，压块外侧设置有遮光密封片，同现有技术相比，本发明通过将光源与测试治具进行集成整合，并将光源控制信号与测试机进行连接，在测试过程中通过测试程序控制光源的打开、关闭、亮度调整等操作，缩减了常规测试的步骤，提高了测试效率。通过集成一体化治具的设计，在暗场和亮场都有极高的光源信号质量，保障了测试的准确性。
一种光源 ate cis 测试夹具及其方法

[发明专利]一种基于关系模型的成品芯片测试硬件管理方法-CN202310053876.1在审
发明人：昃妤婷;王玉龙;熊忠应;赵多智 -专利权人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2023-02-03 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明涉及芯片测试硬件管理技术领域，具体地说是一种基于关系模型的成品芯片测试硬件管理方法，将硬件信息置于关系模型中，建立数据库，在夹具和板子，板子和机台，机台和程序间建立关系，不同硬件的入库ID具有唯一性，作为集合的键，调用程序时通过UI输入准备使用的夹具板子编号，然后判断库中是否存在这个组合，存在即放行测试，同现有技术相比，本发明利用关系模型来管理硬件信息，更够更直观的显示夹具，板卡，程序，机台之间的联系，在生产过程中可以利用这些信息更好的避免用错硬件的情况发生，规避了生产风险，且关系模型维护方便，不同类目之前的联系更直观，提升了增加或删改信息的效率。
一种基于关系模型成品芯片测试硬件管理方法

[发明专利]一种生成对于存储器进行测试的测试向量的方法-CN202310062875.3在审
发明人：李文敬;顾辉;唐靖翔 -专利权人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2023-01-18 - 公布日： 2023-05-12 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明提供一种生成对于存储器进行测试的测试向量的方法，其中，所述方法包括生成一表格，所述表格包括以列为表征形式的功能区域和以行为表征形式的循环周期，所述功能区域包括赋值区域、运算变化区域和循环跳转区域，所述赋值区域完成对存储器的不同寄存器的赋值，所述运算变化区域定义当前行表示的不同所述寄存器在执行下一周期时是否需要进行运算变化，所述循环跳转区域定义当前行表示的不同所述寄存器在执行下一周期的位置以及循环次数；以及利用所述表格生成测试向量。本发明采用填表式生成测试向量的方式，整个过程只需在所述表格内填写对应信息即可，操作简单方便，且表格化的测试向量，直观性强，易读性好。
一种生成对于存储器进行测试向量方法

[发明专利]离线快速检测测试设置准确性的方法-CN201911345551.0有效
发明人：薛来熙;王华;周建青;凌俭波;孟翔 -专利权人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2019-12-24 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明涉及一种离线快速检测测试设置准确性的方法，从集成电路测试时用于承载待测晶圆的设备中的测试参数信息提取出，自动处理后生成一份虚拟的晶圆分布图，作为虚拟测试步骤测试标准，对测试工程师人为编写的与测试机同步的文件，进行离线模拟运行验证，既可以保证文件的准确性，又可以不用线上验证，避免占用测试机资源，影响产能，也能规避验证中容易出现的测试事故。
离线快速检测测试设置准确性方法

[发明专利]一种用于印刷电路板的夹具-CN202211413918.X在审
发明人：张寅;张杰 -专利权人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2022-11-11 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于印刷电路板的夹具，该夹具包括：第一夹具组件，其具有用于收容芯片的收容空间，所述第一夹具组件的一端面设有第一配合部及至少一组第一吸附部；第二夹具组件，其安装于印刷电路板，配置为与第一夹具组件可拆卸地接合使得所述第一夹具组件内的芯片和所述印刷电路板形成电连接；所述第二夹具组件包括与所述第一配合部相对应的第二配合部、及与所述第一吸附部相对应的第二吸附部。
一种用于印刷电路板夹具

[发明专利]一种CIS芯片测试系统-CN202211596873.4在审
发明人：杨自洪;周超;侯义平 -专利权人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2022-12-12 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种CIS芯片测试系统，所述CIS芯片测试系统包括悬臂探针卡和FPGA核心板；所述悬臂探针卡在对CIS芯片进行测试时，通过所述FPGA核心板与所述CIS芯片的LVDS接口电性相接；所述悬臂探针卡用于接收第一激励信号，并在接收到所述第一激励信号时将所述第一激励信号发送给所述FPGA核心板，以配置所述FPGA核心板的工作方式，配置的所述FPGA核心板的工作方式包括：当接收到来自所述CIS芯片发送的高速信号数据时，将所述高速信号数据转换为低速信号数据，并回传至所述悬臂探针卡。利用本发明提供的一种CIS芯片测试系统，所述FPGA核心板将所述高速信号数据转换为低速信号数据，便能够使所述悬臂探针卡测试通过所述CIS芯片的LVDS接口测试所述CIS芯片，操作简单，应用方便。
一种 cis 芯片测试系统

[发明专利]一种集成电路晶圆测试数据自动判断系统-CN201911377722.8有效
发明人：王玉龙;吴一;吴勇佳;刘惠巍;谢勤 -专利权人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2019-12-27 - 公布日： 2023-04-11 - 主分类号： G06F16/242 文献下载
摘要：本发明公开了一种集成电路晶圆测试数据自动判断系统，系统包括产品登记模块、内控运算模块、实时数据分析模块、数据推送模块、人工解锁模块；本发明提供的一种集成电路晶圆测试数据自动判断系统，晶圆数据自动判断系统只需要工程师将需要分析的产品录入到系统中，录入内容包含外控良率标准、Map图失效图形、DC测试项等，设置每天定时去分析登记的产品历史测试数据，设置为内控良率标准。每当有晶圆测试完成后系统将各种判断标准结合起来共同判断，当系统判断出结果异常时会推送给工程师查看，工程师确认无误后再通过系统进行解锁，否则无法进入下一个流程，而没有异常时则可自动进入下一个流程。
一种集成电路测试数据自动判断系统

[发明专利]一种用于集成电路晶圆测试的转接组件-CN202211558739.5在审
发明人：王华;李文敬;罗斌;顾良波 -专利权人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2022-12-06 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种用于集成电路晶圆测试的转接组件，所述转接组件具有第一形状，所述转接组件包括：收容区域，其内设有用于锁定待测试非圆形针卡的锁定部；外围区域，其位于所述收容区域的两侧，用于将所述待测试非圆形针卡与测试机连接；信号连接区域，其为所述转接组件的测试信号连接区域，包括第一信号连接区域和第二信号连接区域。
一种用于集成电路测试转接组件

[发明专利]芯片测试装置及测试方法-CN202310065093.5在审
发明人：朱倩;鲍小燕;周俊;傅秀菲 -专利权人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2023-01-13 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种芯片测试装置及测试方法，通过光控开关单元在芯片的测试结束时控制测试机台的电源断开，如此，可以在芯片测试结束时，及时的使测试机台的电源断开，由此避免在测试机台未断电的情况下取出芯片，从而避免损伤芯片或者机台。以及，通过计时单元在芯片的测试结束时记录芯片的测试时间，并通过报警单元在芯片的测试时间小于或者大于预设测试时间时发出报警，如此，在芯片的测试时间未达到预设测试时间或者超出预设时间时能够及时提醒，从而能够及时发现异常，避免损坏芯片或者测试机台，提高了芯片和机台的安全稳定性。
芯片测试装置方法

[发明专利]一种芯片的追踪方法和装置-CN202211436559.X在审
发明人：王玉龙;鲍小燕;熊忠应;赵多智 -专利权人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2022-11-16 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G06F11/273 文献下载
摘要：本申请提供了一种芯片的追踪方法和装置。本申请在测试流程中，对目标芯片进行分类测试后，利用测试时间点，使每个被测试的目标芯片的芯片信息在第一测试信息集中自然排序，既减少了系统排序的负担，也使芯片信息有规律可查。利用预设料盘排列规则和第一测试信息集中芯片信息的排序顺序对目标芯片进行位置管理。如果被测试的目标芯片本次测试的芯片，则依据第一测试信息集中排序规则下的芯片信息结合预设料盘排列规则，便可映射至托盘中目标芯片所在的具体位置，从而实现目标芯片的追踪。
一种芯片追踪方法装置

[发明专利]一种针卡保护盖自动化操作装置、探针台及晶圆检测装置-CN202211512395.4在审
发明人：顾良波;李文敬;杨自洪 -专利权人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2022-11-29 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本发明提供一种针卡保护盖自动化操作装置、探针台及晶圆检测装置，包括承载单元、传感单元以及机械臂；所述承载单元设于探针台，且具有用于放置所述针卡的一承载区域；所述传感单元包括第一传感单元，所述第一传感单元用于检测所述承载区域内是否存在所述保护盖，以及将第一检测信号实时发送给所述机械臂；所述机械臂设置于所述承载单元上方，用于接收来自所述第一传感单元的所述第一检测信号以及来自所述探针台发送的操作指令，并根据所述第一检测信号及所述操作指令执行相应操作。利用所述自动装置对所述针卡进行自动化操作，避免人工忘记安装或取下所述保护盖导致所述保护盖与晶圆碰撞使晶圆受损或所述针卡内的探针损伤。
一种保护自动化操作装置探针检测

[发明专利]集成电路测试设备机时管理系统-CN201910327541.8有效
发明人：余琨;祁建华;叶守银;凌俭波;徐惠;王华 -专利权人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2019-04-23 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明涉及一种集成电路测试设备机时管理系统，包括机时申请模块、机时调度模块、综合信息显示模块、后台数据库，所述机时申请模块、机时调度模块、综合信息显示模块分别经服务器电连接数据库，多个ATE客户端与服务器双向信号传递连接，所述机时申请模块，支持不同类型的用户进行机时申请，由申请人提供所申请ATE类型及配置要求、具体参数要求以及期望使用的时间段，多个申请方的需求信息由后台数据库汇总给机时调度模块，与当前现有测试设备进行自动匹配；所述机时调度模块，实现机时智能安排调度管理，在后台数据库中提取与需求ATE类型及配置、及其参数要求、使用时间段相匹配的机时，按匹配度排序自动列出给机时调度管理员以供选择。
集成电路测试设备机时管理系统

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